技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種判別順式與反式幾何異構(gòu)體的近紅外光譜分析方法，先在一定的測量條件下采集幾何異構(gòu)體各順式樣品和反式樣品的近紅外光譜，所得光譜不進行預(yù)處理或進行化學(xué)計量學(xué)預(yù)處理，從所得光譜數(shù)據(jù)中選擇建模光譜范圍，對所選光譜范圍的數(shù)據(jù)進行降維后，采用化學(xué)計量學(xué)方法建立并驗證順式與反式幾何異構(gòu)體的判別模型；然后取未知順式與反式的幾何異構(gòu)體樣品，按照前述相同方法采集近紅外光譜并進行光譜數(shù)據(jù)的多步驟處理，最后應(yīng)用所建模型進行順式與反式幾何異構(gòu)體的判別。本發(fā)明基于幾何異構(gòu)體的近紅外光譜，結(jié)合化學(xué)計量學(xué)技術(shù)，判別順式與反式幾何異構(gòu)體，具有準(zhǔn)確、簡便、快速、無損的優(yōu)點。

技術(shù)研發(fā)人員：范琦;謝欠;李詩倩
受保護的技術(shù)使用者：重慶醫(yī)科大學(xué)
文檔號碼：201610658359
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.29
技術(shù)公布日：2017.06.13