技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電源性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及可兼容快充充電器、快充移動(dòng)電源及通用移動(dòng)電源綜合老化測(cè)試系統(tǒng)，包括電網(wǎng)供電模塊、上位機(jī)監(jiān)控系統(tǒng)、主控單元MCU模塊、充電控制模塊、充電電壓電流采集模塊、快充控制模塊、子控單元MCU模塊、放電控制模塊、放電電壓電流采集模塊，本發(fā)明提供一種高兼容性的快充類產(chǎn)品老化測(cè)試系統(tǒng)，具有智能化程度高，兼容性高，成本較低，效率高等優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：邱水良;冉建強(qiáng);趙朝映
受保護(hù)的技術(shù)使用者：東莞市旺達(dá)富自動(dòng)化設(shè)備有限公司
文檔號(hào)碼：201610802520
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.05
技術(shù)公布日：2016.11.16