被動(dòng)組件檢測(cè)包裝的制造方法
【專利摘要】一種被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，包括機(jī)臺(tái)，于該機(jī)臺(tái)上設(shè)有可將數(shù)個(gè)被動(dòng)組件依序向前傳送的進(jìn)料模塊、可接收該進(jìn)料模塊的被動(dòng)組件并將其順時(shí)針寸轉(zhuǎn)運(yùn)送的分割盤及可接收該分割盤上經(jīng)檢測(cè)完成的被動(dòng)組件并將其封裝于包裝條的包裝模塊，該分割盤運(yùn)送該被動(dòng)組件的路徑上設(shè)有層間測(cè)試器、直流電阻測(cè)試器、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器、第一極性測(cè)試器、極性轉(zhuǎn)換器、第二極性測(cè)試器、CCD外觀檢測(cè)器及吸塵單元，可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試、極性測(cè)試、極性轉(zhuǎn)換、外觀檢測(cè)及吸除粉塵等程序；藉由上述結(jié)構(gòu)可對(duì)被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感測(cè)式、串聯(lián)電阻測(cè)式、外觀檢查以及可快速轉(zhuǎn)換被動(dòng)組件的極性方向，以大幅提升被動(dòng)組件的檢測(cè)及包裝效率。
【專利說明】被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型關(guān)于一種被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)結(jié)構(gòu)，尤指一種可對(duì)被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感測(cè)式、串聯(lián)電阻測(cè)式、外觀檢查以及可快速轉(zhuǎn)換被動(dòng)組件的極性方向，而可大幅提升被動(dòng)組件的檢測(cè)、包裝效率及可降低成本的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)。

【背景技術(shù)】
[0002]一般的被動(dòng)組件在制作完成后，通常需進(jìn)行層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感測(cè)式、串聯(lián)電阻測(cè)式、外觀檢查等多項(xiàng)檢測(cè)以取得相對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)，并進(jìn)行篩檢后才會(huì)將良品以同一極性方向地封裝于一包裝條中以完成檢測(cè)包裝作業(yè)。而目前的被動(dòng)組件為維持其檢測(cè)速度，在進(jìn)行上述各項(xiàng)數(shù)據(jù)的檢測(cè)時(shí)，通常是分別依序運(yùn)送到各種專門檢測(cè)單項(xiàng)數(shù)據(jù)的檢測(cè)機(jī)(如層間測(cè)試機(jī)、直流電阻測(cè)試機(jī)、串聯(lián)電感測(cè)式機(jī)、串聯(lián)電阻測(cè)式機(jī)及外觀檢查機(jī)等)進(jìn)行檢測(cè)及篩檢，然后才會(huì)送到一包裝機(jī)進(jìn)行極性方向的測(cè)試、轉(zhuǎn)換及包裝。因此整個(gè)檢測(cè)包裝的流程的時(shí)間及人力會(huì)被大量浪費(fèi)在被動(dòng)組件于各檢測(cè)機(jī)臺(tái)之間的運(yùn)送中，而使檢測(cè)效率不佳與外觀碰傷，尤其是如此多的被動(dòng)組件檢測(cè)機(jī)及包裝機(jī)不但會(huì)占用大量的空間及人力，而且更是會(huì)使設(shè)備成本大幅增加。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是:針對(duì)現(xiàn)有被動(dòng)組件的檢測(cè)包裝流程中需經(jīng)過多臺(tái)的被動(dòng)組件檢測(cè)機(jī)及包裝機(jī)方可達(dá)成，而存在的檢測(cè)包裝效率不佳、占空間及成本高等諸多問題，而提供一種被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:一種被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，包括機(jī)臺(tái)、進(jìn)料模塊及包裝模塊，該進(jìn)料模塊設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可供將數(shù)個(gè)被動(dòng)組件依序向前傳送；該包裝模塊設(shè)于機(jī)臺(tái)上；其特點(diǎn)是，該檢測(cè)包裝機(jī)還包括:分割盤，該分割盤可順時(shí)針寸轉(zhuǎn)地設(shè)在該機(jī)臺(tái)上，該分割盤的周面等間隔設(shè)有數(shù)個(gè)缺槽，該分割盤的寸轉(zhuǎn)角度為一格，使每一缺槽依序接收一個(gè)來自該進(jìn)料模塊的被動(dòng)組件，并將其順時(shí)針運(yùn)送；層間測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試，以取得被動(dòng)組件進(jìn)行非破壞性的耐電氣沖擊數(shù)據(jù)；直流電阻測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行直流電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的直流電阻數(shù)據(jù)；串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行串聯(lián)電感/電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的串聯(lián)電感值及串聯(lián)電阻值；第一極性測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的極性方向；極性轉(zhuǎn)換器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上且位于該第一極性測(cè)試器之后，可供將經(jīng)該第一極性測(cè)試器檢測(cè)出的反向的被動(dòng)組件轉(zhuǎn)換至正向；該包裝模塊設(shè)于該分割盤運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，可將檢測(cè)完成及極性轉(zhuǎn)換成正向的被動(dòng)組件良品依序封裝于包裝條之中。
[0005]所述檢測(cè)包裝機(jī)更包括第二極性測(cè)試器，該第二極性測(cè)試器設(shè)在該機(jī)臺(tái)上且位于該極性轉(zhuǎn)換器之后，可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以確定被動(dòng)組件的極性方向。
[0006]所述檢測(cè)包裝機(jī)更包括吸塵單元和CXD外觀檢測(cè)器，該吸塵單元設(shè)于該機(jī)臺(tái)上且位于上述所有測(cè)試器、檢測(cè)器及極性轉(zhuǎn)換器之后，可供將缺槽中除被動(dòng)組件以外的雜質(zhì)吸出；該0?外觀檢測(cè)器設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可擷取經(jīng)過的被動(dòng)組件的影像并進(jìn)行外觀檢查；所述機(jī)臺(tái)上具有層間測(cè)試不良品排出孔、直流電阻測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔、極性測(cè)試不良品排出孔、外觀檢測(cè)不良品排出孔及重測(cè)排除孔；該層間測(cè)試不良品排出孔位于該層間測(cè)試器之后，可將層間測(cè)式值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該直流電阻測(cè)試不良品排出孔位于該直流電阻測(cè)試器之后，可將直流電阻測(cè)試超值出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔位于該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器之后，可將串聯(lián)電感測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔位于該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器之后，可將串聯(lián)電阻測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該極性測(cè)試不良品排出孔位于該第二極性測(cè)試器之后但位于該吸塵單元之前，可將經(jīng)該第二極性測(cè)試器確定為極性方向錯(cuò)誤的被動(dòng)組件排出；該外觀檢測(cè)不良品排出孔位于該CCD外觀檢測(cè)器之后但位于該吸塵單元之前，可供將經(jīng)該CCD外觀檢測(cè)器檢測(cè)出外觀有瑕疵的被動(dòng)組件排出；重測(cè)排除孔可于測(cè)試時(shí)萬一測(cè)試儀器死機(jī)或停機(jī)，此時(shí)將分割盤上所有的被動(dòng)組件全部排出到重測(cè)排除孔。
[0007]所述機(jī)臺(tái)上設(shè)有數(shù)個(gè)吹氣單元，該吹氣單元對(duì)應(yīng)設(shè)于層間測(cè)試不良品排出孔、直流電阻測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔、極性測(cè)試不良品排出孔及外觀檢測(cè)不良品排出孔處，可將分割盤的缺槽中相對(duì)應(yīng)的不良品吹入相應(yīng)的不良品排出孔中。
[0008]所述層間測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)，該探針上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。
[0009]所述串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)。
[0010]所述直流電阻測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)，該探針上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。
[0011]所述第一極性測(cè)試器及第二極性測(cè)試器分別具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)。
[0012]所述極性轉(zhuǎn)換器具有可轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)件，該旋轉(zhuǎn)件位于該分割盤的外側(cè)，于該旋轉(zhuǎn)件的頂面具有貫通到兩相對(duì)側(cè)呈開口狀的一容槽以供容納該被動(dòng)組件，該機(jī)臺(tái)上設(shè)有兩吹氣單元分別位于該旋轉(zhuǎn)件的內(nèi)側(cè)及外側(cè)，位在內(nèi)側(cè)的吹氣單元可將極性反向的被動(dòng)組件由該分割盤的缺槽吹到該旋轉(zhuǎn)件的容槽中，位在外側(cè)的吹氣單元可將經(jīng)該旋轉(zhuǎn)件旋轉(zhuǎn)180度的極性正向的被動(dòng)組件由該旋轉(zhuǎn)件的容槽吹回該分割盤的缺槽中。
[0013]如此，本被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，可藉由該些依序設(shè)于該分割盤運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上的層間測(cè)試器、直流電阻測(cè)試器、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器、第一極性測(cè)試器及CCD外觀檢測(cè)器對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行檢測(cè)使其在同一機(jī)臺(tái)中即可取得該被動(dòng)組件的層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試、極性測(cè)試、外觀檢測(cè)等相關(guān)數(shù)據(jù)，以供進(jìn)行良品及不良品的快速篩檢。而且，可利用該吸塵單元將除被動(dòng)組件以外的粉塵等雜質(zhì)吸出，以及可藉由極性轉(zhuǎn)換器將反向的被動(dòng)組件轉(zhuǎn)換成正向，以便之后的封裝作業(yè)，而可大幅提升被動(dòng)組件的檢測(cè)和包裝效率，并可降低設(shè)備的購(gòu)置成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1是本實(shí)用新型的系統(tǒng)方塊圖。
[0015]圖2是本實(shí)用新型的另一系統(tǒng)方塊圖。
[0016]圖3是本實(shí)用新型各構(gòu)件的位置配置示意圖。
[0017]圖4是本實(shí)用新型各構(gòu)件的另一位置配置示意圖。
[0018]圖5是本實(shí)用新型的層間檢測(cè)器及串聯(lián)電感、電阻測(cè)試器的立體外觀示意圖。
[0019]圖6是本實(shí)用新型的直流電阻測(cè)試器及極性測(cè)試器的側(cè)面示意圖。
[0020]圖7是本實(shí)用新型的極性轉(zhuǎn)換器的立體外觀示意圖。
[0021]標(biāo)號(hào)說明:
[0022]10機(jī)臺(tái)11層間測(cè)試不良品排出孔
[0023]12直流電阻測(cè)試不良品排出孔 13串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔
[0024]14串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔 15極性測(cè)試不良品排出孔
[0025]16外觀檢測(cè)不良品排出孔20進(jìn)料模塊
[0026]30分割盤31缺槽
[0027]32重測(cè)排除孔40層間測(cè)試器
[0028]400探針41直流電阻測(cè)試器
[0029]410探針42串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器
[0030]43第一極性測(cè)試器44極性轉(zhuǎn)換器
[0031]440旋轉(zhuǎn)件441容槽
[0032]45第二極性測(cè)試器50CXD外觀檢測(cè)器
[0033]60吸塵單元70包裝模塊
[0034]80包裝條

【具體實(shí)施方式】
[0035]請(qǐng)參閱圖1-圖7所示,顯示本實(shí)用新型所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)包括機(jī)臺(tái)10及設(shè)于該機(jī)臺(tái)10上的進(jìn)料模塊20、分割盤30、層間測(cè)試器40、直流電阻測(cè)試器41、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器42、第一極性測(cè)試器43、極性轉(zhuǎn)換器44、第二極性測(cè)試器45、CCD外觀檢測(cè)器50、吸塵單元60及包裝模塊70。其中:
[0036]該機(jī)臺(tái)10上具有層間測(cè)試不良品排出孔11、直流電阻測(cè)試不良品排出孔12、串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔13、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔14、極性測(cè)試不良品排出孔15及外觀檢測(cè)不良品排出孔16。該層間測(cè)試不良品排出孔11可供將層間測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出，該直流電阻測(cè)試不良品排出孔12可供將直流電阻測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出，該串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔13可供將串聯(lián)電感測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出，該串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔14可供將串聯(lián)電阻測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出，該極性測(cè)試不良品排出孔15可供將極性方向錯(cuò)誤的被動(dòng)組件排出，該外觀檢測(cè)不良品排出孔16可供將外觀有瑕疵的被動(dòng)組件排出。上述各不良品排出孔分別配合有一吹氣單元(圖中未示)可供將分割盤30上相對(duì)應(yīng)的不良品吹入相應(yīng)的不良品排出孔中，另外還具有重測(cè)排除孔32，以便在測(cè)試時(shí)，萬一測(cè)試儀器死機(jī)，此時(shí)可將分割盤30上所有的被動(dòng)組件全部排出到重測(cè)排除孔32，以免未經(jīng)測(cè)試的被動(dòng)組件被包裝。
[0037]該進(jìn)料模塊20可供將數(shù)個(gè)被動(dòng)組件依序向前傳送到該分割盤30。
[0038]該分割盤30可在該機(jī)臺(tái)10上順時(shí)針寸轉(zhuǎn)，該分割盤30的周面等間隔設(shè)有數(shù)個(gè)缺槽31，該分割盤30的寸轉(zhuǎn)角度為一格，每一缺槽31可依序接收一個(gè)來自該進(jìn)料模塊20的被動(dòng)組件，并將其順時(shí)針運(yùn)送。
[0039]該層間測(cè)試器40設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該進(jìn)料模塊20之后與該層間測(cè)試不良品排出孔11之前。該層間測(cè)試器40可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試，以取得被動(dòng)組件進(jìn)行非破壞性的耐電氣沖擊數(shù)據(jù)。
[0040]該直流電阻(DCR)測(cè)試器41設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該層間測(cè)試不良品排出孔11之后與該直流電阻測(cè)試不良品排出孔12之前。該直流電阻測(cè)試器41可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行直流電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的直流電阻數(shù)據(jù)。
[0041]該串聯(lián)電感/電阻(LS/RS)測(cè)試器42設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該直流電阻測(cè)試不良品排出孔12之后及位于該串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔13、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔14之前。該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器42可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行串聯(lián)電感/電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的串聯(lián)電感值及串聯(lián)電阻值。
[0042]該第一極性測(cè)試器43設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔13、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔14之后。該第一極性測(cè)試器43可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的極性方向。
[0043]該極性轉(zhuǎn)換器44設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該第一極性測(cè)試器43之后。該極性轉(zhuǎn)換器44可供將經(jīng)該第一極性測(cè)試器43檢測(cè)出的反向的被動(dòng)組件轉(zhuǎn)換至正向。
[0044]該第二極性測(cè)試器45設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該極性轉(zhuǎn)換器44之后、該極性測(cè)試不良品排出孔15之前，可供對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以再次確定被動(dòng)組件的極性方向。
[0045]該CXD外觀檢測(cè)器50設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該極性測(cè)試不良品排出孔15之后與該外觀檢測(cè)不良品排出孔16之前。該CCD外觀檢測(cè)器50可供擷取經(jīng)過的被動(dòng)組件的影像并進(jìn)行外觀檢查。
[0046]該吸塵單元60設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該外觀檢測(cè)不良品排出孔16之后。該吸塵單元60可將該分割盤30上經(jīng)過其下方缺槽31中除被動(dòng)組件以外的粉塵、灰塵等雜質(zhì)吸出。
[0047]該包裝模塊70設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，且位于該吸塵單元60之后。該包裝模塊70可供將檢測(cè)完成及極性轉(zhuǎn)換成正向的被動(dòng)組件依序封裝于包裝條80之中。
[0048]請(qǐng)參閱圖5所示，指出該層間測(cè)試器40具有同步升降的數(shù)根探針400，該探針400位在該分割盤30的相對(duì)應(yīng)缺槽31的下側(cè)。該探針400上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽31中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。而該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器42的結(jié)構(gòu)與該層間測(cè)試器40相同，僅是測(cè)試的數(shù)據(jù)不同。
[0049]請(qǐng)參閱圖6所示，指出該直流電阻測(cè)試器41具有同步升降的數(shù)根探針410，該探針410位在該分割盤30的相對(duì)應(yīng)缺槽31的下側(cè)，該探針410上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽31中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。而該第一極性測(cè)試器43及第二極性測(cè)試器45的結(jié)構(gòu)與該直流電阻測(cè)試器41相同，僅是測(cè)試的數(shù)據(jù)不同。
[0050]請(qǐng)參閱圖7所示，指出該極性轉(zhuǎn)換器44具有可轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)件440，該旋轉(zhuǎn)件440位于該分割盤30的外側(cè)，于該旋轉(zhuǎn)件440的頂面具有貫穿到兩相對(duì)側(cè)呈開口狀的容槽441可供容納該被動(dòng)組件。該機(jī)臺(tái)10上配合設(shè)有兩吹氣單元(圖中未示)分別位于該旋轉(zhuǎn)件440的內(nèi)側(cè)及外側(cè)，位在內(nèi)側(cè)的吹氣單元可供將極性反向的被動(dòng)組件由該分割盤30的缺槽31吹到該旋轉(zhuǎn)件440的容槽441中，位在外側(cè)的吹氣單元可將經(jīng)該旋轉(zhuǎn)件440旋轉(zhuǎn)180度的極性正向的被動(dòng)組件由該旋轉(zhuǎn)件440的容槽441吹回該分割盤30的缺槽31中。
[0051]本實(shí)用新型所提供的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)可藉由該些依序設(shè)于該分割盤30運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上的層間測(cè)試器40、直流電阻測(cè)試器41、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器42、第一極性測(cè)試器43、極性轉(zhuǎn)換器44、第二極性測(cè)試器45及CXD外觀檢測(cè)器50對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行各種數(shù)據(jù)及外觀的檢測(cè)使其在同一機(jī)臺(tái)中即可取得該被動(dòng)組件的層間測(cè)試、直流電阻測(cè)試、串聯(lián)電感/電阻測(cè)試、極性測(cè)試、外觀檢測(cè)等相關(guān)數(shù)據(jù)，以供利于進(jìn)行良品及不良品的快速篩檢。而且，可利用該吸塵單元60將除被動(dòng)組件以外的粉塵等雜質(zhì)吸出，以及可藉由極性轉(zhuǎn)換器44將反向的被動(dòng)組件轉(zhuǎn)換成正向，以便之后的封裝作業(yè)，從而可大幅提升被動(dòng)組件的檢測(cè)和包裝效率，并可降低設(shè)備的購(gòu)置成本。
【權(quán)利要求】
1.一種被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，包括機(jī)臺(tái)、進(jìn)料模塊及包裝模塊，該進(jìn)料模塊設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可供將數(shù)個(gè)被動(dòng)組件依序向前傳送；該包裝模塊設(shè)于機(jī)臺(tái)上；其特征在于，該檢測(cè)包裝機(jī)還包括: 分割盤，該分割盤可順時(shí)針寸轉(zhuǎn)地設(shè)在該機(jī)臺(tái)上，該分割盤的周面等間隔設(shè)有數(shù)個(gè)缺槽，該分割盤的寸轉(zhuǎn)角度為一格，使每一缺槽依序接收一個(gè)來自該進(jìn)料模塊的被動(dòng)組件，并將其順時(shí)針運(yùn)送； 層間測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行層間測(cè)試，以取得被動(dòng)組件進(jìn)行非破壞性的耐電氣沖擊數(shù)據(jù)； 直流電阻測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行直流電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的直流電阻數(shù)據(jù)； 串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行串聯(lián)電感/電阻測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的串聯(lián)電感值及串聯(lián)電阻值； 第一極性測(cè)試器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以取得被動(dòng)組件的極性方向； 極性轉(zhuǎn)換器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上且位于該第一極性測(cè)試器之后，可供將經(jīng)該第一極性測(cè)試器檢測(cè)出的反向的被動(dòng)組件轉(zhuǎn)換至正向； 該包裝模塊設(shè)于該分割盤運(yùn)送被動(dòng)組件的路徑上，可將檢測(cè)完成及極性轉(zhuǎn)換成正向的被動(dòng)組件良品依序封裝于包裝條之中。
2.如權(quán)利要求1所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述檢測(cè)包裝機(jī)更包括第二極性測(cè)試器，該第二極性測(cè)試器設(shè)在該機(jī)臺(tái)上且位于該極性轉(zhuǎn)換器之后，可對(duì)經(jīng)過的被動(dòng)組件進(jìn)行極性測(cè)試，以確定被動(dòng)組件的極性方向。
3.如權(quán)利要求2所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述檢測(cè)包裝機(jī)更包括吸塵單元和CCD外觀檢測(cè)器，該吸塵單元設(shè)于該機(jī)臺(tái)上且位于上述所有測(cè)試器、檢測(cè)器及極性轉(zhuǎn)換器之后，可供將缺槽中除被動(dòng)組件以外的雜質(zhì)吸出；該CCD外觀檢測(cè)器設(shè)于該機(jī)臺(tái)上可擷取經(jīng)過的被動(dòng)組件的影像并進(jìn)行外觀檢查；所述機(jī)臺(tái)上具有層間測(cè)試不良品排出孔、直流電阻測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔、極性測(cè)試不良品排出孔、外觀檢測(cè)不良品排出孔及重測(cè)排除孔；該層間測(cè)試不良品排出孔位于該層間測(cè)試器之后，可將層間測(cè)式值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該直流電阻測(cè)試不良品排出孔位于該直流電阻測(cè)試器之后，可將直流電阻測(cè)試超值出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔位于該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器之后，可將串聯(lián)電感測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔位于該串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器之后，可將串聯(lián)電阻測(cè)試值超出標(biāo)準(zhǔn)范圍的不良品排出；該極性測(cè)試不良品排出孔位于該第二極性測(cè)試器之后但位于該吸塵單元之前，可將經(jīng)該第二極性測(cè)試器確定為極性方向錯(cuò)誤的被動(dòng)組件排出；該外觀檢測(cè)不良品排出孔位于該CCD外觀檢測(cè)器之后但位于該吸塵單元之前，可供將經(jīng)該CCD外觀檢測(cè)器檢測(cè)出外觀有瑕疵的被動(dòng)組件排出；重測(cè)排除孔可于測(cè)試時(shí)萬一測(cè)試儀器死機(jī)或停機(jī)，此時(shí)將分割盤上所有的被動(dòng)組件全部排出到重測(cè)排除孔。
4.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述機(jī)臺(tái)上設(shè)有數(shù)個(gè)吹氣單元，該吹氣單元對(duì)應(yīng)設(shè)于層間測(cè)試不良品排出孔、直流電阻測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電感測(cè)試不良品排出孔、串聯(lián)電阻測(cè)試不良品排出孔、極性測(cè)試不良品排出孔及外觀檢測(cè)不良品排出孔處，可將分割盤的缺槽中相對(duì)應(yīng)的不良品吹入相應(yīng)的不良品排出孔中。
5.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述層間測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)，該探針上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述串聯(lián)電感/電阻測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)。
7.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述直流電阻測(cè)試器具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)，該探針上升時(shí)可接觸該相對(duì)應(yīng)缺槽中的被動(dòng)組件以進(jìn)行充壓及檢測(cè)出相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述第一極性測(cè)試器及第二極性測(cè)試器分別具有同步升降的數(shù)根探針，該探針位在該分割盤的相對(duì)應(yīng)缺槽的下側(cè)。
9.如權(quán)利要求3所述的被動(dòng)組件檢測(cè)包裝機(jī)，其特征在于，所述極性轉(zhuǎn)換器具有可轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)件，該旋轉(zhuǎn)件位于該分割盤的外側(cè)，于該旋轉(zhuǎn)件的頂面具有貫通到兩相對(duì)側(cè)呈開口狀的一容槽以供容納該被動(dòng)組件，該機(jī)臺(tái)上設(shè)有兩吹氣單元分別位于該旋轉(zhuǎn)件的內(nèi)側(cè)及外側(cè)，位在內(nèi)側(cè)的吹氣單元可將極性反向的被動(dòng)組件由該分割盤的缺槽吹到該旋轉(zhuǎn)件的容槽中，位在外側(cè)的吹氣單元可將經(jīng)該旋轉(zhuǎn)件旋轉(zhuǎn)180度的極性正向的被動(dòng)組件由該旋轉(zhuǎn)件的容槽吹回該分割盤的缺槽中。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK204161686SQ201420310362
【公開日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2014年6月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月11日
【發(fā)明者】莊長(zhǎng)光 申請(qǐng)人:鋅詠豐精密科技股份有限公司