一種pcb電氣性能測(cè)試治具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型適用于PCB板生產(chǎn)【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種PCB電氣性能測(cè)試治具，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層、若干沿豎直方向設(shè)置于兩塊主導(dǎo)層之間的導(dǎo)向?qū)印⒅辽賰筛┰O(shè)于主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)又械奶结?、以及穿設(shè)過主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)拥闹螚U，導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為八塊。本實(shí)用新型在保證治具整體高度不變的前提下，通過在主導(dǎo)層間增加導(dǎo)向?qū)?，使相鄰兩?dǎo)向?qū)娱g的間隔變小，在測(cè)試過程中探針不會(huì)發(fā)生彎曲，從而相鄰的兩探針不會(huì)因接觸而導(dǎo)致治具內(nèi)部短路，防止了誤測(cè)的發(fā)生。
【專利說明】—種PCB電氣性能測(cè)試治具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于PCB生產(chǎn)【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種PCB電氣性能測(cè)試治具。

【背景技術(shù)】
[0002]PCB電氣測(cè)試治具主要用于給探針導(dǎo)向及固定，圖1所示為一種現(xiàn)有的PCB電氣測(cè)試治具100'，該治具100'的頂部及底部分別設(shè)置有一主導(dǎo)層y，兩主導(dǎo)層^之間設(shè)置有五塊導(dǎo)向?qū)?'，兩塊導(dǎo)向?qū)?'之間的最大間距為19.1mm，治具上探針3'最小的直徑為12mil，探針3丨間最小間距為3.5mil，在市場(chǎng)上，測(cè)試探針3丨的長(zhǎng)度是固定的95.25mm,因此，治具的整體高度是一個(gè)定值。在測(cè)試過程中探針3 ’的一端抵持PCB，另一端抵持測(cè)試機(jī)臺(tái)，故探針3 '的兩端均受力，因相鄰兩導(dǎo)向?qū)? '的間距過大，相鄰的兩根探針3 '的中間部位容易彎曲并相互接觸，導(dǎo)致測(cè)試治具內(nèi)部短路，造成誤測(cè)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種PCB電氣性能測(cè)試治具，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的治具因兩塊導(dǎo)向?qū)娱g的間距過大，從而導(dǎo)致治具內(nèi)部短路，造成誤測(cè)的問題。
[0004]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種PCB電氣性能測(cè)試治具，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層、若干沿豎直方向設(shè)置于所述的兩塊主導(dǎo)層之間的導(dǎo)向?qū)印⒅辽賰筛┰O(shè)于所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)又械奶结?、以及穿設(shè)過所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)拥闹螚U，所述導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為八塊。
[0005]進(jìn)一步地，所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸认嗤?br> [0006]進(jìn)一步地，每一導(dǎo)向?qū)拥暮穸葹?.0mm。
[0007]進(jìn)一步地，相鄰導(dǎo)向?qū)又g的最大間距為10.37mm。
[0008]進(jìn)一步地，相鄰探針之間的最小間距為5mil。
[0009]進(jìn)一步地,所述探針的直徑最小為1mil。
[0010]進(jìn)一步地，相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。
[0011]進(jìn)一步地，位于下方的主導(dǎo)層與相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。
[0012]進(jìn)一步地，位于上方的主導(dǎo)層疊置于相鄰的導(dǎo)向?qū)由稀?br> [0013]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于:本實(shí)用新型在保證治具整體高度不變的前提下，通過在主導(dǎo)層間增加導(dǎo)向?qū)?，使相鄰兩?dǎo)向?qū)娱g的間隔變小，在測(cè)試過程中探針不會(huì)發(fā)生彎曲，從而相鄰的兩探針不會(huì)因接觸而導(dǎo)致治具內(nèi)部短路，防止了誤測(cè)的發(fā)生。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的PCB電氣性能測(cè)試治具的縱向剖視示意圖。
[0015]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的PCB電氣性能測(cè)試治具的縱向剖視示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0016]為了使本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0017]如圖2所示，為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例，一種PCB電氣性能測(cè)試治具100，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層1、若干沿豎直方向設(shè)置于兩塊主導(dǎo)層I之間的導(dǎo)向?qū)?、至少兩根穿設(shè)于主導(dǎo)層I與導(dǎo)向?qū)?中的探針3、以及穿設(shè)過主導(dǎo)層I與導(dǎo)向?qū)?的支撐桿4，導(dǎo)向?qū)?的數(shù)量為八塊。
[0018]具體地，相鄰的導(dǎo)向?qū)?之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設(shè)于墊圈5中。位于下方的主導(dǎo)層I與相鄰的導(dǎo)向?qū)?之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設(shè)于墊圈5中。位于上方的主導(dǎo)層I疊置于相鄰的導(dǎo)向?qū)?上。
[0019]每一導(dǎo)向?qū)?的厚度相同，因?qū)驅(qū)?的厚度過厚時(shí)無法插針，導(dǎo)向?qū)?過薄時(shí)探針3在測(cè)試過程中容易上下擺動(dòng)，造成導(dǎo)向?qū)?上的孔磨損變大，影響測(cè)試良率，因此導(dǎo)向?qū)?厚度優(yōu)選為1.0mm。
[0020]于本實(shí)施例中，治具100的兩個(gè)導(dǎo)向?qū)?之間的最大的間距縮小為10.37mm,治具100上的探針3最小的直徑為lOmil，探針3間最小間距為5mil，將兩個(gè)導(dǎo)向?qū)?之間的間距縮小，使探針3中間彎曲度變小，并且縮小了探針3直徑，增大兩根探針3之間的間距，在測(cè)試過程中，探針3兩端受力，中間彎曲度變小，同時(shí)，增大了相鄰兩根探針3之間的間距，使相鄰的兩根探針3不會(huì)因接觸而導(dǎo)致治具100內(nèi)部短路，防止了誤測(cè)的發(fā)生。
[0021]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種PCB電氣性能測(cè)試治具，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層、若干沿豎直方向設(shè)置于所述的兩塊主導(dǎo)層之間的導(dǎo)向?qū)印⒅辽賰筛┰O(shè)于所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)又械奶结?、以及穿設(shè)過所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)拥闹螚U，其特征在于，所述導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為八塊。
2.如權(quán)利要求1所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸认嗤?br> 3.如權(quán)利要求2所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，每一導(dǎo)向?qū)拥暮穸葹?.0mm0
4.如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，相鄰導(dǎo)向?qū)又g的最大間距為10.37mm。
5.如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，相鄰探針之間的最小間距為5mil。
6.如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，所述探針的直徑最小為1miI。
7.如權(quán)利要求1所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。
8.如權(quán)利要求1所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，位于下方的主導(dǎo)層與相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。
9.如權(quán)利要求1、7或8所述的PCB電氣性能測(cè)試治具，其特征在于，位于上方的主導(dǎo)層疊置于相鄰的導(dǎo)向?qū)由稀?br> 【文檔編號(hào)】G01R1/02GK204086306SQ201420377815
【公開日】2015年1月7日 申請(qǐng)日期:2014年7月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月9日
【發(fā)明者】夏述文, 陳代樹 申請(qǐng)人:競(jìng)?cè)A電子(深圳)有限公司