超高頻電子標簽測試設備的制作方法
【專利摘要】一種超高頻電子標簽測試設備，包括輸入輸出設備，和依次連接的測試暗箱、射頻連接饋線、衰減器及與所述輸入輸出設備連接的測試主機，所述測試暗箱內設有測試天線、吸波材料層以及測試面板，所述吸波材料層鋪設于所述測試暗箱的內壁，所述射頻連接饋線與所述測試天線通過射頻接口連接。采用暗箱設計，屏蔽了外部電磁環(huán)境對測試標簽的影響，在不影響測試結果的情況下，減小暗箱尺寸，大大提高了暗箱的移動性和便攜性。采用測試主機一體化設計，減小測試設備之間信號的衰減和影響，提高測試設備測試精度；減少外圍測試設備數(shù)量，降低測試設備成本。
【專利說明】超高頻電子標簽測試設備

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電子測量技術，具體涉及一種超高頻電子標簽測試設備。

【背景技術】
[0002]隨著射頻識別技術的發(fā)展，工作于UHF頻段(840MHz-960MHz)頻段的各類型電子標簽被越來越多地運用于物流管理、倉儲管理、資產(chǎn)管理等領域。超高頻(UHF)電子標簽的工作頻率高，可讀寫距離長，無需外部電源供電，且制造成本低，因此得到了廣泛的應用，超高頻電子標簽的性能決定了 RFID(射頻識別)系統(tǒng)的應用效果，所以需要一種可靠而且易用的設備對標簽的性能進行測試。
[0003]目前，超高頻電子標簽主要采用實際讀取距離進行測試，實際讀距的測試裝置由電腦及電腦連接的電子標簽讀寫器，與電子標簽讀寫器垂直向固定在地面上的軌道，在軌道上移動的小車和與小車連接的拉桿，固定在天線架上的天線構成，天線與電子標簽讀寫器連接。測試時，先把標簽貼在可以移動的小車上，小車上的被測電子標簽與天線架上的天線平行相對，其高度與天線在同一水平線上，然后拉動可移動小車的拉桿，觀察電腦是否能檢測到被測電子標簽返回的信號。
[0004]由此可見，目前的測試裝置存在較多的不足:1)、標簽每測試一張就需要測試人員取下上次測試的標簽，貼上新的標簽，同時拉動可移動小車的拉桿，測試人員體能消耗大，效率低；2)、一般電子標簽的讀距范圍在O米到15米之間，此種測試方法受外部環(huán)境影響大；3)、測試的標簽需要的場地大；4)、標簽測試后沒有測試結果輸出，不能提供參考；5)、標簽批量測試中不能判斷標簽的一致性。因此不難看出，現(xiàn)有的電子標簽實際讀距測試裝置難以適應大批量生產(chǎn)的需要，不利于提高生產(chǎn)效率和提高測試質量。
實用新型內容
[0005]基于此，有必要提供一種效率高、節(jié)省資源的超高頻電子標簽測試設備。
[0006]一種超高頻電子標簽測試設備，包括輸入輸出設備，和依次連接的測試暗箱、射頻連接饋線、衰減器及與所述輸入輸出設備連接的測試主機，所述測試暗箱內設有測試天線、吸波材料層以及測試面板，所述吸波材料層鋪設于所述測試暗箱的內壁，所述射頻連接饋線與所述測試天線通過射頻接口連接。
[0007]進一步地，所述測試天線設置于所述測試暗箱內的頂部，所述測試面板設置于所述測試暗箱內的底部。
[0008]進一步地，所述測試天線與所述測試暗箱的箱體之間、所述測試暗箱的箱體與所述射頻連接饋線之間、所述射頻連接饋線與所述衰減器之間、所述衰減器與所述測試主機之間均通過射頻接口連接。
[0009]進一步地，所述射頻接口為SMA射頻接口。
[0010]進一步地，所述測試主機設有支持ISO 18000-6C協(xié)議的超高頻讀寫器，所述高頻讀寫器與所述測試主機上的射頻接口接所述衰減器。
[0011]進一步地，所述衰減器具有匹配電路，該匹配電路接于所述衰減器上的兩個射頻接口之間。
[0012]進一步地，所述輸入輸出設備包括顯示器，所述測試主機具有VGA接口，所述測試主機通過該VGA接口接所述顯示器。
[0013]進一步地，所述輸入輸出設備還包括鼠標和鍵盤，所述測試主機具有USB接口，所述測試主機通過該USB接口接所述鼠標和鍵盤。
[0014]進一步地，所述測試暗箱的設有門板及背板，所述門板及所述背板分別設置于所述測試暗箱的兩個相對側壁。
[0015]進一步地，所述門板開設于所述測試暗箱其中一側壁與底板相接的部分。
[0016]本實用新型的有益效果是:采用暗箱設計，屏蔽了外部電磁環(huán)境對測試標簽的影響，在不影響測試結果的情況下，減小暗箱尺寸，大大提高了暗箱的移動性和便攜性。采用測試面板雙選擇設計，可選用泡沫測試面板或金屬測試面板，分別測試普通超高頻電子標簽和抗金屬超高頻電子標簽，擴大電子標簽測試范圍。采用測試主機一體化設計，減小測試設備之間信號的衰減和影響，提高測試設備測試精度；減少外圍測試設備數(shù)量，降低測試設備成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本實用新型較佳實施例中超高頻電子標簽測試設備的模塊圖；
[0018]圖2為圖1所示的超高頻電子標簽測試設備中的測試暗箱的結構示意圖；
[0019]圖3為圖1所示的超高頻電子標簽測試設備中的測試主機安裝示意；
[0020]圖4為圖1所不的超聞頻電子標簽測試設備的連接不意圖圖。

【具體實施方式】
[0021]為了使本實用新型要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0022]請參閱圖1，本實用新型較佳實施例中超高頻電子標簽測試設備，包括輸入輸出設備11，和依次連接的測試暗箱12、射頻連接饋線13、衰減器14及與輸入輸出設備11連接的測試主機15。
[0023]請參閱圖1和圖2，本實施例中，測試暗箱12的箱體121內設有測試天線122。該測試天線122設置于一固定支架123上。箱體121內還設有吸波采材料層124以及測試面板125，吸波采材料層124鋪設于測試暗箱12的內壁，射頻連接饋線13與測試天線122電連接。應用中，打開蓋門板1212可以看到測試面板125。
[0024]本實施例中，測試天線122設置于測試暗箱12內的頂部，測試面板125設置于測試暗箱1211內的底部。本實施例中，測試抗金屬標簽選擇金屬的測試面板125,測試傳統(tǒng)標簽選擇吸波材料層的測試面板125。
[0025]測試天線122與測試暗箱12的箱體121之間、測試暗箱12的箱體121與射頻連接饋線13之間、射頻連接饋線13與衰減器14之間、衰減器14與測試主機15之間均通過射頻接口連接。優(yōu)選地，射頻接口為SMA(Sub-Miniature-A)射頻接口。
[0026]結合圖1和圖4，衰減器14具有匹配電路142，該匹配電路142接于衰減器14上的兩個射頻接口之間。
[0027]測試主機15設有支持ISO 18000-6C協(xié)議的超高頻讀寫器152，超高頻讀寫器152與測試主機15上的射頻接口接衰減器14。
[0028]輸入輸出設備11包括顯示器112，測試主機15具有VGA接口，測試主機15通過該VGA接口接顯示器112。請參考圖3，本實施例中，測試主機15體積小，便于移動，可直接安裝于顯示器112的背面。
[0029]輸入輸出設備11還包括鼠標和鍵盤114，測試主機15具有USB接口，測試主機15通過該USB接口接鼠標和鍵盤114。
[0030]請結合圖2和圖4，箱體121上設有門板1212及背板1214，門板1212及背板1214分別設置于測試暗箱12的箱體121上的兩個相對側壁。本實施例中，箱體121其中的一個側壁作為整個背板1214。門板1212開設于測試暗箱12上所在側壁的與底板相接的部分，門板1212通過一鎖扣鍵1213可固定地固定于箱體121。
[0031]本實用新型中，測試設備通過多次檢測標簽反射功率值后，通過內置軟件算法去掉最大值和最小值，然后取平均值，快速尋找標簽各頻點的標簽反射功率值。
[0032]本實用新型中，測試設備先測試參考標簽的反射功率值，然后測試標簽反射功率值與參考標簽反射功率值進行比較，通過設定的認可偏移值對比對結果進行判斷，快速篩選不合格產(chǎn)品。
[0033]本實用新型中，測試系統(tǒng)通過檢測不同頻點電子標簽反射功率，判斷標簽的工作頻率,通過電子標簽反射功率的比對,判斷標簽性能的高低,測試數(shù)據(jù)自動生成EXCEL數(shù)據(jù)表格，表格中記錄測試時的參數(shù)和測試數(shù)據(jù)，通過表格中各頻點數(shù)據(jù)的比對，可以判斷測試標簽的一致性。
[0034]本實用新型中，測試系統(tǒng)通過檢測不同頻點電子標簽反射功率，通過電子標簽反射功率的比對，判斷標簽性能的高低，可通過測試在相同讀寫器和天線的情況下參考標簽的實際識別距離，來判斷測試標簽的識別距離，建立反射功率與識別距離的關聯(lián)性。
[0035]本實用新型中，測試平臺采用暗箱設計，屏蔽了外部電磁環(huán)境對測試標簽的影響，暗箱尺寸根據(jù)所需要標簽檢測的要求設計，在不影響測試結果的情況下，減小暗箱尺寸，大大提高了暗箱的移動性和便攜性。
[0036]本實用新型中，測試主機進行一體設計，減少外圍測試設備，降低測試設備成本。
[0037]測試系統(tǒng)能直觀判斷ISO 18000-6C協(xié)議標簽芯片的生產(chǎn)廠家和芯片型號。
[0038]測試系統(tǒng)能判斷標簽的工作頻段。
[0039]測試系統(tǒng)能進行標簽性能篩選。
[0040]測試系統(tǒng)能進行標簽寫碼操作，寫碼操作包括直接寫碼，累加寫碼和文本寫碼。[0041 ] 測試系統(tǒng)能進行測試報表輸出、寫碼報表輸出。
[0042]以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種超高頻電子標簽測試設備，包括輸入輸出設備，其特征在于，還包括依次連接的測試暗箱、射頻連接饋線、衰減器及與所述輸入輸出設備連接的測試主機，所述測試暗箱內設有測試天線、吸波材料層以及測試面板，所述吸波材料層鋪設于所述測試暗箱的內壁，所述射頻連接饋線與所述測試天線通過射頻接口連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試天線設置于所述測試暗箱內的頂部，所述測試面板設置于所述測試暗箱內的底部。
3.根據(jù)權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試天線與所述測試暗箱的箱體之間、所述測試暗箱的箱體與所述射頻連接饋線之間、所述射頻連接饋線與所述衰減器之間、所述衰減器與所述測試主機之間均通過射頻接口連接。
4.根據(jù)權利要求3所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述射頻接口為3嫩射頻接口。
5.根據(jù)權利要求3或4所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試主機設有支持130 18000-6(:協(xié)議的超高頻讀寫器，所述超高頻讀寫器與所述測試主機上的射頻接口接所述衰減器。
6.根據(jù)權利要求3或4所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述衰減器具有匹配電路，該匹配電路接于所述衰減器上的兩個射頻接口之間。
7.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述輸入輸出設備包括顯示器，所述測試主機具有接口，所述測試主機通過該狐接口接所述顯示器。
8.根據(jù)權利要求7所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述輸入輸出設備還包括鼠標和鍵盤，所述測試主機具有舊8接口，所述測試主機通過該舊8接口接所述鼠標和鍵盤。
9.根據(jù)權利要求1所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述測試暗箱設有門板及背板，所述門板及所述背板分別設置于所述測試暗箱的兩個相對側壁。
10.根據(jù)權利要求9所述的超高頻電子標簽測試設備，其特征在于，所述門板開設于所述測試暗箱其中一側壁與底板相接的部分。
【文檔編號】G01R31/00GK204116490SQ201420560081
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年9月26日 優(yōu)先權日:2014年9月26日
【發(fā)明者】許愛軍 申請人:深圳市金瑞銘科技有限公司