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一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路的制作方法

文檔序號:6075579閱讀:388來源:國知局
一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路的制作方法
【專利摘要】一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路。能解決傳統(tǒng)檢測電路存在易受環(huán)境、靜電等因素干擾,存在誤檢現(xiàn)象,嚴(yán)重影響實(shí)驗結(jié)果的問題。電極供電是通過串聯(lián)電阻提供,優(yōu)選電阻R1、R2、R3、R4、R5串聯(lián);在串聯(lián)回路兩端連接電源正負(fù)極;電阻R3兩端連接檢測電極;電容C1與電阻R3并聯(lián);電阻R6一端連接于R1、R2之間,另一端與運(yùn)放IC2連接;R7一端連接于R2、R3之間,另一端與運(yùn)放IC2連接;R8一端連接于R3、R4之間,另一端與運(yùn)放IC3連接;R9一端連接于R4、R5之間,另一端與運(yùn)放IC3連接;運(yùn)放IC2與單片機(jī)IC1相連,運(yùn)放IC3與單片機(jī)IC1相連;電阻R10一端與單片機(jī)IC1連接,另一端與輸出端子J1-1相連,輸出端子J1-2與地相連,構(gòu)成輸出。成本低,操作及使用方便且實(shí)用性強(qiáng)。
【專利說明】一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及火焰檢測裝置,尤其是一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路。

【背景技術(shù)】
[0002]在規(guī)定實(shí)驗條件下,試驗火焰引起試樣蒸汽著火,并使火焰蔓延至液體表面的最低溫度,即為閃點(diǎn);由于火焰燃燒產(chǎn)生的電流達(dá)到皮安級電流,直接檢測電流難度非常大;目前采用的方法是在檢測電極回路中串接大電阻,增加偏置電壓,采用比較器比較電壓方法檢測閃點(diǎn);此種方法存在易受環(huán)境、靜電等因素干擾,存在誤檢現(xiàn)象,嚴(yán)重影響實(shí)驗結(jié)果等問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決傳統(tǒng)檢測電路存在易受環(huán)境、靜電等因素干擾,存在誤檢現(xiàn)象,嚴(yán)重影響實(shí)驗結(jié)果的問題,本實(shí)用新型利用火焰燃燒導(dǎo)電原理,采用電阻串聯(lián)的方式從而檢測樣品蒸汽燃燒,提出了一種閃點(diǎn)檢測電路,其技術(shù)方案如下:
[0004]一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其發(fā)明構(gòu)思是電極供電是通過串聯(lián)電阻提供。
[0005]優(yōu)選電阻R1、R2、R3、R4、R5串聯(lián);在串聯(lián)回路兩端連接電源正負(fù)極;電阻R3兩端連接檢測電極;電容Cl與電阻R3并聯(lián);電阻R6 —端連接于R1、R2之間,另一端與運(yùn)放IC2同相輸入端連接;R7 —端連接于R2、R3之間,另一端與運(yùn)放IC2反相輸入端連接;R8 —端連接于R3、R4之間,另一端與運(yùn)放IC3同相輸入端連接;R9 —端連接于R4、R5之間,另一端與運(yùn)放IC3反相輸入端連接;運(yùn)放IC2的輸出端與單片機(jī)ICl的I腳相連,運(yùn)放IC3的輸出端與單片機(jī)ICl的3腳相連;電阻RlO —端與單片機(jī)ICl的22腳連接,另一端與輸出端子Jl-1相連,輸出端子J1-2與地相連,構(gòu)成輸出。
[0006]兩個極片之間跨接有電阻。
[0007]兩個極片之間跨接有電容。
[0008]串聯(lián)電阻回路后接有運(yùn)放IC2和IC3。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果:R2與R4為電流取樣電阻,通過R2與R4兩端電壓變化判斷串聯(lián)回路電流變化;即電阻R2與R4產(chǎn)生的電壓信號通過運(yùn)放IC2和IC3放大調(diào)理后,送入ICl內(nèi)部數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中,經(jīng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化得到與由Rl、R2、R3、R4、R5串聯(lián)回路中電流相對應(yīng)的電流值,從而利用電流值的高低得知是否有火焰;電路結(jié)構(gòu)簡單、耗材量少使得成本低,操作及使用方便且實(shí)用性強(qiáng)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型的電路原理圖。

【具體實(shí)施方式】
[0011]為了便于理解,下面結(jié)合圖1對本實(shí)用新型作出進(jìn)一步的說明:
[0012]實(shí)施例1:一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其電極供電是通過串聯(lián)電阻提供,也就是說其電機(jī)供電的方式是采用串聯(lián)電阻的方式實(shí)現(xiàn)的,克服了傳統(tǒng)采用大電阻,增加偏置電壓所存在的不足。
[0013]實(shí)施例2:具體的,本實(shí)用新型優(yōu)選方案為電阻Rl、R2、R3、R4、R5串聯(lián);在串聯(lián)回路兩端連接電源正負(fù)極;電阻R3兩端連接檢測電極;電容Cl與電阻R3并聯(lián);電阻R6 —端連接于R1、R2之間,另一端與運(yùn)放IC2同相輸入端連接;R7 —端連接于R2、R3之間,另一端與運(yùn)放IC2反相輸入端連接;R8 —端連接于R3、R4之間,另一端與運(yùn)放IC3同相輸入端連接;R9 —端連接于R4、R5之間,另一端與運(yùn)放IC3反相輸入端連接;運(yùn)放IC2的輸出端與單片機(jī)ICl的I腳相連,運(yùn)放IC3的輸出端與單片機(jī)ICl的3腳相連;電阻RlO —端與單片機(jī)ICl的22腳連接,另一端與輸出端子Jl-1相連,輸出端子J1-2與地相連,構(gòu)成輸出;
[0014]其中電阻Rl、R2、R3、R4、R5串聯(lián)組成的電路中,R2與R4為電流取樣電阻,通過R2與R4兩端電壓變化判斷串聯(lián)回路電流變化,具體的R2與R4產(chǎn)生的電壓信號通過運(yùn)放IC2和IC3放大調(diào)理后,送入ICl內(nèi)部數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中,經(jīng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化得到與由R1、R2、R3、R4、R5串聯(lián)回路中電流相對應(yīng)的電流值,得知是否有火焰,在此可以采用預(yù)設(shè)值的方式實(shí)現(xiàn),即將數(shù)值與原設(shè)定的電流閾值相比較,大于閾值說明有火焰,否則沒有;值得一提的是,這種方式屬于現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新型中的ICl也可以使【背景技術(shù)】中的比較器,其效果和功能是一樣的,也就是說本實(shí)用新型中的ICl不是本申請的發(fā)明點(diǎn),本申請的發(fā)明點(diǎn)在于電路部分,其比較方式屬于現(xiàn)有技術(shù),因此本申請是實(shí)用新型保護(hù)的客體,同時,本申請并不局限于使用ICl或比較器來實(shí)現(xiàn),也可以利用一些控制電路等方式與本申請的電路結(jié)合,從而實(shí)現(xiàn)檢測效果。
[0015]實(shí)施例3:進(jìn)一步的,兩個極片之間跨接有電阻。
[0016]實(shí)施例4:進(jìn)一步的,兩個極片之間跨接有電容。
[0017]實(shí)施例5:進(jìn)一步的,串聯(lián)電阻回路后接有運(yùn)放IC2和IC3。
[0018]有益效果:成本低,操作及使用方便且實(shí)用性強(qiáng);有效的解決了傳統(tǒng)檢測電路存在易受環(huán)境、靜電等因素干擾,存在誤檢現(xiàn)象,嚴(yán)重影響實(shí)驗結(jié)果的問題。
【權(quán)利要求】
1.一種自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其特征在于:電極供電是通過串聯(lián)電阻提供;包括電阻R1、R2、R3、R4、R5串聯(lián);在串聯(lián)回路兩端連接電源正負(fù)極;電阻R3兩端連接檢測電極;電容Cl與電阻R3并聯(lián);電阻R6 —端連接于Rl、R2之間,另一端與運(yùn)放IC2同相輸入端連接;R7 —端連接于R2、R3之間,另一端與運(yùn)放IC2反相輸入端連接;R8 —端連接于R3、R4之間,另一端與運(yùn)放IC3同相輸入端連接;R9 —端連接于R4、R5之間,另一端與運(yùn)放IC3反相輸入端連接;運(yùn)放IC2的輸出端與單片機(jī)ICl的I腳相連,運(yùn)放IC3的輸出端與單片機(jī)ICl的3腳相連;電阻RlO —端與單片機(jī)ICl的22腳連接,另一端與輸出端子Jl_l相連,輸出端子J1-2與地相連,構(gòu)成輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其特征在于:兩個極片之間跨接有電阻。
3.如權(quán)利要求1所述的自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其特征在于:兩個極片之間跨接有電容。
4.如權(quán)利要求1、2或3中任一項所述的自動開口閃點(diǎn)測定儀閃點(diǎn)檢測電路,其特征在于:串聯(lián)電阻回路后接有運(yùn)放IC2和IC3。
【文檔編號】G01N25/50GK204241401SQ201420660994
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年11月7日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月7日
【發(fā)明者】段景峰, 蔡立秋, 李井軍, 韓笑 申請人:大慶市日上儀器制造有限公司
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