一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，包括電源、MCU、PWM發(fā)生器、信號驅(qū)動電路、950us紅外陣列、回路檢測電路和看門狗電路，電源與MCU相連，MCU與PWM發(fā)生器相連，PWM發(fā)生器與信號驅(qū)動電路相連，信號驅(qū)動電路與950us紅外陣列相連，信號驅(qū)動電路和950us紅外陣列的輸出端與回路檢測電路相連，回路檢測電路與MCU相連，看門狗電路與MCU相連。通過單片機組成PWM發(fā)生器，MCU控制PWM發(fā)生器生成PWM波，PWM波經(jīng)過信號驅(qū)動電路中的反相器驅(qū)動MOS管M1導通，從而導通紅外輻射二極管，激勵950us紅外陣列發(fā)送950nm紅外光，達到發(fā)出紅外光檢測鋁箔產(chǎn)品中微小漏孔或裂縫的目的。
【專利說明】一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于檢測電路設(shè)計領(lǐng)域，尤其是涉及一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在工業(yè)鋁箔成形生產(chǎn)過程中，自動化包裝工序為了防止包裝所用鋁箔存在裂痕，通常是通過人眼對鋁箔表面進行檢測，但這種檢測方法存在檢測效率低下、浪費人力等缺點，已經(jīng)不能滿足用戶的需求。因此，設(shè)計一個能夠自動檢測出鋁箔產(chǎn)品中微小的漏孔或裂縫的裝置是一個亟待解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型要解決的問題是提供一種電路設(shè)計合理的用于微孔檢測的發(fā)射裝置。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案是:一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，包括電源、MCU、PWM發(fā)生器、信號驅(qū)動電路、950us紅外陣列、回路檢測電路和看門狗電路，所述電源與所述MCU相連，所述MCU與所述PWM發(fā)生器相連，所述PWM發(fā)生器的輸出端與所述信號驅(qū)動電路的輸入端相連，所述信號驅(qū)動電路與所述950us紅外陣列相連，所述信號驅(qū)動電路和950us紅外陣列的輸出端與所述回路檢測電路的輸入端相連，所述回路檢測電路的輸出端與所述MCU相連，所述看門狗電路與所述MCU相連，監(jiān)控MCU的正常運行。
[0005]進一步的，所述MCU的芯片型號為PIC18F45K80。
[0006]進一步的，所述看門狗電路的芯片型號為MP706T。
[0007]進一步的，所述信號驅(qū)動電路包括反相器、三極管Ql和MOS管MS1，所述PWM發(fā)生器接所述反相器的輸入端，所述反相器的輸出端分兩路，一路與所述三極管Ql的集電極相連，另一路與所述MOS管MSl的柵極相連，所述三極管Ql的基極通過電阻Rl和電阻R3后接地，所述三極管Ql的發(fā)射極通過電阻BL接地，所述MOS管MSl的源極通過電阻R3后接地，所述MOS管MSl的漏極依次通過所述950us紅外陣列和電阻R2后接VCC。
[0008]進一步的，所述950us紅外陣列由多個紅外輻射二極管串聯(lián)組成。
[0009]本實用新型具有的優(yōu)點和積極效果是:由于采用上述技術(shù)方案，通過單片機組成PWM發(fā)生器，MCU控制PWM發(fā)生器生成PWM波，PWM波經(jīng)過信號驅(qū)動電路中的反相器驅(qū)動MOS管Ml導通，從而導通紅外福射二極管，激勵950us紅外陣列發(fā)送950nm紅外光，達到發(fā)出紅外光檢測鋁箔產(chǎn)品中微小漏孔或裂縫的目的，提高了檢測效率，節(jié)省了人工成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型的原理框圖；
[0011]圖2是本實用新型中MCU和PWM發(fā)生器的電路圖；
[0012]圖3是本實用新型中信號驅(qū)動電路和950us紅外陣列的電路圖；
[0013]圖4是本實用新型中回路檢測電路的電路圖；
[0014]圖5是本實用新型中看門狗電路的電路圖。

【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施例做詳細說明。
[0016]如圖1至5所示，一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，包括電源、MCU、PWM發(fā)生器、信號驅(qū)動電路、950us紅外陣列、回路檢測電路和看門狗電路，所述電源與所述MCU相連，所述MCU與所述PWM發(fā)生器相連，所述PWM發(fā)生器的輸出端與所述信號驅(qū)動電路的輸入端相連，所述信號驅(qū)動電路與所述950us紅外陣列相連，所述信號驅(qū)動電路和950us紅外陣列的輸出端與所述回路檢測電路的輸入端相連，所述回路檢測電路的輸出端與所述MCU相連，所述看門狗電路與所述MCU相連，監(jiān)控MCU的正常運行，所述MCU的芯片型號為PIC18F45K80，所述看門狗電路的芯片型號為MP706T。
[0017]如圖3所示，所述信號驅(qū)動電路包括反相器、三極管Ql和MOS管MS1，所述PWM發(fā)生器接所述反相器的輸入端，所述反相器的輸出端分兩路，一路與所述三極管Ql的集電極相連，另一路與所述MOS管MSl的柵極相連，所述三極管Ql的基極通過電阻Rl和電阻R3后接地，所述三極管Ql的發(fā)射極通過電阻BL接地，所述MOS管MSl的源極通過電阻R3后接地，所述MOS管MSl的漏極依次通過所述950us紅外陣列和電阻R2后接VCC，所述950us紅外陣列由多個紅外輻射二極管串聯(lián)組成。
[0018]使用時，通過單片機組成PWM發(fā)生器，MCU控制PWM發(fā)生器生成PWM波，PWM波經(jīng)過信號驅(qū)動電路中的反相器驅(qū)動MOS管Ml導通，從而導通紅外輻射二極管，激勵950us紅外陣列發(fā)送950nm紅外光，信號驅(qū)動電路輸出的信號通過回路檢測電路中的放大器將信號放大后與單片機內(nèi)部AD形成反饋電路，判斷發(fā)射通道是否正常，從而實現(xiàn)了整個裝置的自檢功能。
[0019]以上對本實用新型的一個實施例進行了詳細說明，但所述內(nèi)容僅為本實用新型的較佳實施例，不能被認為用于限定本實用新型的實施范圍。凡依本實用新型申請范圍所作的均等變化與改進等，均應(yīng)仍歸屬于本實用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，其特征在于:包括電源、MCU、PWM發(fā)生器、信號驅(qū)動電路、950us紅外陣列、回路檢測電路和看門狗電路，所述電源與所述MCU相連，所述MCU與所述PWM發(fā)生器相連，所述PWM發(fā)生器的輸出端與所述信號驅(qū)動電路的輸入端相連，所述信號驅(qū)動電路與所述950us紅外陣列相連，所述信號驅(qū)動電路和950us紅外陣列的輸出端與所述回路檢測電路的輸入端相連，所述回路檢測電路的輸出端與所述MCU相連，所述看門狗電路與所述MCU相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，其特征在于:所述信號驅(qū)動電路包括反相器、三極管Ql和MOS管MS1，所述PWM發(fā)生器接所述反相器的輸入端，所述反相器的輸出端分兩路，一路與所述三極管Ql的集電極相連，另一路與所述MOS管MSl的柵極相連，所述三極管Ql的基極通過電阻Rl和電阻R3后接地，所述三極管Ql的發(fā)射極通過電阻BL接地，所述MOS管MSl的源極通過電阻R3后接地，所述MOS管MSl的漏極依次通過所述950us紅外陣列和電阻R2后接VCC。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，其特征在于:所述950us紅外陣列由多個紅外輻射二極管串聯(lián)組成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，其特征在于:所述MCU的芯片型號為PIC18F45K80。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種用于微孔檢測的發(fā)射裝置，其特征在于:所述看門狗電路的芯片型號為MP706T。
【文檔編號】G01N21/88GK204241596SQ201420758429
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年12月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月4日
【發(fā)明者】楊立軍 申請人:天津市品通電力科技有限公司