技術特征：

技術總結
一種X射線裝置，包括X射線源和X射線檢測器，兩個部件之間設有干擾入射在其上的X射線光子的元件。所述裝置進一步包括代表材料類型和材料厚度值的第一數(shù)據(jù)庫、指示材料類型和/或材料厚度的散射輻射值的第二數(shù)據(jù)庫、可執(zhí)行將X射線檢測器的輸出信號與第一數(shù)據(jù)庫中的數(shù)值進行比較的算法并且可輸出來自第一數(shù)據(jù)庫最可能的材料和/或厚度的處理器；從第二數(shù)據(jù)庫中選擇與材料類型和/或材料厚度相關聯(lián)的散射輻射；將散射輻射從X射線檢測器的輸出信號中去除。

技術研發(fā)人員：保羅·斯科特;蓋理·吉布森;尼爾·洛士利
受保護的技術使用者：IBEX創(chuàng)新有限責任公司
技術研發(fā)日：2015.10.05
技術公布日：2017.08.01