技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明的目的是提供測試殼設(shè)計方法及裝置。該方法包括：獲取設(shè)計參數(shù),根據(jù)所述設(shè)計參數(shù)確定所述測試殼的輸入輸出端口信息以及連接方式,使用相應(yīng)的連接方式完成每一WBR?Cell的連接；將所有WBR?Cell的移位路徑首尾相連，組成測試殼掃描鏈；當(dāng)選通器的數(shù)目不為0時，使用相應(yīng)的連接方式插入每一選通器。在本發(fā)明中，可根據(jù)設(shè)計參數(shù)(IP核功能端口信息、IP核內(nèi)部掃描測試信息、WBR?Cell結(jié)構(gòu)、測試殼并行訪問寬度和并行外部測試時測試殼并行掃描鏈長度等)自動進(jìn)行WBR設(shè)計，進(jìn)而完成測試殼的設(shè)計。

技術(shù)研發(fā)人員：馮燕;陳嵐
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國科學(xué)院微電子研究所
技術(shù)研發(fā)日：2016.05.04
技術(shù)公布日：2017.11.14