Cmos圖像傳感器產(chǎn)品的cp測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，包括探針卡，探針卡上設(shè)有自動對焦的鏡頭組件，自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，鏡頭連接有自動馬達(dá)，自動馬達(dá)通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接?？梢宰詣涌刂歧R頭的焦距，極大的提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。
【專利說明】CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種WAFER測試裝置，尤其涉及一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]如圖1所示，CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的WAFER測試(CP測試)，需要在探針卡(PROBECARD)上安裝鏡頭(PUPIL LENS)，才能保證測試的準(zhǔn)確性。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中的方式是固定焦距的鏡頭，調(diào)試效率低、測試成本高。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型的目的是提供一種調(diào)試效率高、測試成本低的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置。
[0005]本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0006]本實(shí)用新型的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，包括探針卡，所述探針卡上設(shè)有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達(dá)，所述自動馬達(dá)與所述探針卡連接。
[0007]由上述本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案可以看出，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，由于探針卡上設(shè)有自動對焦的鏡頭組件，提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置的探針卡的組裝結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中自動對焦的鏡頭組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中:1、鏡頭，2、自動馬達(dá)，3、FPC柔性電路板，4、探針卡。

【具體實(shí)施方式】
[0011]下面將對本實(shí)用新型實(shí)施例作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0012]本實(shí)用新型的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其較佳的【具體實(shí)施方式】如圖2所示:
[0013]包括探針卡,所述探針卡上設(shè)有自動對焦的鏡頭組件,所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達(dá)，所述自動馬達(dá)與所述探針卡連接。
[0014]所述自動馬達(dá)通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接。
[0015]本實(shí)用新型的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，將固定焦距的鏡頭換成自動對焦的鏡頭組件，通過FPC柔性電路板，將控制信號引到探針卡上，可以自動控制鏡頭的焦距，極大的提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。
[0016]以上所述，僅為本實(shí)用新型較佳的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實(shí)用新型披露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其特征在于，包括探針卡，所述探針卡上設(shè)有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達(dá)，所述自動馬達(dá)與所述探針卡連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其特征在于，所述自動馬達(dá)通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接。
【文檔編號】G01R31/26GK204086475SQ201420631595
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年10月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月28日
【發(fā)明者】馮建中 申請人:北京思比科微電子技術(shù)股份有限公司