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磁鐵檢驗(yàn)裝置制造方法

文檔序號:6071249閱讀:219來源:國知局
磁鐵檢驗(yàn)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及磁鐵產(chǎn)品檢驗(yàn)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是涉及一種磁鐵檢驗(yàn)裝置;使用較為簡便,能同時(shí)檢驗(yàn)磁鐵產(chǎn)品尺寸公差、行位公差以及弧度;本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,包括檢驗(yàn)座,檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽;檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽或框狀檢驗(yàn)槽;片狀檢驗(yàn)槽包括第一凹槽和第二凹槽,第二凹槽設(shè)置在第一凹槽的兩側(cè),第一凹槽與第二凹槽的側(cè)面相互重合疊加、并且第一凹槽和第二凹槽的深度相同,第一凹槽和/或第二凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配;框狀檢驗(yàn)槽包括第三凹槽以及設(shè)置在第三凹槽內(nèi)的定位柱,定位柱與第三凹槽之間的間隙與框狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配。檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽或框狀檢驗(yàn)槽。
【專利說明】磁鐵檢驗(yàn)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及磁鐵產(chǎn)品檢驗(yàn)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是涉及一種磁鐵檢驗(yàn)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知,磁鐵行業(yè)的磁鐵產(chǎn)品通常為片狀或框狀且尺寸較小,其檢驗(yàn)過程通常采用游標(biāo)卡尺等手持檢驗(yàn)設(shè)備,以框狀產(chǎn)品為例,其檢驗(yàn)主要是使用內(nèi)徑千分尺、游標(biāo)卡尺,檢驗(yàn)的項(xiàng)目主要是產(chǎn)品的尺寸公差,無法對產(chǎn)品的行位公差(同心度)以及弧度進(jìn)行同時(shí)檢驗(yàn);而常規(guī)用于同心度、弧度檢定的投影設(shè)備存在操作繁瑣、效率較低、操作手法差異等原因,不適宜對于大批量的產(chǎn)品進(jìn)行檢驗(yàn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供一種使用較為簡便,能同時(shí)檢驗(yàn)磁鐵產(chǎn)品尺寸公差、行位公差以及弧度的磁鐵檢驗(yàn)裝置。
[0004]本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,包括檢驗(yàn)座,所述檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽。
[0005]進(jìn)一步的,所述檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽,所述片狀檢驗(yàn)槽包括第一凹槽和第二凹槽,所述第二凹槽設(shè)置在第一凹槽的兩側(cè),所述第一凹槽與第二凹槽的側(cè)面相互重合疊加、并且第一凹槽和第二凹槽的深度相同,所述第一凹槽和/或第二凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配。
[0006]進(jìn)一步的,所述檢驗(yàn)槽為框狀檢驗(yàn)槽,所述框狀檢驗(yàn)槽包括第三凹槽以及設(shè)置在第三凹槽內(nèi)的定位柱,所述定位柱與第三凹槽之間的間隙與框狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配。
[0007]進(jìn)一步的,所述框狀檢驗(yàn)槽的兩側(cè)設(shè)置有與所述框狀檢驗(yàn)槽相連通的弧形的分兩1曰。
[0008]進(jìn)一步的,所述定位柱為條狀且為多個,所述定位柱之間內(nèi)側(cè)為第四凹槽,所述第四凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品相匹配。
[0009]進(jìn)一步的,還包括底座,所述檢驗(yàn)座的底部設(shè)置有插桿,所述底座頂部設(shè)置有定位孔。
[0010]進(jìn)一步的,所述底座的底部還設(shè)置有防滑墊。
[0011 ] 具體的,所述防滑墊為防滑硅膠墊。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比本實(shí)用新型的有益效果為:本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,包括檢驗(yàn)座,檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽。檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽或框狀檢驗(yàn)槽;這樣,解決了投影設(shè)備成本高,操作復(fù)雜,應(yīng)用范圍小的問題,本實(shí)用新型使用較為簡便,能同時(shí)檢驗(yàn)磁鐵產(chǎn)品尺寸公差、行位公差以及弧度,且成本較小,適宜于不同的工作場地隨時(shí)使用,對于提高品質(zhì)監(jiān)管及及時(shí)控制能力和檢驗(yàn)效率有極大的作用。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的俯視圖;
[0014]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的俯視圖;
[0015]圖3是本實(shí)用新型的側(cè)視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型,但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。
[0017]實(shí)施例一
[0018]如圖1所示,本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,包括檢驗(yàn)座1,檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽,檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽,片狀檢驗(yàn)槽包括第一凹槽2和第二凹槽3,第二凹槽設(shè)置在第一凹槽的兩側(cè),第一凹槽與第二凹槽的側(cè)面相互重合疊加、并且第一凹槽和第二凹槽的深度相同,第一凹槽和/或第二凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配;使用時(shí),將片狀磁鐵產(chǎn)品置于第一凹槽或第二凹槽中,利用第一凹槽和第二凹槽內(nèi)壁固定的尺寸和弧度,來檢測片狀磁鐵產(chǎn)品的合格狀況,第一凹槽和第二凹槽還具有方便取出片狀磁鐵產(chǎn)品的作用。
[0019]實(shí)施例二
[0020]如圖2所示,本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,包括檢驗(yàn)座I,檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽;檢驗(yàn)槽為框狀檢驗(yàn)槽,框狀檢驗(yàn)槽包括第三凹槽4以及設(shè)置在第三凹槽內(nèi)的定位柱5,定位柱與第三凹槽之間的間隙與框狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配;使用時(shí),將框狀磁鐵產(chǎn)品放置于第三凹槽內(nèi),利用第三凹槽內(nèi)壁與定位柱外壁的尺寸和弧度,來檢驗(yàn)框狀磁鐵產(chǎn)品的合格狀況,為了方便框狀磁鐵產(chǎn)品的取出,框狀檢驗(yàn)槽的兩側(cè)設(shè)置有與框狀檢驗(yàn)槽相連通的弧形的分離槽7。
[0021]應(yīng)當(dāng)說明的是,定位柱內(nèi)側(cè)還具有檢驗(yàn)片狀磁鐵產(chǎn)品的作用,S卩,定位柱為條狀且為多個,定位柱5之間內(nèi)側(cè)為第四凹槽6,第四凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品相匹配。
[0022]實(shí)施例三
[0023]如圖3所示,為了方便更換不同的檢驗(yàn)座,以檢驗(yàn)不同的磁鐵產(chǎn)品,本實(shí)用新型的磁鐵檢驗(yàn)裝置,還包括底座,檢驗(yàn)座的底部設(shè)置有插桿,底座頂部設(shè)置有定位孔;底座的底部還設(shè)置有防滑墊;防滑墊為防滑硅膠墊。
[0024]以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變型,這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括檢驗(yàn)座,所述檢驗(yàn)座上設(shè)置有與磁鐵產(chǎn)品尺寸相匹配的檢驗(yàn)槽;所述檢驗(yàn)槽為片狀檢驗(yàn)槽或框狀檢驗(yàn)槽;所述片狀檢驗(yàn)槽包括第一凹槽和第二凹槽,所述第二凹槽設(shè)置在第一凹槽的兩側(cè),所述第一凹槽與第二凹槽的側(cè)面相互重合疊加、并且第一凹槽和第二凹槽的深度相同,所述第一凹槽和/或第二凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配;所述框狀檢驗(yàn)槽包括第三凹槽以及設(shè)置在第三凹槽內(nèi)的定位柱,所述定位柱與第三凹槽之間的間隙與框狀磁鐵產(chǎn)品的尺寸相匹配。
2.如權(quán)利要求1所述的磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,所述框狀檢驗(yàn)槽的兩側(cè)設(shè)置有與所述框狀檢驗(yàn)槽相連通的弧形的分離槽。
3.如權(quán)利要求1所述的磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,所述定位柱為條狀且為多個,所述定位柱之間內(nèi)側(cè)為第四凹槽,所述第四凹槽與片狀磁鐵產(chǎn)品相匹配。
4.如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,還包括底座,所述檢驗(yàn)座的底部設(shè)置有插桿,所述底座頂部設(shè)置有定位孔。
5.如權(quán)利要求4所述的磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,所述底座的底部還設(shè)置有防滑墊。
6.如權(quán)利要求5所述的磁鐵檢驗(yàn)裝置,其特征在于,所述防滑墊為防滑硅膠墊。
【文檔編號】G01B5/252GK204255234SQ201420562407
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年9月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月28日
【發(fā)明者】潘玉和, 崔志茹 申請人:北京麥戈龍科技有限公司
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