本發(fā)明涉及測試設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種ZIF連接器下針測試結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

目前ZIF連接器由于PIN腳的寬度很小，通常寬度只有0.08mm，且PIN腳與PIN腳之間的距離也很小，通常為0.175mm，所以采用下針測試的方式存在很大的困難。現(xiàn)有的夾具測試ZIF連接器的主要方法是采用人工插排線方式進行測試，但插排線的測試方式存在以下幾個缺點：

1、排線的損耗率非常高，需要經(jīng)常更換排線，造成成本增加；

2、工作效率極低：由于插排線由人工進行，耗時耗力，且排線插不到位會影響測試合格率；

3、不能滿足產(chǎn)線自動化測試要求。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、測試效率高、成本低且能滿足產(chǎn)品測試自動化要求的ZIF連接器下針測試結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：本發(fā)明包括PCB板、針塊、針蓋、至少兩根彈簧和針塊固定座，在所述針塊上固定設(shè)置有若干探針，在所述針蓋上設(shè)置有供所述探針穿過且與所述探針的數(shù)目一致的針孔，所述彈簧的下端固定在所述針塊上，上端頂在所述針蓋的下側(cè)面上，所述針蓋上還設(shè)置有凸臺，在所述針塊固定座上設(shè)置有與所述凸臺相頂緊配合的卡臺，所述PCB板和所述針塊均與所述針塊固定座固定連接，在所述針塊上，若干所述探針錯位設(shè)置，所述探針的設(shè)置位置與待測的ZIF連接器上的PIN腳的波峰處相對應(yīng)。

上述方案可見，本發(fā)明將探針在針塊上錯位設(shè)置，且其設(shè)置位置與待測的ZIF連接器上的PIN腳的波峰處相對應(yīng)，而ZIF連接器上的任意相鄰的兩個PIN腳的波峰處的距離為最遠，且相互錯開，從而使得探針下針時不會與相鄰的PIN腳接觸，避免了造成PIN腳與PIN腳之間短路，保證測試的有效性和高效性。另外，采用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)進行ZIF連接器測試，其可用于自動化設(shè)備上進行自動測試，能滿足產(chǎn)品測試自動化的要求，與現(xiàn)有采用人工插排線的方式相比，其極大地降低了人工的投入，其人工成本大大地降低了。在針塊與針蓋之間設(shè)置彈簧使兩者相互排斥，而在針蓋上設(shè)置的凸臺和在針塊固定座上設(shè)置的卡臺又相互頂緊，在未進行ZIF連接器測試時，針蓋上的凸臺在彈簧力的作用下頂緊在針塊固定座的卡臺上，在而此時探針的上端隱藏于針蓋中，不會露出在針蓋之上，從而對探針進行很好的保護；當(dāng)進行ZIF連接器測試時，ZIF連接器壓在針蓋上，針蓋被下壓，直至探針露出在針蓋之上并頂緊在待測ZIF連接器的PIN腳的波峰處，從而穩(wěn)定地對ZIF連接器進行測試，保證了測試合格率和測試效率。

進一步地，在所述針蓋的上端面上設(shè)置有與待測的ZIF連接器相適配的測試槽，所述針孔露出在所述測試槽上，在所述測試槽的四周邊緣處設(shè)置有倒角面。

上述方案可見，測試槽和測試槽四周邊緣處設(shè)置的倒角面能夠使得待測的ZIF連接器在進行測試時能夠很好地對位和導(dǎo)入，保證了測試連接的準確性和測試的高效性。

再進一步地，所述探針的下端與所述PCB板固定連接，所述探針的上端面垂直交叉設(shè)置有倒三角槽，在相鄰的兩個三角槽的連接處形成觸點。

上述方案可見，將探針的測試接觸一端設(shè)置成具有多個觸點的結(jié)構(gòu)，保證了連接的可靠性，從而保證了測試的順利進行。

再更進一步地，在所述針塊固定座上還設(shè)置有定位孔，所述定位孔與等高螺絲相配合。

上述方案可見，通過等高螺絲來與定位孔相配合，在進行安裝時，整個針塊模組是浮動的，在進行產(chǎn)品測試時，每個產(chǎn)品上可能存在有若干個不同的連接器，不同的連接器的貼片存在一定的高度公差，采用本發(fā)明浮動的針塊模組結(jié)構(gòu)，能夠很好地滿足對各種連接器的測試。

又再更進一步地，所述彈簧的數(shù)目設(shè)置為四根，四根所述彈簧在所述針塊的四周均勻分布。

上述方案可見，采用四根彈簧且在針塊的四周均勻分布設(shè)置，這保證了針蓋的受力均勻，針蓋不會發(fā)生偏移，進而保證了探針的使用壽命和測試的順利進行。

附圖說明

圖1是所述本發(fā)明正視角度的簡易結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明第一視角的爆炸結(jié)構(gòu)簡易示意圖；

圖3是本發(fā)明第二視角的爆炸結(jié)構(gòu)簡易示意圖；

圖4是本發(fā)明的剖視結(jié)構(gòu)簡易示意圖；

圖5是所述探針的簡易結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6是所述ZIF連接器的PIN腳部分的簡易結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7是從所述針蓋內(nèi)的針孔向ZIF連接器投影的簡易結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

如圖1至圖7所示，本發(fā)明包括PCB板1、針塊2、針蓋3、至少兩根彈簧4和針塊固定座5。在所述針塊2的下側(cè)面上設(shè)置有定位銷11，定位銷11的設(shè)置是便于PCB板安裝時能夠快速地定位。在所述針塊2上固定設(shè)置有若干探針6，在所述針蓋3上設(shè)置有供所述探針6穿過且與所述探針6的數(shù)目一致的針孔31。對于不同的待測ZIF連接器8，針塊的探針數(shù)目和針蓋上的針孔數(shù)目設(shè)置成與待測ZIF連接器8的PIN腳數(shù)目相一致。故針對不同批次的ZIF連接器，只要更換針塊和與其相應(yīng)的針蓋即可。所述彈簧4的下端固定在所述針塊2上，上端頂在所述針蓋3的下側(cè)面上。所述彈簧4的數(shù)目設(shè)置為四根，四根所述彈簧4在所述針塊2的四周均勻分布。所述針蓋3上還設(shè)置有凸臺32，在所述針塊固定座5上設(shè)置有與所述凸臺32相頂緊配合的卡臺51。所述PCB板1和所述針塊2均與所述針塊固定座5固定連接。在所述針塊2上，所述探針6錯位設(shè)置，所述探針6的設(shè)置位置與待測的ZIF連接器上的PIN腳的波峰處7相對應(yīng)。

在所述針蓋3的上端面上設(shè)置有與待測的ZIF連接器相適配的測試槽33，所述針孔31露出在所述測試槽33上，在所述測試槽33的四周邊緣處設(shè)置有倒角面34。倒角面34的設(shè)置使得待測的ZIF連接器在進行測試時能夠很好地對位和導(dǎo)入，保證了測試連接的準確性和測試的高效性。所述探針6的下端與所述PCB板1固定連接，所述探針6的上端面垂直交叉設(shè)置有倒三角槽61，在相鄰的兩個三角槽61的連接處形成觸點62。由于ZIF連接器的PIN腳比較小，采用具有多個觸點的花針結(jié)構(gòu)能很好地確保探針與PIN腳的連接是有效的。在所述針塊固定座5上還設(shè)置有定位孔52，所述定位孔52與等高螺絲相配合。通過等高螺絲來與定位孔相配合，在進行安裝時，整個針塊模組是浮動的；在進行產(chǎn)品測試時，每個產(chǎn)品上可能存在有若干個不同的連接器，不同的連接器的貼片存在一定的高度公差，采用本發(fā)明浮動的針塊模組結(jié)構(gòu)，能夠很好地滿足對各種連接器的測試。另外，采用等高螺絲的目的是保證針塊模組具有一定的活動性，從而保證針塊模組與連接器自動對位。

本發(fā)明使用了直接在ZIF連接器上下針的方式，解決了以往采用人工插排線的測試方式，這大大地降低了人工成本，使整個針塊模組適用于產(chǎn)線自動化要求，提高了工作效率，其測試穩(wěn)定，測試精度高，測試通過率高；且結(jié)構(gòu)緊湊、簡單，裝配維護保養(yǎng)操作方便。

本發(fā)明可應(yīng)用于測試設(shè)備領(lǐng)域。