本發(fā)明涉及質(zhì)量檢測
技術(shù)領(lǐng)域：
，具體而言，涉及一種薄膜質(zhì)量檢測方法和一種薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
：在相關(guān)技術(shù)中，有很多種方法可以檢測薄膜質(zhì)量，這些方法適用的薄膜種類和應(yīng)用場景均有差異。目前，一般由用戶自行選擇采用何種方法為薄膜檢測質(zhì)量，然而，這種選擇具有很大的主觀性和不確定性，容易出現(xiàn)檢測偏差等問題。因此需要一種新的技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式。技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明正是基于上述問題，提出了一種新的技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式。有鑒于此，本發(fā)明的一方面提出了一種薄膜質(zhì)量檢測方法，用于薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)，包括：根據(jù)接收到的檢測命令，在預(yù)設(shè)的多種成像方式中選擇目標成像方式，其中，所述檢測命令包括對待檢測薄膜的周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號對所述待檢測薄膜進行數(shù)據(jù)采集的命令；使用所述目標成像方式采集所述待檢測薄膜的多個位置的圖像數(shù)據(jù)；根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性、設(shè)定形狀、設(shè)定范圍值、圖像高值模板及低值模板、進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后的閾值范圍，確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；其中，所述多種成像方式包括：第一成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分 光后不同波長的光在空間上分開，投射到所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組面陣灰度相機；第二成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的鏡面反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第三成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的漫反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第四成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；其中，所述多種成像方式分別獲取所述待檢測薄膜的不同的光學特征圖像。在該技術(shù)方案中，可以在系統(tǒng)中預(yù)設(shè)多種成像方式，以便在接收到檢測命令時，選擇適用于該檢測命令的成像方式，即選擇適用于該檢測命令的薄膜質(zhì)量檢測方式，以便根據(jù)檢測結(jié)果來判定薄膜的質(zhì)量是否合格。其中，在檢測薄膜質(zhì)量時，可以進行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號時對數(shù)據(jù)進行采集。通過該技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述光譜成像方式中，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的鏡頭聚焦后進入薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的面陣灰度相機。在該技術(shù)方案中，光譜采集系統(tǒng)包含主要包含分光組件和面陣灰度相機，分光組件前端有光學鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機的采集單元。面陣灰度相機采集到的每一幅二維圖像對應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個波長的強度。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述使用所述目標成像方式采集待檢測薄膜的多個位置的圖像數(shù)據(jù)，具體包括：使用與所述目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集所述待檢測薄膜的整個幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，以采集所述待檢測薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)；或使用與所述目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集所述待檢測薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，所述圖像數(shù)據(jù)采集器在所述寬度方向靜止或進行往返運動。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動圖像數(shù)據(jù)采集器來對靜態(tài)的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對移動的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運動，光譜采集系統(tǒng)固定不動，或(當光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時)光譜采集系統(tǒng)橫向往復移動；二是薄膜固定不動，光譜采集系統(tǒng)沿一個方向運動一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實際情況和需要，按特定運動方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，不同的成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性不同，其中，所述光譜成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性包括：所述圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，以及所述反射成像方式和所述透射成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性包括以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。在該技術(shù)方案中，光譜成像方式、反射成像方式和透射成像方式均對應(yīng)有各自的圖像數(shù)據(jù)屬性，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū) 間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間，而反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。通過該技術(shù)方案，可以通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對薄膜質(zhì)量進行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，從而提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，具體包括：根據(jù)所述每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算所述每個位置的綜合缺陷值，以供根據(jù)所述每個位置的所述綜合缺陷值確定所述每個位置處的所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，所述預(yù)設(shè)缺陷值計算公式為：其中，i表示采集所述圖像數(shù)據(jù)時的寬度方向，j表示采集所述圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示所述每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示所述每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷值，totolblob(i，j)表示所述每個位置處的所述綜合缺陷值。在該技術(shù)方案中，提出可以通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍來判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之前，還包括：根據(jù)所述多個位置中的所述每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，確定所述圖像數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間；根據(jù)所述合格數(shù)據(jù)空間與所述不合格數(shù)據(jù)空間的分界線設(shè)置質(zhì)量判別條件，以供根據(jù)所述質(zhì)量判別條件，確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；以及根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)的屬性、所述合格數(shù)據(jù)空間和所述不合格數(shù)據(jù)空間，確定 所述圖像數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，在通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值時，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對缺陷值的范圍判斷更加準確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。本發(fā)明的另一方面提出了一種薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)，包括：成像方式選擇單元，根據(jù)接收到的檢測命令，在預(yù)設(shè)的多種成像方式中選擇目標成像方式，其中，所述檢測命令包括對待檢測薄膜的周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號對所述待檢測薄膜進行數(shù)據(jù)采集的命令；圖像數(shù)據(jù)采集單元，使用所述目標成像方式采集所述待檢測薄膜的多個位置的圖像數(shù)據(jù)；質(zhì)量判別單元，根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性、設(shè)定形狀、設(shè)定范圍值、圖像高值模板及低值模板、進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后的閾值范圍，確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；其中，所述多種成像方式包括：第一成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組面陣灰度相機；第二成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的鏡面反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第三成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的漫反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第四成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；其中，所述多種成像方式分別獲取所述待檢測薄膜的不同的光學特征圖像。在該技術(shù)方案中，可以在系統(tǒng)中預(yù)設(shè)多種成像方式，以便在接收到檢測命令時，選擇適用于該檢測命令的成像方式，即選擇適用于該檢測命令的薄膜質(zhì)量檢測方式，以便根據(jù)檢測結(jié)果來判定薄膜的質(zhì)量是否合格。其 中，在檢測薄膜質(zhì)量時，可以進行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號時對數(shù)據(jù)進行采集。通過該技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述光譜成像方式中，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的鏡頭聚焦后進入薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的面陣灰度相機。在該技術(shù)方案中，光譜采集系統(tǒng)包含主要包含分光組件和面陣灰度相機，分光組件前端有光學鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機的采集單元。面陣灰度相機采集到的每一幅二維圖像對應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個波長的強度。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述圖像數(shù)據(jù)采集單元包括：第一采集單元，使用與所述目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集所述待檢測薄膜的整個幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，以采集所述待檢測薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)；和/或第二采集單元，使用與所述目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集所述待檢測薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，所述圖像數(shù)據(jù)采集器在所述寬度方向靜止或進行往返運動。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動圖像數(shù)據(jù)采集器來對靜態(tài)的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對移動的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運動，光譜采集系統(tǒng)固定不動，或(當光譜采集窄帶 的寬度小于薄膜寬度時)光譜采集系統(tǒng)橫向往復移動；二是薄膜固定不動，光譜采集系統(tǒng)沿一個方向運動一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實際情況和需要，按特定運動方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，不同的成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性不同，其中，所述光譜成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性包括：所述圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，以及所述反射成像方式和所述透射成像方式對應(yīng)的所述圖像數(shù)據(jù)的屬性包括以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。在該技術(shù)方案中，光譜成像方式、反射成像方式和透射成像方式均對應(yīng)有各自的圖像數(shù)據(jù)屬性，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間，而反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。通過該技術(shù)方案，可以通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對薄膜質(zhì)量進行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，從而提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述質(zhì)量判別單元具體用于：根據(jù)所述每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算所述每個位置的綜合缺陷值，以供根據(jù)所述每個位置的所述綜合缺陷值確定所述每個位置處的所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，所述預(yù)設(shè)缺陷值計算公式為：其中，i表示采集所述圖像數(shù)據(jù)時的寬度方向，j表示采集所述圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示所述每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示所述每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷值，totolblob(i，j)表示所述每個位置處的所述綜合缺陷值。在該技術(shù)方案中，提出可以通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍來判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：判別條件設(shè)置單元，在所述確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之前，根據(jù)所述多個位置中的所述每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，確定所述圖像數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，并根據(jù)所述合格數(shù)據(jù)空間與所述不合格數(shù)據(jù)空間的分界線設(shè)置質(zhì)量判別條件，以供根據(jù)所述質(zhì)量判別條件，確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；以及缺陷值確定單元，根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)的屬性、所述合格數(shù)據(jù)空間和所述不合格數(shù)據(jù)空間，確定所述圖像數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，在通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值時，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對缺陷值的范圍判斷更加準確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。通過以上技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。附圖說明圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測方法的流程圖；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的框圖；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4示出了圖3中的各個成像系統(tǒng)的原理圖；圖5示出了光譜成像系統(tǒng)的線性光源結(jié)構(gòu)圖；圖6示出了光譜成像系統(tǒng)的成像效果示意圖。具體實施方式為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點，下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明進行進一步的詳細描述。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請的實施例及實施例中的特征可以相互組合。在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實施，因此，本發(fā)明的保護范圍并不受下面公開的具體實施例的限制。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測方法的流程圖。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測方法，用于薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)，包括：步驟102，根據(jù)接收到的檢測命令，在預(yù)設(shè)的多種成像方式中選擇目標成像方式，其中，所述檢測命令包括對待檢測薄膜的周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號對所述待檢測薄膜進行數(shù)據(jù)采集的命令；步驟104，使用所述目標成像方式采集所述待檢測薄膜的多個位置的圖像數(shù)據(jù)；步驟106，根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性、設(shè)定形狀、設(shè)定范圍值、圖像高值模板及低值模板、進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后的閾值范圍，確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。其中，所述多種成像方式包括：第一成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組面陣灰度相機；第二成像方式，所述待檢測薄膜的 一條窄帶區(qū)域的鏡面反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第三成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的漫反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第四成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；其中，所述多種成像方式分別獲取所述待檢測薄膜的不同的光學特征圖像。在該技術(shù)方案中，可以在系統(tǒng)中預(yù)設(shè)多種成像方式，以便在接收到檢測命令時，選擇適用于該檢測命令的成像方式，即選擇適用于該檢測命令的薄膜質(zhì)量檢測方式，以便根據(jù)檢測結(jié)果來判定薄膜的質(zhì)量是否合格。其中，在檢測薄膜質(zhì)量時，可以進行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號時對數(shù)據(jù)進行采集。通過該技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述光譜成像方式中，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的鏡頭聚焦后進入薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的面陣灰度相機。在該技術(shù)方案中，光譜采集系統(tǒng)包含主要包含分光組件和面陣灰度相機，分光組件前端有光學鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機的采集單元。面陣灰度相機采集到的每一幅二維圖像對應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個波長的強度。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，步驟104具體包括：使用與目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集待檢測薄膜的整個幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)， 以采集待檢測薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)；或使用與目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集待檢測薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，圖像數(shù)據(jù)采集器在寬度方向靜止或進行往返運動。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動圖像數(shù)據(jù)采集器來對靜態(tài)的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對移動的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運動，光譜采集系統(tǒng)固定不動，或(當光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時)光譜采集系統(tǒng)橫向往復移動；二是薄膜固定不動，光譜采集系統(tǒng)沿一個方向運動一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實際情況和需要，按特定運動方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，不同的成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性不同，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性包括：圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，以及反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性包括以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。在該技術(shù)方案中，光譜成像方式、反射成像方式和透射成像方式均對應(yīng)有各自的圖像數(shù)據(jù)屬性，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間，而反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個 數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。通過該技術(shù)方案，可以通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對薄膜質(zhì)量進行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，從而提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，步驟106具體包括：根據(jù)每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算每個位置的綜合缺陷值，以供根據(jù)每個位置的綜合缺陷值確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，預(yù)設(shè)缺陷值計算公式為：其中，i表示采集圖像數(shù)據(jù)時的寬度方向，j表示采集圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷值，totolblob(i，j)表示每個位置處的綜合缺陷值。在該技術(shù)方案中，提出可以通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍來判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在步驟106之前，還包括：根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，確定圖像數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間；根據(jù)合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間的分界線設(shè)置質(zhì)量判別條件，以供根據(jù)質(zhì)量判別條件，確定待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；以及根據(jù)圖像數(shù)據(jù)的屬性、合格數(shù)據(jù)空間和不合格數(shù)據(jù)空間，確定圖像數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，在通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值時，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對缺陷值的范圍判斷更加準確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的框圖。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)200，包括：成像方式選擇單元202，根據(jù)接收到的檢測命令，在預(yù)設(shè)的多種成像方式中選擇目標成像方式，其中，檢測命令包括對待檢測薄膜的周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號對待檢測薄膜進行數(shù)據(jù)采集的命令；圖像數(shù)據(jù)采集單元204，使用目標成像方式采集待檢測薄膜的多個位置的圖像數(shù)據(jù)；質(zhì)量判別單元206，根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性、設(shè)定形狀、設(shè)定范圍值、圖像高值模板及低值模板、進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后的閾值范圍，確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。其中，所述多種成像方式包括：第一成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組面陣灰度相機；第二成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的鏡面反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第三成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的漫反射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；第四成像方式，所述待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入所述薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的一個或一組灰度或彩色線陣相機；其中，所述多種成像方式分別獲取所述待檢測薄膜的不同的光學特征圖像。在該技術(shù)方案中，可以在系統(tǒng)中預(yù)設(shè)多種成像方式，以便在接收到檢測命令時，選擇適用于該檢測命令的成像方式，即選擇適用于該檢測命令的薄膜質(zhì)量檢測方式，以便根據(jù)檢測結(jié)果來判定薄膜的質(zhì)量是否合格。其中，在檢測薄膜質(zhì)量時，可以進行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號時對數(shù)據(jù)進行采集。通過該技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述光譜成像方式中，所述待檢測薄 膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的鏡頭聚焦后進入薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的面陣灰度相機。在該技術(shù)方案中，光譜采集系統(tǒng)包含主要包含分光組件和面陣灰度相機，分光組件前端有光學鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機的采集單元。面陣灰度相機采集到的每一幅二維圖像對應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個波長的強度。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，圖像數(shù)據(jù)采集單元204包括：第一采集單元2042，使用與目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集待檢測薄膜的整個幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，以采集待檢測薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)；和/或第二采集單元2044，使用與目標成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)采集器多次采集待檢測薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，圖像數(shù)據(jù)采集器在寬度方向靜止或進行往返運動。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動圖像數(shù)據(jù)采集器來對靜態(tài)的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對移動的薄膜進行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運動，光譜采集系統(tǒng)固定不動，或(當光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時)光譜采集系統(tǒng)橫向往復移動；二是薄膜固定不動，光譜采集系統(tǒng)沿一個方向運動一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實際情況和需要，按特定運動方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，不同的成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性不同，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性包括：圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和c*ab值，以及反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)的屬性包括以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。在該技術(shù)方案中，光譜成像方式、反射成像方式和透射成像方式均對應(yīng)有各自的圖像數(shù)據(jù)屬性，其中，光譜成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于圖像數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強度、能量積分、某個波長區(qū)間的主波長、某個波長區(qū)間的半波寬、某個波長區(qū)間的峰值強度、某個波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間，而反射成像方式和透射成像方式對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)屬性包括但不限于以下至少之一或其組合：圖像數(shù)據(jù)顏色高低值范圍、高低值圖像數(shù)據(jù)模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度。通過該技術(shù)方案，可以通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對薄膜質(zhì)量進行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，從而提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，質(zhì)量判別單元206具體用于：根據(jù)每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算每個位置的綜合缺陷值，以供根據(jù)每個位置的綜合缺陷值確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格，預(yù)設(shè)缺陷值計算公式為：其中，i表示采集圖像數(shù)據(jù)時的寬度方向，j表示采集圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷值，totolblob(i，j)表示每個位置處的綜合缺陷值。在該技術(shù)方案中，提出可以通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測 位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍來判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：判別條件設(shè)置單元208，在確定每個位置處的待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之前，根據(jù)多個位置中的每個位置的圖像數(shù)據(jù)的屬性，確定圖像數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，并根據(jù)合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間的分界線設(shè)置質(zhì)量判別條件，以供根據(jù)質(zhì)量判別條件，確定待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格；以及缺陷值確定單元210，根據(jù)圖像數(shù)據(jù)的屬性、合格數(shù)據(jù)空間和不合格數(shù)據(jù)空間，確定圖像數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，在通過預(yù)設(shè)缺陷值計算公式計算薄膜的檢測位置的缺陷值時，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對缺陷值的范圍判斷更加準確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)，用于檢測液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等的質(zhì)量，包括：輥筒、運動控制系統(tǒng)、光譜采集與處理子系統(tǒng)、反射圖像采集與處理子系統(tǒng)、透射圖像采集與處理子系統(tǒng)、質(zhì)量標記子系統(tǒng)、圖像分析主站系統(tǒng)和后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)。該薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)可以自動檢測薄膜產(chǎn)品質(zhì)量，并包含兩種檢測方法：方法一：采集運行中的薄膜的光譜圖像和表面圖像，通過數(shù)字圖像處理對它們進行自動質(zhì)量檢測判斷，確定產(chǎn)品質(zhì)量是否合格，及時得到產(chǎn)品檢測結(jié)論，以在線進行質(zhì)量標記，或?qū)z測結(jié)果數(shù)據(jù)信息進行存儲，或?qū)z測結(jié)果數(shù)據(jù)信息傳遞給后工序，后續(xù)工序根據(jù)檢測結(jié)果進行整體作廢、 局部作廢、缺陷修補等處理。其中，檢測結(jié)果包括：整體是否合格、局部缺陷的縱向位置及橫向位置或檢測系統(tǒng)的質(zhì)量標記等。方法二：被檢測對象可固定在平板上或者兩端固定，圖像采集器在運動中掃描檢測對象，獲取圖像數(shù)據(jù)，進行分析檢測，其具體處理方法與方法一所述相同。另外，該薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)檢測的對象可以是整幅薄膜產(chǎn)品，也可以是多幅薄膜產(chǎn)品，還可以是切開的條帶狀產(chǎn)品。該薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)主要包含運動控制系統(tǒng)及輥筒等運動組件、至少一套光譜采集處理子系統(tǒng)、至少一套反射圖像采集與處理子系統(tǒng)或透射圖像采集與處理子系統(tǒng)、圖像分析主站系統(tǒng)。以及還可以包含質(zhì)量標記子系統(tǒng)，該質(zhì)量標記子系統(tǒng)可與后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)連接。各圖像采集與處理子系統(tǒng)可按照固定頻率(或周期)采集圖像，或通過運動控制系統(tǒng)的觸發(fā)信號采集圖像，觸發(fā)信號的頻率(或周期)與產(chǎn)品運行速度成比例相關(guān)。各采集與處理子系統(tǒng)通過嵌入式電路板或計算機進行分析和處理。本系薄膜質(zhì)量檢測系統(tǒng)的薄膜檢測基本幅寬為0.2m至1m，當然，也可檢測細分切后的更窄的薄膜或者更寬的薄膜，運行速度為小于或等于150m/min。圖4示出了圖3中的各個成像系統(tǒng)的原理圖。如圖4所示，光譜成像系統(tǒng)可以采集薄膜的光譜質(zhì)量信息。光源1發(fā)射的光具有較寬的頻率范圍，譜線平滑，光源1可以是白光光源、紫外光源、紅外光源三者中的一個，或者兩個、三個的組合，光源1的最大照明面積為1200mm*30mm，照度均勻度大于或等于95％，焦距為200mm，焦距可根據(jù)需要調(diào)節(jié)，總通光量為68000lm，峰值通光量為100000lm，連續(xù)工作模式下功率最大為500w，光源功率可動態(tài)、無級調(diào)節(jié)，觸發(fā)工作模式下峰值功率為3000w，觸發(fā)模式的開關(guān)周期最短可達0.1ms。發(fā)光部分采用多個led(lightemittingdiode，發(fā)光二極管)排列組成，可全部采用白光led，或白光led與紫外led交替排列、交錯排列或平行排列，或白光led與紅外led交替排列、交錯排列或平行排列，或紫外led、白光led與紅外led交替排列、交錯排列或平行排列。線 性光源結(jié)構(gòu)如圖5所示，led固定在光源底板上，柱狀光學元件蓋在led上，使發(fā)出的光匯聚成高強度的線性光，其中，入射光路可配備消偏器。如圖4所示，分光組件采集經(jīng)過薄膜反射(也可以是透射)后的光譜數(shù)據(jù)。在滾筒帶動薄膜的成像方式下，光學系統(tǒng)的聚焦面可以是薄膜脫離滾筒后懸空的位置，也可以位于滾筒上。反射成像模式下，光源入射角為0至15°，可以使用1至3個光源從不同入射角度照射，光譜采集系統(tǒng)的反射角為0至15°。透射成像模式下，光源入射角為-15°至+15°，可以使用1至3個光源從不同入射角度照射，進入光譜分光采集系統(tǒng)的光線與法線夾角為-15°至+15°。分光組件前端配備一個鏡頭，該鏡頭對各色光都具有良好的通過性，經(jīng)過鏡頭后的光進入分光器件的狹縫，通過狹縫后，不同波長的光被分光器件在空間上被均勻展開，展開后的光譜分辨率最高可達1nm，最低為20nm。后端的面陣灰度相機采集光譜數(shù)據(jù)，面陣灰度相機具有連續(xù)平滑的光譜響應(yīng)曲線。反射光成像系統(tǒng)可以是圖4所示的反射方法，也可以將光源1置于薄膜的另一側(cè)，采集透射光譜。光源1與法線的夾角范圍是0度至80度。當光源1與法線角度為0度或者接近0度時，使用半透半反棱鏡成像。分光組件分光后的光譜范圍為200nm至1000nm。反射光成像系統(tǒng)用于采集薄膜的反射光圖像。光源2是白光光源、紫外光源、紅外光源三者中的一個，或者兩個、三個的組合，入射角度的范圍為0到90度，當入射角為0度時，可使用使用半透半反棱鏡成像。根據(jù)需要，入射光路上可配備偏振光學器件。相機2為彩色或者灰度的線陣相機或面陣灰度相機。相機2的光軸可以與法線重合，或者是其他任意角度。根據(jù)需要，相機2前端可配備偏振光學器件，實現(xiàn)偏振成像效果。再如圖4所示，透射光成像系統(tǒng)用于采集薄膜的透射光圖像。光源3是白光光源、紫外光源、紅外光源三者中的一個，或者兩個、三個的組合，光源3的入射角度可以是垂直入射，也可以是0度到90度間的一個角度。相機3的光軸可以與法線重合，或者是其他任意角度。根據(jù)需要，相機3前端可以配備偏振光學器件，實現(xiàn)偏振成像效果。如圖6所示，光譜采集系統(tǒng)包含主要包含分光組件和面陣灰度相機，分光組件前端有光學鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機的采集單元。面陣灰度相機采集到的每一幅二維圖像對應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個波長的強度。具體來說，光譜成像的相機為一個面陣的數(shù)字相機，相機的每一列對應(yīng)一小塊薄膜的光譜展開曲線。拍攝對象橫向物理尺寸為width，相機分辨率為n像素，則橫向光譜分辨率為width/npixel，系統(tǒng)width最大為1m，npixel最大為2048，橫向空間分辨率最大為0.49mm，也可通過設(shè)置相鄰n(＝2，3，4，…)個像素進行合并，獲得較低的分辨率。系統(tǒng)正常工作狀態(tài)下，橫向空間分辨率為0.49mm至49mm。在特殊工作狀態(tài)下，可任意選擇1至20個點，跟蹤、分析、檢測薄膜的光譜特性。面陣灰度相機縱向像素分辨率最大為1088，也可通過像素合并得到更低分辨率。圖像的每一列對應(yīng)拍攝對象某一塊的光譜展開，展開的光譜最大可包含300至1200nm波長范圍，也可根據(jù)需要采集一部分光譜，比如380至780nm波長范圍。從采集到的數(shù)據(jù)中，選取一定數(shù)量的點，波長分辨率為0.5～10nm，一般不少于40個點，用于光譜計算和檢測。在特殊工作狀態(tài)下，可選擇1至40個點的光譜數(shù)據(jù)，用于跟蹤、分析、檢測薄膜的光譜特性。光譜成像系統(tǒng)能夠采集整個幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運動同時，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實現(xiàn)間斷或連續(xù)的全寬度光譜采集；或者能夠采集部分幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運動同時，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實現(xiàn)間斷或連續(xù)的部分寬度范圍的光譜采集；或者采集部分幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運動同時，光譜成像系統(tǒng)在寬度方向往返移動，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實現(xiàn)寬度方向多位置、長度方向間隔位置的光譜采集；或者使用多套分光組件及相機，采集不同位置的光譜圖像，分別處理或者進 行光譜圖像拼接后再處理。光譜成像系統(tǒng)曝光時間為ex_time，系統(tǒng)運行速度為v，行進方向光譜分辨率為v/ex_time，系統(tǒng)最大速度為v＝150m/min，系統(tǒng)最小曝光時間為ex_time＝1ms，此時對應(yīng)的行進方向分辨率為2.5mm，也可通過降低運行速度獲得更高的行進方向分辨率，或增大曝光時間降低行進方向分辨率。系統(tǒng)連續(xù)曝光工作狀態(tài)下，行進方向光譜分辨率為2.5mm至100mm。系統(tǒng)可以間隔曝光，間隔時間為ex_skip，該時間范圍為0s至10s。另外，光譜檢測范圍為200nm至1000nm，根據(jù)檢測對象的特征，包含單峰光譜和多峰光譜兩種檢測方法：(一)單峰光譜系統(tǒng)自動分析得到薄膜每個橫向細塊的主波長、半波寬、光譜強度(反射率)、分段積分能量等光譜指標，檢測光譜是否合格，光譜檢測邏輯關(guān)系圖如表1所示。同時，計算各指標超過參數(shù)范圍的值，得到缺陷值。表1測量值參數(shù)范圍單項檢測結(jié)論主波長/nm[peak_low,peak_high]合格/不合格半波寬/nm[wave_min,wave_max]合格/不合格強度[strength_min,strength_max]合格/不合格分段積分能量第1段能量[ei_min,ei_max](i＝1,...,n)合格/不合格其中，peak_low和peak_high分別為主波長低值閾值和主波長高值閾值；wave_min和wave_max分別為半波寬低值閾值和半波寬高值閾值；strength_min和strength_max分別為強度低值閾值和強度高值閾值；ei_min和ei_max分別為能量積分低值和能量積分高值。各個指標的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動生成。自動生成指系統(tǒng)分析一定數(shù)量合格產(chǎn)品的光譜信息，得到其光譜數(shù)據(jù)空間1；分析一定數(shù)量不合格產(chǎn)品的光譜信息，得到其光譜數(shù)據(jù)空間2；計算光譜數(shù)據(jù)空間1和光譜數(shù)據(jù)空間2的分割界線，即為合格與不合格的檢測閾值。除了表1所示的合格/不合格判斷方法，不合格程度可以細分為多個等級，表1中“單項檢測結(jié)論”的“合格/不合格”可細分為 “合格/輕微不合格/一般不合格/嚴重不合格”。對于包含多幅的產(chǎn)品，可人工指定第一幅起始位置、各幅的寬度和幅間距離等，系統(tǒng)按照指定參數(shù)進行光譜檢測?；蛳到y(tǒng)自動分析比較有效部分的光譜和間隔部分的光譜，得到第一幅起始位置、各幅的寬度和幅間距離等數(shù)據(jù)。此外，還可將光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，根據(jù)自動學習生成的合格數(shù)據(jù)范圍，或者人工指定的合格數(shù)據(jù)范圍，在相關(guān)顏色空間(坐標系統(tǒng))進行合格/不合格檢測。(二)多峰光譜通過解耦可以得到多個單峰光譜，各個單峰光譜參考前述單峰光譜的方法進行分析檢測，分析比較各個單峰光譜的能量積分、中心波長、主波長強度等參數(shù)指標，進行綜合分析。另外，在進行反射圖像檢測的過程中，可以通過反射圖像顏色高低值范圍、高低值圖像模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度等指標檢測反射圖像是否合格。各個指標的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析合格產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動生成。在進行透射圖像檢測的過程中，可以通過透射圖像顏色高低值范圍、高低值圖像模板、圖紋個數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度等指標檢測反射圖像是否合格。各個指標的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析合格產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動生成。圖像分析主站匯集光譜采集處理子系統(tǒng)、反射圖像采集與處理子系統(tǒng)、透射圖像采集與處理子系統(tǒng)的檢測信息，將它們轉(zhuǎn)換到一致的圖像分辨率，進行圖像位置對準，并將圖像位置與物理位置對準，得到產(chǎn)品的檢測結(jié)果信息。某個圖像位置(i，j)的綜合缺陷值，為多個圖像缺陷數(shù)值的融合，如式(1)所示。其中，i表示采集圖像數(shù)據(jù)時的寬度方向，j表示采集圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示每個位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù) 缺陷值，其中，0表示沒有缺陷，255表示最嚴重的缺陷。totolblob(i，j)表示每個位置處的綜合缺陷值。具體地，通過成像參數(shù)、缺陷圖相比原圖的縮放比例可計算得到每個缺陷點的橫向分辨率為bxmm/pixel，那么第i個點對應(yīng)的橫向位置為i*bxmm。通過行進方向采圖周期、行進速度、缺陷圖相比原圖的縮放比例可計算得到每個缺陷點的縱向分辨率為bymm/pixel，那么第j個點對應(yīng)的橫向位置為j*bxmm。當一個或多個檢測項不合格時，位置(i,j)即被判為不合格。另外，也可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)和產(chǎn)品的橫向及縱向劃分規(guī)格參數(shù)，將圖像位置和細分單元進行匹配，將i(寬度方向位置)對應(yīng)到幅、根等細分單元，將j(行進方向位置)對應(yīng)到段等細分單元。分析主站判定某個位置產(chǎn)品不合格時，將相關(guān)信息進行顯示存儲；或通知質(zhì)量標記子系統(tǒng)，執(zhí)行缺陷標記；或?qū)①|(zhì)量信息傳遞給后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)，后續(xù)對缺陷產(chǎn)品進行處理。以上結(jié)合附圖詳細說明了本發(fā)明的技術(shù)方案，通過本發(fā)明的技術(shù)方案，可以自動為用戶選擇合適的薄膜質(zhì)量檢測方式，從而提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，提升了薄膜檢測的效率和質(zhì)量。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。當前第1頁12