1.一種高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，包括：
一平臺；
一光源，用以投射一入射光；
一光電檢測器，用以接收一反射光并轉(zhuǎn)換成一電信號；
至少一熱電致冷模組，還包括一冷端板；
一控制器，分別電連接以驅(qū)動(dòng)該光源、該光電檢測器、該熱電致冷模組；以及
一處理器，電連接該控制器以接收并處理該電信號。
2.如權(quán)利要求1所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該控制器還電連接該平臺，以驅(qū)動(dòng)該平臺移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)。
3.如權(quán)利要求1所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該冷端板與該平臺接合以形成熱傳導(dǎo)。
4.一種高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，包括：
一平臺，還包括一冷房；
一光源，用以投射一入射光；
一光電檢測器，用以接收一反射光并轉(zhuǎn)換成一電信號；
一冷風(fēng)出口，用以輸出一低溫空氣至該冷房；
一控制器，分別電連接以驅(qū)動(dòng)該光源、該光電檢測器、該冷風(fēng)出口；以及
一處理器，電連接該控制器以接收并處理該電信號。
5.如權(quán)利要求4所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該控制器還電連接該平臺，以驅(qū)動(dòng)該平臺移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)。
6.一種高反光表面冷凝測量方法，適于測量一物體表面，包括以下步驟：
降低該物體周圍空氣的溫度；
對該物體表面進(jìn)行一光學(xué)掃描，以取得一電信號；
處理該電信號。
7.如權(quán)利要求6所述的高反光表面冷凝測量方法，其中該光學(xué)掃描指對該物體表面投射一入射光，并接收一反射光。
8.一種高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，包括：
一平臺，還包括一前冷房與一后冷房；
一光源，用以投射一入射光；
一光電檢測器，用以接收一反射光并轉(zhuǎn)換成一電信號；
一前冷風(fēng)出口，用以輸出一低溫空氣至該前冷房；
一后冷風(fēng)出口，用以輸出另一低溫空氣至該后冷房；
一控制器，分別電連接以驅(qū)動(dòng)該光源、該光電檢測器、該前冷風(fēng)出口、該后冷風(fēng)出口；以及
一處理器，電連接該控制器以接收并處理該電信號。
9.如權(quán)利要求8所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該控制器還電連接該平臺，以驅(qū)動(dòng)該平臺移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)。
10.如權(quán)利要求8所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該前冷房的溫度與該后冷房的溫度不相同。
11.如權(quán)利要求8所述的高反光表面冷凝測量系統(tǒng)，其中該前冷房的濕度與該后冷房的濕度不相同。