技術(shù)特征：

1.一種發(fā)電機(jī)端電壓有效值的計(jì)算方法，其特征在于，適用于包括發(fā)電機(jī)、轉(zhuǎn)速傳感器、電壓采集模塊、第一存儲區(qū)、第二存儲區(qū)和微處理器的電力系統(tǒng)，所述發(fā)電機(jī)端電壓有效值的計(jì)算方法，包括：

所述轉(zhuǎn)速傳感器采集所述發(fā)電機(jī)的轉(zhuǎn)速v；

所述微處理器根據(jù)所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f，并判斷所述頻率f是否達(dá)到最大頻率fmax，如果是，則設(shè)定采樣頻率fs＝fb，如果否，則設(shè)定采樣頻率fs＝fb*f/fmax；

其中，fb為根據(jù)奈奎斯特采樣定理確定的頻率，且fb>2fmax；

所述微處理器判斷所述采樣頻率fs是否滿足奈奎斯特采樣定理；

如果是，則所述微處理器將采樣控制信號發(fā)送給所述電壓采集模塊，所述采樣控制信號攜帶有所述采樣頻率fs和預(yù)設(shè)的采樣點(diǎn)數(shù)量N；

其中，N＝k*fs/f，k為正整數(shù)；

所述電壓采集模塊基于所述采樣控制信號對預(yù)先存儲在所述第一存儲區(qū)中的掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，得到的采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并將所述采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N存儲至所述第二存儲區(qū)；

所述第二存儲區(qū)存儲所述采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并設(shè)定存儲區(qū)標(biāo)識為有效狀態(tài)；

當(dāng)所述微處理器輪詢到所述存儲區(qū)標(biāo)識為有效狀態(tài)時(shí)，所述微處理器獲取所述采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并計(jì)算所述發(fā)電機(jī)端電壓的有效值

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述計(jì)算所述發(fā)電機(jī)端電壓的有效值之后，還包括：所述微處理器設(shè)置所述存儲區(qū)標(biāo)識為無效狀態(tài)，以便當(dāng)所述存儲區(qū)標(biāo)識被所述第二存儲區(qū)重新設(shè)置為有效狀態(tài)時(shí)，獲取采樣數(shù)據(jù)再次進(jìn)行端電壓有效值的計(jì)算。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述微處理器根據(jù)所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f，具體包括：

所述微處理器利用公式v＝60f/p、所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)先存儲在所述第一存儲區(qū)中的掃描數(shù)據(jù)的具體過程，包括：

所述電壓采集模塊對所述發(fā)電機(jī)的端電壓進(jìn)行掃描，得到掃描數(shù)據(jù)，并將所述掃描數(shù)據(jù)存儲至所述第一存儲區(qū)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，還包括：

當(dāng)所述微處理器判定所述采樣頻率不滿足奈奎斯特采樣定理時(shí)，所述電壓采集模塊重新執(zhí)行所述對所述發(fā)電機(jī)的端電壓進(jìn)行掃描，得到掃描數(shù)據(jù)，并將所述掃描數(shù)據(jù)存儲至所述第一存儲區(qū)。

6.一種發(fā)電機(jī)端電壓有效值的計(jì)算裝置，其特征在于，適用于包括發(fā)電機(jī)、轉(zhuǎn)速傳感器、電壓采集模塊、第一存儲區(qū)、第二存儲區(qū)和微處理器的電力系統(tǒng)，所述發(fā)電機(jī)端電壓有效值的計(jì)算裝置，包括：

所述轉(zhuǎn)速傳感器，用于采集所述發(fā)電機(jī)的轉(zhuǎn)速v；

所述微處理器，用于根據(jù)所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f，并判斷所述頻率f是否達(dá)到最大頻率fmax，如果是，則設(shè)定采樣頻率fs＝fb，如果否，則設(shè)定采樣頻率fs＝fb*f/fmax；其中，fb為根據(jù)奈奎斯特采樣定理確定的頻率，且fb>2fmax；及判斷所述采樣頻率fs是否滿足奈奎斯特采樣定理；如果是，則將采樣控制信號發(fā)送給所述電壓采集模塊，所述采樣控制信號攜帶有所述采樣頻率fs和預(yù)設(shè)的采樣點(diǎn)數(shù)量N；以及當(dāng)輪詢到所述存儲區(qū)標(biāo)識為有效狀態(tài)時(shí)，獲取采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并計(jì)算所述發(fā)電機(jī)端電壓的有效值

其中，N＝k*fs/f，k為正整數(shù)；

所述電壓采集模塊，用于基于所述采樣控制信號對預(yù)先存儲在所述第一存儲區(qū)中的掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，得到的采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并將所述采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N存儲至所述第二存儲區(qū)；

所述第二存儲區(qū)，用于存儲所述采樣數(shù)據(jù)u₁、u₂、……、u_N，并設(shè)定存儲區(qū)標(biāo)識為有效狀態(tài)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述微處理器，還用于在計(jì)算所述發(fā)電機(jī)端電壓的有效值之后，設(shè)置所述存儲區(qū)標(biāo)識為無效狀態(tài)，以便當(dāng)所述存儲區(qū)標(biāo)識被所述第二存儲區(qū)重新設(shè)置為有效狀態(tài)時(shí)，獲取采樣數(shù)據(jù)再次進(jìn)行端電壓有效值的計(jì)算。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，根據(jù)所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f的所述微處理器，具體用于利用公式v＝60f/p、所述轉(zhuǎn)速v和所述發(fā)電機(jī)的磁極對數(shù)p計(jì)算所述發(fā)電機(jī)的端電壓的頻率f。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述電壓采集模塊，還用于對所述發(fā)電機(jī)的端電壓進(jìn)行掃描，得到掃描數(shù)據(jù)，并將所述掃描數(shù)據(jù)存儲至所述第一存儲區(qū)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述電壓采集模塊還用于當(dāng)所述微處理器判定所述采樣頻率不滿足奈奎斯特采樣定理時(shí)，重新執(zhí)行所述對所述發(fā)電機(jī)的端電壓進(jìn)行掃描，得到掃描數(shù)據(jù)，并將所述掃描數(shù)據(jù)存儲至所述第一存儲區(qū)。

11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述微處理器包括：數(shù)字信號處理器、ARM處理器或精簡指令集的中央處理器。