本發(fā)明涉及一種檢測(cè)系統(tǒng)及其分腳座模塊，特別是涉及一種電容器檢測(cè)系統(tǒng)及其被動(dòng)式分腳座模塊。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有技術(shù)中，卷繞型固態(tài)電解電容器包含有電容器元件、收容構(gòu)件以及封口構(gòu)件。電容器元件隔著分離器卷繞有電性連接陽極端子的陽極箔與電性連接陰極端子的陰極箔，且于陽極箔與陰極箔之間形成有電解質(zhì)層。收容構(gòu)件具有開口部且可收容電容器元件。封口構(gòu)件具有一可供陽極端子與陰極端子貫穿的貫貫穿孔以及一可密封收容構(gòu)件的開口部。另外，封口構(gòu)件與電容器元件之間存有預(yù)定間隔，并且陽極端子與陰極端子兩者其中之任一者設(shè)有用以確保間隙的擋止構(gòu)件。然而，現(xiàn)有技術(shù)的卷繞型固態(tài)電解電容器的陽極端子與陰極端子在進(jìn)行分腳時(shí)，會(huì)因?yàn)樗a(chǎn)生的摩擦力過大而造成較大的反作用力，進(jìn)而造成漏電流增加，甚至產(chǎn)生短路的嚴(yán)重缺失。故，如何通過結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的改良，來克服上述的缺失，已成為該領(lǐng)域所欲解決的重要課題之一。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明公開了一種電容器檢測(cè)系統(tǒng)及其被動(dòng)式分腳座模塊。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種被動(dòng)式分腳座模塊，用于將一電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳彼此岔開，所述被動(dòng)式分腳座模塊包括：

一基座結(jié)構(gòu)；以及

一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在所述基座結(jié)構(gòu)上，其中所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)具有一弧形表面；

其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳分別穿過一座板的兩個(gè)貫穿孔，每一個(gè)導(dǎo)電引腳具有一接觸側(cè)面，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)的所述弧形表面，以使得兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開，并使得所述座板被兩個(gè)已岔開的所述導(dǎo)電引腳所限位而避免脫離所述電容器；

其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳通過所述接觸側(cè)面與所述弧形表面之間的接觸，以降低所述導(dǎo)電引腳與所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)之間的摩擦阻力。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述基座結(jié)構(gòu)包括一第一基座本體以及一可分拆卸地連接于所述第一基座本體的第二基座本體，所述第一基座本體具有一第一底座以及一設(shè)置在所述第一底座上的第一樞接座，所述第二基座本體具有一可分拆卸地連接于所述第一底座的第二底座以及一設(shè)置在所述第二底座上的第二樞接座，且所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)樞接地設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)包括一可拆卸地連接于所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設(shè)在所述樞接軸上的樞接滾輪；其中，所述弧形表面為所述樞接滾輪的一圓弧面，且兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述樞接滾輪的所述圓弧面，以使兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開且相對(duì)于所述座板的底端傾斜一預(yù)定角度；其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳通過所述接觸側(cè)面與所述圓弧面之間的接觸，以降低所述導(dǎo)電引腳與所述樞接滾輪之間的摩擦阻力。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)包括一可拆卸地連接于所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設(shè)在所述樞接軸上的樞接滾球；其中，所述弧形表面為所述樞接滾球的一球面，且兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述樞接滾球的所述球面，以使兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開且相對(duì)于所述座板的底端傾斜一預(yù)定角度；其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳通過所述接觸側(cè)面與所述球面之間的接觸，以降低所述導(dǎo)電引腳與所述樞接滾球之間的摩擦阻力。

一種電容器檢測(cè)系統(tǒng)，包括：

一引腳打扁模塊，所述引腳打扁模塊用于將一電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳進(jìn)行打扁；

一被動(dòng)式分腳座模塊，所述被動(dòng)式分腳座模塊鄰近所述引腳打扁模塊，其中所述被動(dòng)式分腳座模塊包括：

一基座結(jié)構(gòu)；以及

一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在所述基座結(jié)構(gòu)上，其中所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)具有一弧形表面，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳分別穿過一座板的兩個(gè)貫穿孔，每一個(gè)導(dǎo)電引腳具有一接觸側(cè)面，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)的所述弧形表面，以使得兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開，并使得所述座板被兩個(gè)已岔開的所述導(dǎo)電引腳所限位而避免脫離所述電容器；以及

一引腳定位模塊，所述引腳定位模塊鄰近所述被動(dòng)式分腳座模塊，以用于將所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彎折且定位在所述座板上；以及

一電氣性能檢測(cè)模塊，所述電氣性能檢測(cè)模塊鄰近所述引腳定位模塊，以用于檢測(cè)所述電容器的電氣性能。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述基座結(jié)構(gòu)包括一第一基座本體以及一可分拆卸地連接于所述第一基座本體的第二基座本體，所述第一基座本體具有一第一底座以及一設(shè)置在所述第一底座上的第一樞接座，所述第二基座本體具有一可分拆卸地連接于所述第一底座的第二底座以及一設(shè)置在所述第二底座上的第二樞接座，且所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)樞接地設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)包括一可拆卸地連接于所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設(shè)在所述樞接軸上的樞接滾輪；其中，所述弧形表面為所述樞接滾輪的一圓弧面，且兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述樞接滾輪的所述圓弧面，以使兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開且相對(duì)于所述座板的底端傾斜一預(yù)定角度；其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳通過所述接觸側(cè)面與所述圓弧面之間的接觸，以降低所述導(dǎo)電引腳與所述樞接滾輪之間的摩擦阻力。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)包括一可拆卸地連接于所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設(shè)置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設(shè)在所述樞接軸上的樞接滾球；其中，所述弧形表面為所述樞接滾球的一球面，且兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳的兩個(gè)所述接觸側(cè)面同時(shí)滑動(dòng)地接觸所述樞接滾球的所述球面，以使兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開且相對(duì)于所述座板的底端傾斜一預(yù)定角度；其中，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳通過所述接觸側(cè)面與所述球面之間的接觸，以降低所述導(dǎo)電引腳與所述樞接滾球之間的摩擦阻力。

其進(jìn)一步的技術(shù)方案為，還進(jìn)一步包括：一熱產(chǎn)生模塊，所述熱產(chǎn)生模塊設(shè)置于所述引腳定位模塊與所述電氣性能檢測(cè)模塊之間，其中所述熱產(chǎn)生模塊施加一預(yù)定熱量至所述電容器，以釋放積存在所述電容器內(nèi)的應(yīng)力。

一種被動(dòng)式分腳座模塊，其包括：

一基座結(jié)構(gòu)；以及

一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)，所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在所述基座結(jié)構(gòu)上，其中所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)具有一弧形表面；

其中，一電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳滑動(dòng)地接觸所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)的所述弧形表面，以使得兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開，并使得一座板被兩個(gè)已岔開的所述導(dǎo)電引腳所限位而避免脫離所述電容器。

本發(fā)明的有益技術(shù)效果是：

本發(fā)明技術(shù)方案所提供的電容器檢測(cè)系統(tǒng)及其被動(dòng)式分腳座模塊，其可通過“所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在所述基座結(jié)構(gòu)上，且所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)具有一弧形表面”以及“一電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳的兩個(gè)接觸側(cè)面滑動(dòng)地接觸所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)的所述弧形表面”的設(shè)計(jì)，以使得兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳彼此岔開或者分叉，并且使得所述座板被兩個(gè)已岔開或者分叉的所述導(dǎo)電引腳所限位而避免脫離所述電容器。再者，所述電容器的兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳可以通過所述接觸側(cè)面與所述弧形表面之間的接觸，以有效降低所述導(dǎo)電引腳與所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)之間的摩擦阻力。由于所述導(dǎo)電引腳與所述可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)所述接觸側(cè)面滑動(dòng)地接觸所述弧形表面時(shí)所施加在兩個(gè)所述導(dǎo)電引腳以及所述電容器上的反作用力可以被降低(或者是所述導(dǎo)電引腳與所述電容器結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少所述電容器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免所述電容器產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

附圖說明

圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的功能方塊圖。

圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳被打扁前的側(cè)視示意圖。

圖3為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳被打扁后的側(cè)視示意圖。

圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的被動(dòng)式分腳座模塊的立體分解示意圖。

圖5為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的被動(dòng)式分腳座模塊的側(cè)視組合示意圖。

圖6為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳通過被動(dòng)式分腳座模塊進(jìn)行分腳的示意圖。

圖7為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳被岔開或者分叉后的側(cè)視示意圖。

圖8為本發(fā)明第一實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳被彎折且定位在座板上的側(cè)視示意圖。

圖9為本發(fā)明第二實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的被動(dòng)式分腳座模塊的側(cè)視組合示意圖。

圖10為本發(fā)明第二實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳通過被動(dòng)式分腳座模塊進(jìn)行分腳的示意圖。

圖11為本發(fā)明第三實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的被動(dòng)式分腳座模塊的立體組合示意圖。

圖12為本發(fā)明第三實(shí)施例的電容器的兩個(gè)導(dǎo)電引腳通過被動(dòng)式分腳座模塊進(jìn)行分腳的示意圖。

圖13為本發(fā)明第四實(shí)施例的電容器檢測(cè)系統(tǒng)的功能方塊圖。

附圖符號(hào)說明：

電容器檢測(cè)系統(tǒng)S；

引腳打扁模塊1；

被動(dòng)式分腳座模塊2；基座結(jié)構(gòu)20；第一基座本體201；第一底座2011；第一樞接座2012；第二基座本體202；第二底座2021；第二樞接座2022；可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21；弧形表面2100；樞接軸211；樞接滾輪212；圓弧面2120；樞接滾球213；球面2130；滾動(dòng)球體214；球面2140；

引腳定位模塊3；

熱產(chǎn)生模塊4；

電氣性能檢測(cè)模塊5；

電容器C；導(dǎo)電引腳P、P’；接觸側(cè)面P10；預(yù)定角度θ；

座板B；貫穿孔B10；定位凹槽B11。

具體實(shí)施方式

以下是通過特定的具體實(shí)施例來說明本發(fā)明所公開有關(guān)“電容器檢測(cè)系統(tǒng)及其被動(dòng)式分腳座模塊”的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所公開的內(nèi)容了解本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與效果。本發(fā)明可通過其他不同的具體實(shí)施例加以施行或應(yīng)用，本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在不悖離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾與變更。另外，本發(fā)明的附圖僅為簡(jiǎn)單示意說明，并非依實(shí)際尺寸的描繪，予以聲明。以下的實(shí)施方式將進(jìn)一步詳細(xì)說明本發(fā)明的相關(guān)技術(shù)內(nèi)容，但所公開的內(nèi)容并非用以限制本發(fā)明的技術(shù)范圍。

第一實(shí)施例：

請(qǐng)參閱圖1至圖8所示，本發(fā)明第一實(shí)施例提供一種電容器檢測(cè)系統(tǒng)S，其包括：一引腳打扁模塊1、一被動(dòng)式分腳座模塊2、一引腳定位模塊3以及一電氣性能檢測(cè)模塊5，其中被動(dòng)式分腳座模塊2所定義的「被動(dòng)式」所指的是：被動(dòng)式分腳座模塊2會(huì)被動(dòng)地被電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P所接觸，以進(jìn)行電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的分腳動(dòng)作。

首先，配合圖1至圖3所示，引腳打扁模塊1可用于將一電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P’進(jìn)行打扁，以使得兩個(gè)圓柱狀的導(dǎo)電引腳P’被打扁成兩個(gè)扁狀的導(dǎo)電引腳P。舉例來說，電容器C可以是卷撓型的固態(tài)電解電容器，圖2是顯示出電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P’被打扁前的側(cè)視示意圖，圖3則是顯示出電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P被打扁后的側(cè)視示意圖。換言之，電容器C的兩個(gè)圓柱狀的導(dǎo)電引腳P’可以通過引腳打扁模塊1來進(jìn)行打扁。并且，如圖3所示，當(dāng)電容器C的兩個(gè)圓柱狀的導(dǎo)電引腳P’被打扁而形成兩個(gè)扁狀的導(dǎo)電引腳P時(shí)，每一個(gè)導(dǎo)電引腳P的內(nèi)側(cè)端就會(huì)產(chǎn)生一被打扁的接觸側(cè)面P10。

再者，配合圖1以及圖4至圖6所示，被動(dòng)式分腳座模塊2鄰近引腳打扁模塊1，以用于將一電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開或者分叉，并且被動(dòng)式分腳座模塊2包括一基座結(jié)構(gòu)20以及一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21。另外，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在基座結(jié)構(gòu)20上，并且可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21具有一弧形表面2100。舉例來說，弧形表面2100可以是規(guī)則曲面或是不規(guī)則曲面。

藉此，配合圖5以及圖6所示，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P分別穿過一座板B的兩個(gè)貫穿孔B10。電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的兩個(gè)接觸側(cè)面P10可以同時(shí)滑動(dòng)地接觸可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21的弧形表面2100，以使得兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開或者分叉，并且使得座板B被兩個(gè)已岔開或者分叉的導(dǎo)電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P可以通過接觸側(cè)面P10與弧形表面2100之間的接觸，以有效降低導(dǎo)電引腳P與可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21之間的摩擦阻力。由于導(dǎo)電引腳P與可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸弧形表面2100時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導(dǎo)電引腳P與電容器C結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少電容器C的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免電容器C產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

舉例來說，配合圖4至圖6所示，基座結(jié)構(gòu)20包括一第一基座本體201以及一可分拆卸地連接于第一基座本體201的第二基座本體202。另外，第一基座本體201具有一第一底座2011以及一可垂直地設(shè)置在第一底座2011上的第一樞接座2012，第二基座本體202具有一可分拆卸地連接于第一底座2011的第二底座2021以及一可垂直地設(shè)置在第二底座2021上的第二樞接座2022，并且可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21可樞接地設(shè)置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間。

承上所述，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21包括一可拆卸地連接于第一樞接座2012與第二樞接座2022之間的樞接軸211(例如可以是一般固定軸或是滾珠軸承固定軸)以及一設(shè)置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間且樞接地套設(shè)在樞接軸211上的樞接滾輪212(例如可以是一般的滾輪或是滾珠軸承)。另外，弧形表面2100可為樞接滾輪212的一圓弧面2120，并且兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的兩個(gè)接觸側(cè)面P10可同時(shí)滑動(dòng)地接觸樞接滾輪212的圓弧面2120，以使兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開且相對(duì)于座板B的底端傾斜一預(yù)定角度θ，并且使得座板B被兩個(gè)已岔開或者分叉的導(dǎo)電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P可以通過接觸側(cè)面P10與圓弧面2120之間的線接觸，以有效降低導(dǎo)電引腳P與樞接滾輪212之間的摩擦阻力。由于導(dǎo)電引腳P與樞接滾輪212之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸圓弧面2120時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導(dǎo)電引腳P與電容器C結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少電容器C的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免電容器C產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

此外，配合圖1、圖7以及圖8所示，引腳定位模塊3鄰近被動(dòng)式分腳座模塊2，以用于將電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彎折且定位在座板B上。舉例來說，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P會(huì)被彎折且定位在座板B的兩個(gè)定位凹槽B11內(nèi)。另外，電氣性能檢測(cè)模塊5鄰近引腳定位模塊3，以用于檢測(cè)電容器C的電氣性能，藉此以判斷電容器C的電氣性能是否符合要求。舉例來說，電氣性能檢測(cè)模塊5可以提供兩個(gè)檢測(cè)探針(圖未示)，并且電氣性能檢測(cè)模塊5可以通過兩個(gè)檢測(cè)探針分別電性接觸電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P，以進(jìn)行電容器C的電氣性能的檢測(cè)。

第二實(shí)施例：

請(qǐng)參閱圖9以及圖10所示，本發(fā)明第二實(shí)施例提供一種被動(dòng)式分腳座模塊2，其用于將一電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開或者分叉，并且被動(dòng)式分腳座模塊2包括一基座結(jié)構(gòu)20以及一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21。另外，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在基座結(jié)構(gòu)20上，并且可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21具有一弧形表面2100。

更進(jìn)一步來說，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21包括一可拆卸地連接于第一樞接座2012與第二樞接座2022之間的樞接軸211以及一設(shè)置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間且樞接地套設(shè)在樞接軸211上的樞接滾球213。另外，弧形表面2100可為樞接滾球213的一球面2130，并且兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的兩個(gè)接觸側(cè)面P10可以同時(shí)滑動(dòng)地接觸樞接滾球213的球面2130，以使兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開且相對(duì)于座板B的底端傾斜一預(yù)定角度θ，并且使得座板B被兩個(gè)已岔開或者分叉的導(dǎo)電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P可以通過接觸側(cè)面P10與球面2130之間的點(diǎn)接觸，以有效降低導(dǎo)電引腳P與樞接滾球213之間的摩擦阻力。由于導(dǎo)電引腳P與樞接滾球213之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸球面2130時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導(dǎo)電引腳P與電容器C結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少電容器C的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免電容器C產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

第三實(shí)施例：

請(qǐng)參閱圖11以及圖12所示，本發(fā)明第三實(shí)施例提供一種被動(dòng)式分腳座模塊2，其用于將一電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開或者分叉，并且被動(dòng)式分腳座模塊2包括一基座結(jié)構(gòu)20以及一可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21。另外，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在基座結(jié)構(gòu)20上，并且可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21具有一弧形表面2100。

更進(jìn)一步來說，可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21包括一滾動(dòng)球體214。另外，弧形表面2100可為滾動(dòng)球體214的一球面2140，并且兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的兩個(gè)接觸側(cè)面P10可以同時(shí)滑動(dòng)地接觸滾動(dòng)球體214的球面2140，以使兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開且相對(duì)于座板B的底端傾斜一預(yù)定角度θ，并且使得座板B被兩個(gè)已岔開或者分叉的導(dǎo)電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P可以通過接觸側(cè)面P10與球面2140之間的點(diǎn)接觸，以有效降低導(dǎo)電引腳P與滾動(dòng)球體214之間的摩擦阻力。由于導(dǎo)電引腳P與滾動(dòng)球體214之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸球面2140時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導(dǎo)電引腳P與電容器C結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少電容器C的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免電容器C產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

第四實(shí)施例：

請(qǐng)參閱圖13所示，本發(fā)明第四實(shí)施例提供一種電容器檢測(cè)系統(tǒng)S，其包括：一引腳打扁模塊1、一被動(dòng)式分腳座模塊2、一引腳定位模塊3以及一電氣性能檢測(cè)模塊5。由圖13與圖1的比較可知，本發(fā)明第四實(shí)施例與第一實(shí)施例最大的差別在于，在第四實(shí)施例中，電容器檢測(cè)系統(tǒng)S還進(jìn)一步包括：一熱產(chǎn)生模塊4，熱產(chǎn)生模塊4設(shè)置于引腳定位模塊3與電氣性能檢測(cè)模塊5之間，其中熱產(chǎn)生模塊4施加一預(yù)定熱量至電容器C，以釋放積存在電容器C內(nèi)的應(yīng)力，此應(yīng)力是因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸弧形表面2100時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力所造成的應(yīng)力。舉例來說，熱產(chǎn)生模塊4可以采用能夠提供熱源的熱風(fēng)產(chǎn)生裝置、紅外線產(chǎn)生裝置或者是紫外光產(chǎn)生裝置等等。

實(shí)施例的有益效果：

綜上所述，本發(fā)明的有益效果在于，本發(fā)明技術(shù)方案所提供的電容器檢測(cè)系統(tǒng)S及其被動(dòng)式分腳座模塊2，其可通過“可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在基座結(jié)構(gòu)20上，且可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21具有一弧形表面2100”以及“一電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P的兩個(gè)接觸側(cè)面P10滑動(dòng)地接觸可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21的弧形表面2100”的設(shè)計(jì)，以使得兩個(gè)導(dǎo)電引腳P彼此岔開或者分叉，并且使得座板B被兩個(gè)已岔開或者分叉的導(dǎo)電引腳P所限位而避免脫離電容器C。再者，電容器C的兩個(gè)導(dǎo)電引腳P可以通過接觸側(cè)面P10與弧形表面2100之間的接觸，以有效降低導(dǎo)電引腳P與可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21之間的摩擦阻力。由于導(dǎo)電引腳P與可轉(zhuǎn)動(dòng)結(jié)構(gòu)21之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個(gè)接觸側(cè)面P10同時(shí)滑動(dòng)地接觸弧形表面2100時(shí)所施加在兩個(gè)導(dǎo)電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導(dǎo)電引腳P與電容器C結(jié)合之處的結(jié)構(gòu)變異可以被降低，并減少電容器C的內(nèi)部結(jié)構(gòu)受力的情況)，藉此以避免電容器C產(chǎn)生漏電流增加或者短路的問題。

以上所公開的內(nèi)容僅為本發(fā)明的優(yōu)選可行實(shí)施例，并非因此侷限本發(fā)明的申請(qǐng)專利范圍，故凡運(yùn)用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所做的等效技術(shù)變化，均包含于本發(fā)明的申請(qǐng)專利范圍內(nèi)。