本發(fā)明涉及一種帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品老化測試方法。

背景技術(shù)：

半導(dǎo)體元器件封裝外形中很多是帶螺栓的封裝外形如DO-5形封裝、DO-4形封裝等，這些器件在進行各種老化篩選時由于螺栓直徑較粗不能安裝在彈片夾具型老化板上，而是需要特殊夾具的老化板一般采用鱷魚夾作為老化板夾具，但鱷魚夾的尖齒容易導(dǎo)致螺栓上的螺紋變形同時易傷害到元器件的表面鍍層(彈片型夾具不會引起螺紋和表面鍍層的損傷)，導(dǎo)致生產(chǎn)廠家良品率的降低

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品老化測試方法，該帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品老化測試方法通過

本發(fā)明通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn)。

本發(fā)明提供的一種帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品老化測試方法，包括如下步驟：

①焊接：將導(dǎo)電引線分別焊接在相配合的半導(dǎo)體元器件螺母上；

②配對：將相配合且焊接好導(dǎo)電引線的半導(dǎo)體元器件螺母和半導(dǎo)體元器件螺栓以螺紋配對上緊；

③安裝：將螺紋配對好的半導(dǎo)體元器件安裝在彈片夾具型老化測試板的彈片夾具上，安裝時將導(dǎo)電引線夾入至彈片夾具中；

④測試：待老化測試板上的測試位都安裝滿，或者需要進行老化測試的半導(dǎo)體元器件全部安裝完畢后，對老化測試版接線并啟動老化測試。

所述導(dǎo)電引線為銅引線。

本發(fā)明的有益效果在于：通過外接引線，以外接的引線夾入彈片夾具中進行老化測試的方法，能有效降低半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家或篩選單位的成本，并且有效提高帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品的老化測試良品率，降低因老化測試本身帶來的不良影響，從而最終在很大程度上降低老化測試方面的社會整體成本。

具體實施方式

下面進一步描述本發(fā)明的技術(shù)方案，但要求保護的范圍并不局限于所述。

本發(fā)明提供了一種帶螺栓外形半導(dǎo)體產(chǎn)品老化測試方法，其特征在于：包括如下步驟：

①焊接：將導(dǎo)電引線焊接在相配合的半導(dǎo)體元器件螺母上；

②配對：將相配合且焊接好導(dǎo)電引線的半導(dǎo)體元器件螺母和半導(dǎo)體元器件螺栓以螺紋配對上緊；

③安裝：將螺紋配對好的半導(dǎo)體元器件安裝在彈片夾具型老化測試板的彈片夾具上，安裝時將導(dǎo)電引線夾入至彈片夾具中；

④測試：待老化測試板上的測試位都安裝滿，或者需要進行老化測試的半導(dǎo)體元器件全部安裝完畢后，對老化測試版接線并啟動老化測試。

由此，老化測試板生產(chǎn)廠家無需再為直徑較大的帶螺紋的半導(dǎo)體元器件專門準備彈片夾具和鱷魚夾夾具兩套老化測試板，而只需要通用的老化測試板即可，從而極大的降低了生產(chǎn)成本，而對帶螺紋半導(dǎo)體元器件進行老化測試的廠家也無需擔(dān)心鱷魚夾的尖齒導(dǎo)致螺栓上的螺紋變形，從而極大的提高良品率。

作為導(dǎo)電引線的最優(yōu)選方案，所述導(dǎo)電引線為銅引線。該設(shè)置一方面在于銅引線導(dǎo)電率高，不會因外接引線而過多影響到老化測試結(jié)果，另一方面也在于銅引線更易于再次利用，從而有效降低成本。