致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及致冷件生產(chǎn)【技術(shù)領(lǐng)域】的檢測設(shè)備，名稱是致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置，底座上安裝有架子，架子上安裝有可向下移動(dòng)的氣動(dòng)下壓部件，氣動(dòng)下壓部件連接有測力計(jì)，測力計(jì)下面安裝有上接觸底盤，底座上安裝有下接觸底盤；所述的上接觸底盤和下接觸底盤對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述的氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)連接有控制裝置，所述的上接觸底盤和下接觸底盤上面具有配合的凸起和凹槽，所述的上接觸底盤和測力計(jì)、底座和下接觸底盤活動(dòng)連接，所述的上接觸底盤的內(nèi)部和下接觸底盤內(nèi)部具有配合的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置，探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置連接控制裝置，這樣的致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置具有檢驗(yàn)精確的優(yōu)點(diǎn)。
【專利說明】致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及致冷件生產(chǎn)【技術(shù)領(lǐng)域】的檢測設(shè)備，特別是涉及致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]致冷件包括兩側(cè)的瓷板和瓷板中間焊接的多個(gè)晶粒，瓷板的強(qiáng)度對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量起著至關(guān)重要的作用，所以在生產(chǎn)前就要對(duì)瓷板的強(qiáng)度把好質(zhì)量關(guān)，現(xiàn)有技術(shù)中，還沒有對(duì)瓷板的專門檢驗(yàn)工具，對(duì)其檢驗(yàn)憑的是手感，具有隨意性大，不準(zhǔn)確的缺點(diǎn)。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】
現(xiàn)有技術(shù)中，
[0004]本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)上述缺點(diǎn)，提供一種精確的致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置，其特征是:它包括底座、架子、氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)、上接觸底盤、下接觸底盤和控制裝置，底座上安裝有架子，架子上安裝有可向下移動(dòng)的氣動(dòng)下壓部件，氣動(dòng)下壓部件連接有測力計(jì)，測力計(jì)下面安裝有上接觸底盤，底座上安裝有下接觸底盤；所述的上接觸底盤和下接觸底盤對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述的氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)連接有控制裝置。
[0006]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤和下接觸底盤上面具有配合的凸起和凹槽。
[0007]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤和測力計(jì)、底座和下接觸底盤活動(dòng)連接。
[0008]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤的內(nèi)部和下接觸底盤內(nèi)部具有配合的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置，探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置連接控制裝置。
[0009]進(jìn)一步地講，所述的控制裝置連接有輸出裝置。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:這樣的致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置具有檢驗(yàn)精確的優(yōu)點(diǎn)；所述的上接觸底盤和下接觸底盤上面具有配合的凸起和凹槽，具有檢驗(yàn)域值更寬的優(yōu)點(diǎn)；所述的上接觸底盤和測力計(jì)、底座和下接觸底盤活動(dòng)連接，可以更換不同型號(hào)的凸起和凹槽，對(duì)不同型號(hào)的瓷板進(jìn)行檢驗(yàn)的效果；所述的上接觸底盤和下接觸底盤內(nèi)部具有配合的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置，探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置連接控制裝置，具有對(duì)耐受強(qiáng)度和微小探傷一起檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)，更精確；所述的控制裝置連接有輸出裝置，具有將檢驗(yàn)的數(shù)據(jù)輸出，便于記錄的優(yōu)點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]其中:1、底座 2、架子3、氣動(dòng)下壓部件4、測力計(jì) 5、上接觸底盤6、下接觸底盤 7、控制裝置8、凸起 9凹槽 10、探傷發(fā)射裝置 11、探傷接收裝置12、輸出裝置。

【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0014]如圖1所示，致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置，其特征是:它包括底座1、架子2、氣動(dòng)下壓部件3、測力計(jì)4、上接觸底盤5、下接觸底盤6和控制裝置7，底座I上安裝有架子2，架子上安裝有可向下移動(dòng)的氣動(dòng)下壓部件3，氣動(dòng)下壓部件3連接有測力計(jì)4，測力計(jì)下面安裝有上接觸底盤5，底座I上安裝有下接觸底盤6 ;所述的上接觸底盤和下接觸底盤對(duì)應(yīng)設(shè)置,所述的氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)連接有控制裝置7。
[0015]使用時(shí)，將瓷板放置在上接觸底盤5和下接觸底盤6之間，開動(dòng)氣動(dòng)下壓部件對(duì)瓷板進(jìn)行試壓，測力計(jì)可以測量施加的力，具有本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)。
[0016]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤和下接觸底盤上面具有配合的凸起8和凹槽9，這樣可以檢驗(yàn)瓷板在不平整地方承受的強(qiáng)度。
[0017]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤和測力計(jì)、底座和下接觸底盤活動(dòng)連接，這樣更換不同的上接觸底盤和下接觸底盤可以對(duì)不同型號(hào)的瓷板進(jìn)行檢驗(yàn)。
[0018]進(jìn)一步地講，所述的上接觸底盤的內(nèi)部和下接觸底盤內(nèi)部具有配合的探傷發(fā)射裝置10和探傷接收裝置11，探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置連接控制裝置。所述的上接觸底盤的內(nèi)部和下接觸底盤的內(nèi)部具有空芯的結(jié)構(gòu)，所述的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置就鑲嵌在這些空芯結(jié)構(gòu)里面，所述的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置能夠檢驗(yàn)出破碎的情況。
[0019]進(jìn)一步地講，所述的控制裝置連接有輸出裝置12。
[0020]以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，但本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征并不限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型的領(lǐng)域內(nèi)，所作的變化或修飾皆涵蓋在本實(shí)用新型的專利范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.致冷件瓷板強(qiáng)度檢驗(yàn)裝置，其特征是:它包括底座、架子、氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)、上接觸底盤、下接觸底盤和控制裝置，底座上安裝有架子，架子上安裝有可向下移動(dòng)的氣動(dòng)下壓部件，氣動(dòng)下壓部件連接有測力計(jì)，測力計(jì)下面安裝有上接觸底盤，底座上安裝有下接觸底盤；所述的上接觸底盤和下接觸底盤對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述的氣動(dòng)下壓部件、測力計(jì)連接有控制>j-U ρ?α裝直。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征是:所述的上接觸底盤和下接觸底盤上面具有配合的凸起和凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征是:所述的上接觸底盤和測力計(jì)、底座和下接觸底盤活動(dòng)連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的裝置，其特征是:所述的上接觸底盤的內(nèi)部和下接觸底盤內(nèi)部具有配合的探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置，探傷發(fā)射裝置和探傷接收裝置連接控制裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征是:所述的控制裝置連接有輸出裝置。
【文檔編號(hào)】G01N3/12GK204086029SQ201420572396
【公開日】2015年1月7日 申請(qǐng)日期:2014年10月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月2日
【發(fā)明者】陳磊, 劉栓紅, 趙麗萍, 錢俊有, 張文濤, 蔡水占, 郭晶晶, 張會(huì)超, 陳永平 申請(qǐng)人:河南鴻昌電子有限公司