本發(fā)明涉及光柵尺領(lǐng)域技術(shù),尤其是指一種使用方便的光柵尺。
背景技術(shù):
距離碼是一種標(biāo)記有按照編碼規(guī)則制定的一組距離編碼參考點(diǎn)的光柵尺,這組信號(hào)有別于一般光柵尺的固定周期性參考點(diǎn)信號(hào),它主要應(yīng)用于確定光柵尺的周期相對(duì)位置,數(shù)控機(jī)床設(shè)備上主要用作快速確定絕對(duì)參考點(diǎn)的檢測(cè)。距離碼具有簡(jiǎn)單、可快速反應(yīng)的優(yōu)點(diǎn),然而,其開(kāi)機(jī)時(shí)無(wú)法確認(rèn)絕對(duì)位置,設(shè)置有些精密加工機(jī)臺(tái)關(guān)機(jī)后無(wú)法重新定位或者歸零,并且,在工作過(guò)程中,容易因雜訊、震動(dòng)、速度太快等因素而出現(xiàn)漏數(shù),無(wú)法立即更正錯(cuò)誤,必須等下兩個(gè)增量式刻線(xiàn)出現(xiàn)才能更正錯(cuò)誤,使用起來(lái)較為不便。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在之缺失,其主要目的是提供一種使用方便的光柵尺,其能有效解決現(xiàn)有之距離碼使用不便的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下之技術(shù)方案:
一種使用方便的光柵尺,包括有彼此可相對(duì)活動(dòng)的尺身和讀數(shù)頭;尺身上設(shè)置有增量碼道,增量碼道橫向延伸,增量碼道的一側(cè)設(shè)置有多個(gè)參考標(biāo)記圖樣,多個(gè)參考標(biāo)記圖樣橫向間隔排布;讀數(shù)頭位于尺身的正上方,讀數(shù)頭上設(shè)置有用于偵測(cè)增量碼道上刻度的第一光電元件和用于參考標(biāo)記圖樣的第二光電元件,該尺身的兩端分別設(shè)置有左極限標(biāo)記和右極限標(biāo)記,左極限標(biāo)記和右極限標(biāo)記呈對(duì)角錯(cuò)位設(shè)置,每個(gè)參考標(biāo)記圖樣的旁邊均設(shè)置有參考點(diǎn)B,參考點(diǎn)B與參考標(biāo)記圖樣之間的距離為d,該讀數(shù)頭上設(shè)置有用于偵測(cè)參考點(diǎn)B的第三光電元件,第三光電元件與第二光電元件并排設(shè)置,且第三光電元件與第二光電元件之間的距離亦為d,以及,該讀數(shù)頭的兩端設(shè)置有可偵測(cè)到左極限標(biāo)記的左極限偵測(cè)元件和可偵測(cè)到右極限標(biāo)記的右極限偵測(cè)元件。
作為一種優(yōu)選方案,所述左極限標(biāo)記位于尺身的左端上側(cè),該右極限標(biāo)記為尺身的右端下側(cè),該左極限偵測(cè)元件位于讀數(shù)頭的左端上側(cè),該右極限偵測(cè)元件位于讀數(shù)頭的右端下側(cè)。
作為一種優(yōu)選方案,所述左極限標(biāo)記和右極限標(biāo)記均通過(guò)貼黑的方式形成。
作為一種優(yōu)選方案,所述尺身上與參考標(biāo)記圖樣間隔距離為d的位置有一框型標(biāo)識(shí),通過(guò)在該框型標(biāo)識(shí)上粘貼一遮光材料而形成參考點(diǎn)B。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果,具體而言,由上述技術(shù)方案可知:
通過(guò)在相鄰兩參考標(biāo)記圖樣之間均設(shè)置有參考點(diǎn),并配合在讀數(shù)頭上設(shè)置有用于偵測(cè)參考點(diǎn)的第三光電元件,并且,參考點(diǎn)與其中前一個(gè)參考標(biāo)記圖樣之間的距離等于第三光電元件與第二光電元件之間的距離,使得本產(chǎn)品可在開(kāi)機(jī)時(shí)快速確認(rèn)絕對(duì)位置,便于重新定位或者歸零,并且,在工作過(guò)程中,杜絕了漏數(shù)現(xiàn)象,可立即更正錯(cuò)誤,使用起來(lái)更加方便。并且,通過(guò)尺身的兩端分別設(shè)置有左極限標(biāo)記和右極限標(biāo)記,并配合在讀數(shù)頭的兩端設(shè)置有左極限偵測(cè)元件和右極限偵測(cè)元件,使得讀數(shù)頭移至尺身端部時(shí)可快速地判讀左右方向,從而給使用帶來(lái)方便。
為更清楚地闡述本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特征和功效,下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施例來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明之較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
附圖標(biāo)識(shí)說(shuō)明:
10、尺身 11、增量碼道
13、左極限標(biāo)記 14、右極限標(biāo)記
20、讀數(shù)頭 21、第一光電元件
22、第二光電元件 23、第三光電元件
24、左極限偵測(cè)元件 25、右極限偵測(cè)元件。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參照?qǐng)D1所示,其顯示出了本發(fā)明之較佳實(shí)施例的具體結(jié)構(gòu),包括有彼此可相對(duì)活動(dòng)的尺身10和讀數(shù)頭20。
該尺身10上設(shè)置有增量碼道11,增量碼道11橫向延伸,增量碼道11的一側(cè)設(shè)置有多個(gè)參考標(biāo)記圖樣(RI1、RI2、RI3……RIn),多個(gè)參考標(biāo)記圖樣(RI1、RI2、RI3……RIn)橫向間隔排布。該尺身10的兩端分別設(shè)置有左極限標(biāo)記12和右極限標(biāo)記13,左極限標(biāo)記12和右極限標(biāo)記13呈對(duì)角錯(cuò)位設(shè)置,每個(gè)參考標(biāo)記圖樣的旁邊均設(shè)置有參考點(diǎn)B,參考點(diǎn)B與參考標(biāo)記圖樣之間的距離為d。在本實(shí)施例中,所述左極限標(biāo)記12和右極限標(biāo)記13均通過(guò)貼黑的方式形成。并且,所述尺身10上與參考標(biāo)記圖樣間隔距離為d的位置有一框型標(biāo)識(shí)(圖中未示),通過(guò)在該框型標(biāo)識(shí)上粘貼一遮光材料而形成參考點(diǎn)B。
該讀數(shù)頭20位于尺身10的正上方,讀數(shù)頭20上設(shè)置有用于偵測(cè)增量碼道11上刻度的第一光電元件21和用于參考標(biāo)記圖樣的第二光電元件22,該讀數(shù)頭20上設(shè)置有用于偵測(cè)參考點(diǎn)B的第三光電元件23,第三光電元件23與第二光電元件22并排設(shè)置,且第三光電元件23與第二光電元件22之間的距離亦為d,以及,該讀數(shù)頭20的兩端設(shè)置有可偵測(cè)到左極限標(biāo)記12的左極限偵測(cè)元件24和可偵測(cè)到右極限標(biāo)記13的右極限偵測(cè)元件25,左極限偵測(cè)元件24和右極限偵測(cè)元件25呈對(duì)角錯(cuò)位設(shè)置。
以及,在本實(shí)施例中,該左極限標(biāo)記12位于尺身10的左端上側(cè),該右極限標(biāo)記13為尺身10的右端下側(cè),該左極限偵測(cè)元件24位于讀數(shù)頭20的左端上側(cè),該右極限偵測(cè)元件25位于讀數(shù)頭20的右端下側(cè)。
使用時(shí),讀數(shù)頭20在尺身10的正上方來(lái)回移動(dòng),該第一光電元件21偵測(cè)增量碼道11上的刻度,該第二光電元件22偵測(cè)參考標(biāo)記圖樣,同時(shí),該第三光電元件23偵測(cè)參考點(diǎn)B,若左極限偵測(cè)元件24偵測(cè)到左極限標(biāo)記12,可以判斷讀數(shù)頭20位于尺身10的左端;反之,若右極限偵測(cè)元件25偵測(cè)到右極限標(biāo)記13,可以判斷讀數(shù)頭20位于尺身10的右端。
本發(fā)明的設(shè)計(jì)重點(diǎn)在于:通過(guò)在相鄰兩參考標(biāo)記圖樣之間均設(shè)置有參考點(diǎn),并配合在讀數(shù)頭上設(shè)置有用于偵測(cè)參考點(diǎn)的第三光電元件,并且,參考點(diǎn)與其中前一個(gè)參考標(biāo)記圖樣之間的距離等于第三光電元件與第二光電元件之間的距離,使得本產(chǎn)品可在開(kāi)機(jī)時(shí)快速確認(rèn)絕對(duì)位置,便于重新定位或者歸零,并且,在工作過(guò)程中,杜絕了漏數(shù)現(xiàn)象,可立即更正錯(cuò)誤,使用起來(lái)更加方便。并且,通過(guò)尺身的兩端分別設(shè)置有左極限標(biāo)記和右極限標(biāo)記,并配合在讀數(shù)頭的兩端設(shè)置有左極限偵測(cè)元件和右極限偵測(cè)元件,使得讀數(shù)頭移至尺身端部時(shí)可快速地判讀左右方向,從而給使用帶來(lái)方便。
以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非對(duì)本發(fā)明的技術(shù)范圍作任何限制,故凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同變化與修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。