1.一種POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，包括激發(fā)光源、用于調(diào)整所述激發(fā)光源發(fā)出的光的光斑大小的光源整形光路及熒光接收光路，其特征在于：所述光路系統(tǒng)還包括轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置的二向分光鏡，所述二向分光鏡用于反射經(jīng)所述光源整形光路后的光且透射熒光，所述激發(fā)光源發(fā)出的光經(jīng)所述光源整形光路后照射到所述二向分光鏡，所述二向分光鏡將經(jīng)所述光源整形光路后的光反射到試紙條的檢測線以激發(fā)所述檢測線上的熒光，所述熒光被所述二向分光鏡透射后被所述熒光接收光路接收，所述二向分光鏡的轉(zhuǎn)動(dòng)使光能夠反射到所述試紙條的不同檢測線上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光路系統(tǒng)還包括電機(jī)，所述二向分光鏡與所述電機(jī)的電機(jī)軸相連且由所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光路系統(tǒng)還包括與所述電機(jī)電連接且控制所述電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)以控制所述二向分光鏡轉(zhuǎn)動(dòng)角度的控制機(jī)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光源整形光路包括依次設(shè)置的準(zhǔn)直鏡和狹縫裝置，所述準(zhǔn)直鏡設(shè)置在所述激發(fā)光源發(fā)出的光線的前方，所述激發(fā)光源發(fā)出的光經(jīng)所述準(zhǔn)直鏡整形為平行光束，所述平行光束經(jīng)所述狹縫裝置調(diào)整光的光斑大小。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光源整形光路還包括反射鏡，經(jīng)所述狹縫裝置調(diào)整后的光先照射到所述反射鏡上，然后由所述反射鏡反射到所述二向分光鏡上。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光源整形光路還包括設(shè)置在所述激發(fā)光源和準(zhǔn)直鏡之間的第一濾光片。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述熒光接收光路包括依次設(shè)置的第二濾光片、聚焦鏡和光電探測器，經(jīng)所述二向分光鏡透射后的熒光依次經(jīng)所述第二濾光片、聚焦鏡進(jìn)入所述光電探測器進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的POCT熒光定量分析儀的光路系統(tǒng)，其特征在于：所述光電探測器為PMT光電倍增管、APD雪崩光電二極管或無內(nèi)部增益的PD光電管二極管。
9.一種POCT熒光定量分析儀，其包含有權(quán)利要求1~8中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的光路系統(tǒng)。
10.一種熒光定量分析方法，其特征在于，所述分析方法采用權(quán)利要求9所述的POCT熒光定量分析儀，包括以下步驟：將試紙條固定在工作臺(tái)面上，控制激發(fā)光源發(fā)光，所述激發(fā)光源發(fā)出的光經(jīng)所述光源整形光路調(diào)整光的光斑的大小，然后照射到二向分光鏡，經(jīng)所述二向分光鏡反射到試紙條的檢測線以激發(fā)所述檢測線上的熒光，熒光被所述二向分光鏡透射后被熒光接收光路接收，轉(zhuǎn)換為可被檢測和分析的電子信號(hào)；當(dāng)需檢測所述試紙條上的其他檢測線時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)所述二向分光鏡使光反射到所述試紙條上的所述其他檢測線以激發(fā)所述其他檢測線上的熒光。