本發(fā)明實(shí)施例涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在電子器件成型之后,例如三極管,一般要通過編帶機(jī)對其進(jìn)行編帶。
現(xiàn)有編帶機(jī)主要包括產(chǎn)品導(dǎo)軌、分度齒輪盤、位于分度齒輪盤上的蓋板、產(chǎn)品成型裝置、產(chǎn)品定位裝置和產(chǎn)品剔除裝置。產(chǎn)品導(dǎo)軌將電子器件逐顆送入分度齒輪盤和蓋板之間,隨著分度齒輪盤轉(zhuǎn)動(dòng),錫紙帶頁隨著分度齒輪盤轉(zhuǎn)動(dòng),當(dāng)器件移動(dòng)至產(chǎn)品成型裝置處時(shí),產(chǎn)品成型裝置對器件的管腳進(jìn)行處理,使器件管腳張開,然后,器件在產(chǎn)品定位裝置上被處理并粘在錫紙帶上,產(chǎn)品定位裝置將錫紙帶進(jìn)行壓合處理,完成編帶。產(chǎn)品剔除裝置中設(shè)置有鋼刀,可以控制鋼刀將已編帶好的產(chǎn)品在錫紙上切掉。
在電子器件完成編帶之前,一般可以在自動(dòng)分選機(jī)設(shè)備上對器件進(jìn)行測試。然而,在電子器件已經(jīng)完成編帶的情況下,很難再在原有自動(dòng)分選機(jī)設(shè)備上進(jìn)行復(fù)測,一般都需要人工對已編帶好的器件進(jìn)行測試,器件測試工藝流程時(shí)間就會(huì)很長,測試效率較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明實(shí)施例提供一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)已編帶的器件的自動(dòng)測試,提高器件產(chǎn)品的測試效率。
本發(fā)明實(shí)施例提供一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng),包括:
編帶傳輸裝置、測試爪、聯(lián)動(dòng)裝置、測試板和測試控制器;
所述編帶傳輸裝置用于將編帶傳輸至所述測試上;
所述測試爪與所述測試板相對設(shè)置;
所述聯(lián)動(dòng)裝置用于前后移動(dòng)時(shí)推動(dòng)所述測試爪朝向所述測試板移動(dòng),以使所述測試爪抵觸所述測試板上的編帶上器件的管腳;
所述測試爪通過測試線路與所述測試控制器電連接,用于向所述器件提供測試信號(hào)。
本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案,通過將測試爪與測試板相對設(shè)置,當(dāng)編帶在編帶傳輸裝置帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)至測試板面上時(shí),聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)推動(dòng)測試爪抵觸編帶上的器件的管腳,測試控制器通過測試爪向器件的管腳提供測試信號(hào),實(shí)現(xiàn)編帶上器件的自動(dòng)測試,方便快捷,提高了編帶上器件的測試效率。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖做一簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1a是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1b是本發(fā)明實(shí)施例一提供的編帶傳輸裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1c是本發(fā)明實(shí)施例一提供的緊固裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1d是本發(fā)明實(shí)施例一提供的測試爪的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1e是本發(fā)明實(shí)施例一提供的緊固裝置中測試板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1f是本發(fā)明實(shí)施例一提供的測試板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖1g是本發(fā)明實(shí)施例一提供的聯(lián)動(dòng)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2a是本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2b是本發(fā)明實(shí)施例二提供的進(jìn)帶拉緊裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3a是本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3b是本發(fā)明實(shí)施例三提供的通信接口電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,以下將參照本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,通過實(shí)施方式清楚、完整地描述本發(fā)明的技術(shù)方案,顯然,所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
實(shí)施例一
圖1a是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。所述針對編帶上器件的測試系統(tǒng)10包括:
編帶傳輸裝置11、測試爪15、聯(lián)動(dòng)裝置17、測試板18和測試控制器19;
所述編帶傳輸裝置11用于將編帶傳輸至所述測試上;
所述測試爪15與所述測試板18相對設(shè)置;
所述聯(lián)動(dòng)裝置17用于前后移動(dòng)時(shí)推動(dòng)所述測試爪15朝向所述測試板18移動(dòng),以使所述測試爪15抵觸所述測試板18上的編帶上器件的管腳;
所述測試爪15通過測試線路與所述測試控制器19電連接,用于向所述器件提供測試信號(hào)。
其中,聯(lián)動(dòng)裝置17可由驅(qū)動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)前后移動(dòng),驅(qū)動(dòng)電機(jī)可由編帶傳輸裝置11控制也可有測試控制器19控制。
參見圖1b,其中,所述編帶傳輸裝置11包括:
分度齒輪盤111、電機(jī)112和編帶控制器113;
所述編帶控制器113用于控制所述電機(jī)112帶動(dòng)所述分度齒輪盤轉(zhuǎn)動(dòng)111;
所述分度齒輪盤111用于帶動(dòng)所述編帶運(yùn)動(dòng)至所述測試板18上;
所述電機(jī)112還用于帶動(dòng)所述聯(lián)動(dòng)裝置17前后移動(dòng)。
需要說明的是,在本實(shí)施例中,編帶控制器和測試控制器可以集成為一個(gè)總的控制器,由該總的控制器完成編帶上器件測試過程所有控制指令的發(fā)送和器件測試。
在本實(shí)施例中,分度齒輪盤111、電機(jī)112和編帶控制器113,可以為原有編帶機(jī)上的裝置部件。
進(jìn)一步的,所述系統(tǒng)還包括緊固裝置16,參見圖1c,所述緊固裝置16包括一固定塊161;
所述固定塊161的兩個(gè)相對的第一側(cè)面上各開有凹槽162,所述凹槽162中設(shè)置有螺紋孔163(另一凹槽上的螺紋孔未畫出)。參見圖1d,所述測試爪15上設(shè)置有與所述螺紋孔163對應(yīng)的孔洞151。可以使用螺釘穿過孔洞151擰入螺紋孔163,使測試爪15固定于固定塊161的凹槽162中,實(shí)現(xiàn)緊固裝置16 對于測試爪15的固定。在本實(shí)施例中,示例性的在每個(gè)凹槽162中固定三個(gè)測試爪15,所述測試爪15的數(shù)量可以少于三個(gè),也可以根據(jù)測試爪15的尺寸,設(shè)置凹槽162的尺寸,使凹槽162中固定的測試爪15的數(shù)量大于三個(gè)。
進(jìn)一步的,參見圖1e,所述緊固裝置16還包括矩形面板165,所述矩形面板165上的一端開有第一長形孔166,所述矩形面板上的另一端開有第二長形孔167,所述固定塊161上未開有凹槽的第二側(cè)面上設(shè)置有與所述第一長形孔166對應(yīng)的螺紋孔164,所述測試板18上設(shè)置有與所述第二長形孔167對應(yīng)的螺紋孔。
進(jìn)一步的,參見圖1f,所述測試板18包括第一矩形塊181和第二矩形塊182,所述第二矩形塊182位于所述第一矩形塊181的一端,所述第一矩形塊181的另一端上開有至少一個(gè)長形孔183,所述第二矩形塊182上設(shè)置有與所述矩形面板165上的所述第二長形孔167對應(yīng)的螺紋孔184。所述測試板18可以為陶瓷材質(zhì)制作而成。
在本實(shí)施例中,可先通過長形孔183將測試板18進(jìn)行固定,可以通過長形孔183將測試板18固定到測試平臺(tái)上,使編帶在運(yùn)動(dòng)的過程中,編帶的一個(gè)面貼著第二矩形塊182上與測試爪15相對的面運(yùn)動(dòng)即可。通過矩形面板165上的第二長形孔167和第二矩形塊182上對應(yīng)設(shè)置的螺紋孔184將矩形面板165固定在測試板18上。通過矩形面板165上的第一長形孔166和固定塊上的螺紋孔164,將固定測試爪15的緊固裝置16固定于矩形面板165上,使測試爪15與第二矩形塊182的一個(gè)面(此面上有運(yùn)動(dòng)的編帶通過)相對固定。
進(jìn)一步的,參見圖1g,所述聯(lián)動(dòng)裝置17包括:
第一面板171和第二面板172,所述第一面板171和第二面板172垂直連 接;
所述第一面板171上設(shè)置有銷釘173,所述銷釘173上穿出所述第一面板171部分174套有非導(dǎo)電部件;
所述第二面板172上有至少一個(gè)長形孔175,所述第二面板172通過所述長形孔175固定于與所述電機(jī)112的聯(lián)動(dòng)軸連接的第三面板上。
在本實(shí)施例中,電機(jī)112轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),可以帶動(dòng)與電機(jī)聯(lián)動(dòng)軸連接的第三面板往復(fù)移動(dòng),進(jìn)而帶動(dòng)第一面板171和第二面板172往復(fù)移動(dòng),位于第一面板上171的銷釘173上穿出所述第一面板171的部分174可以推動(dòng)測試爪15抵觸變帶上器件的管腳,由于測試爪15為金屬彈片制作,一般都具有一定的彈性,當(dāng)?shù)谝幻姘?71帶動(dòng)銷釘172回復(fù)至遠(yuǎn)離編帶位置時(shí),金屬彈片也會(huì)彈回至遠(yuǎn)離編帶的位置,與編帶上器件的管腳分離。
由于要使用銷釘173推動(dòng)測試爪15移動(dòng),而測試爪15在測試的時(shí)候需要向器件管腳傳輸電信號(hào),因此,在銷釘173上套非導(dǎo)電部件,以使銷釘173與測試爪15絕緣隔離,非導(dǎo)電部件可以為陶瓷或者玻璃部件。
本實(shí)施例提供的技術(shù)方案,通過緊固裝置將測試爪固定,并將測試爪與測試板相對設(shè)置,當(dāng)編帶在分度齒輪盤帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)至測試板面上時(shí),聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)推動(dòng)測試爪抵觸編帶上的器件的管腳,測試控制器通過測試爪向器件的管腳提供測試信號(hào),實(shí)現(xiàn)編帶上器件的自動(dòng)測試,方便快捷,提高了編帶上器件的測試效率。
實(shí)施例二
圖2a是本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示 意圖。參見圖2a,在上述實(shí)施例一的基礎(chǔ)上,所述系統(tǒng)10還包括:進(jìn)帶導(dǎo)向輪20、進(jìn)帶拉緊裝置21和收帶輪22;
所述進(jìn)帶導(dǎo)向輪20用于控制編帶進(jìn)入所述分度齒輪盤111的方向和角度;
所述進(jìn)帶拉緊裝置21用于將運(yùn)動(dòng)的編帶拉緊;
所述收帶輪22用于收入編帶。
進(jìn)一步的,參見圖2b,所述進(jìn)帶拉緊裝置21包括:
第一固定塊211和第二固定塊212,所述第二固定塊212為l型塊;
所述第一固定塊211固定于所述第二固定塊212的第一內(nèi)側(cè)面上,與所述第二固定塊212的第二內(nèi)側(cè)面之間有一定的縫隙213,所述縫隙213用于通過運(yùn)動(dòng)的編帶,所述第一固定塊211和所述第二固定塊212夾持所述縫隙213的兩個(gè)面向所述運(yùn)動(dòng)的編帶提供摩擦力,以拉緊所述運(yùn)動(dòng)的編帶。
所述第一固定塊211上設(shè)置有長形孔214,所述第二固定塊212上設(shè)置有與所述長形孔214對應(yīng)的螺紋孔215,可以通過長形孔214和螺紋孔215將第一固定塊211固定于所述第二固定塊212上。
進(jìn)一步的,所述第一固定塊211和所述第二固定塊212夾持所述縫隙213的兩個(gè)面上設(shè)置有橡膠皮墊。設(shè)置的橡膠皮墊用于增加摩擦力。
進(jìn)一步的,所述進(jìn)帶拉緊裝置還包括至少一個(gè)彈性部件216,所述第一固定塊211和第二固定塊212的底端部位分別設(shè)置有螺釘217和螺釘218,所述彈性部件的兩端分別固定于所第一固定塊上的螺釘217和第二固定塊的螺釘218上。設(shè)置彈性部件可以拉緊第一固定塊和第二固定塊,增強(qiáng)第一固定塊211和第二固定塊夾持縫隙的兩個(gè)面向運(yùn)動(dòng)的編帶提供的摩擦力。也可以解決進(jìn)帶拉緊裝置在長時(shí)間使用過程中,第一固定塊和第二固定塊之間縫隙變大,以至 于無法拉緊編帶的問題。彈性部件可以為彈簧或者橡皮條。
本實(shí)施例提供的技術(shù)方案,可以通過設(shè)置進(jìn)帶導(dǎo)向輪,可以方便地調(diào)整編帶進(jìn)入分度齒輪盤的方向和角度,進(jìn)帶拉緊裝置可以拉緊編帶,方便編帶上器件的測試,所述收帶輪可以將測試完的編帶收錄,設(shè)置的進(jìn)帶導(dǎo)向輪、進(jìn)帶拉緊裝置和收帶輪可以提高測試系統(tǒng)的測試效率,節(jié)省人力。
實(shí)施例三
圖3a是本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種針對編帶上器件的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,參見圖3a,在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上,所述系統(tǒng)還包括:
光纖傳感器24和器件剔除裝置25;
所述光纖傳感器24與所述編帶控制器113電連接,用于檢測所述測試爪15是否抵觸編帶上的器件的管腳;
所述編帶控制器113用于在所述測試爪15抵觸編帶上器件的管腳后,向所述測試控制器19發(fā)送第一通知信號(hào),以通知所述測試控制器19對所述器件進(jìn)行測試;例如,測試控制器19通過施加相應(yīng)的電信號(hào),采用開爾文測試法對器件進(jìn)行電參數(shù)測試。
所述測試控制器19用于在接收到所述第一通知信號(hào)后,通過所述測試爪15對器件進(jìn)行測試,并在確定所述器件不合格時(shí),向所述編帶控制器113發(fā)送第二通知信號(hào),以通知所述編帶控制器113通過所述器件剔除裝置25剔除所述不合格的器件。
進(jìn)一步的,繼續(xù)參加圖3a,所述系統(tǒng)還包括通信接口電路23;
所述編帶控制器113通過所述通信接口電路23與所述測試控制器19相連;
所述編帶控制器113用于通過所述通信接口電路23向所述測試控制器19發(fā)送所述第一通知信號(hào);
所述測試控制器19用于通過所述通信接口電路23向所述編帶控制器113發(fā)送所述第二通知信號(hào)。
進(jìn)一步的,參見圖3b,所述通信接口電路23包括:
第一電阻r1、第二電阻r2、第三電阻r3、第四電阻r4、第五電阻r5、第六電阻r6、第七電阻r7、第一三極管q1、第二三極管q2、第三三極管q3、二極管d1以及電源vcc;
所述測試控制器19的信號(hào)輸出端out1通過所述第三電阻r3與所述第一二極管q1的基極相連,所述電源vcc通過所述第一電阻r1與所述第一三極管q1的集電極相連,所述電源vcc通過所述第二電阻r2與所述第二三極管q2的集電極相連,所述第一三極管的集電極q1與所述第二三極管q2的基極相連,所述第一三極管q1和第二三極管q2的發(fā)射極接地,所述第二三極管q2的集電極與所述編帶控制器113的信號(hào)輸入端in1相連;
所述第四電阻r4和第六電阻r6組成第一串聯(lián)電路,所述編帶控制器113的信號(hào)輸出端out2通過所述第一串聯(lián)電路接地,所述第五電阻r5和所述二極管d1組成第二串聯(lián)電路,所述第三三極管q3的基極通過所述第二串聯(lián)電路連接于所述第四電阻r4和第六電阻r6之間,所述第三三極管q3的基極與所述二極管d1的陽極相連,所述第三三極管q3的發(fā)射極與所述電源vcc相連,所述第三三極管q3的集電極通過所述第七電阻r7接地,所述第三三極管q3的集電極與所述測試控制器19的信號(hào)輸入端in2相連。
其中,第一三極管q1和第二三極管q2為npn型三極管,第三三極管q3 為pnp型三極管。
例如,在測試控制器19的信號(hào)輸出端out1輸出高電平信號(hào)時(shí),第二三極管q2的集電極的電平為高電平,會(huì)在編帶控制器113的信號(hào)輸入端in1輸入一高電平信號(hào),該高電平信號(hào)可作為第二通知信號(hào)。在編帶控制器113的信號(hào)輸出端out2輸出低電平信號(hào)時(shí),第三三極管q3的集電極的電平為高電平,會(huì)在測試控制器19的信號(hào)輸入端in2輸入一高電平信號(hào),該高電平信號(hào)可作為第一通信信號(hào)。在本實(shí)施例中,通過測試系統(tǒng)對編帶上器件的測試過程如下:編帶控制器113控制電機(jī)112轉(zhuǎn)動(dòng),電機(jī)112帶動(dòng)分度齒輪盤111轉(zhuǎn)動(dòng),在分度齒輪盤111的轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)下編帶依次運(yùn)動(dòng)通過進(jìn)帶導(dǎo)向輪20、進(jìn)帶拉緊裝置21、分度齒輪盤111、測試板18和收帶輪22,進(jìn)帶拉緊裝置提供的摩擦力拉緊編帶,可以方便測試爪接觸編帶上的產(chǎn)品并進(jìn)行測試。編帶在測試板18上運(yùn)動(dòng)時(shí),貼著測試板18的一個(gè)面上運(yùn)動(dòng),電機(jī)112帶動(dòng)聯(lián)動(dòng)裝置17推動(dòng)測試爪15抵觸運(yùn)動(dòng)至測試板18面上的編帶上的器件的管腳,編帶控制器113通過光纖傳感器檢測到測試爪15抵觸到器件的管腳后,通過通信接口電路23向編帶控制器113測試控制器19發(fā)送第一通知信號(hào),測試控制器19接收到第一通知信號(hào)之后,向測試爪15施加測試信號(hào)對與測試爪15接觸的器件進(jìn)行測試。經(jīng)過測試,測試控制器19在確定測試的器件不合格時(shí),通過通信接口電路23向編帶控制器113發(fā)送第二通知信號(hào),編帶控制器113接收到第二通知信號(hào)時(shí),控制器件剔除裝置25剔除該不合格的器件,測試系統(tǒng)重復(fù)上述測試步驟完成編帶上各器件的自動(dòng)測試。
本實(shí)施例提供的技術(shù)方案,通過設(shè)置光纖傳感器和通信接口電路,可以確保在測試爪與編帶上器件引腳接觸后,測試控制器才提供測試信號(hào)進(jìn)行測試, 提高測試的可靠性和準(zhǔn)確性,并在出現(xiàn)不合格的器件時(shí),及時(shí)將不合格的器件剔除。
注意,上述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例及所運(yùn)用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會(huì)理解,本發(fā)明不限于這里所述的特定實(shí)施例,對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進(jìn)行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會(huì)脫離本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,雖然通過以上實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了較為詳細(xì)的說明,但是本發(fā)明不僅僅限于以上實(shí)施例,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下,還可以包括更多其他等效實(shí)施例,而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。