本發(fā)明涉及嵌入式板卡測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的嵌入式板卡的測(cè)試基本在常態(tài)下采用測(cè)試軟件加人眼觀察的手段進(jìn)行，這種測(cè)試方法導(dǎo)致板卡在振動(dòng)、溫度等例行試驗(yàn)中不能進(jìn)行有效測(cè)試，且測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，人眼觀察不夠仔細(xì)和快速，尤其對(duì)低概率的板卡故障和例行試驗(yàn)中產(chǎn)生的問題不易被發(fā)現(xiàn)，對(duì)故障現(xiàn)象進(jìn)行追溯更不容易，不利于嵌入式板卡故障的發(fā)現(xiàn)。此外，現(xiàn)有的嵌入式板卡的測(cè)試過程中，通常每次測(cè)試僅能夠測(cè)試一張板卡，測(cè)試完成后需更換板卡，更換板卡的過程中費(fèi)時(shí)費(fèi)力，嚴(yán)重影響了嵌入式板卡的測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，采用視覺檢測(cè)技術(shù)對(duì)嵌入式板卡的顯示接口進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，有效的避免了人為失誤，提高了可靠性和測(cè)試效率。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),包括：

板卡夾具，用于固定被測(cè)嵌入式板卡，以及進(jìn)行電源信號(hào)和測(cè)試信號(hào)的轉(zhuǎn)接；

通道選通裝置，用于接收測(cè)試命令，并根據(jù)所述測(cè)試命令向所述被測(cè)嵌入式板卡發(fā)送測(cè)試信號(hào)；接收所述被測(cè)嵌入式板卡的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像，以及將所述測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)出；

攝像裝置，用于采集所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像，并將采集到的所述狀態(tài)圖像發(fā)出；

分析處理設(shè)備，用于發(fā)出所述測(cè)試命令；接收所述通道選通裝置發(fā)出的測(cè)試數(shù)據(jù)以及狀態(tài)圖像，并對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)和所述狀態(tài)圖像進(jìn)行分析處理；

網(wǎng)絡(luò)連接設(shè)備，用于作為所述分析處理設(shè)備和所述被測(cè)嵌入式板卡的網(wǎng)口數(shù)據(jù)的交付通道。

所述板卡夾具包括溫度試驗(yàn)夾具和振動(dòng)試驗(yàn)夾具。

所述測(cè)試命令包括顯示接口測(cè)試命令、通道選擇測(cè)試命令、開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令。

所述通道選通裝置包括：

授時(shí)裝置，用于接收所述授時(shí)測(cè)試命令，并根據(jù)所述授時(shí)測(cè)試命令對(duì)所述被測(cè)嵌入式板卡進(jìn)行授時(shí)；

虛擬鍵盤模塊，用于接收所述操作接口測(cè)試命令，并根據(jù)所述操作接口測(cè)試命令生成第一測(cè)試信號(hào)，并將所述第一測(cè)試信號(hào)發(fā)送至所述被測(cè)嵌入式板卡，以及接收所述被測(cè)嵌入式板卡的操作接口數(shù)據(jù)，將所述操作接口數(shù)據(jù)發(fā)送至所述分析處理設(shè)備；

切換矩陣模塊，用于接收顯示接口測(cè)試命令和通道選擇測(cè)試命令；用于根據(jù)所述通道選擇測(cè)試命令選通所述被測(cè)嵌入式板卡的測(cè)試通道，根據(jù)所述顯示接口測(cè)試命令生成第二測(cè)試信號(hào)，并將所述第二測(cè)試信號(hào)發(fā)送至所述被測(cè)嵌入式板卡；用于接收所述被測(cè)嵌入式板卡的顯示接口信號(hào)，并將所述顯示接口信號(hào)發(fā)出；

顯示模塊，用于接收所述切換矩陣模塊發(fā)出的顯示接口信號(hào)，并根據(jù)所述顯示接口信號(hào)生成所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像；

電源模塊，用于接收所述測(cè)試命令，并根據(jù)所述測(cè)試命令為所述被測(cè)嵌入式板卡供電。

所述操作接口數(shù)據(jù)為PS2接口數(shù)據(jù)，所述顯示接口信號(hào)為L(zhǎng)VDS接口信號(hào)。

所述分析處理設(shè)備包括：

視覺檢測(cè)模塊，用于發(fā)出顯示接口測(cè)試命令，接收所述通道選通裝置發(fā)出的狀態(tài)圖像，并對(duì)該狀態(tài)圖像進(jìn)行分析處理；

網(wǎng)口控制模塊，用于獲取所述被測(cè)嵌入式板卡的網(wǎng)口數(shù)據(jù)；接收所述通道選通裝置發(fā)出的測(cè)試數(shù)據(jù)；

串口控制模塊，用于發(fā)出開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令；

測(cè)試記錄模塊，用于根據(jù)所述被測(cè)嵌入式板卡的編號(hào)存儲(chǔ)所述視覺檢測(cè)模塊的分析處理結(jié)果，所述網(wǎng)口控制模塊接收到的網(wǎng)口數(shù)據(jù)和測(cè)試數(shù)據(jù)，以及所述串口控制模塊發(fā)出的開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令。

所述分析處理設(shè)備還包括板卡狀態(tài)顯示模塊，用于根據(jù)所述視覺檢測(cè)模塊接收到的狀態(tài)圖像顯示所述被測(cè)嵌入式板卡的運(yùn)行狀態(tài)。

所述分析處理設(shè)備通過ping工具同時(shí)對(duì)板卡夾具上所有被測(cè)嵌入式板卡的網(wǎng)口進(jìn)行測(cè)試。

基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試方法，包括：

S1.測(cè)試嵌入式板卡的啟動(dòng)是否正常：若所述嵌入式板卡的啟動(dòng)正常，則執(zhí)行S2和S3；否則進(jìn)行啟動(dòng)故障報(bào)警，然后執(zhí)行S2和S3；

S2.測(cè)試所述嵌入式板卡的所有網(wǎng)口是否正常：若所述嵌入式板卡的所有網(wǎng)口均正常，則執(zhí)行S7和S8；否則進(jìn)行網(wǎng)口故障報(bào)警，然后執(zhí)行S7和S8；

S3.測(cè)試所述嵌入式板卡的PS2接口是否正常：若所述嵌入式板卡的PS2接口正常，則執(zhí)行S4；否則進(jìn)行PS2接口故障報(bào)警，然后執(zhí)行S4；

S4.測(cè)試所述嵌入式板卡的CPU溫度是否正常：若所述嵌入式板卡的CPU溫度正常，則執(zhí)行S5，否則進(jìn)行CPU溫度故障報(bào)警，然后執(zhí)行S5；

S5.測(cè)試所述嵌入式板卡的系統(tǒng)時(shí)間是否正常：若所述嵌入式板卡的系統(tǒng)時(shí)間正常，則執(zhí)行步驟S6；否則進(jìn)行時(shí)間故障報(bào)警，然后執(zhí)行S6；

S6.測(cè)試所述嵌入式板卡的切換接口是否正常：若所述嵌入式板卡的切換接口正常，則執(zhí)行步驟S7和S8；否則進(jìn)行切換故障報(bào)警，然后執(zhí)行S7和S8；

S7.測(cè)試所述嵌入式板卡復(fù)位是否正常：若所述嵌入式板卡復(fù)位異常，則進(jìn)行復(fù)位故障報(bào)警；

S8.測(cè)試所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常：若所述嵌入式板卡的LVDS接口異常，則進(jìn)行LVDS故障報(bào)警。

所述步驟S8中，測(cè)試所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常的方法為：測(cè)試系統(tǒng)通過視覺分析程序檢測(cè)所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常。

本發(fā)明的有益效果是：

（1）本發(fā)明采用視覺檢測(cè)技術(shù)對(duì)嵌入式板卡的顯示接口進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，該技術(shù)綜合運(yùn)用了光電探測(cè)、圖像處理和計(jì)算機(jī)技術(shù)，將機(jī)器視覺引入自動(dòng)化檢測(cè)中，有效的避免了人為失誤，提高了可靠性和生產(chǎn)效率；

（2）本發(fā)明集中對(duì)多張嵌入式板卡進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，大大提高了嵌入式板卡的測(cè)試效率；

（3）本發(fā)明在測(cè)試過程中實(shí)時(shí)記錄每張嵌入式板卡的詳細(xì)測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果，以便對(duì)故障進(jìn)行跟蹤排查，解決了現(xiàn)有測(cè)試方法中對(duì)低概率故障的不易發(fā)現(xiàn)性和記憶的缺點(diǎn)，克服了人工測(cè)試易出現(xiàn)的失誤，大大提高了生產(chǎn)效率，降低了生產(chǎn)成本;

（4）本發(fā)明中的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能在30分鐘內(nèi)完成對(duì)8張嵌入式板卡進(jìn)行測(cè)試及數(shù)據(jù)記錄，時(shí)間縮短很多，能大幅提高生產(chǎn)效率；經(jīng)過測(cè)試，一個(gè)操作人員可以完成對(duì)3套自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的監(jiān)控，也就是可以完成24張嵌入式板卡的常態(tài)及例行試驗(yàn)，在此之前需要投入4人、12套陪試設(shè)備才能完成該任務(wù)，大大降低了成本。

附圖說明

圖1為本發(fā)明中嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的示意框圖；

圖2為本發(fā)明中嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試方法的一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本發(fā)明的技術(shù)方案，但本發(fā)明的保護(hù)范圍不局限于以下所述。

如圖1所示，基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括板卡夾具、通道選通裝置、攝像裝置、分析處理設(shè)備和網(wǎng)絡(luò)連接設(shè)備。

所述板卡夾具，用于固定被測(cè)嵌入式板卡，以及進(jìn)行電源信號(hào)和測(cè)試信號(hào)的轉(zhuǎn)接。

所述板卡夾具包括溫度試驗(yàn)夾具和振動(dòng)試驗(yàn)夾具，能夠滿足不同實(shí)驗(yàn)條件的需求。本實(shí)施例中，板卡夾具上設(shè)有用于板卡快速插板的板卡固定裝置，一個(gè)板卡夾具上可以同時(shí)固定多個(gè)嵌入式板卡，例如8個(gè)，板卡夾具通過轉(zhuǎn)接電纜對(duì)電源信號(hào)和8張板卡的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)接。

所述通道選通裝置，用于接收測(cè)試命令，其中所述測(cè)試命令包括顯示接口測(cè)試命令、通道選擇測(cè)試命令、開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令，并根據(jù)所述測(cè)試命令向所述被測(cè)嵌入式板卡發(fā)送測(cè)試信號(hào)；接收所述被測(cè)嵌入式板卡的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像，以及將所述測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)出；

所述通道選通裝置包括：授時(shí)裝置，用于接收所述授時(shí)測(cè)試命令，并根據(jù)所述授時(shí)測(cè)試命令對(duì)所述被測(cè)嵌入式板卡進(jìn)行授時(shí)，本實(shí)施例中的授時(shí)裝置采用GPS授時(shí)裝置，授時(shí)裝置還可以采用北斗授時(shí)裝置等其它具有授時(shí)功能的裝置。虛擬鍵盤模塊，用于接收所述分析處理設(shè)備發(fā)出的操作接口測(cè)試命令，并根據(jù)所述操作接口測(cè)試命令生成第一測(cè)試信號(hào)，并將所述第一測(cè)試信號(hào)發(fā)送至所述被測(cè)嵌入式板卡，以及接收所述被測(cè)嵌入式板卡的操作接口數(shù)據(jù)，本實(shí)施例中的操作接口數(shù)據(jù)為PS2接口數(shù)據(jù)，將所述操作接口數(shù)據(jù)通過串口發(fā)送至所述分析處理設(shè)備。切換矩陣模塊，用于接收所述分析處理設(shè)備發(fā)出的顯示接口測(cè)試命令和通道選擇測(cè)試命令；用于根據(jù)所述通道選擇測(cè)試命令選通所述被測(cè)嵌入式板卡的測(cè)試通道，根據(jù)所述顯示接口測(cè)試命令生成第二測(cè)試信號(hào)，并將所述第二測(cè)試信號(hào)發(fā)送至所述被測(cè)嵌入式板卡；用于接收所述被測(cè)嵌入式板卡的顯示接口信號(hào)，本實(shí)施例中的顯示接口信號(hào)為L(zhǎng)VDS接口信號(hào)，并將所述顯示接口信號(hào)發(fā)出。顯示模塊，用于接收所述切換矩陣模塊發(fā)出的顯示接口信號(hào)，并根據(jù)所述顯示接口信號(hào)生成所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像。電源模塊，用于接收所述分析處理設(shè)備發(fā)出的開機(jī)測(cè)試命令，并根據(jù)所述測(cè)試命令為所述被測(cè)嵌入式板卡供電，本實(shí)施例中，電源模塊對(duì)板卡夾具上的多張嵌入式板卡進(jìn)行分路供電。

所述攝像裝置，用于采集所述被測(cè)嵌入式板卡的狀態(tài)圖像，并將采集到的所述狀態(tài)圖像通過千兆網(wǎng)口發(fā)出至分析處理設(shè)備。

所述分析處理設(shè)備，用于發(fā)出所述測(cè)試命令；接收所述通道選通裝置發(fā)出的測(cè)試數(shù)據(jù)以及狀態(tài)圖像，并對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)和所述狀態(tài)圖像進(jìn)行分析處理。

所述分析處理設(shè)備包括：視覺檢測(cè)模塊，用于發(fā)出顯示接口測(cè)試命令，接收所述通道選通裝置發(fā)出的狀態(tài)圖像，并對(duì)該狀態(tài)圖像進(jìn)行分析處理。網(wǎng)口控制模塊，用于獲取所述被測(cè)嵌入式板卡的網(wǎng)口數(shù)據(jù)；接收所述通道選通裝置發(fā)出的測(cè)試數(shù)據(jù)。串口控制模塊，用于發(fā)出開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令。測(cè)試記錄模塊，用于根據(jù)所述被測(cè)嵌入式板卡的編號(hào)存儲(chǔ)所述視覺檢測(cè)模塊的分析處理結(jié)果，所述網(wǎng)口控制模塊接收到的網(wǎng)口數(shù)據(jù)和測(cè)試數(shù)據(jù)，以及所述串口控制模塊發(fā)出的開機(jī)測(cè)試命令、操作接口測(cè)試命令和授時(shí)測(cè)試命令。

所述分析處理設(shè)備還包括板卡狀態(tài)顯示模塊，用于根據(jù)所述視覺檢測(cè)模塊接收到的狀態(tài)圖像顯示所述被測(cè)嵌入式板卡的運(yùn)行狀態(tài)。

所述網(wǎng)絡(luò)連接設(shè)備，本實(shí)施例中網(wǎng)絡(luò)連接設(shè)備采用交換機(jī)，用于作為所述分析處理設(shè)備和所述被測(cè)嵌入式板卡的網(wǎng)口數(shù)據(jù)的交付通道，分析處理設(shè)備通過ping工具同時(shí)對(duì)板卡夾具上所有嵌入式板卡的網(wǎng)口進(jìn)行測(cè)試。

如圖2所示，基于視覺檢測(cè)技術(shù)的嵌入式板卡自動(dòng)測(cè)試方法，包括：

S1.測(cè)試嵌入式板卡的啟動(dòng)是否正常：若所述嵌入式板卡的啟動(dòng)正常，則執(zhí)行S2和S3；否則進(jìn)行啟動(dòng)故障報(bào)警，然后執(zhí)行S2和S3。

S2.測(cè)試所述嵌入式板卡的所有網(wǎng)口是否正常：若所述嵌入式板卡的所有網(wǎng)口均正常，則執(zhí)行S7和S8；否則進(jìn)行網(wǎng)口故障報(bào)警，然后執(zhí)行S7和S8；8張嵌入式板卡的24個(gè)網(wǎng)口同時(shí)測(cè)試，分析處理設(shè)備的網(wǎng)口在10M/100M下各ping60000大包100包。

S3.測(cè)試所述嵌入式板卡的PS2接口是否正常：若所述嵌入式板卡的PS2接口正常，則執(zhí)行S4；否則進(jìn)行PS2接口故障報(bào)警，然后執(zhí)行S4；PS2接口測(cè)試方法為：測(cè)試系統(tǒng)向嵌入式板卡發(fā)送鍵值，然后檢測(cè)嵌入式板卡返回的數(shù)據(jù)。

S4.測(cè)試所述嵌入式板卡的CPU溫度是否正常：若所述嵌入式板卡的CPU溫度正常，則執(zhí)行S5，否則進(jìn)行CPU溫度故障報(bào)警，然后執(zhí)行S5；CPU溫度的測(cè)試方法為：測(cè)試系統(tǒng)采集嵌入式板卡的CPU溫度，判斷采集到的溫度值是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)嵌入式板卡散熱效果的檢測(cè)。

S5.測(cè)試所述嵌入式板卡的系統(tǒng)時(shí)間是否正常：若所述嵌入式板卡的系統(tǒng)時(shí)間正常，則執(zhí)行步驟S6；否則進(jìn)行時(shí)間故障報(bào)警，然后執(zhí)行S6；測(cè)試方法為：測(cè)試系統(tǒng)給嵌入式板卡授GPS時(shí)間同步，在實(shí)驗(yàn)過程中，測(cè)試系統(tǒng)采集嵌入式板卡的系統(tǒng)時(shí)間，通過與GPS時(shí)間進(jìn)行比較，判斷兩者的差值是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)嵌入式板卡時(shí)間的穩(wěn)定性檢測(cè)。

S6.測(cè)試所述嵌入式板卡的切換接口是否正常：若所述嵌入式板卡的切換接口正常，則執(zhí)行步驟S7和S8；否則進(jìn)行切換故障報(bào)警，然后執(zhí)行S7和S8；測(cè)試方法為：測(cè)試系統(tǒng)向嵌入式板卡發(fā)送切換命令，然后檢測(cè)嵌入式板卡返回的數(shù)據(jù)。

S7.測(cè)試所述嵌入式板卡復(fù)位是否正常：若所述嵌入式板卡復(fù)位異常，則進(jìn)行復(fù)位故障報(bào)警；測(cè)試方法為：測(cè)試系統(tǒng)對(duì)嵌入式板卡逐一復(fù)位，檢測(cè)嵌入式板卡的復(fù)位過程和復(fù)位時(shí)間。

S8.測(cè)試所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常：若所述嵌入式板卡的LVDS接口異常，則進(jìn)行LVDS故障報(bào)警。測(cè)試所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常的方法為：測(cè)試系統(tǒng)通過視覺分析程序檢測(cè)所述嵌入式板卡的LVDS接口是否正常。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明并非局限于本文所披露的形式，不應(yīng)看作是對(duì)其他實(shí)施例的排除，而可用于各種其他組合、修改和環(huán)境，并能夠在本文所述構(gòu)想范圍內(nèi)，通過上述教導(dǎo)或相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)或知識(shí)進(jìn)行改動(dòng)。而本領(lǐng)域人員所進(jìn)行的改動(dòng)和變化不脫離本發(fā)明的精神和范圍，則都應(yīng)在本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。