一種測試探針的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種測試探針，該測試探針包括探針本體、彈性件和探針頭，其中探針本體沿其軸向設(shè)置有通腔，探針本體的內(nèi)壁設(shè)置有第一支撐部，第一支撐部將通腔分隔成分別與探針本體的兩端連通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，彈性件設(shè)置于第二容置腔內(nèi)且彈性件的一端支撐于第一支撐部上，探針頭部分設(shè)置于第二容置腔內(nèi)，且支撐于性件的另一端上。通過以上公開內(nèi)容，本實用新型可解決目前的探針組裝比較困難，對通孔的加工要求較高，且上電不穩(wěn)定的技術(shù)問題。
【專利說明】一種測試探針

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及電子測控【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種測試探針。

【背景技術(shù)】
[0002]在生產(chǎn)印刷電路板的過程中需要對印刷電路板進(jìn)行電性測試，以判斷印刷電路板各組件的電性參數(shù)(例如阻值、容值或感抗等)是否合乎標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]常見的印刷電路板的測試方式是在印刷電路板上設(shè)置測試點(diǎn)，將錫膏印刷于測試點(diǎn)表面，通過自動化測試設(shè)備或在線測試設(shè)備，以探針直接接觸測試點(diǎn)的錫膏部位以取得相關(guān)的電性參數(shù)。
[0004]目前的在線測試設(shè)備中的探針組裝比較困難，對通孔的加工要求較高，且上電不穩(wěn)定。
實用新型內(nèi)容
[0005]有鑒于此，本實用新型實施例提供了一種測試探針，以解決上述技術(shù)問題。
[0006]本實用新型提供一種測試探針，測試探針包括探針本體、彈性件和探針頭，其中探針本體沿其軸向設(shè)置有通腔，探針本體的內(nèi)壁設(shè)置有第一支撐部，第一支撐部將通腔分隔成分別與探針本體的兩端連通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，彈性件設(shè)置于第二容置腔內(nèi)且彈性件的一端支撐于第一支撐部上，探針頭部分設(shè)置于第二容置腔內(nèi)，且支撐于彈性件的另一端上。
[0007]其中，第一容置腔內(nèi)設(shè)置有向內(nèi)擠壓探針本體而形成的至少兩個凸部，至少兩個凸部用于夾持固定金手指。
[0008]其中，探針頭在沿其軸向的推力作用下可使得彈性件收縮，從而令測試探針的長度縮短。
[0009]其中，第一支撐部為向內(nèi)擠壓探針本體而形成的第一凸緣或形成于探針本體的內(nèi)壁上的階梯結(jié)構(gòu)。
[0010]其中，探針頭包括針桿以及設(shè)置于針桿一端的針柄，其中針柄的截面尺寸大于針桿的截面尺寸，針柄設(shè)置于第二容置腔內(nèi)，探針本體的內(nèi)壁設(shè)置有第二支撐部，第二支撐部用于將針柄限定在第二容置腔內(nèi)。
[0011]其中，第二支撐部為向內(nèi)擠壓探針本體而形成的第二凸緣。
[0012]其中，彈性件為金屬彈簧。
[0013]其中，第一容置腔的軸向長度設(shè)置為小于金手指的插入長度，使得金手指的一端插入第二容置腔并與第二容置腔內(nèi)的金屬彈簧接觸。
[0014]其中，金手指包括對端連接的插入部和固定部，固定部的截面尺寸大于插入部的截面尺寸，進(jìn)而在插入部與固定部的連接處形成階梯面，探針本體的一端支撐于階梯面上。
[0015]通過上述技術(shù)方案，本實用新型實施例提供了一種測試探針，通過探針本體的第一容置腔接收金手指，進(jìn)而與金手指進(jìn)行接插配合，，從而以解決目前的探針組裝比較困難，對通孔的加工要求較高，且上電不穩(wěn)定的技術(shù)問題。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1是本實用新型一種測試探針實施例的立體示意圖；
[0018]圖2是本實用新型一種測試探針實施例的剖視圖；
[0019]圖3是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成前的立體示意圖；
[0020]圖4是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成前的剖視圖；
[0021]圖5是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成后的立體示意圖；
[0022]圖6是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成后的剖視圖；
[0023]圖7是本實用新型一種測試探針組件實施例在探針頭受力壓縮后的立體示意圖；
[0024]圖8是本實用新型一種測試探針組件實施例在探針頭受力壓縮后的剖視圖；
[0025]圖9是本實用新型一種測試探針組件實施例的分解示意圖；
[0026]圖10是本實用新型一種測試平臺第一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；以及
[0027]圖11是本實用新型一種測試平臺第二實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0028]為使本實用新型實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。
[0029]本實用新型實施例提供一種測試探針，以下請一并參見圖1和圖2，其中圖1是本實用新型一種測試探針實施例的立體示意圖，圖2是本實用新型一種測試探針實施例的剖視圖。
[0030]如圖1和圖2所示，在本實用新型測試探針實施例中，測試探針30包括探針本體301、彈性件302和探針頭303，其中探針本體301的一端為中空設(shè)計，進(jìn)而與金手指40 (于下文會詳細(xì)介紹)進(jìn)行接插配合。
[0031]具體可參見圖2，探針本體301沿其軸向設(shè)置有通腔，探針本體301的內(nèi)壁設(shè)置有第一支撐部304，第一支撐部304將通腔分隔成分別與探針本體301的兩端連通的第一容置腔305和第二容置腔306，第一容置腔305用于接收金手指40，彈性件302設(shè)置于第二容置腔306內(nèi)且彈性件302的一端支撐于第一支撐部304上，探針頭303部分設(shè)置于第二容置腔306內(nèi)，且支撐于彈性件302的另一端上。
[0032]探針頭303具體包括針桿3031以及設(shè)置于針桿3031 —端的針柄3032，其中針柄3032的截面尺寸大于針桿3031的截面尺寸，針柄3032設(shè)置于第二容置腔306內(nèi)，探針本體301的內(nèi)壁設(shè)置有第二支撐部308，第二支撐部308用于將針柄3032限定在第二容置腔306 內(nèi)。
[0033]因此，探針頭303的針柄3032及彈性件302被限位于第二容置腔306內(nèi)，在針桿3031的另一端受到沿探針本體301軸向且向探針頭303的針柄3032方向的壓力的作用時，彈性件302收縮，使得探針頭303向第一支撐部304運(yùn)動，從而令測試探針30的長度縮短，同時由于彈性件302具有彈性，因此針桿3031的另一端會與施加壓力的物件緊密抵靠。
[0034]以下請進(jìn)一步參見圖3至圖6，圖3是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成前的立體示意圖，圖4是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成前的剖視圖，圖5是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成后的立體示意圖，圖6是本實用新型一種測試探針組件實施例在組裝完成后的剖視圖。
[0035]如圖3和圖4所示，在測試探針組件實施例中，測試探針組件包括圖1和圖2所揭示的測試探針30和金手指40，金手指40包括對端連接的插入部401和固定部402，固定部402的截面尺寸大于插入部401的截面尺寸，進(jìn)而在插入部401與固定部402的連接處形成階梯面403，探針本體301的第一容置腔305可沿圖3和圖4中箭頭所示方向與金手指40的插入部401進(jìn)行插接，且在插接后，階梯面403可與探針本體301的一端抵靠。
[0036]如圖5和圖6所示，測試探針30插接于金手指40的插入部401以完成組裝后，探針本體301的一端支撐于階梯面403上，由于金手指40的固定部402固定于電路板，因此，階梯面403可頂?shù)痔结槺倔w301的一端，從而使得測試探針30在受到沿測試探針30軸向向金手指40的力的作用時，能夠與金手指40保持相對固定?？蛇x地，金手指40可設(shè)置為插入第一容置腔305，并與第二容置腔中的彈性件302接觸，彈性件302可為導(dǎo)電體，從而可增加測試探針30的可導(dǎo)電面積。
[0037]請進(jìn)一步參見圖7和圖8，圖7是本實用新型一種測試探針組件實施例在探針頭受力壓縮后的立體示意圖，圖8是本實用新型一種測試探針組件實施例在探針頭受力壓縮后的剖視圖。在完成組裝后，當(dāng)探針頭303在沿探針頭303軸向的推力(如圖中箭頭所示)的作用下可使得彈性件302收縮，從而令測試探針30的長度縮短，同時由于彈性件302收縮后會產(chǎn)生彈力并作用于探針頭303，因此可使得探針頭303的頂端可與與其接觸的施力物體緊密抵靠。
[0038]在生產(chǎn)測試探針30時，可在探針本體301的相應(yīng)位置上，通過向內(nèi)擠壓探針本體301形成的第一凸緣，從而獲得第一支撐部304，同理，通過向內(nèi)擠壓探針本體301形成的第二凸緣，從而獲得第二支撐部308。
[0039]可選地，也可在探針本體301的內(nèi)壁上形成階梯結(jié)構(gòu)，從而獲得第一支撐部304，其中階梯結(jié)構(gòu)可通過沖壓等方式實現(xiàn)。
[0040]并請參見圖9，圖9是本實用新型一種測試探針組件實施例的分解示意圖，如圖9所示，探針本體301、彈性件302、探針頭303組成測試探針30，測試探針30可插拔固定于金手指40，從而組成測試探針組件，在本實用新型實施例中，探針本體301、彈性件302、探針頭303以及金手指40均為導(dǎo)電金屬，且彈性件302優(yōu)選為金屬彈簧。
[0041]請再次參見圖8，優(yōu)選地，在本實用新型實施例中，第一容置腔305的軸向長度設(shè)置為小于金手指40的插入長度，使得金手指40的一端插入第二容置腔306并與第二容置腔306內(nèi)的金屬彈簧接觸。此時，測試探針組件的導(dǎo)電路徑具體可為:“探針頭303-探針本體301-金手指40”以及“探針頭303-金屬彈簧-金手指40”，由于金手指40的一端與金屬彈簧接觸，因此本實施方式可以增加額外一條“探針頭303-金屬彈簧-金手指40”的導(dǎo)電路徑，從而可以使得通過測試探針組件的電流增大，以提高測試精度。
[0042]進(jìn)一步地，由于第一容置腔305需要容置金手指40的插入部401，因此探針本體301的截面尺寸要比金手指40的插入部401大，另外由于針柄3032和針桿3031容納于探針本體301內(nèi)的第二容置腔306，在探針本體301的截面尺寸增大時，針柄3032和針桿3031的截面尺寸也可相應(yīng)做大，從而可以提高測試探針30的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，并增大可流過針桿3031的電流量，從而可進(jìn)一步提聞測試精度。
[0043]并請繼續(xù)參見圖1至圖10，第一容置腔305內(nèi)設(shè)置有向內(nèi)擠壓探針本體301而形成的至少兩個凸部，至少兩個凸部用于夾持固定金手指40。其中該凸部可為環(huán)形凸部304和點(diǎn)狀凸部307，其中環(huán)形凸部304即為第一支撐部304，第一支撐部304除起到支撐彈性件302的作用外還可以夾持固定金手指40的插入部401。
[0044]由于只需將探針本體301的第一容置腔306與金手指40進(jìn)行插置，即可完成測試探針組件的組裝，且組裝完成后，由于階梯面403及凸部的作用，可夾持固定測試探針，因此本實用新型提供的測試探針組件具有組裝簡單、牢固的優(yōu)點(diǎn)。
[0045]本實用新型實施例還提供測試平臺的種實施方式，具體可參見圖10，圖10是本實用新型一種測試平臺第一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖10所示，測試平臺包括信號檢測電路板50、測試探針30、金手指40、針板60、載板80以及待測電路板70，金手指40固定于信號檢測電路板50上，信號檢測電路板50固定設(shè)置在針板60上，針板60上設(shè)置有通孔601，測試探針30包括探針本體301和探針頭303，探針本體301的一端為中空設(shè)計，進(jìn)而與金手指40進(jìn)行接插配合，測試探針30穿置并部分突出于通孔601，待測電路板70設(shè)置在載板80上相對測試探針30的一側(cè)，探針頭303設(shè)置在探針本體301的另一端，針板60相對于載板80運(yùn)動，使得探針頭303與待測電路板70上的測試點(diǎn)連接，從而在信號檢測電路板50與待測電路板70之間建立電連接。
[0046]在本實施例中，具體可采用液壓驅(qū)動裝置驅(qū)動針板60相對于載板80運(yùn)動，當(dāng)然，在本領(lǐng)域技術(shù)人員所能理解的范圍內(nèi)，也可以采用如步進(jìn)電機(jī)等其他的驅(qū)動方式，本實用新型對此不作具體限定。
[0047]優(yōu)選地，在本實用新型實施例中，針桿3031與針柄3032方向相反的一端可設(shè)置成圓錐形狀，以便于與待測電路板70上的測試點(diǎn)進(jìn)行接觸，值得注意的是，在本實用新型的備選實施方式中，針桿3031與針柄3032方向相反的一端也可設(shè)置成與待測電路板70上的測試點(diǎn)相匹配的其他形狀。
[0048]進(jìn)一步地，請參見圖11，圖11是本實用新型一種測試平臺第二實施例的結(jié)構(gòu)示意圖，與測試平臺第一實施例相比，本實施例的測試平臺進(jìn)一步包括設(shè)備儀器90，信號檢測電路板50上設(shè)置有接口 501，設(shè)備儀器90通過連接線902與信號檢測電路板50連接，其中連接線902分別與設(shè)備儀器接口 901和信號檢測電路板50的接口 502相連，以使得設(shè)備儀器90可對待測電路板70的測試點(diǎn)進(jìn)行信號檢測，舉例而言，設(shè)備儀器90可為示波器、計算機(jī)終端等設(shè)備。
[0049]值得注意的是，本實用新型測試平臺第一和第二實施例中所采用的測試探針30和金手指40具體可采用上文圖1至圖7及其對應(yīng)描述所述的測試探針30和金手指40，于此不作贅述。
[0050]本實用新型實施例所揭示金手指40可通過焊接方式固定到信號檢測電路板50上，具體如圖10和圖11所示，可將金手指40的固定部402插置于信號檢測電路板50的插孔501上，并在信號檢測電路板50上相對于測試探針30的表面上進(jìn)行焊接固定，由于本實用新型實施例所揭示的金手指40包括對端連接的插入部401和固定部402，其為條狀設(shè)置，因此在焊接時無需擔(dān)心焊錫滲入金手指40內(nèi)部從而造成插置于其上的測試探針30精度不足的問題發(fā)生。
[0051]因此，通過上述公開內(nèi)容，本實用新型實施例提供了一種測試探針、測試探針組件及測試平臺，通過探針本體的第一容置腔接收金手指，進(jìn)而與金手指進(jìn)行接插配合，從而以解決目前的探針組裝比較困難，對通孔的加工要求較高，且上電不穩(wěn)定的技術(shù)問題。
[0052]以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本實用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測試探針，其特征在于，所述測試探針包括探針本體、彈性件和探針頭，其中所述探針本體沿其軸向設(shè)置有通腔，所述探針本體的內(nèi)壁設(shè)置有第一支撐部，所述第一支撐部將所述通腔分隔成分別與所述探針本體的兩端連通的第一容置腔和第二容置腔，金手指插入所述第一容置腔，所述彈性件設(shè)置于所述第二容置腔內(nèi)且所述彈性件的一端支撐于所述第一支撐部上，所述探針頭部分設(shè)置于所述第二容置腔內(nèi)，且支撐于所述彈性件的另一端上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述第一容置腔內(nèi)設(shè)置有向內(nèi)擠壓所述探針本體而形成的至少兩個凸部，所述至少兩個凸部用于夾持固定所述金手指。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述探針頭在沿其軸向的推力作用下可使得所述彈性件收縮，從而令所述測試探針的長度縮短。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述第一支撐部為向內(nèi)擠壓所述探針本體而形成的第一凸緣或形成于所述探針本體的內(nèi)壁上的階梯結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述探針頭包括針桿以及設(shè)置于所述針桿一端的針柄，其中所述針柄的截面尺寸大于所述針桿的截面尺寸，所述針柄設(shè)置于所述第二容置腔內(nèi)，所述探針本體的內(nèi)壁設(shè)置有第二支撐部，所述第二支撐部用于將所述針柄限定在所述第二容置腔內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試探針，其特征在于，所述第二支撐部為向內(nèi)擠壓所述探針本體而形成的第二凸緣。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試探針，其特征在于，所述彈性件為金屬彈簧。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試探針，其特征在于，所述第一容置腔的軸向長度設(shè)置為小于所述金手指的插入長度，使得所述金手指的一端插入所述第二容置腔并與所述第二容置腔內(nèi)的金屬彈簧接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述金手指包括對端連接的插入部和固定部，所述固定部的截面尺寸大于所述插入部的截面尺寸，進(jìn)而在所述插入部與所述固定部的連接處形成階梯面，所述探針本體的一端支撐于所述階梯面上。
【文檔編號】G01R1/067GK204101604SQ201420275737
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年5月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月27日
【發(fā)明者】聶林紅 申請人:深圳市策維科技有限公司