Ptc熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，它包括底座(1)、導(dǎo)柱(2)、傳動裝置(3)、電壓控制系統(tǒng)，底座(1)上水平固定有下測試針板組件；導(dǎo)柱(2)豎直固定在底座(1)上，導(dǎo)柱(2)上連接有可滑動的上測試針板組件、可放置測試板的定位滑軌組件，定位滑軌組件與底座(1)之間設(shè)置有彈簧(4)、定位滑軌組件設(shè)置在下測試針板組件與上測試針板組件之間；傳動裝置(3)通過傳動主軸與上測試針板組件固定；傳動裝置(3)、上測試針板組件、下測試針板與電壓控制系統(tǒng)電路連接。本實(shí)用新型它能夠提高耐電壓測試效率，降低報(bào)廢現(xiàn)象，降低成本；維護(hù)維修方便，操作簡單，具有良好的通用性、靈活性、快捷性。
【專利說明】PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]在目前PTC熱敏電阻陶瓷生產(chǎn)設(shè)備中，對其耐電壓的測試設(shè)備均為手工操作設(shè)備。在批量生產(chǎn)中手工操作設(shè)備暴露出了功效低、保壓時間控制不精確、測試過程中報(bào)廢產(chǎn)品多等缺點(diǎn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的是:提供一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，它通過彈簧式測針、氣缸頂壓原理，提高耐電壓測試效率，降低報(bào)廢現(xiàn)象，從而達(dá)到降低成本的目的。
[0004]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，它包括底座、導(dǎo)柱、傳動裝置、電壓控制系統(tǒng)，所述底座上水平固定有下測試針板組件；所述導(dǎo)柱豎直固定在底座上，導(dǎo)柱上連接有可滑動的上測試針板組件、可放置測試板的定位滑軌組件，定位滑軌組件與底座之間設(shè)置有彈簧、定位滑軌組件設(shè)置在下測試針板組件與上測試針板組件之間；所述傳動裝置通過傳動主軸與上測試針板組件固定；傳動裝置、上測試針板組件、下測試針板組件與電壓控制系統(tǒng)電路連接。
[0005]下面對上述技術(shù)方案進(jìn)行進(jìn)一步解釋:
[0006]所述上測試針板組件包括上測試針板、上直線軸承、測針；所述上直線軸承設(shè)置在導(dǎo)柱上，上測試針板與上直線軸承固定。
[0007]所述下測試針板組件包括下測試針板、固定柱、測針；下測試針板通過固定柱與底座固定。
[0008]所述定位滑軌組件包括定位滑軌、下直線軸承；下直線軸承與導(dǎo)柱連接，定位滑軌與下直線軸承固定。
[0009]所述上測試針板上的測試針為可替換的連接于上測試針板上。
[0010]所述下測試針板上的測試針為可替換的連接于下測試針板上。
[0011]所述上測試針板上的測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
[0012]所述下測試針板上的測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
[0013]所述傳動裝置為氣缸。
[0014]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是:本實(shí)用新型的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，它能夠提高耐電壓測試效率，降低報(bào)廢現(xiàn)象，從而達(dá)到降低成本的目的；在日常維護(hù)維修時較為方便，操作簡單，具有良好的通用性、靈活性、快捷性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述:
[0016]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的立面結(jié)構(gòu)透視圖；
[0018]其中:1底座；2導(dǎo)柱；3傳動裝置4彈簧5上測試針板6上直線軸承7下測試針板8固定柱9定位滑軌10下直線軸承。

【具體實(shí)施方式】
[0019]實(shí)施例:如圖1所示，一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，它包括底座1、導(dǎo)柱
2、傳動裝置3、彈簧4、上測試針板組件、下測試針板組件、定位滑軌組件、電壓控制系統(tǒng)。傳動裝置3為氣缸。
[0020]如圖2所示，下測試針板組件水平固定在底座I上；下測試針板組件包括下測試針板7、固定柱8、測針；下測試針板7通過固定柱8與底座I固定。下測試針板7上的測試針為可替換的連接于下測試針板7上；測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
[0021]導(dǎo)柱2豎直固定在底座I上，上測試針板組件可滑動的連接在導(dǎo)柱2上。上測試針板組件包括上測試針板5、上直線軸承6、測針；上直線軸承6設(shè)置在導(dǎo)柱2上，上測試針板5與上直線軸承6固定。上測試針板5上的測試針為可替換的連接于上測試針板5上；測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
[0022]可放置測試板的定位滑軌組件連接在導(dǎo)柱2上，定位滑軌組件與底座I之間設(shè)置彈簧4、定位滑軌組件設(shè)置在下測試針板組件與上測試針板組件之間；定位滑軌組件包括定位滑軌9、下直線軸承10 ;下直線軸承10與導(dǎo)柱2連接，定位滑軌9與下直線軸承10固定。
[0023]傳動裝置3通過傳動主軸與上測試針板組件固定；傳動裝置3、上測試針板5、下測試針板7與電壓控制系統(tǒng)電路連接。當(dāng)工作時，將排放有PTC的測試板放置于定位滑軌9上；啟動電路控制系統(tǒng)的開關(guān)及按鈕；傳動裝置3(氣缸)下降；上測試針板5往下壓；測試板受壓往下移動，受彈簧4控制達(dá)到預(yù)定點(diǎn)，上測試針板5與下測試針板7配合工作完成測試。當(dāng)測試過程中或測試后測試針發(fā)生損壞時，可以更換。
[0024]應(yīng)當(dāng)指出，對于經(jīng)充分說明的本實(shí)用新型來說，還可具有多種變換及改型的實(shí)施方案，并不局限于上述實(shí)施方式的具體實(shí)施例。上述實(shí)施例僅僅作為本實(shí)用新型的說明，而不是對本實(shí)用新型的限制?？傊?，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)包括那些對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說顯而易見的變換或替代以及改型。
【權(quán)利要求】
1.一種PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:它包括底座(I)、導(dǎo)柱(2)、傳動裝置(3)、電壓控制系統(tǒng)，所述底座(I)上水平固定有下測試針板組件；所述導(dǎo)柱(2)豎直固定在底座(I)上，導(dǎo)柱(2)上連接有可滑動的上測試針板組件、可放置測試板的定位滑軌組件，定位滑軌組件與底座(I)之間設(shè)置有彈簧(4)、定位滑軌組件設(shè)置在下測試針板組件與上測試針板組件之間；所述傳動裝置(3)通過傳動主軸與上測試針板組件固定；傳動裝置(3)、上測試針板組件、下測試針板組件與電壓控制系統(tǒng)電路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述上測試針板組件包括上測試針板(5)、上直線軸承￠)、測針；所述上直線軸承(6)設(shè)置在導(dǎo)柱(2)上，上測試針板(5)與上直線軸承(6)固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述下測試針板組件包括下測試針板(7)、固定柱(8)、測針；下測試針板(7)通過固定柱(8)與底座(I)固定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述定位滑軌組件包括定位滑軌(9)、下直線軸承(10);下直線軸承(10)與導(dǎo)柱(2)連接，定位滑軌(9)與下直線軸承(10)固定。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述上測試針板(5)上的測試針為可替換的連接于上測試針板(5)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述下測試針板(7)上的測試針為可替換的連接于下測試針板(7)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述上測試針板(5)上的測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述下測試針板(7)上的測試針的根數(shù)為42根，測試針為陣列排列。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC熱敏電阻陶瓷耐電壓測試設(shè)備，其特征在于:所述傳動裝置⑶為氣缸。
【文檔編號】G01R31/12GK204065325SQ201420317370
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年6月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月10日
【發(fā)明者】金建德, 張力, 何勵湧, 林孝杰, 杜國鋒 申請人:海寧永力電子陶瓷有限公司