技術(shù)總結(jié)
一種表面平整度指示方法和設(shè)備，包括提供一個基準平面、一個主體平齊于所述基準平面的待檢測表面、一個產(chǎn)生光平面并使所述光平面照射向待檢測表面的光平面發(fā)生部；調(diào)整使所述光平面與基準平面之間形成一定的斜夾角，所述光平面與待檢測表面相交形成痕跡線；定義所述待檢測表面具有垂直于所述基準平面的凹凸方向，所述痕跡線靠近光平面發(fā)生部的部分為所述待檢測表面上的相對凸部，所述痕跡線遠離光平面發(fā)生部的部分為所述待檢測表面上的相對凹部。所述光平面和斜夾角設(shè)計，在待檢測物體的表面形成一條顯示放大后的待檢測表面的截面形狀，從而直觀地指示表面平整度情況。

技術(shù)研發(fā)人員：陳世澤;陳華邦;黎鴻生;蕭育華
受保護的技術(shù)使用者：羅伯特·博世有限公司,香港
文檔號碼：201510366513
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.29
技術(shù)公布日：2017.01.11