1.一種用于測量浮質(zhì)中的顆粒濃度和質(zhì)量濃度的傳感器系統(tǒng)，包括：
光學(xué)傳感器(33)，用于測量顆粒濃度和可選地測量顆粒尺寸分布；
機械傳感器(32)，用于測量收集的顆粒的質(zhì)量；以及
控制器(36)，適用于：
使用所述光學(xué)傳感器(33)監(jiān)控所述浮質(zhì)中的所述顆粒濃度和可選地監(jiān)控所述顆粒尺寸分布，直到檢測到顆粒產(chǎn)生事件；
在檢測到顆粒產(chǎn)生事件時，使用所述機械傳感器(32)來執(zhí)行質(zhì)量測量；以及
使用所述質(zhì)量測量來校準(zhǔn)所述光學(xué)傳感器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳感器系統(tǒng)，其中所述機械傳感器包括：
感測元件；
換能器(32)，適用于驅(qū)動所述感測元件進入共振并且適用于檢測所述感測元件的共振頻率，其中所述共振頻率取決于沉積在所述感測元件上的顆粒的質(zhì)量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的傳感器系統(tǒng)，其中所述控制器(36)進一步適用于得出在所述質(zhì)量測量期間已經(jīng)被采樣的浮質(zhì)的體積，并且從而得出每單位體積的顆粒濃度。
4.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的傳感器系統(tǒng)，其中所述控制器(36)進一步適用于使用所述光學(xué)傳感器監(jiān)控所述浮質(zhì)，直到穩(wěn)定的事后顆粒濃度被記錄，并且所述校準(zhǔn)包括將事后光學(xué)傳感器測量(24)與事后質(zhì)量測量(26)相結(jié)合。
5.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的傳感器系統(tǒng)，進一步包括樣本納入裝置(30)，用于在感測周期期間操作以驅(qū)動所述浮質(zhì)受所述機械傳感器的傳感器元件監(jiān)控。
6.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的傳感器系統(tǒng)，進一步包括顆粒過濾器布置(30)，用于選擇顆粒尺寸的范圍，所述范圍的所述顆粒濃度和質(zhì)量濃度將被測量。
7.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的傳感器系統(tǒng)，進一步包括化學(xué)傳感器，用于提供關(guān)于所述顆粒產(chǎn)生事件的信息。
8.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的傳感器系統(tǒng)，其中所述控制器(36)包括存儲器(37)，所述存儲器(37)存儲歷史光學(xué)傳感器測量和對應(yīng)的歷史機械傳感器測量之間的映射。
9.一種空氣處理設(shè)備，包括根據(jù)權(quán)利要求1-8中任一項所述的傳感器系統(tǒng)。
10.一種測量浮質(zhì)顆粒濃度和質(zhì)量濃度的方法，包括：
(20)通過測量顆粒濃度和可選地測量顆粒尺寸分布使用光學(xué)傳感器(33)來監(jiān)控所述浮質(zhì)；
基于測量的所述顆粒濃度和可選地測量的尺寸分布，檢測顆粒產(chǎn)生事件；
(22)響應(yīng)于檢測到所述顆粒產(chǎn)生事件，使用機械傳感器(32)執(zhí)行收集的顆粒的質(zhì)量測量；以及
(26)使用所述質(zhì)量測量來校準(zhǔn)所述光學(xué)傳感器(33)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述機械傳感器包括基于共振頻率的機械傳感器元件，其中所述共振頻率取決于沉積在所述傳感器元件上的顆粒的質(zhì)量。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11中的任一項所述的方法，進一步包括使用所述光學(xué)傳感器監(jiān)控所述浮質(zhì)，直到穩(wěn)定的事后顆粒濃度被記錄，并且所述校準(zhǔn)包括將事后光學(xué)傳感器測量(24)與事后質(zhì)量測量(26)相結(jié)合。
13.根據(jù)權(quán)利要求10-12中任一項所述的方法，包括存儲歷史光學(xué)傳感器測量和對應(yīng)的歷史機械傳感器測量之間的映射。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，如果存在到歷史機械傳感器測量的映射，則在檢測到顆粒產(chǎn)生事件之后使用所存儲的映射禁止執(zhí)行質(zhì)量測量。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，包括使用所述光學(xué)傳感器測量來衡量存儲的歷史質(zhì)量測量以提供質(zhì)量指示。