技術(shù)總結(jié)
基于光耦探測(cè)器X射線三維顯微鏡系統(tǒng)參數(shù)標(biāo)定方法。本發(fā)明涉及X射線CT技術(shù)領(lǐng)域，為提供高分辨率顯微CT系統(tǒng),本發(fā)明采取的技術(shù)方案是，基于光耦探測(cè)器X射線三維顯微鏡系統(tǒng)參數(shù)的標(biāo)定方法，首先利用標(biāo)準(zhǔn)柵格板進(jìn)行高分辨率顯微CT的光學(xué)放大倍數(shù)標(biāo)定，并將探測(cè)器像素信息轉(zhuǎn)化到閃爍片位置的像素信息，然后獲取特定模體的二維透視圖像，通過計(jì)算模體透視圖像中的相關(guān)參數(shù)，標(biāo)定獲得系統(tǒng)的相關(guān)參數(shù)。本發(fā)明主要應(yīng)用于X射線CT設(shè)備的設(shè)計(jì)制造。

技術(shù)研發(fā)人員：鄒晶
受保護(hù)的技術(shù)使用者：天津大學(xué)
文檔號(hào)碼：201610300241
技術(shù)研發(fā)日：2016.05.07
技術(shù)公布日：2017.02.15