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基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法與流程

文檔序號:12484519閱讀:285來源:國知局
基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法與流程

本發(fā)明涉及測繪領(lǐng)域,具體涉及到一種基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法。



背景技術(shù):

隨著GNSS全球化的發(fā)展,中國北斗衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)日趨成熟,越來越多的北斗終端設(shè)備投入使用,公司引進(jìn)多種類型OEM導(dǎo)航定位板卡,支持多模多頻,需要測試各衛(wèi)星系統(tǒng)的定位精度。

原有測試方案:每種板卡需要不同的軟件等工具配置不同的衛(wèi)星系統(tǒng),輸出定位數(shù)據(jù)GPGGA,通過秒表統(tǒng)計(jì)從上電到GPGGA輸出并完成解算,總計(jì)5分鐘1組數(shù)據(jù)。手動上電、手動記錄時(shí)間、手動設(shè)置參數(shù)等,需要測試不同的環(huán)境、不同的基線,累計(jì)上千次數(shù)據(jù)。耗時(shí)耗力,前期占用個(gè)人時(shí)間非常長,以1組數(shù)據(jù)5分鐘為例,測試至少1000組以上,測試時(shí)間至少需要5000分鐘。后期數(shù)據(jù)處理工程量浩大工期較長,假設(shè)1000組數(shù)據(jù),需要分析每組數(shù)據(jù)的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖、解算衛(wèi)星,再統(tǒng)計(jì)1000組數(shù)據(jù)平均值的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖、解算衛(wèi)星,還要統(tǒng)計(jì)1000組所有數(shù)據(jù)的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖、解算衛(wèi)星。所有這些數(shù)據(jù)處理都是通過后期excel手動計(jì)算篩選完成的,耗費(fèi)巨大工時(shí)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供了一種基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法,包括如下步驟:

步驟S1、搭建測試環(huán)境;

步驟S2、創(chuàng)建工作模式;

步驟S3、設(shè)置測試主板參數(shù);

步驟S4、運(yùn)行測試程序;

步驟S5、生成測試報(bào)告;

步驟S6、根據(jù)測試環(huán)境的不同,重復(fù)進(jìn)行步驟S1-步驟S6。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,搭建測試環(huán)境包括:

提供不同型號的OEM板卡、1分8功分器、GPS線纜、交叉線、GPS天線、OEM板卡開發(fā)底板、筆記本電腦、程控電源;引入多種距離差分?jǐn)?shù)據(jù),尋找10KM/20KM/30KM/40KM/50KM/60KM/70KM/80KM/90KM/100KM差分?jǐn)?shù)據(jù),通過服務(wù)器軟件,通過交叉線轉(zhuǎn)給OEM板卡對應(yīng)的串口。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,工作模式創(chuàng)建包括:

創(chuàng)建工作模式名稱、設(shè)置解算類型、參與解算的衛(wèi)星系統(tǒng)、單次測試持續(xù)時(shí)間、測試持續(xù)次數(shù)以及中心點(diǎn)的選取方式;

工作模式創(chuàng)建的所有參數(shù)配置都會被寫入配置文件同時(shí)也會形成一個(gè)模式列表。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,解算類型為RTK模式或單點(diǎn)模式;

參與解算的衛(wèi)星系統(tǒng)支持GPS、GLONASS、BD單獨(dú)衛(wèi)星系統(tǒng)的選擇以及任意組合;

中心點(diǎn)的選取方式包括選取其他模式的中心點(diǎn)、自行輸入、計(jì)算共三種方式。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,設(shè)置測試主板參數(shù)包括如下步驟:

設(shè)置主板名稱、主板類型、COM口、串口波特率、請求GPGGA的命令、以及原始GPGGA保存的路徑、定位區(qū)間和定位類型;以及

最后選擇之前創(chuàng)建好的工作模式。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,測試主板支持1-50以上的COM口,

測試主板支持4800/9600/19200/38400/57600/115200的串口波特率;

GPGGA命令根據(jù)主板類型而設(shè)定;

原始GPGGA保存的路徑支持默認(rèn)路徑和自定義路徑;

定位區(qū)間為圓的半徑;

定位類型包括根據(jù)半徑不為0的個(gè)數(shù)來確定圓的個(gè)數(shù),以及進(jìn)行成圖的點(diǎn)的狀態(tài)選擇包含單點(diǎn)定位、偽距差分、固定狀態(tài)、浮動狀態(tài),定位類型支持單獨(dú)選擇和多項(xiàng)選擇。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,測試報(bào)告包括單次測試數(shù)據(jù)報(bào)告、N次測試平均值數(shù)據(jù)報(bào)告和N次測試匯總數(shù)據(jù)報(bào)告;

N為正整數(shù)。

在上述的基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法中,單次測試數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)的數(shù)據(jù);

N次測試平均值數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖;

N次測試匯總數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)、固定率。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:

1、本方法涵蓋了當(dāng)今主流導(dǎo)航定位模塊的GPGGA輸出設(shè)置方法,不用人為的去尋找指令或者通過各自的設(shè)置軟件設(shè)置;

2、本發(fā)明可以自由的設(shè)置定位精度的區(qū)間,選擇與之對比的點(diǎn)平均值、已知點(diǎn)、還是計(jì)算點(diǎn),多種選擇;

3、本發(fā)明還提供了對不同定位狀態(tài)精度的分析;

4、本發(fā)明提供了可設(shè)置生成的精度圖圓的不同區(qū)間半徑;

5、本發(fā)明提供了多種不同衛(wèi)星系統(tǒng)的設(shè)置;

6、本發(fā)明能夠自由輸入每輪測試持續(xù)時(shí)間,持續(xù)次數(shù);

7、本發(fā)明能夠直觀的匯總多輪測試的結(jié)果,并分析定多種定位精度,包含每次測試數(shù)據(jù)的經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù);N次測試數(shù)據(jù)的平均值的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖;N次測試匯總數(shù)據(jù)經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)、固定率。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖對非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本發(fā)明及其特征、外形和優(yōu)點(diǎn)將會變得更明顯。在全部附圖中相同的標(biāo)記指示相同的部分。并未刻意按照比例繪制附圖,重點(diǎn)在于示出本發(fā)明的主旨。

圖1為本發(fā)明提供的一種基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法的主要步驟圖;

圖2為創(chuàng)建工作模式的流程圖;

圖3為設(shè)置測試主板參數(shù)的流程圖;

圖4為運(yùn)行測試程序的測試流程圖。

具體實(shí)施方式

在下文的描述中,給出了大量具體的細(xì)節(jié)以便提供對本發(fā)明更為徹底的理解。然而,對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言顯而易見的是,本發(fā)明可以無需一個(gè)或多個(gè)這些細(xì)節(jié)而得以實(shí)施。在其他的例子中,為了避免與本發(fā)明發(fā)生混淆,對于本領(lǐng)域公知的一些技術(shù)特征未進(jìn)行描述。

為了徹底理解本發(fā)明,將在下列的描述中提出詳細(xì)的步驟以及詳細(xì)的結(jié)構(gòu),以便闡釋本發(fā)明的技術(shù)方案。本發(fā)明的較佳實(shí)施例詳細(xì)描述如下,然而除了這些詳細(xì)描述外,本發(fā)明還可以具有其他實(shí)施方式。

本發(fā)明提供了一種基于多模多頻OEM板卡定位精度處理方法,參照圖1所示,主要包括如下步驟:

步驟S1、搭建測試環(huán)境;

步驟S2、創(chuàng)建工作模式;

步驟S3、設(shè)置測試主板參數(shù);

步驟S4、運(yùn)行測試程序;

步驟S5、生成測試報(bào)告;

步驟S6、根據(jù)測試環(huán)境的不同,重復(fù)進(jìn)行步驟S1-步驟S6。

下面就上述的測試流程具體詳細(xì)的描述。

在本發(fā)明一可選的實(shí)施例中,搭建測試環(huán)境包括:提供不同型號的OEM板卡、1分8功分器、GPS線纜、交叉線、GPS天線、OEM板卡開發(fā)底板、筆記本電腦、程控電源;引入多種距離差分?jǐn)?shù)據(jù),從全國尋找10KM/20KM/30KM/40KM/50KM/60KM/70KM/80KM/90KM/100KM差分?jǐn)?shù)據(jù),通過服務(wù)器軟件,通過交叉線轉(zhuǎn)給OEM板卡對應(yīng)COM1口。

在本發(fā)明一可選的實(shí)施例中,參照圖2所示,工作模式創(chuàng)建包括:創(chuàng)建工作模式名稱、設(shè)置解算類型、參與解算的衛(wèi)星系統(tǒng)、單次測試持續(xù)時(shí)間、測試持續(xù)次數(shù)以及中心點(diǎn)的選取方式;工作模式創(chuàng)建的所有參數(shù)配置都會被寫入配置文件同時(shí)也會形成一個(gè)模式列表??蛇x的,解算類型為RTK模式或單點(diǎn)模式;參與解算的衛(wèi)星系統(tǒng)支持GPS、GLONASS、BD單獨(dú)衛(wèi)星系統(tǒng)的選擇以及任意組合;中心點(diǎn)的選取方式包括選取其他模式的中心點(diǎn)、自行輸入、計(jì)算共三種方式。

在本發(fā)明一可選的實(shí)施例中,參照圖3所示,設(shè)置測試主板參數(shù)包括如下步驟:設(shè)置主板名稱、主板類型支持(目前主流的主板類型hemisphere、trimble、unicore、novatel等)、COM口、串口波特率、請求GPGGA的命令、以及原始GPGGA保存的路徑、定位區(qū)間和定位類型;以及最后選擇之前創(chuàng)建好的工作模式??蛇x的,其特征在于,測試主板支持1-50以上的COM口,測試主板支持4800/9600/19200/38400/57600/115200的串口波特率;GPGGA命令根據(jù)主板類型而設(shè)定;原始GPGGA保存的路徑支持默認(rèn)路徑和自定義路徑;定位區(qū)間為圓的半徑;定位類型包括根據(jù)半徑不為0的個(gè)數(shù)來確定圓的個(gè)數(shù), 以及進(jìn)行成圖的點(diǎn)的狀態(tài)選擇包含單點(diǎn)定位“1”、偽距差分“2”、固定狀態(tài)“4”、浮動狀態(tài)“5”,定位類型支持單獨(dú)選擇和多項(xiàng)選擇。

在本發(fā)明一可選的實(shí)施例中,參照圖4所示,測試報(bào)告包括單次測試數(shù)據(jù)報(bào)告、N次測試平均值數(shù)據(jù)報(bào)告和N次測試匯總數(shù)據(jù)報(bào)告。具體的,單次測試數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)的數(shù)據(jù);N次測試平均值數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖;N次測試匯總數(shù)據(jù)報(bào)告包括經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)、固定率。

本專利測試方案:通過板卡測試工具,只需要通過1個(gè)測試程序就可完成所有的參數(shù)配置,設(shè)置每輪測試時(shí)間,總共測試次數(shù),點(diǎn)擊開始,待測試結(jié)束后,導(dǎo)出測試報(bào)告即可使用,測試報(bào)告自動生成每次測試數(shù)據(jù)的經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù);N次測試數(shù)據(jù)的平均值的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖;N次測試匯總數(shù)據(jù)經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)、固定率。大大的提高了測試效率,簡單方便、解放人力。而且測試數(shù)據(jù)非常全面,避免人為因素產(chǎn)生的誤差。測試過程中人可以走開干其他工作。無需人為手動的上電開關(guān)、秒表計(jì)時(shí),統(tǒng)計(jì)時(shí)間,匯總表格。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:

1、本發(fā)明涵蓋了當(dāng)今主流導(dǎo)航定位模塊的GPGGA輸出設(shè)置方法,不用人為的去尋找指令或者通過各自的設(shè)置軟件設(shè)置;

2、本發(fā)明可以自由的設(shè)置定位精度的區(qū)間,選擇與之對比的點(diǎn)平均值、已知點(diǎn)、還是計(jì)算點(diǎn),多種選擇;

3、本發(fā)明還提供了對不同定位狀態(tài)精度的分析;

4、本發(fā)明提供了可設(shè)置生成的精度圖圓的不同區(qū)間半徑;

5、本發(fā)明提供了多種不同衛(wèi)星系統(tǒng)的設(shè)置;

6、本發(fā)明能夠自由輸入每輪測試持續(xù)時(shí)間,持續(xù)次數(shù);

7、本發(fā)明能夠直觀的匯總多輪測試的結(jié)果,并分析定多種定位精度,包含每次測試數(shù)據(jù)的經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù);N次測試數(shù)據(jù)的平均值的經(jīng)度點(diǎn)位離散圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、平面點(diǎn)位離散圖;N次測試匯總數(shù)據(jù)經(jīng)度點(diǎn)位離散地圖、緯度點(diǎn)位離散圖、高程點(diǎn)位離散圖、參與解算衛(wèi)星顆數(shù)、固定率。

以上對本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行了描述。需要理解的是,本發(fā)明并不局限于上述特定實(shí)施方式,其中未盡詳細(xì)描述的設(shè)備和結(jié)構(gòu)應(yīng)該理解為用本領(lǐng)域中的普通方式予以實(shí)施;任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下,都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對本發(fā)明技術(shù)方案做出許多可能的變動和修飾,或修改為等同變化的等效實(shí)施例,這并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)內(nèi)容。因此,凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所做的任何簡單修改、等同變化及修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。

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