二極管芯片測試電路的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種二極管芯片測試電路，包括多個(gè)并聯(lián)的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源和第二電源，所述測試子電路、第一電源和第二電源集成在同一個(gè)PCB電路板上；每個(gè)所述測試子電路均包括用于連接一組串聯(lián)的二極管芯片的兩個(gè)端子，所述兩個(gè)端子中的一個(gè)端子通過第一電阻電連接所述第一電源的正極，另一個(gè)端子電連接三極管的集電極，所述三極管通過第二電阻電連接所述第二電源的負(fù)極，所述三極管的基極電連接所述第一電源的負(fù)極和第二電源的正極。本實(shí)用新型的二極管芯片測試電路使得芯片測試效率大大提高。
【專利說明】二極管芯片測試電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及芯片測試領(lǐng)域，特別涉及一種二極管芯片測試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對(duì)半導(dǎo)體二極管芯片進(jìn)行測試時(shí)，通過人工連線一個(gè)個(gè)將芯片的相應(yīng)引腳與測試儀器連接，再使用測試儀器對(duì)芯片的各種電性能參數(shù)進(jìn)行測試記錄，逐一單獨(dú)測試，測試效率低下。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足，提供一種測試效率高的二極管芯片測試電路。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種二極管芯片測試電路，包括多個(gè)并聯(lián)的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源和第二電源，所述測試子電路、第一電源和第二電源集成在同一個(gè)PCB電路板上；其中每個(gè)所述測試子電路均包括用于連接一組串聯(lián)的二極管芯片的兩個(gè)端子，所述兩個(gè)端子中的一個(gè)端子通過第一電阻電連接所述第一電源的正極，另一個(gè)端子電連接三極管的集電極，所述三極管通過第二電阻電連接所述第二電源的負(fù)極，所述三極管的基極電連接所述第一電源的負(fù)極和第二電源的正極。工作時(shí)，在多個(gè)并聯(lián)的測試子電路的兩個(gè)端子之間連接一組串聯(lián)的二極管芯片，第一電源和第二電源為測試子電路供電工作，可同時(shí)測試一批二極管芯片，測試效率大大提高。
[0006]優(yōu)選的，所述一組串聯(lián)的二極管為7個(gè)串聯(lián)的二極管。
[0007]優(yōu)選的，所述二極管為整流二極管、穩(wěn)壓二極管或發(fā)光二極管。
[0008]優(yōu)選的，所述第一電源和第二電源均為干電池或蓄電池。
[0009]優(yōu)選的，所述測試子電路有7個(gè)。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果:
[0011]本實(shí)用新型的芯片測試電路包括多個(gè)并聯(lián)的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源和第二電源，測試子電路、第一電源和第二電源集成在同一個(gè)PCB電路板上，每個(gè)所述測試子電路均包括用于連接一組串聯(lián)的二極管芯片的兩個(gè)端子，工作時(shí)，多個(gè)并聯(lián)的測試子電路中的兩個(gè)端子連接一組測試芯片，第一電源和第二電源為測試子電路供電工作，可在同一 PCB板上同時(shí)測試一批二極管芯片,測試效率大大提高。
[0012]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0013]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例中的芯片測試電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本實(shí)用新型上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例，凡基于本實(shí)用新型內(nèi)容所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本實(shí)用新型的范圍。
[0015]如圖1所示的二極管芯片測試電路，包括多個(gè)并聯(lián)的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源Ul和第二電源U2，所述測試子電路、第一電源Ul和第二電源U2集成在同一個(gè)PCB電路板上(圖未示)。本實(shí)施例中所述測試子電路有7個(gè)，當(dāng)然可以更多，所述一組串聯(lián)的二極管為7個(gè)串聯(lián)的二極管，為了方便說明，圖1中只示出了 3個(gè)串聯(lián)的二極管，具體可根據(jù)情況設(shè)定二極管芯片數(shù)量。為了便于說明，圖1中也只示出了 2個(gè)測試子電路，所有測試子電路均在圖1中的c、d和e三點(diǎn)連接實(shí)現(xiàn)并聯(lián)。優(yōu)選的，所述第一電源Ul和第二電源U2均為干電池或蓄電池。所述二極管為整流二極管、穩(wěn)壓二極管或發(fā)光二極管，也可以是其他類型的二極管芯片。其中每個(gè)所述測試子電路均包括用于連接一組串聯(lián)的二極管芯片的兩個(gè)端子(a、b)，所述兩個(gè)端子中的一個(gè)端子a通過第一電阻Rl電連接所述第一電源Ul的正極，另一個(gè)端子b電連接三極管的集電極，所述三極管通過第二電阻R2電連接所述第二電源U2的負(fù)極，所述三極管的基極電連接所述第一電源Ul的負(fù)極和第二電源U2的正極。工作時(shí)，在多個(gè)并聯(lián)的測試子電路的兩個(gè)端子(a、b)之間連接一組串聯(lián)的二極管芯片，第一電源Ul和第二電源U2為測試子電路供電工作，可同時(shí)測試一批二極管芯片，測試效率大大提高。
[0016]上面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行了詳細(xì)說明，但本實(shí)用新型并不限制于上述實(shí)施方式，在不脫離本申請(qǐng)的權(quán)利要求的精神和范圍情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以作出各種修改或改型。
【權(quán)利要求】
1.一種二極管芯片測試電路，其特征在于，包括多個(gè)并聯(lián)的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源和第二電源，所述測試子電路、第一電源和第二電源集成在同一個(gè)PCB電路板上；其中每個(gè)所述測試子電路均包括用于連接一組串聯(lián)的二極管芯片的兩個(gè)端子，所述兩個(gè)端子中的一個(gè)端子通過第一電阻電連接所述第一電源的正極，另一個(gè)端子電連接三極管的集電極，所述三極管通過第二電阻電連接所述第二電源的負(fù)極，所述三極管的基極電連接所述第一電源的負(fù)極和第二電源的正極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述一組串聯(lián)的二極管為7個(gè)串聯(lián)的二極管。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述二極管為整流二極管、穩(wěn)壓二極管或發(fā)光二極管。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述第一電源和第二電源均為干電池或蓄電池。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述測試子電路有7個(gè)。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203811720SQ201420217385
【公開日】2014年9月3日 申請(qǐng)日期:2014年4月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月30日
【發(fā)明者】王銳, 夏群, 柳虎 申請(qǐng)人:成都先進(jìn)功率半導(dǎo)體股份有限公司