本發(fā)明涉及一種積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設(shè)備及其檢測方法，尤指一種適用于對積層電容器施予高電壓測試的檢測模塊、檢測設(shè)備及其檢測方法。

背景技術(shù)：

隨著電子裝置的尺寸不斷地追求輕薄短小，積層電容器相較于傳統(tǒng)陶瓷電容器在體積上明顯具備優(yōu)勢，故積層電容器的需求量不斷地攀升，且電容器規(guī)格上的發(fā)展也益趨多元。然而，就現(xiàn)有積層電容器的檢測設(shè)備可容許的檢測規(guī)格及檢測方法而言，實已無法符合需求。

請同時參閱圖1A及圖1B，圖1A為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的示意圖，圖1B為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的A-A線段局部剖面示意圖。圖1A及圖1B中顯示一種轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備，其主要利用轉(zhuǎn)盤機構(gòu)91進行進料和移載，而待測和完測的積層電容器C容設(shè)于轉(zhuǎn)盤機構(gòu)91上的凹槽910內(nèi)，轉(zhuǎn)盤機構(gòu)91的兩側(cè)都設(shè)有滾輪式電極91，當(dāng)轉(zhuǎn)盤機構(gòu)91兩側(cè)的滾輪式電極92滾到并接觸積層電容器C時即進行檢測。

然而，公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的高壓測試最多僅能進行1000伏特以下的測試；而且，長久測試下來，積層電容器C難免會殘留金屬余屑于凹槽910內(nèi)，當(dāng)累積至一定的量，很容易因為高電壓而形成突波，輕則影響檢測的準(zhǔn)確度，重則突波可能擊傷積層電容器C， 或甚至損壞檢測設(shè)備。

請同時參閱圖2A及圖2B，圖2A為公知并聯(lián)式檢測設(shè)備的示意圖，圖2B為公知并聯(lián)式檢測設(shè)備B-B線段的局部剖面示意圖。圖2A及圖2B中顯示一種并聯(lián)式檢測設(shè)備，其主要利用震動軌道93進行進料，當(dāng)待測試的積層電容器C進給至定位件94時，會透過移載機構(gòu)(圖中未示)將積層電容器C移載到檢測裝置95內(nèi)進行高壓檢測。如圖2B中所示，該檢測裝置95包括多個貫穿槽951，而積層電容器C則置于貫穿槽951內(nèi)，并有二個針狀電極96伸入貫穿槽951內(nèi)并接觸積層電容器C后進行高壓測試。

然而，這樣的并聯(lián)式檢測設(shè)備必須由貫穿槽951來協(xié)助固定積層電容器C，如同前段所述的公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備，長久使用下來因為金屬余屑的殘留，很容易會產(chǎn)生突波，將影響檢測的準(zhǔn)確度，或有可能造成積層電容器C或檢測設(shè)備的損毀。另一方面，并聯(lián)式檢測設(shè)備同時對同批次檢測的積層電容器C進行并聯(lián)測試，故一旦檢測出有異常的測量值時，將無法實時辨別該批次中究竟哪一個或哪些為不良品，通常整批次淘汰，否則將必須逐一的重新檢測。

此外，上述公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備或公知并聯(lián)式檢測設(shè)備不論有無與積層電容器C構(gòu)成電性接觸，都是直接進行高壓測試。也就是說，公知的檢測設(shè)備并未進行所謂的接觸測試(contact check)，故無法排除因電性接觸問題所產(chǎn)生的測試失效。然而，針對這樣的情況，公知設(shè)備都會將積層電容器C直接判斷為不良品，無法偵測接觸不良的情形，嚴(yán)重影響測試的準(zhǔn)確度。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的主要目的在于提供一種積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設(shè)備及其檢測方法，能提供高電壓的檢測，且能完全避免突波的形成，藉此提高檢測的準(zhǔn)確率，不會造成積層電容器及檢測 設(shè)備的毀損。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設(shè)備及其檢測方法，能先檢測電極組與積層電容器的電極端面是否完整接觸后再進行高壓測試，以先行確保檢測電極組與積層電容器構(gòu)成導(dǎo)通后再進行高壓測試，避免測試失效或失準(zhǔn)。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種積層電容器的高壓檢測模塊主要包括：第一電極組、第二電極組以及致動器；其中，第一電極組和第二電極組分別對應(yīng)于積層電容器的兩個相對應(yīng)的電極端面，且致動器驅(qū)使第一電極組及第二電極組中至少一個朝彼此趨近以夾持積層電容器或朝彼此遠離使積層電容器脫離。據(jù)此，本發(fā)明單純通過第一電極組和第二電極組來夾持積層電容器并對其進行測試，并無其它的任何機構(gòu)或裝置來協(xié)助支撐或固定積層電容器，亦即進行懸空測試，直接以空氣作為絕緣，故將不會殘留金屬余屑，亦不會產(chǎn)生突波。

較佳的是，本發(fā)明一種積層電容器的高壓檢測模塊的第一電極組和第二電極組可分別包括兩個片狀電極，而該兩個片狀電極彼此絕緣；而且，第一電極組及第二電極組以這些片狀電極彼此相對應(yīng)的側(cè)端面來夾持積層電容器。據(jù)此，本發(fā)明透過兩個片狀電極的設(shè)置，可進行俗稱的凱文(Kelvin)測試規(guī)范或稱四線(4-wire)測試規(guī)范，亦即透過接觸測試來檢測兩個片狀電極是否與積層電容器的電極端面完整接觸而構(gòu)成導(dǎo)通，可充分避免因接觸不良所導(dǎo)致的測試失效。

另外，本發(fā)明提供的一種積層電容器的高壓檢測模塊可更包括：基座及滑臺，而滑臺可載置于基座上，且致動器可組設(shè)于基座上并連接于滑臺，致動器可驅(qū)使滑臺滑移于基座上，第一電極組可組設(shè)于滑臺。據(jù)此，本發(fā)明可透過基座和滑臺的設(shè)置，可輕易地使第一電極組受致動器的驅(qū)動而趨近或遠離第二電極組。

為實現(xiàn)前述目的，本發(fā)明提供的一種積層電容器的高壓檢測設(shè)備，主要包括：入料模塊、前述的高壓檢測模塊、移載模塊、分選模塊以及主控制器；主控制器為電性連接入料模塊、高壓檢測模塊、移載模塊及分選模塊；主控制器控制入料模塊供應(yīng)待測試的積層電容器，主控制器控制移載模塊移載待測試的積層電容器于入料模塊與高壓檢測模塊之間，主控制器控制高壓檢測模塊檢測積層電容器，主控制器控制分選模塊對經(jīng)高壓檢測模塊測完的積層電容器分類。

再者，本發(fā)明提供的一種積層電容器的高壓檢測設(shè)備的分選模塊可更包括入料口，其位于第一電極組及第二電極組下方；當(dāng)積層電容器脫離第一電極組及第二電極組時，積層電容器落入入料口內(nèi)。據(jù)此，當(dāng)積層電容器完成測試時，就直接進入分選模塊進行分類，其間并未再透過任何的移載裝置進行移載，除了顯著提升檢測效率外，亦減少設(shè)備的硬件成本。

為實現(xiàn)前述目的，本發(fā)明一種積層電容器的高壓檢測方法，包括以下步驟：首先，步驟(A)，移載模塊移載待測試的積層電容器至高壓檢測模塊，并置于高壓檢測模塊的第一電極組和第二電極組之間；再者，步驟(B)，第一電極組及第二電極組中至少一個朝彼此趨近以夾持積層電容器；再且，步驟(C)，高壓檢測模塊對積層電容器進行高壓測試；最后，步驟(D)，第一電極組及第二電極組中至少一個朝彼此遠離以使積層電容器脫離。

較佳的是，本發(fā)明的第一電極組及第二電極組可分別包括兩個片狀電極，該兩個片狀電極彼此絕緣；而于步驟(B)和步驟(C)之間更包括接觸測試的步驟，其檢測第一電極組及第二電極組的該兩個片狀電極分別與積層電容器的兩個相對應(yīng)的電極端面構(gòu)成導(dǎo)通與否。據(jù)此，本發(fā)明積層電容器的高壓檢測方法中包括透過接觸測試來檢測兩個片狀電極是否與積層電容器的電極端面完整接觸而構(gòu) 成導(dǎo)通，可充分避免因接觸不良所導(dǎo)致的測試失效，亦即符合業(yè)界俗稱的凱文(Kelvin)測試規(guī)范或稱四線(4-wire)測試規(guī)范。

而且，本發(fā)明積層電容器的高壓檢測方法中，在該步驟(C)中，主控制器分別對第一電極組及第二電極組的該兩個片狀電極其中之一輸入導(dǎo)通電壓，并測量第一電極組及第二電極組的該兩個片狀電極其中另一個的輸出電壓。換言之，本發(fā)明的第一電極組及第二電極組可同時進行導(dǎo)通測試，而導(dǎo)通測試的方式是對一片狀電極輸入導(dǎo)通電壓，其通常是低電壓、微電流，并測量另一片狀電極之輸出，藉此判斷二者間是否構(gòu)成導(dǎo)通。

此外，積層電容器的高壓檢測方法中，該步驟(D)中，高壓測試對積層電容器輸入預(yù)定電壓，其通常為高達數(shù)千伏特的電壓，以檢測積層電容器絕緣阻抗(IR)、靜電容量(CAP)、介電材質(zhì)衰減系數(shù)(TanD)、漏電流(IL)、耐電壓(HV)及其它電容規(guī)格上的相關(guān)參數(shù)。

附圖說明

圖1A為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的示意圖。

圖1B為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的A-A線段局部剖面示意圖。

圖2A為公知并聯(lián)式檢測設(shè)備的示意圖。

圖2B為公知并聯(lián)式檢測設(shè)備B-B線段的局部剖面示意圖。

圖3為本發(fā)明一較佳實施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。

圖4為本發(fā)明一較佳實施例的俯視圖。

圖5為常見積層電容器的立體圖。

圖6A為本發(fā)明一較佳實施例的高壓檢測模塊、分選模塊和移載模塊的示意圖。

圖6B為本發(fā)明一較佳實施例的高壓檢測模塊的俯視圖。

圖6C為本發(fā)明一較佳實施例的第一電極組和第二電極組夾持積層電容器時的立體圖。

具體實施方式

本發(fā)明積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設(shè)備及其檢測方法在本實施例中被詳細描述之前，要特別注意的是，以下的說明中，類似的組件將以相同的組件符號來表示。

請同時參閱圖3及圖4，圖3為本發(fā)明一較佳實施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖，圖4為本發(fā)明一較佳實施例的俯視圖。如圖中所示，本實施例的積層電容器的高壓檢測設(shè)備主要包括入料模塊2、高壓檢測模塊3、移載模塊4、分選模塊5以及主控制器6。如圖4中所示，本實施例之入料模塊2主要包括震動盤21及輸送軌道22，而震動盤21透過震動進給，將積層電容器C推送至輸送軌道22末端，以供移載模塊4搬運。

再者，本實施例的設(shè)備設(shè)置有兩個高壓檢測模塊3，其分設(shè)于輸送軌道22末端兩側(cè)。另外，本實施例的移載模塊4包括兩個升降取放裝置41，其呈V型配置，該二升降取放裝置41回旋往復(fù)擺轉(zhuǎn)以輪流至輸送軌道22末端吸取待測試的積層電容器C，并移載至兩側(cè)的高壓檢測模塊3進行檢測，并通過兩側(cè)高壓檢測模塊3下方各自的分選模塊5來對檢測結(jié)果進行分類。據(jù)此，本實施例利用V型配置的升降取放裝置41構(gòu)成雙進給，并利用二高壓檢測模塊3構(gòu)成雙邊測試，可大幅提高檢測效率。

請同時參閱圖5、圖6A、圖6B及圖6C，圖5圖5為常見積層電容器C的立體圖，圖6A為本發(fā)明一較佳實施例的高壓檢測模塊3、分選模塊5和移載模塊4的示意圖，圖6B為本發(fā)明一較佳實施例的高壓檢測模塊3的俯視圖，圖6C為本發(fā)明一較佳實施例的第一電極組31和第二電極組32夾持積層電容器C時的立體圖。如圖5所示，常見積層電容器C由多個內(nèi)部電極以及多個電介質(zhì)層彼此交錯層迭而成，而層迭構(gòu)造的兩個端另外設(shè)置電極端面C1、 C2。

再者，高壓檢測模塊3主要包括第一電極組31、第二電極組32、致動器33、基座34及滑臺35；其中，滑臺35載置于基座34上，而致動器33組設(shè)于基座34上并連接于滑臺35，且致動器33驅(qū)使滑臺35滑移于基座34上。另外，第一電極組31組設(shè)于滑臺35，第二電極組32組設(shè)于基座34，且第一電極組31和第二電極組32分別對應(yīng)于積層電容器C的兩個相對應(yīng)的電極端面C1、C2。

另外，第一電極組31和第二電極組32分別包括兩個片狀電極P，且該兩個片狀電極P彼此絕緣。據(jù)此，致動器33可驅(qū)使滑臺35往復(fù)滑移，進而帶動第一電極組31趨近第二電極組32，并以這些片狀電極P彼此相對應(yīng)的側(cè)端面來夾持積層電容器C，或者朝彼此遠離使積層電容器C脫離。

請再參閱圖6A，如圖中所示之移載模塊4，其包括一吸取頭42，其可形成負壓藉以吸附積層電容器C，或可取消負壓來釋放積層電容器C。另一方面，關(guān)于分選模塊5，在本實施例中，每一分選模塊5包括旋轉(zhuǎn)分料管52、轉(zhuǎn)動驅(qū)動器54以及八個容倉53，且旋轉(zhuǎn)分料管52包括入料口51及出料口521。其中，入料口51連通至旋轉(zhuǎn)分料管52的出料口521，而轉(zhuǎn)動驅(qū)動器54連接并驅(qū)動旋轉(zhuǎn)分料管52旋轉(zhuǎn)，且八個容倉53分別為不同等級的積層電容器C所放置之處。換言之，本實施例的分選模塊5可透過轉(zhuǎn)動驅(qū)動器54驅(qū)動旋轉(zhuǎn)分料管52旋轉(zhuǎn)并使出料口521對準(zhǔn)于八個容倉53其中之一，以對積層電容器C進行分類。

再且，關(guān)于主控制器6，其為電性連接入料模塊2、高壓檢測模塊3、移載模塊4及分選模塊5；且主控制器6主要用于控制入料模塊2供應(yīng)待測試的積層電容器C、控制移載模塊4移載待測試的積層電容器C于入料模塊2與高壓檢測模塊3之間、控制高壓檢測模塊3檢測積層電容器C以及控制分選模塊5對經(jīng)高壓檢測模塊 3測完的積層電容器C分類。

請一并參閱圖4、圖6A、圖6B以及圖6C，以下簡述本實施例積層電容器C的高壓檢測模塊3的運作流程：首先，震動盤21透過震動進給，將積層電容器C自震動盤21經(jīng)由輸送軌道22，而推送至輸送軌道22末端，以供移載模塊4搬運。

再者，二升降取放裝置41其中之一至輸送軌道22末端，透過吸取頭42吸取待測試的積層電容器C，并移送至高壓檢測模塊3，而置于高壓檢測模塊3的第一電極組31和第二電極組32之間。

接著，致動器33驅(qū)使第一電極組31朝第二電極組32趨近，以夾持積層電容器C；當(dāng)?shù)谝浑姌O組31和第二電極組32穩(wěn)固地夾持積層電容器C之后，升降取放裝置41釋放該積層電容器C并返回輸送軌道22末端準(zhǔn)備移載下一個積層電容器C。

再且，高壓檢測模塊3對該積層電容器C進行接觸測試，其主要檢測第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P是否分別與積層電容器C的兩個相對應(yīng)的電極端面C1、C2構(gòu)成導(dǎo)通。其中，主控制器6分別對第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P其中之一輸入導(dǎo)通電壓，并測量第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P其中另一的輸出電壓。然而，在本實施例中，接觸測試所輸入的導(dǎo)通電壓屬于低電壓，一般為5V(伏特)以下，如果第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P構(gòu)成導(dǎo)通，則所反饋的電壓并不會相差太多。

接著，如果第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P正確地構(gòu)成導(dǎo)通，高壓檢測模塊3對積層電容器C進行高壓測試；其對該積層電容器C輸入預(yù)定電壓，其屬于高電壓例如1000V(伏特)至6000V(伏特)，并檢測該積層電容器C絕緣阻抗(IR)、靜電容量(CAP)、介電材質(zhì)衰減系數(shù)(TanD)、漏電流(IL)及耐電壓(HV)中至少一者。

另一方面，如果第一電極組31及第二電極組32和積層電容器C有接觸不良的情形，亦即第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P未構(gòu)成導(dǎo)通時，將不再進行高壓測試，則使該積層電容器C直接進入分選模塊5，亦即第一電極組31朝第二電極組32遠離，以使積層電容器C脫離而落入下方的入料口51，并將其分類為接觸不良，并待累積至定數(shù)量時，倒回震動盤21以重新進行檢測。

最后，高壓檢測完畢后，第一電極組31朝第二電極組32遠離以使積層電容器C脫離而落入下方的入料口51；同時，主控制器6對檢測結(jié)果進行分析，并根據(jù)分析的結(jié)果控制分選模塊5對積層電容器C分類，使之落入對應(yīng)的容倉53內(nèi)。

綜上所述，本發(fā)明至少具備以下優(yōu)勢：

(1)本發(fā)明直接通過第一電極組31及第二電極組32來夾持并固定積層電容器C；亦即，當(dāng)進行高壓測試時，僅有第一電極組31及第二電極組32和積層電容器C接觸，并無其它的任何機構(gòu)或裝置來協(xié)助支撐或固定積層電容器，亦即進行懸空測試，直接以空氣作為絕緣，故將不會產(chǎn)生突波。

(2)在進行高壓測試前，先進行接觸測試(contact check)，其主要利用凱文(Kelvin)測試規(guī)范或稱四線(4-wire)測試規(guī)范，先行檢測第一電極組31及第二電極組32的該兩個片狀電極P與積層電容器C的兩個相對應(yīng)的電極端面C1、C2是否構(gòu)成導(dǎo)通，可以有效地初步排除因接觸不良所產(chǎn)生的誤判。

(3)本發(fā)明采用兩個升降取放裝置41、兩個高壓檢測模塊3以及兩個分選模塊5，以構(gòu)成雙移載、雙測試以及雙分類，可大幅提高檢測效率。

(4)當(dāng)積層電容器完成接觸測試或高壓測試時，就直接進入分選模塊進行分類，其間并未再通過任何的移載裝置進行移載，除了顯 著提升檢測效率外，亦減少設(shè)備的硬件成本。

上述實施例僅為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自應(yīng)以權(quán)利要求書所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實施例。

符號說明

91 轉(zhuǎn)盤機構(gòu)

910 凹槽

92 滾輪式電極

93 震動軌道

94 定位件

95 檢測裝置

951 貫穿槽

96 針狀電極

C 積層電容器

C1、C2 電極端面

2 入料模塊

21 震動盤

22 輸送軌道

3 高壓檢測模塊

31 第一電極組

32 第二電極組

33 致動器

34 基座

35 滑臺

4 移載模塊

41 升降取放裝置

42 吸取頭

5 分選模塊

51 入料口

52 旋轉(zhuǎn)分料管

521 出料口

53 容倉

54 轉(zhuǎn)動驅(qū)動器

6 主控制器

P 片狀電極。