測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路的制作方法
【專(zhuān)利摘要】測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。目前，國(guó)內(nèi)還沒(méi)有針對(duì)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)的專(zhuān)用設(shè)備，一般采用多種儀器組合以手動(dòng)方式校驗(yàn)，存在接線(xiàn)復(fù)雜，附加誤差多，需專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行操作，工作效率低等不足。本實(shí)用新型的組成包括：高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路（1），所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器（2）、被測(cè)校驗(yàn)裝置（3）連接。本實(shí)用新型用于測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0002]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。
[0003]【背景技術(shù)】:
[0004]在工業(yè)控制及輸變電系統(tǒng)中，各種高壓開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器等通斷電控制器件被廣泛應(yīng)用，高壓開(kāi)關(guān)的合閘時(shí)間、分閘時(shí)間、合閘同期性、分閘同期性及彈跳時(shí)間等時(shí)間參數(shù)，對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定工作至關(guān)重要，如不引起足夠認(rèn)識(shí)，輕者可致電網(wǎng)波動(dòng)，重者導(dǎo)致重大供電事故。使用高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀對(duì)高壓開(kāi)關(guān)的時(shí)間參數(shù)進(jìn)行精確校驗(yàn)，對(duì)保障輸變電系統(tǒng)的安全、穩(wěn)定運(yùn)行有著重大意義。
[0005]目前，國(guó)內(nèi)還沒(méi)有針對(duì)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)的專(zhuān)用設(shè)備，一般采用多種儀器組合以手動(dòng)方式校驗(yàn)，存在接線(xiàn)復(fù)雜，附加誤差多，需專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行操作，工作效率低等不足。不能對(duì)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確校驗(yàn)。
[0006]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
[0007]本實(shí)用新型的目的是提供一種測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。
[0008]上述的目的通過(guò)以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0009]一種測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括:高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器、被測(cè)校驗(yàn)裝置連接。
[0010]所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻Rl、開(kāi)關(guān)BUTl連接，所述的開(kāi)關(guān)BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻Rl、所述的反相器UlB通過(guò)開(kāi)關(guān)SWl、開(kāi)關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連接，所述的D觸發(fā)器U2通過(guò)開(kāi)關(guān)SW3與被測(cè)校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門(mén)U3連接，所述的計(jì)數(shù)門(mén)U3分別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
[0011]所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用1MHz有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。
[0012]所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT1，所述的電阻R3與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT2，所述的R2與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT3，所述的D觸發(fā)器與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT4。
[0013]有益效果:
[0014]1.本實(shí)用新型的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路為被測(cè)校驗(yàn)裝置提供通、斷電動(dòng)作信號(hào)，電子計(jì)數(shù)器測(cè)量輸出的脈沖個(gè)數(shù)，將電子計(jì)數(shù)器測(cè)量到的脈沖個(gè)數(shù)換算成時(shí)間與被測(cè)校驗(yàn)裝置所顯示的時(shí)間進(jìn)行對(duì)比，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的校驗(yàn)。
[0015]2.本實(shí)用新型進(jìn)行校驗(yàn)裝置通電動(dòng)作校驗(yàn)時(shí)，將SWl置2，SW2置1，SW3置1，BUT3閉合，BUTl、BUT2處于開(kāi)啟狀態(tài)，簡(jiǎn)化電路見(jiàn)圖3 ；
[0016]在BUTl閉合前，UlB輸出低電平，被測(cè)校驗(yàn)裝置工作在“合閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)?zāi)Ｊ健?，端口處于開(kāi)啟狀態(tài)，U2的CLR引腳為高。BUT4作用為U2置零，使U2的Q輸出為低；
[0017]在BUTl閉合后，UlB輸出高電平，上升沿觸發(fā)U2，使U2的Q輸出高電平，同時(shí)觸發(fā)校驗(yàn)裝置和計(jì)數(shù)門(mén)U3，使校驗(yàn)裝置開(kāi)始計(jì)時(shí)、電子計(jì)數(shù)器測(cè)量輸出的脈沖個(gè)數(shù)。待定時(shí)時(shí)間到，校驗(yàn)裝置端口合閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關(guān)閉計(jì)數(shù)門(mén)U3，把電子計(jì)數(shù)器的計(jì)時(shí)與校驗(yàn)裝置定時(shí)時(shí)間比較，得到合閘時(shí)間校驗(yàn)誤差。
[0018]3.本實(shí)用新型進(jìn)行校驗(yàn)裝置斷電動(dòng)作校驗(yàn)時(shí)，將SWl置1，SW2置2，SW3置2，BUTU BUT2閉合，BUT3處于開(kāi)啟狀態(tài)，簡(jiǎn)化電路見(jiàn)圖4 ；
[0019]在BUTl開(kāi)啟前，UlA輸出低電平，被測(cè)校驗(yàn)裝置工作在“分閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)?zāi)Ｊ健?，端口處于閉合狀態(tài)，U2的CLR引腳為低。BUT3作用為U2置零，使U2的Q輸出為低；
[0020]在BUTl開(kāi)啟后，UlA輸出高電平，上升沿觸發(fā)U2，使U2的Q輸出高電平，觸發(fā)計(jì)數(shù)門(mén)U3，使電子計(jì)數(shù)器測(cè)量輸出的脈沖個(gè)數(shù)；輸出低電平，觸發(fā)校驗(yàn)裝置，使校驗(yàn)裝置開(kāi)始計(jì)時(shí)。待定時(shí)時(shí)間到，校驗(yàn)裝置端口分閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關(guān)閉計(jì)數(shù)門(mén)U3，把電子計(jì)數(shù)器的計(jì)時(shí)與校驗(yàn)裝置定時(shí)時(shí)間比較，得到分閘時(shí)間校驗(yàn)誤差。
[0021]4.本實(shí)用新型的方波發(fā)生器采用1MHz有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器，可以確保高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。
[0022]【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】:
[0023]附圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]附圖2是本實(shí)用新型的控制電路原理圖。
[0025]附圖3是本實(shí)用新型的合閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)電路原理圖。
[0026]附圖4是本實(shí)用新型的分閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)電路原理圖。
[0027]【具體實(shí)施方式】:
[0028]實(shí)施例1:
[0029]一種測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括:高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路1，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器2、被測(cè)校驗(yàn)裝置連接3。
[0030]實(shí)施例2:
[0031]根據(jù)實(shí)施例1所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻Rl、開(kāi)關(guān)BUTl連接，所述的開(kāi)關(guān)BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻RU所述的反相器UlB通過(guò)開(kāi)關(guān)SWl、開(kāi)關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連接，所述的D觸發(fā)器U2通過(guò)開(kāi)關(guān)SW3與被測(cè)校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門(mén)U3連接，所述的計(jì)數(shù)門(mén)U3分別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
[0032]實(shí)施例3:
[0033]根據(jù)實(shí)施例1或2所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用1MHz有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。
[0034]實(shí)施例4:
[0035]根據(jù)實(shí)施例1或2所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開(kāi)關(guān)BUTl，所述的電阻R3與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT2，所述的R2與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT3，所述的D觸發(fā)器與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT4。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括:高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路，其特征是:所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器、被測(cè)校驗(yàn)裝置連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其特征是:所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻R1、開(kāi)關(guān)BUTl連接，所述的開(kāi)關(guān)BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻R1、所述的反相器UlB通過(guò)開(kāi)關(guān)SW1、開(kāi)關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連接，所述的D觸發(fā)器U2通過(guò)開(kāi)關(guān)SW3與被測(cè)校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門(mén)U3連接，所述的計(jì)數(shù)門(mén)U3分別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其特征是:所述的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用1MHz有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其特征是:所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開(kāi)關(guān)BUTl，所述的電阻R3與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT2，所述的R2與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT3，所述的D觸發(fā)器與所述的被測(cè)校驗(yàn)裝置之間安裝有開(kāi)關(guān)BUT4。
【文檔編號(hào)】G01R35/00GK204009034SQ201420424881
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年7月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月30日
【發(fā)明者】陳滿(mǎn)生, 高瑞嵩 申請(qǐng)人:哈爾濱朗昇電氣股份有限公司