液晶顯示模組測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種液晶顯示模組測試裝置,屬于測試【技術(shù)領(lǐng)域】。其中所述液晶顯示模組測試裝置包括:電源模塊、比較模塊以及控制模塊,電源模塊,與比較模塊電性連接,用于給比較模塊提供輸入電壓;比較模塊,與控制模塊及液晶顯示模組電性連接,用于將電源模塊提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組,并將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊;控制模塊,與液晶顯示模組電性連接,用于接收比較模塊提供的控制信號,并根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組,以使其輸出提示信號。本實(shí)用新型通過自動對液晶顯示模組參數(shù)進(jìn)行測試,因此能夠提高測試效率。
【專利說明】液晶顯示模組測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及一種液晶顯示模組測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子市場飛速的更新?lián)Q代,液晶顯示產(chǎn)品已成為消費(fèi)主流,需求量越來越大,產(chǎn)量也越來越多,液晶顯示模組(Liquid Crystal Module,LCM)是液晶顯示器的重要組成部分。隨著電子科技的發(fā)展,液晶顯示模組對電流、電壓規(guī)格,圖像顯示規(guī)范的要求越來越尚O
[0003]目前在液晶顯示模組測試過程中,所采用的測試設(shè)備僅提供了與液晶顯示模組直接相連的電壓和圖像信號輸出接口,因此其僅能測試電壓和圖像顯示是否符合規(guī)范要求,對液晶顯示模組的消費(fèi)電流無法檢測,也就無法判斷液晶顯示模組的消費(fèi)電流是否在規(guī)格范圍內(nèi)?,F(xiàn)有的測試設(shè)備若要進(jìn)行液晶顯示模組的電流測試,則通常采用的是人工測試方法,一般是由操作人員采用測試裝置,如萬用表等,通過外串接的方式來測試電流的變化情況,操作人員再將電流的變化情況與電流規(guī)格做比較來判斷測試的電流是否在正常范圍內(nèi)?,F(xiàn)有的這種測試方式存在以下問題:目前的測試裝置不能及時有效的測試液晶顯示模組的所有待測參數(shù),特別是在測試電流時由于主要依靠操作人員進(jìn)行操作和判斷,在測試過程中需要操作人員的完全介入才能完成,因此測試結(jié)果的可靠性較低,容易出現(xiàn)漏檢、誤判現(xiàn)象,不能及時有效的判斷消費(fèi)電流是否在規(guī)格內(nèi)。而且測試過程所花費(fèi)的時間長,這樣不僅導(dǎo)致大量的時間與人力、物力的耗費(fèi),而且測試效率很低。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型提供一種液晶顯示模組測試裝置,以解決由于現(xiàn)有測試裝置測試效率低等問題。
[0005]本實(shí)用新型提供了一種液晶顯示模組測試裝置,該液晶顯示模組測試裝置包括:電源模塊、比較模塊以及控制模塊,電源模塊,與比較模塊電性連接,用于給比較模塊提供輸入電壓;比較模塊,還與控制模塊及液晶顯示模組電性連接,用于將電源模塊提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組,并將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊;控制模塊,還與液晶顯示模組電性連接,用于接收比較模塊提供的控制信號,并根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組,以使液晶顯示模組輸出提示信號。
[0006]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,電源模塊、比較模塊以及控制模塊集成在同一塊IC芯片上。
[0007]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,比較模塊包括電阻和比較器,電阻的一端電性連接電源模塊以接收輸入電壓,電阻的另一端分別電性連接比較器的負(fù)輸入端和液晶顯示模組,比較器的正輸入端接收預(yù)設(shè)參考電壓,比較器的輸出端電性連接控制模塊,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于提供給液晶顯示模組的測試電壓時,比較器的輸出端輸出高電平信號,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓小于等于提供給液晶顯示模組的測試電壓時,比較器的輸出端輸出低電平信號。
[0008]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,電阻的阻值介于I歐姆至50歐姆之間。在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,比較器的的正輸入端接收的預(yù)設(shè)參考電壓的取值設(shè)置為等于Vin-Rtest*Imax,其中,Vin是電源模塊提供給比較模塊的輸入電壓,Rtest是電阻的阻值,Imax是流經(jīng)液晶顯示模組的閾值電流。
[0009]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,當(dāng)所述比較器的輸出端輸出高電平信號時,所述比較器的輸出端將此高電平信號提供給控制模塊,所述控制模塊根據(jù)該高電平信號控制液晶顯示模組,使所述液晶顯示模組輸出“電流偏大”的提示信號。
[0010]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述提示信號為文字提示或語音提示。
[0011]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,控制模塊為現(xiàn)場可編程邏輯門陣列或單片機(jī)。
[0012]在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,控制模塊,還用于輸出圖像信號給液晶顯示模組,以供液晶顯示模組進(jìn)行圖像顯示。
[0013]本實(shí)用新型實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:
[0014]通過比較模塊將電源模塊提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組,并將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊;控制模塊根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組,以使液晶顯示模組輸出提示信號,解決了現(xiàn)有測試裝置測試效率低等問題。本實(shí)用新型實(shí)施例能夠快速、有效地對液晶顯示模組進(jìn)行電流等參數(shù)測試,可以將電流不符合規(guī)格的產(chǎn)品提前攔截在工廠產(chǎn)線內(nèi)部,提升液晶顯示模組檢測質(zhì)量,避免因不符合規(guī)范的產(chǎn)品流失到客戶端所造成的不良影響。
[0015]上述說明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段,而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本實(shí)用新型的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉較佳實(shí)施例,并配合附圖,詳細(xì)說明如下。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置的主要架構(gòu)框圖;
[0017]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置的具體電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定實(shí)用新型目的所采取的技術(shù)手段及功效,以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例,對依據(jù)本實(shí)用新型提出的液晶顯示模組測試裝置其【具體實(shí)施方式】、結(jié)構(gòu)、特征及功效,詳細(xì)說明如后。
[0019]有關(guān)本實(shí)用新型的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)及功效,在以下配合參考圖式的較佳實(shí)施例詳細(xì)說明中將可清楚的呈現(xiàn)。通過【具體實(shí)施方式】的說明,當(dāng)可對本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定目的所采取的技術(shù)手段及功效得以更加深入且具體的了解,然而所附圖式僅是提供參考與說明之用,并非用來對本實(shí)用新型加以限制。
[0020]第一實(shí)施例
[0021]圖1示出了本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置的主要架構(gòu)框圖,請參考圖1,所述液晶顯示模組測試裝置,包括:電源模塊101、比較模塊103以及控制模塊 105。
[0022]比較模塊103分別與電源模塊101以及控制模塊105電性連接,電源模塊101以及控制模塊105還與液晶顯示模組107電性連接。其中,電源模塊101、比較模塊103以及控制模塊105可以集成在同一塊IC芯片上。
[0023]電源模塊101,用于給比較模塊103提供輸入電壓。
[0024]比較模塊103,用于將電源模塊101提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組107,并將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊105。
[0025]其中,預(yù)設(shè)參考電壓大于提供給液晶顯示模組107的測試電壓,則表示流經(jīng)液晶顯示模組107的電流已大于閾值電流。
[0026]控制模塊105,用于接收比較模塊103提供的控制信號,并根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組107,以使液晶顯示模組107輸出提示信號。
[0027]其中,當(dāng)控制模塊105接收到比較模塊103提供的控制信號時,則液晶顯示模組107可以在控制模塊105的控制下發(fā)出“電流偏大”的語音提示或文字提示,以提示測試人員此液晶顯示模組107的電流偏大,測試人員可以根據(jù)提示通知專人確認(rèn)處理,達(dá)到將電流偏大的液晶顯示模組107篩選出來的目的。
[0028]如上所述,本實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置,通過比較模塊103將電源模塊101提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組107,并將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊105 ;控制模塊105根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組107,以使液晶顯示模組107輸出提示信號。解決了現(xiàn)有測試裝置不能檢測消費(fèi)電流和測試效率低等問題,本實(shí)用新型實(shí)施例能夠快速、有效地對液晶顯示模組進(jìn)行電流等參數(shù)測試,可以將電流不符合規(guī)格的產(chǎn)品提前攔截在工廠產(chǎn)線內(nèi)部,提升液晶顯示模組檢測質(zhì)量,避免因不符合規(guī)范的產(chǎn)品流失到客戶端所造成的不良影響。
[0029]第二實(shí)施例
[0030]請參考圖2,其示出了本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置的具體電路圖。圖2是在圖1的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的。其與圖1所示的液晶顯示模組測試裝置相似,其不同之處在于,本實(shí)施例的液晶顯示模組測試裝置是圖1所示的液晶顯示模組測試裝置的詳細(xì)電路圖。所述液晶顯示模組測試裝置包括:電源模塊101、比較模塊103以及控制模塊105。
[0031]電源模塊101,用于給比較模塊103提供輸入電壓。
[0032]其中,比較模塊101包括:電阻Rl以及比較器Q1。
[0033]具體地,電阻Rl的一端電性連接電源模塊101以接收所述輸入電壓,電阻Rl的另一端分別電性連接比較器Ql的負(fù)輸入端和液晶顯示模組107。比較器Ql的正輸入端接收預(yù)設(shè)參考電壓Vc,比較器Ql的輸出端OUTl電性連接控制模塊105。
[0034]本實(shí)施例中,電阻Rl可選用可滑動變阻器,其阻值介于I歐姆至50歐姆之間,電源模塊101提供的輸入電壓通過電阻Rl分壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組107。比較器Ql的正輸入端接收的預(yù)設(shè)參考電壓Vc的取值可設(shè)置為等于Vc = Vin-Rtest*Imax,其中,Vin是電源模塊101提供給比較模塊103的輸入電壓,Rtest是電阻Rl的阻值,Imax是流經(jīng)液晶顯示模組107的閾值電流。當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓Vc大于提供給液晶顯示模組107的測試電壓Vtest (Vin-Rtest*Imax〉Vtest)時,比較器Ql的輸出端OUTl輸出高電平信號(即比較器Ql的輸出端OUTl產(chǎn)生一控制信號),當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓Vc小于等于提供給液晶顯示模組107的測試電壓Vtest時,比較器Ql的輸出端OUTl輸出低電平信號。其中,預(yù)設(shè)參考電壓Vc大于提供給液晶顯示模組107的測試電壓,則表示流經(jīng)液晶顯示模組107的電流已大于閾值電流。
[0035]控制模塊105,用于接收比較模塊103提供的控制信號,并根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組107,以使液晶顯示模組107輸出提示信號,例如“電流偏大”的語音提示、或文字提示等提示信號??刂颇K105可以為現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(Field Programmable GateArray,F(xiàn)PGA)或單片機(jī)。
[0036]此外,控制模塊105,還用于輸出圖像信號給液晶顯示模組107,以供液晶顯示模組107進(jìn)行圖像顯示。本實(shí)施例中,還通過測試液晶顯示模組107所顯示的圖像的參數(shù),可以達(dá)到測試液晶顯示模組107圖像顯示是否符合規(guī)范的目的。
[0037]下面通過舉例詳細(xì)說明液晶顯示模組測試裝置測試液晶顯示模組107的工作過程:
[0038]電源模塊101給比較模塊103提供輸入電壓。電源模塊101提供的輸入電壓通過電阻Rl分壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給液晶顯示模組107,比較器Ql將預(yù)設(shè)參考電壓與測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)預(yù)設(shè)參考電壓大于測試電壓(Vin-Rtest*Imax〉Vtest)時,比較器Ql的輸出端產(chǎn)生一控制信號(例如,高電平信號),并將產(chǎn)生的控制信號提供給控制模塊105。預(yù)設(shè)參考電壓大于提供給液晶顯示模組107的測試電壓,則表示流經(jīng)液晶顯示模組107的電流已大于閾值電流(Imax),控制模塊105接收比較模塊103提供的控制信號,并根據(jù)控制信號控制液晶顯示模組107,以使液晶顯示模組107輸出提示信號,例如“電流偏大”的語音提示、或文字提示等提示信號。此外,控制模塊105還輸出圖像信號給液晶顯示模組107,以供液晶顯示模組107進(jìn)行圖像顯示。本實(shí)施例中,因控制模塊105還輸出圖像信號給液晶顯示模組107,這樣通過測試液晶顯示模組107所顯示的圖像的參數(shù),可以達(dá)到測試液晶顯示模組107圖像顯示是否符合規(guī)范的目的。
[0039]如上所述,本實(shí)施例提供的液晶顯示模組測試裝置,還可以通過控制模塊105輸出圖像信號給液晶顯示模組107,以供液晶顯示模組107進(jìn)行圖像顯示。再通過測試液晶顯示模組107所顯示的圖像的參數(shù),從而可以達(dá)到測試液晶顯示模組107圖像顯示是否符合規(guī)范的目的。
[0040]以上所述,僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并非對本實(shí)用新型作任何形式上的限制,雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上,然而并非用以限定本實(shí)用新型,任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員,在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍內(nèi),當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案內(nèi)容,依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述液晶顯示模組測試裝置包括:電源模塊、比較模塊以及控制模塊,其中, 所述電源模塊,與所述比較模塊電性連接,用于給所述比較模塊提供輸入電壓; 所述比較模塊,還與所述控制模塊及液晶顯示模組電性連接,用于將所述電源模塊提供的輸入電壓轉(zhuǎn)換為測試電壓后提供給所述液晶顯示模組,并將預(yù)設(shè)參考電壓與所述測試電壓進(jìn)行比較,當(dāng)所述預(yù)設(shè)參考電壓大于所述測試電壓時,產(chǎn)生一控制信號,并將產(chǎn)生的控制信號提供給所述控制模塊; 所述控制模塊,還與所述液晶顯示模組電性連接,用于接收所述比較模塊提供的控制信號,并根據(jù)所述控制信號控制所述液晶顯示模組,以使所述液晶顯示模組輸出提示信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述電源模塊、比較模塊以及控制模塊集成在同一塊IC芯片上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述比較模塊包括電阻和比較器,所述電阻的一端電性連接所述電源模塊以接收所述輸入電壓,所述電阻的另一端分別電性連接所述比較器的負(fù)輸入端和所述液晶顯示模組,所述比較器的正輸入端接收所述預(yù)設(shè)參考電壓,所述比較器的輸出端電性連接所述控制模塊,當(dāng)所述預(yù)設(shè)參考電壓大于提供給所述液晶顯示模組的測試電壓時,所述比較器的輸出端輸出高電平信號,當(dāng)所述預(yù)設(shè)參考電壓小于等于提供給所述液晶顯示模組的測試電壓時,所述比較器的輸出端輸出低電平信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述電阻的阻值介于I歐姆至50歐姆之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述比較器的的正輸入端接收的預(yù)設(shè)參考電壓的取值設(shè)置為等于Vin-Rtest*ImaX,其中,Vin是所述電源模塊提供給所述比較模塊的輸入電壓,Rtest是所述電阻的阻值,Imax是流經(jīng)所述液晶顯示模組的閾值電流。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,當(dāng)所述比較器的輸出端輸出高電平信號時,所述比較器的輸出端將所述高電平信號提供給所述控制模塊,所述控制模塊根據(jù)所述高電平信號控制所述液晶顯示模組,使所述液晶顯示模組輸出“電流偏大”的提示信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述提示信號為文字提示或語音提示。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述控制模塊為現(xiàn)場可編程邏輯門陣列或單片機(jī)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置,其特征在于,所述控制模塊,還用于輸出圖像信號給所述液晶顯示模組,以供所述液晶顯示模組進(jìn)行圖像顯示。
【文檔編號】G01R31/00GK204215116SQ201420716879
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2014年11月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月25日
【發(fā)明者】劉詩平, 李小磊 申請人:昆山龍騰光電有限公司