一種用于電能計量設(shè)備的壓接插頭的制作方法
【專利摘要】一種用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭：從上往下依次疊加在一起、且絕緣的導(dǎo)向套、蓋板、基座和推板，所述的導(dǎo)向套、蓋板和基座上鉆有多個對應(yīng)的軸向通孔，其中一個為中心孔，各軸向通孔中設(shè)有檢測針，檢測針底部設(shè)有壓簧，中心孔的檢測針較長，其余檢測針中心對稱分布形成束狀；中心檢測針與檢測電路的VCC端口連接，設(shè)置為高電平輸入，作為電位判斷的基準(zhǔn)；其它檢測針分別與一微處理器的輸入口I2，I3…In連接。本實用新型可以準(zhǔn)確判斷壓接插頭與接線端子的接觸狀態(tài)，增大通電檢測的接觸面積，安全可靠，實用性強(qiáng)，適合于自動化生產(chǎn)，提高了生產(chǎn)效率。
【專利說明】一種用于電能計量設(shè)備的壓接插頭

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型涉及一種用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭。

【背景技術(shù)】
[0002] 在電能計量設(shè)備的通電檢測過程中，存在以下不足：首先，由于沒有對壓接插頭和 電能計量設(shè)備接線端子之間的接觸狀態(tài)作檢測，無法確定壓接插頭的檢測針是否與被測電 能計量設(shè)備的接線端子良好接觸；其次，電能計量設(shè)備的檢定采用頂針式接線方式，頂針與 電能計量設(shè)備接線端子間的接觸面積較小，使得接觸電阻偏大，會影響電源的帶載能力，當(dāng) 測試電流過大時，接觸部位容易發(fā)熱，甚至燒壞電能計量設(shè)備；因此不足之處帶來了生產(chǎn)效 率的降低，給檢測帶來較大影響。 實用新型內(nèi)容
[0003] 本實用新型所要解決的技術(shù)問題，就是提供一種用于電能計量設(shè)備通電測試的壓 接插頭，采用本實用新型的壓接插頭，能增大壓接接觸面積避免發(fā)熱，并可很容易地判斷壓 接插頭和電能計量設(shè)備接線端子之間的接觸狀態(tài)，準(zhǔn)確判斷電能計量設(shè)備通電檢測過程中 壓接的狀態(tài)，增強(qiáng)電能計量設(shè)備自動化檢定的程度，提高生產(chǎn)的安全性和效率。
[0004] 解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案是：
[0005] -種用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭，其特征是：包括：從上往下依次疊 加在一起、且絕緣的導(dǎo)向套、蓋板、基座和推板，所述的導(dǎo)向套、蓋板和基座上鉆有多個對應(yīng) 的軸向通孔，其中一個為中心孔，各軸向通孔中設(shè)有檢測針，檢測針底部設(shè)有壓簧，中心孔 的檢測針較長，其余檢測針中心對稱分布形成束狀；中心檢測針與檢測電路的VCC端口連 接，設(shè)置為高電平輸入，作為電位判斷的基準(zhǔn)；其它檢測針分別與一微處理器的輸入口 12， 13…In連接。
[0006] 本實用新型適用于電能計量設(shè)備的通電檢測中，包括壓接插頭、導(dǎo)向套、蓋板、彈 簧、基座、推板、檢測電路模塊等。
[0007] 壓接插頭被分為多根檢測針，通過細(xì)分檢測針的方式增大檢測針與電能計量設(shè)備 接線端子之間的接觸面積；通過電平檢測的方法，判斷檢測針與電能計量設(shè)備接線端子之 間的接觸狀態(tài)。如此，可以有效避免壓接插頭與被測電能計量設(shè)備的接線端子接觸不良或 接觸面積小時通電而造成的發(fā)熱等一系列問題。
[0008] 中心檢測針相比周圍的檢測針要長，以保證在壓接過程中接觸到電能計量設(shè)備的 接線端子，各檢測針之間由絕緣導(dǎo)向套隔開，各檢測針的尾部有絕緣蓋板擋住，同時彈簧頂 住檢測針，使檢測針在受壓時能緩沖縮回。
[0009] 為保護(hù)電路，中心檢測針與VCC之間接入限流電阻，其余檢測針各自經(jīng)對應(yīng)電阻 接地。
[0010] 所述的檢測針尾端設(shè)有較針桿大的圓臺。
[0011] 采用所述壓接插頭進(jìn)行測試時判斷壓接插頭和電能計量設(shè)備接線端子之間接觸 狀態(tài)的壓接檢測方法，其特征是：包括以下步驟：
[0012] S1在電能計量設(shè)備運行到檢測工位之后，頂出模塊推動推板使檢測針移動，檢測 針在絕緣導(dǎo)向套里面滑動保持方向的準(zhǔn)確性；
[0013] S2在頂出模塊推動檢測針移動的過程中，束狀中心較長的檢測針先接觸到電能計 量設(shè)備接線端子；頂出模塊繼續(xù)向前推，在檢測針頂?shù)诫娔苡嬃吭O(shè)備接線端子之后，會壓縮 彈簧，直到頂出工序結(jié)束；
[0014] S3頂出檢測針之后，讀取微處理器的輸入口 Ι2，Ι^··Ιη的電平信號；如果這些輸入 口讀取到高電平，表明它所對應(yīng)的檢測針與電能計量設(shè)備的接線端子也良好接觸；
[0015] S4分析統(tǒng)計微處理器輸入口高電平的個數(shù)為m，加上束狀中心的檢測針，得到壓 w + 1 接正常的檢測針的個數(shù)為"m+l"，壓接正常的檢測針占檢測針總數(shù)的百分比為：--;預(yù)設(shè) η 合格率為η，當(dāng)^時，說明壓接成功。 η
[0016] 有意效果：本實用新型可以準(zhǔn)確判斷壓接插頭與接線端子的接觸狀態(tài)，增大通電 檢測的接觸面積，安全可靠，實用性強(qiáng)，適合于自動化生產(chǎn)，提高了生產(chǎn)效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017] 圖1是本實用新型實施例電平判斷壓接狀態(tài)的原理圖；
[0018] 圖2是本實用新型實施例中單根檢測針的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019] 圖3是本實用新型實施例中壓接插頭的分解結(jié)構(gòu)圖；
[0020] 圖4是本實用新型實施例中壓接檢測的流程圖。

【具體實施方式】
[0021] 下面結(jié)合附圖用實施例對本實用新型作進(jìn)一步說明。
[0022] 參見圖1、圖2和圖3,本實用新型的用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭實施 例，包括：從上往下依次疊加在一起、且絕緣的導(dǎo)向套、蓋板、基座和推板，導(dǎo)向套、蓋板和基 座上鉆有多個對應(yīng)的軸向通孔，其中一個為中心孔，各軸向通孔中設(shè)有檢測針，檢測針底部 設(shè)有壓簧，中心孔的檢測針較長，其余檢測針中心對稱分布形成束狀；中心檢測針與檢測電 路的VCC端口連接，設(shè)置為高電平輸入，作為電位判斷的基準(zhǔn)；其它檢測針分別與一微處理 器的輸入口 12, Ifln連接。
[0023] 如圖4所示，采用上述壓接插頭進(jìn)行測試時判斷壓接插頭和電能計量設(shè)備接線端 子之間接觸狀態(tài)的壓接檢測方法，其特征是：包括以下步驟：
[0024] S1在電能計量設(shè)備運行到檢定工位之后，頂出模塊推動推板使檢測針移動，檢測 針在絕緣導(dǎo)向套里面滑動保持方向的準(zhǔn)確性；
[0025] S2在頂出模塊推動檢測針移動的過程中，束狀中心較長的檢測針先接觸到電能計 量設(shè)備接線端子；頂出模塊繼續(xù)向前推，在檢測針頂?shù)诫娔苡嬃吭O(shè)備接線端子之后，會壓縮 彈簧，直到頂出工序結(jié)束；
[0026] S3頂出檢測針之后，讀取微處理器的輸入口 Ι2，Ι^··Ιη的電平信號；如果這些輸入 口讀取到高電平，表明它所對應(yīng)的檢測針與電能計量設(shè)備的接線端子也良好接觸；
[0027] S4分析統(tǒng)計微處理器輸入口高電平的個數(shù)為m，加上束狀中心的檢測針，得到壓 接正常的檢測針的個數(shù)為"m+1"，壓接正常的檢測針占檢測針總數(shù)的百分比為：預(yù) η 設(shè)合格率為η，當(dāng)時，說明壓接成功。 η
[0028] 原理圖如圖1所示。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭，其特征是包括：從上往下依次疊加在 一起、且絕緣的導(dǎo)向套、蓋板、基座和推板，所述的導(dǎo)向套、蓋板和基座上鉆有多個對應(yīng)的 軸向通孔，其中一個為中心孔，各軸向通孔中設(shè)有檢測針，檢測針底部設(shè)有壓簧，中心孔的 檢測針長于其余檢測針，其余檢測針中心對稱分布形成束狀；中心檢測針與一檢測電路的 VCC端口連接，設(shè)置為高電平輸入，作為電位判斷的基準(zhǔn)；其它檢測針分別與一微處理器的 輸入口 12, 13…In連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭，其特征是：所述的 中心檢測針與VCC之間接入限流電阻，其余檢測針各自經(jīng)對應(yīng)電阻接地。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于電能計量設(shè)備通電測試的壓接插頭，其特征是：所述的 檢測針尾端設(shè)有較針桿大的圓臺。
【文檔編號】G01R31/02GK203894260SQ201420159162
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年4月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月2日
【發(fā)明者】張思建, 黃友朋, 肖勇, 孫衛(wèi)明 申請人:廣東電網(wǎng)公司電力科學(xué)研究院