一種工件測(cè)試設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種工件測(cè)試設(shè)備，所述設(shè)備包括頂起器、用于放置被測(cè)工件的第一托盤和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置；所述頂起器的頂板能夠頂起所述第一托盤，使所述第一托盤沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置；所述第一托盤設(shè)置有定位孔，所述頂板設(shè)置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板與所述第一托盤接觸時(shí)，所述定位突起進(jìn)入所述定位孔，對(duì)所述第一托盤進(jìn)行限位。
【專利說(shuō)明】一種工件測(cè)試設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種工件測(cè)試設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，電子產(chǎn)品中一般都具有天線功能用以接收和發(fā)送電子信號(hào)、傳送信息。為保證天線功能工作效果良好，需要對(duì)電子產(chǎn)品的天線功能進(jìn)行測(cè)試。
[0003]在對(duì)天線進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中，尤其在高頻狀態(tài)下對(duì)天線進(jìn)行測(cè)試時(shí)，對(duì)天線與天線測(cè)試線路板的對(duì)位精度要求非常高，以確保更優(yōu)的測(cè)試精度。
[0004]目前采用的對(duì)位方案中，主要通過(guò)頂起器頂起活動(dòng)托盤、使得放置于活動(dòng)托盤上的待測(cè)天線隨著活動(dòng)托盤的位置變化與天線測(cè)試線路板對(duì)位。在這種情況下進(jìn)行測(cè)試時(shí)，往往由于傳送帶及頂起器的操作精度問(wèn)題、以及高頻狀態(tài)下測(cè)試設(shè)備的振動(dòng)問(wèn)題，使得活動(dòng)托盤位移，導(dǎo)致對(duì)位精度低，從而使測(cè)試結(jié)果存在偏差，影響天線測(cè)試結(jié)果的可信度。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]有鑒于此，為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種工件測(cè)試設(shè)備。
[0006]本實(shí)用新型提供了一種工件測(cè)試設(shè)備，所述設(shè)備包括頂起器、用于放置被測(cè)工件的第一托盤和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置；
[0007]所述頂起器的頂板能夠頂起所述第一托盤，使所述第一托盤沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置；
[0008]所述第一托盤設(shè)置有定位孔，所述頂板設(shè)置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板與所述第一托盤接觸時(shí)，所述定位突起進(jìn)入所述定位孔，對(duì)所述第一托盤進(jìn)行限位。
[0009]其中，所述定位孔為圓孔，所述定位孔的數(shù)量為至少兩個(gè)；
[0010]所述定位突起為圓柱形突起，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述圓柱形突起的直徑與所述圓孔的內(nèi)徑相匹配，所述圓柱形突起的高度小于等于所述圓孔的深度。
[0011]其中，所述定位孔的數(shù)量為兩個(gè)，所述定位孔分別位于所述第一托盤的對(duì)稱軸的兩側(cè)。
[0012]其中，所述定位孔為內(nèi)多邊形孔，所述定位孔的數(shù)量為至少一個(gè)；
[0013]所述定位突起的形狀與所述定位孔相匹配，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
[0014]其中，所述定位孔為內(nèi)正多邊形孔，所述定位孔的數(shù)量為至少一個(gè)；
[0015]所述定位突起的形狀與所述定位孔相匹配，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
[0016]其中，所述定位孔為通孔或盲孔。
[0017]其中，所述設(shè)備還包括傳送帶和第二托盤；
[0018]所述傳送帶固定連接所述第二托盤，所述傳送帶能夠帶動(dòng)所述第二托盤沿傳送方向運(yùn)動(dòng)；
[0019]所述第二托盤內(nèi)部中空，中空部位放置所述第一托盤，所述中空部位的形狀和尺寸與所述第一托盤吻合。
[0020]其中，所述測(cè)試裝置包括測(cè)試線路板、支撐架和測(cè)試箱；
[0021]所述測(cè)試線路板通過(guò)所述支撐架放置并固定于所述測(cè)試箱內(nèi)，所述支撐架設(shè)置有測(cè)試探針，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試線路板連接，所述測(cè)試探針位于所述測(cè)試箱的外部，當(dāng)所述被測(cè)工件到達(dá)測(cè)試位置時(shí)，所述測(cè)試探針與所述被測(cè)工件接觸。
[0022]其中，所述頂起器還包括支撐桿，所述支撐桿的頂部設(shè)置頂板，所述支撐桿在外力作用下向上運(yùn)動(dòng)使所述頂板頂起。
[0023]其中，所述測(cè)試箱固定設(shè)置于所述傳送帶的上方，當(dāng)所述頂起器處于初始狀態(tài)時(shí)，所述頂板位于所述傳送帶的下方，當(dāng)所述傳送帶將所述第一托盤傳送至所述頂起器的正上方時(shí)，所述頂起器進(jìn)入頂起狀態(tài)；
[0024]所述測(cè)試箱、所述第一托盤、所述頂板和所述支撐桿的垂直中心線重合。
[0025]由上可知，本實(shí)用新型的技術(shù)方案包括:所述設(shè)備包括頂起器、用于放置被測(cè)工件的第一托盤和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置；所述頂起器的頂板能夠頂起所述第一托盤，使所述第一托盤沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置；所述第一托盤設(shè)置有定位孔，所述頂板設(shè)置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板與所述第一托盤接觸時(shí)，所述定位突起進(jìn)入所述定位孔，對(duì)所述第一托盤進(jìn)行限位；由此，可以避免第一托盤位移，從而提高對(duì)位精度。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0026]圖1為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第一實(shí)施例的一結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖2為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第一實(shí)施例的另一結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖3為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第一托盤的一實(shí)施例的俯視圖；
[0029]圖4為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的頂板的一實(shí)施例的俯視圖；
[0030]圖5為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第一托盤的另一實(shí)施例的俯視圖；
[0031]圖6為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的頂板的另一實(shí)施例的俯視圖；
[0032]圖7為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第二實(shí)施例的一結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖8為本實(shí)用新型的工件測(cè)試設(shè)備的第二實(shí)施例的另一結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0034]本實(shí)用新型提供的一種工件測(cè)試設(shè)備的第一實(shí)施例，如圖1所示，所述設(shè)備包括頂起器10、用于放置被測(cè)工件的第一托盤20和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置30 ;這里，所述被測(cè)工件可以是包括天線的電子產(chǎn)品。
[0035]所述頂起器10的頂板101能夠頂起所述第一托盤20，如圖2所示，使所述第一托盤20沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置，這里，所述頂起方向可以是垂直方向；
[0036]所述第一托盤20設(shè)置有定位孔201，所述頂板101設(shè)置有定位突起102，所述定位孔201和所述定位突起102的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板101與所述第一托盤20接觸時(shí)，所述定位突起102進(jìn)入所述定位孔201，對(duì)所述第一托盤20進(jìn)行限位。這里，所述定位孔201為通孔或盲孔，所述定位突起102可以是定位銷釘。
[0037]在一實(shí)施例中，如圖3所示，所述定位孔201為圓孔，所述定位孔201的數(shù)量為至少兩個(gè)；在實(shí)際應(yīng)用中，為確保限位的效果可以設(shè)置三個(gè)定位孔201，所述三個(gè)定位孔201的連線可以呈三角形，較佳地，可以呈正三角形。
[0038]所述定位突起102為圓柱形突起,如圖4所示,所述定位突起102的數(shù)量與所述定位孔201的數(shù)量一致，所述圓柱形突起的直徑與所述圓孔的內(nèi)徑相匹配，需要說(shuō)明的是，所述圓柱形突起的直徑可以略小于所述圓孔的內(nèi)徑，確保所述圓柱形突起能夠順利進(jìn)入所述圓孔，且二者之間的間隙小于預(yù)設(shè)值，以避免所述圓柱形突起和所述圓孔之間產(chǎn)生相對(duì)位移。所述圓柱形突起的高度小于等于所述圓孔的深度。所述定位突起102可完整的進(jìn)入所述定位孔201，且不影響第一托盤20平面的平整度。
[0039]在一實(shí)施例中，參見(jiàn)圖3所示,所述定位孔201的數(shù)量為兩個(gè),所述定位孔201分別位于所述第一托盤20的對(duì)稱軸的兩側(cè)。較佳地，所述兩個(gè)定位孔201的連線可以與所述對(duì)稱軸垂直。
[0040]在一實(shí)施例中，如圖5所示，所述定位孔201為內(nèi)多邊形孔，如三角形、六邊形等，所述定位孔201的數(shù)量為至少一個(gè)；在實(shí)際應(yīng)用中，為確保限位的效果可以設(shè)置兩個(gè)定位孔201，所述兩個(gè)定位孔201可以分別位于所述第一托盤20的對(duì)稱軸的兩側(cè)，較佳地，所述兩個(gè)定位孔201的連線可以與所述對(duì)稱軸垂直。
[0041]所述定位突起102的形狀與所述定位孔201相匹配，如圖6所示，確保所述定位突起102能夠順利進(jìn)入所述定位孔201，且二者之間的間隙小于預(yù)設(shè)值，以避免所述定位突起102和所述定位孔201之間產(chǎn)生相對(duì)位移。所述定位突起102的數(shù)量與所述定位孔201的數(shù)量一致，所述定位突起102的高度小于等于所述定位孔201的深度。可以理解是，當(dāng)所述定位孔201為通孔時(shí)，所述定位突起102的高度可以略大于所述定位孔201的深度，只要高出的部分不影響所述被測(cè)工件的測(cè)試即可。
[0042]在一實(shí)施例中，所述定位孔201為內(nèi)正多邊形孔，例如正三角形、正六邊形等，所述定位孔201的數(shù)量為至少一個(gè)；
[0043]所述定位突起102的形狀與所述定位孔201相匹配，確保所述定位突起102能夠順利進(jìn)入所述定位孔201，且二者之間的間隙小于預(yù)設(shè)值，以避免所述定位突起102和所述定位孔201之間產(chǎn)生相對(duì)位移。所述定位突起102的數(shù)量與所述定位孔201的數(shù)量一致，所述定位突起102的高度小于等于所述定位孔201的深度。
[0044]本實(shí)用新型提供的一種工件測(cè)試設(shè)備的第二實(shí)施例，如圖7所示，所述設(shè)備包括頂起器10、用于放置被測(cè)工件的第一托盤20和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置30 ；
[0045]所述頂起器10的頂板101能夠頂起所述第一托盤20，如圖8所示，使所述第一托盤20沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置，這里，所述頂起方向可以是垂直方向；
[0046]所述第一托盤20設(shè)置有定位孔201，所述頂板101設(shè)置有定位突起102，所述定位孔201和所述定位突起102的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板101與所述第一托盤20接觸時(shí)，所述定位突起102進(jìn)入所述定位孔201，對(duì)所述第一托盤20進(jìn)行限位。
[0047]所述設(shè)備還包括傳送帶30和第二托盤40 ；
[0048]所述傳送帶30固定連接所述第二托盤40，所述傳送帶30能夠帶動(dòng)所述第二托盤40沿傳送方向運(yùn)動(dòng)，這里要說(shuō)明的是，所述傳送方向可以與所述頂起方向相互垂直，所述傳送方向可以是水平方向；可以理解的是，在實(shí)際應(yīng)用中，所述傳送方向與所述頂起方向之間的夾角也可以呈其他角度，只要能夠保證測(cè)試的正常進(jìn)行即可，夾角的具體數(shù)值則可以根據(jù)實(shí)際情況確定。
[0049]所述第二托盤40內(nèi)部中空，中空部位放置所述第一托盤20，所述中空部位的形狀和尺寸與所述第一托盤20吻合。所述第一托盤20可隨第二托盤40在傳送方向上運(yùn)動(dòng)。從而，可通過(guò)傳送帶30的運(yùn)動(dòng)沿傳送方向傳送所述被測(cè)工件；
[0050]在一實(shí)施例中，所述測(cè)試裝置30包括測(cè)試線路板、支撐架和測(cè)試箱301 ;所述測(cè)試線路板、支撐架的位置可以根據(jù)實(shí)際情況確定，圖7和圖8中未示出所述測(cè)試線路板、支撐架的位置。
[0051]所述測(cè)試線路板通過(guò)所述支撐架放置并固定于所述測(cè)試箱301內(nèi)，所述支撐架設(shè)置有測(cè)試探針302，所述測(cè)試探針302與所述測(cè)試線路板連接，所述測(cè)試探針302位于所述測(cè)試箱301的外部，當(dāng)所述被測(cè)工件到達(dá)測(cè)試位置時(shí)，所述測(cè)試探針302與所述被測(cè)工件接觸，參見(jiàn)圖8所示。
[0052]在一實(shí)施例中，所述頂起器10還包括支撐桿103，所述支撐桿103的頂部設(shè)置頂板101，所述支撐桿103在外力作用下向上運(yùn)動(dòng)使所述頂板101頂起，直至預(yù)定位置，即所述被測(cè)工件與所述測(cè)試探針302接觸的位置。
[0053]在一實(shí)施例中，所述測(cè)試箱301固定設(shè)置于所述傳送帶30的上方，當(dāng)所述頂起器10處于初始狀態(tài)時(shí)，參見(jiàn)圖7所示，所述頂板101位于所述傳送帶30的下方，當(dāng)所述傳送帶30將所述第一托盤20傳送至所述頂起器10的正上方時(shí)，所述頂起器10進(jìn)入頂起狀態(tài)，參見(jiàn)圖8所示；
[0054]所述測(cè)試箱301、所述第一托盤20、所述第二托盤40、所述頂板101和所述支撐桿103的垂直中心線重合。
[0055]下面對(duì)本實(shí)用新型提供的工件測(cè)試設(shè)備的工作過(guò)程進(jìn)行介紹。
[0056]最初，第一托盤20和第二托盤40位于傳送帶30的輸入端，所述被測(cè)工件放置于第一托盤20的上表面；
[0057]此后，第一托盤20和第二托盤40隨傳送帶30沿水平方向(即X軸方向)被傳送至頂起器10的正上方位置(即測(cè)試位)并停止，且第一托盤20被疊放于頂起器10的頂板101之上；
[0058]之后，頂起器10的支撐桿103在外力作用下沿支撐桿103的軸向方向(即Z軸方向)向測(cè)試箱301靠近，并帶動(dòng)頂板101、放置于頂板101之上的第一托盤20以及被測(cè)工件同向運(yùn)動(dòng)。
[0059]當(dāng)被測(cè)工件接觸到測(cè)試探針302后，所述頂起器10的支撐桿103停止運(yùn)動(dòng)，測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)始測(cè)試，參見(jiàn)圖8所示；
[0060]測(cè)試完畢，頂起器10的支撐桿103帶動(dòng)第一托盤20及被測(cè)工件下降，使第一托盤20重新回復(fù)至第二托盤40的中空部位。
[0061]最后,傳送帶30帶動(dòng)第二托盤40、進(jìn)而帶動(dòng)第一托盤20及被測(cè)工件向傳送帶30的輸出端運(yùn)動(dòng)，位于傳送帶30的輸出端的產(chǎn)品收集器取走已測(cè)試完畢的被測(cè)工件。
[0062]該被測(cè)工件測(cè)試完成后，下一個(gè)被測(cè)工件在傳送帶30、第一托盤20和第二托盤40帶動(dòng)下進(jìn)入測(cè)試位，進(jìn)行下一個(gè)被測(cè)工件的測(cè)試，直至所有測(cè)試任務(wù)完成。
[0063]在上述測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試探針302接觸到被測(cè)工件并開(kāi)始測(cè)試時(shí)，對(duì)被測(cè)工件與測(cè)試電路板的對(duì)位精度要求極高。如果頂起器10的頂板101與第一托盤20之間僅通過(guò)表面直接接觸而相互連接，在頂起器10的支撐桿103通過(guò)頂起器10的頂板101帶動(dòng)第一托盤20和被測(cè)工件向測(cè)試箱301靠近的過(guò)程中，第一托盤20可能相對(duì)于頂起器10的頂板101沿二者接觸面方向發(fā)生位移，從而影響最終的對(duì)位；并且，在開(kāi)始測(cè)試的過(guò)程中，由于在高頻狀態(tài)下測(cè)試設(shè)備的振動(dòng)也可能導(dǎo)致第一托盤20沿接觸面方向產(chǎn)生位移，從而影響被測(cè)工件的對(duì)位。
[0064]本實(shí)用新型在第一托盤20進(jìn)入測(cè)試位、且第一托盤20與頂起器10的頂板101疊放時(shí)，定位孔201與定位突起102的位置各自對(duì)應(yīng)；在頂起器10頂起的過(guò)程中，定位突起102完全穿入定位孔201中，使得頂起器10的頂板101與第一托盤20栓接。
[0065]這種栓接的連接方式能夠有效防止頂起器10的頂板101與第一托盤20之間的位移，有效提高了定位精度，使得測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可信。
[0066]以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括頂起器、用于放置被測(cè)工件的第一托盤和用于對(duì)到達(dá)測(cè)試位置的被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置； 所述頂起器的頂板能夠頂起所述第一托盤，使所述第一托盤沿頂起方向運(yùn)動(dòng)以使所述被測(cè)工件達(dá)到測(cè)試位置； 所述第一托盤設(shè)置有定位孔，所述頂板設(shè)置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相對(duì)應(yīng)，當(dāng)所述頂板與所述第一托盤接觸時(shí)，所述定位突起進(jìn)入所述定位孔，對(duì)所述第一托盤進(jìn)行限位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述定位孔為圓孔，所述定位孔的數(shù)量為至少兩個(gè)； 所述定位突起為圓柱形突起，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述圓柱形突起的直徑與所述圓孔的內(nèi)徑相匹配，所述圓柱形突起的高度小于等于所述圓孔的深度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述定位孔的數(shù)量為兩個(gè)，所述定位孔分別位于所述第一托盤的對(duì)稱軸的兩側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述定位孔為內(nèi)多邊形孔，所述定位孔的數(shù)量為至少一個(gè)； 所述定位突起的形狀與所述定位孔相匹配，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述定位孔為內(nèi)正多邊形孔，所述定位孔的數(shù)量為至少一個(gè)； 所述定位突起的形狀與所述定位孔相匹配，所述定位突起的數(shù)量與所述定位孔的數(shù)量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4或5所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述定位孔為通孔或盲孑U
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備還包括傳送帶和第二托盤; 所述傳送帶固定連接所述第二托盤，所述傳送帶能夠帶動(dòng)所述第二托盤沿傳送方向運(yùn)動(dòng)； 所述第二托盤內(nèi)部中空，中空部位放置所述第一托盤，所述中空部位的形狀和尺寸與所述第一托盤吻合。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括測(cè)試線路板、支撐架和測(cè)試箱； 所述測(cè)試線路板通過(guò)所述支撐架放置并固定于所述測(cè)試箱內(nèi)，所述支撐架設(shè)置有測(cè)試探針，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試線路板連接，所述測(cè)試探針位于所述測(cè)試箱的外部，當(dāng)所述被測(cè)工件到達(dá)測(cè)試位置時(shí)，所述測(cè)試探針與所述被測(cè)工件接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述頂起器還包括支撐桿，所述支撐桿的頂部設(shè)置頂板，所述支撐桿在外力作用下向上運(yùn)動(dòng)使所述頂板頂起。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的工件測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試箱固定設(shè)置于所述傳送帶的上方，當(dāng)所述頂起器處于初始狀態(tài)時(shí)，所述頂板位于所述傳送帶的下方，當(dāng)所述傳送帶將所述第一托盤傳送至所述頂起器的正上方時(shí)，所述頂起器進(jìn)入頂起狀態(tài)；所述測(cè)試箱、所述第一托盤、所述頂板和所述支撐桿的垂直中心線重合。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203981786SQ201420181449
【公開(kāi)日】2014年12月3日 申請(qǐng)日期:2014年4月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月11日
【發(fā)明者】路湘平, 李淑萍, 吳慶念, 李華祥, 劉洪友, 盧華峰, 王家興, 徐俊峰, 羅雪華 申請(qǐng)人:廣州光寶移動(dòng)電子部件有限公司, 光寶移動(dòng)有限公司