一種pcb電氣性能測試治具的針盤的制作方法
【專利摘要】本實用新型適用于PCB測試治具【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種PCB電氣性能測試治具的針盤，包括兩個主導(dǎo)層、若干導(dǎo)向?qū)?、墊圈、至少兩根探針及支撐桿。兩個主導(dǎo)層間隔設(shè)置，若干導(dǎo)向?qū)友刎Q直方向相間地設(shè)置于兩個主導(dǎo)層之間，墊圈設(shè)置于相鄰的兩個導(dǎo)向?qū)又g，探針及支撐桿穿設(shè)于主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)由希瑢?dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為五個。本實用新型在針盤整體高度不變的情況下，將導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量由原來的三個變?yōu)槲鍌€，縮小了相鄰兩個導(dǎo)向?qū)又g的間距，防止了探針在測試受壓時中部發(fā)生彎曲，避免了針盤內(nèi)部發(fā)生短路。而且，導(dǎo)向?qū)拥拈g距變小，不僅有利于探針的固定，還縮小了工人在插針時偏移的范圍，可更快地完成插針工作。
【專利說明】一種PCB電氣性能測試治具的針盤

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于PCB測試治具【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種PCB電氣性能測試治具的針盤。

【背景技術(shù)】
[0002]PCB電氣測試治具主要用于給探針導(dǎo)向及固定，如圖1所示，為現(xiàn)有的一種PCB電氣測試治具的針盤10(Γ，該針盤10(Γ設(shè)置有兩個主導(dǎo)層I及位于兩主導(dǎo)層I之間的3個導(dǎo)向?qū)?，探針4穿設(shè)在主導(dǎo)層i及導(dǎo)向?qū)?上，主導(dǎo)層I及導(dǎo)向?qū)?通過支撐柱5 (銅柱)進(jìn)行固定連接，上下兩個導(dǎo)向?qū)?之間通過墊圈3 '相隔，因為導(dǎo)向?qū)?數(shù)量較少，因此兩個導(dǎo)向?qū)?的間距較大。在市場上，探針4的長度是固定的，因此，針盤的整體高度是一個定值。在測試時，探針4的一端抵頂PCB，另一端抵頂線盤；探針的直徑(6-8mil)很小，故探針4受力時中間部位容易彎曲，該針盤100 '相鄰兩個導(dǎo)向?qū)?的最大間距為9.7mm,最小間距為7.9mm，在探針4較密集的區(qū)域，相鄰的兩根探針4的中間部位容易彎曲并相互接觸，導(dǎo)致測試針盤內(nèi)部短路，造成誤測。另一方面，導(dǎo)向?qū)?主要起固定及導(dǎo)向作用，導(dǎo)向?qū)?間的間距過大，導(dǎo)致了探針4固定不穩(wěn)定，影響了治具的品質(zhì)。此外，工人插針時需要根據(jù)面板I上的針孔進(jìn)行導(dǎo)向，工人將探針4穿入面板上的針孔時，間距越大，探針4可偏移的斜率就越大，工人越難對位插針，影響了插針?biāo)俣取?br> 實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種PCB電氣性能測試治具的針盤，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的治具針盤因面板間距過大而帶來的治具內(nèi)部易發(fā)生短路及插針?biāo)俣嚷膯栴}。
[0004]本實用新型是這樣實現(xiàn)的，一種PCB電氣性能測試治具的針盤，包括兩個主導(dǎo)層、若干導(dǎo)向?qū)?、墊圈、至少兩根探針及支撐桿；所述兩個主導(dǎo)層間隔設(shè)置，所述若干導(dǎo)向?qū)友刎Q直方向相間地設(shè)置于所述的兩個主導(dǎo)層之間，所述墊圈設(shè)置于相鄰的兩個導(dǎo)向?qū)又g，所述探針及支撐桿穿設(shè)于所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)由希鰧?dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為五個。
[0005]進(jìn)一步地，每一所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸染嗤?br> [0006]進(jìn)一步地，每一所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸染鶠?.0mm。
[0007]進(jìn)一步地，所述五個導(dǎo)向?qū)又g的墊圈高度分別為3.0mm、3.0mm、5.0mm、6.0mm、6.5mmο
[0008]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于:本實用新型在針盤整體高度不變的情況下，將導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量由原來的三個變?yōu)槲鍌€，縮小了相鄰兩個導(dǎo)向?qū)又g的間距，防止了探針在測試受壓時中部發(fā)生彎曲，避免了針盤內(nèi)部發(fā)生短路。而且，導(dǎo)向?qū)拥拈g距變小，不僅有利于探針的固定，還縮小了工人在插針時偏移的范圍，可更快地完成插針工作。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的一種PCB電氣性能測試治具的針盤的縱向剖視示意圖。
[0010]圖2是本實用新型實施例提供的一種PCB電氣性能測試治具的針盤的縱向剖視示意圖。

【具體實施方式】
[0011]為了使本實用新型所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0012]如圖2所示，為本實用新型的一較佳實施例，一種PCB電氣性能測試治具的針盤100，包括兩個主導(dǎo)層1、若干導(dǎo)向?qū)?、墊圈3、至少兩根探針4及支撐桿5。
[0013]兩個主導(dǎo)層I間隔設(shè)置，若干導(dǎo)向?qū)?沿豎直方向相間地設(shè)置于兩個主導(dǎo)層I之間，墊圈3設(shè)置于相鄰的兩個導(dǎo)向?qū)?之間，探針4及支撐桿5穿設(shè)于主導(dǎo)層I與導(dǎo)向?qū)?上，導(dǎo)向?qū)?的數(shù)量為五個。
[0014]本實施例在針盤100整體高度不變的情況下，將導(dǎo)向?qū)?的數(shù)量由原來的三個變?yōu)槲鍌€，縮小了相鄰兩個導(dǎo)向?qū)?之間的間距，防止了探針4在測試受壓時中部發(fā)生彎曲，避免了針盤100內(nèi)部發(fā)生短路。而且，導(dǎo)向?qū)?的間距變小，不僅有利于探針4的固定，還縮小了工人在插針時偏移的范圍，可更快地完成插針工作。
[0015]具體地，每一導(dǎo)向?qū)?的厚度均為1.0_。五個導(dǎo)向?qū)?之間的墊圈3高度分別為3.0mm、3.0mm、5.0mm、6.0mm、6.5mm0
[0016]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 電氣性能測試治具的針盤，包括兩個主導(dǎo)層、若干導(dǎo)向?qū)印|圈、至少兩根探針及支撐桿；所述兩個主導(dǎo)層間隔設(shè)置，所述若干導(dǎo)向?qū)友刎Q直方向相間地設(shè)置于所述的兩個主導(dǎo)層之間，所述墊圈設(shè)置于相鄰的兩個導(dǎo)向?qū)又g，所述探針及支撐桿穿設(shè)于所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)由?，其特征在于，所述?dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為五個。
2.如權(quán)利要求1所述的？(?電氣性能測試治具的針盤，其特征在于，每一所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸染嗤?br> 3.如權(quán)利要求2所述的？(?電氣性能測試治具的針盤，其特征在于，每一所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸染鶠?.0伽10
4.如權(quán)利要求1至3中任意一項所述的？(?電氣性能測試治具的針盤，其特征在于，所述五個導(dǎo)向?qū)又g的墊圈高度分別為3.0伽1、3|。臟上。臟上。臟上5伽10
【文檔編號】G01R1/04GK204255987SQ201420660166
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年11月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月6日
【發(fā)明者】陳代樹 申請人:競?cè)A電子(深圳)有限公司