一種pcb電氣性能測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型適用于PCB板生產(chǎn)【技術領域】，提供了一種PCB電氣性能測試治具，包括位于頂部的一塊主導層，疊置于底部的兩塊主導層、若干沿豎直方向設置于頂?shù)着c底部的主導層之間的導向層、至少兩根穿設于主導層與導向層中的探針、以及穿設過主導層與導向層的支撐桿，導向層的數(shù)量為九塊。本實用新型在保證治具整體高度不變的前提下，通過在主導層間增加導向層，使相鄰兩導向層間的間隔變小，在測試過程中探針不會發(fā)生彎曲，從而相鄰的兩探針不會因接觸而導致治具內(nèi)部短路，防止了誤測的發(fā)生。
【專利說明】—種PCB電氣性能測試治具

【技術領域】
[0001]本實用新型屬于PCB生產(chǎn)【技術領域】，尤其涉及一種PCB電氣性能測試治具。

【背景技術】
[0002]PCB電氣測試治具主要用于給探針導向及固定，圖1所示為一種現(xiàn)有的PCB電氣測試治具100'，該治具100'的頂部設置有一塊主導層y，底部設置有兩塊疊置的主導層^，頂部主導層y與底部上層的主導層^之間設置有六塊導向層2'，兩塊導向層2丨之間的最大間距為17mm,治具上探針3丨最小的直徑為1mil,探針3丨間最小間距為3.5mil，在市場上，測試探針3 ’的長度是固定的95.25mm，因此，治具的整體高度是一個定值。在測試過程中探針3'的一端抵持PCB，另一端抵持測試機臺，故探針3 '的兩端均受力，因相鄰兩導向層2'的間距過大，相鄰的兩根探針3 '的中間部位容易彎曲并相互接觸，導致測試治具內(nèi)部短路，造成誤測。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種PCB電氣性能測試治具，旨在解決現(xiàn)有技術中的治具因兩塊導向層間的間距過大，從而導致治具內(nèi)部短路，造成誤測的問題。
[0004]本實用新型是這樣實現(xiàn)的，一種PCB電氣性能測試治具，包括位于頂部的一塊主導層，疊置于底部的兩塊主導層、若干沿豎直方向設置于所述頂?shù)着c底部的主導層之間的導向層、至少兩根穿設于所述主導層與導向層中的探針、以及穿設過所述主導層與導向層的支撐桿，所述導向層的數(shù)量為九塊。
[0005]進一步地，所述導向層的厚度相同。
[0006]進一步地，每一導向層的厚度為1.0mm。
[0007]進一步地，相鄰導向層之間的最大間距為9.7mm。
[0008]進一步地，相鄰探針之間的最小間距為5mil。
[0009]進一步地，所述探針的直徑最小為8miI。
[0010]進一步地，相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
[0011]進一步地，位于下方的主導層與相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
[0012]進一步地，位于上方的主導層疊置于相鄰的導向層上。
[0013]本實用新型與現(xiàn)有技術相比，有益效果在于:本實用新型在保證治具整體高度不變的前提下，通過在主導層間增加導向層，使相鄰兩導向層間的間隔變小，在測試過程中探針不會發(fā)生彎曲，從而相鄰的兩探針不會因接觸而導致治具內(nèi)部短路，防止了誤測的發(fā)生。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1是現(xiàn)有技術中的PCB電氣性能測試治具的縱向剖視示意圖。
[0015]圖2是本實用新型實施例提供的PCB電氣性能測試治具的縱向剖視示意圖。

【具體實施方式】
[0016]為了使本實用新型所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0017]如圖2所示，為本實用新型的一較佳實施例，一種PCB電氣性能測試治具，包括位于頂部的一塊主導層1，疊置于底部的兩塊主導層1、若干沿豎直方向設置于頂?shù)着c底部的主導層I之間的導向層2、至少兩根穿設于主導層I與導向層2中的探針3、以及穿設過主導層I與導向層2的支撐桿4，導向層2的數(shù)量為九塊。
[0018]具體地，相鄰的導向層2之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設于墊圈5中。位于下方的主導層I與相鄰的導向層2之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設于墊圈5中。位于上方的主導層I疊置于相鄰的導向層2上。
[0019]每一導向層2的厚度相同，因導向層2的厚度過厚時無法插針，導向層2過薄時探針3在測試過程中容易上下擺動，造成導向層2上的孔磨損變大，影響測試良率，因此導向層2厚度優(yōu)選為1.0mm。
[0020]于本實施例中，治具100的兩個導向層2之間的最大的間距縮小為9.7_，治具100上的探針3最小的直徑為8mil，探針3間最小間距為5mil，將兩個導向層2之間的間距縮小，使探針3中間彎曲度變小，并且縮小了探針3直徑，增大兩根探針3之間的間距，在測試過程中，探針3兩端受力，中間彎曲度變小，同時，增大了相鄰兩根探針3之間的間距，使相鄰的兩根探針3不會因接觸而導致治具100內(nèi)部短路，防止了誤測的發(fā)生。
[0021]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【權利要求】
1.一種PCB電氣性能測試治具，包括位于頂部的一塊主導層，疊置于底部的兩塊主導層、若干沿豎直方向設置于所述頂?shù)着c底部的主導層之間的導向層、至少兩根穿設于所述主導層與導向層中的探針、以及穿設過所述主導層與導向層的支撐桿，其特征在于，所述導向層的數(shù)量為九塊。
2.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述導向層的厚度相同。
3.如權利要求2所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，每一導向層的厚度為1.0mm0
4.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰導向層之間的最大間距為9.7mm。
5.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰探針之間的最小間距為5mil。
6.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述探針的直徑最小為8mil。
7.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
8.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，位于下方的主導層與相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
9.如權利要求1、7或8所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，位于上方的主導層疊置于相鄰的導向層上。
【文檔編號】G01R1/073GK204086330SQ201420378407
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年7月9日 優(yōu)先權日:2014年7月9日
【發(fā)明者】夏述文 申請人:競華電子(深圳)有限公司