本發(fā)明關(guān)于一種自動(dòng)測試通道配置裝置及其控制方法，特別是一種應(yīng)用于自動(dòng)測試設(shè)備的自動(dòng)測試設(shè)備資源配置方法及其控制方法。
背景技術(shù)：
：在測試集成電路的領(lǐng)域中，自動(dòng)測試設(shè)備(automatedtestequipment,ate)被廣泛地運(yùn)用來對(duì)受檢測的集成電路送出信號(hào)，并接收和分析從受測集成電路反饋的信號(hào)，來決定受測的集成電路有沒有發(fā)生功能錯(cuò)誤(malfunction)的狀況。為了增加集成電路的測試效率和降低測試成本，目前的集成電路測試廠商積極地研究如何能在同一時(shí)段中測試更多個(gè)待測物(deviceundertest，dut)，使得自動(dòng)測試設(shè)備分配測試通道的方式越來越重要。此外，當(dāng)自動(dòng)測試設(shè)備對(duì)待測集成電路進(jìn)行測試時(shí)，同一批進(jìn)行測試的集成電路中，可能會(huì)有部分的集成電路需要進(jìn)行微調(diào)。而目前的自動(dòng)測試設(shè)備不具有微調(diào)部分或全部集成電路的功能，因此亦增加了集成電路的測試成本。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明在于提供一種自動(dòng)測試通道配置裝置及其控制方法，藉以解決現(xiàn)有自動(dòng)測試設(shè)備不具有微調(diào)部分或全部待測集成電路的問題。本發(fā)明所公開的自動(dòng)測試通道配置裝置，電性連接一自動(dòng)測試設(shè)備與至少一待測物，自動(dòng)測試通道配置裝置具有多個(gè)測試通道、記憶模塊、第一邏輯運(yùn)算模塊及第二邏輯運(yùn)算模塊。記憶模塊具有多個(gè)記憶區(qū)塊，每一個(gè)記憶區(qū)塊關(guān)連于多個(gè)測試通道其中之一。每一個(gè)記憶區(qū)塊具有多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值，每一個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值關(guān)連于多個(gè)測試環(huán)境其中之一。第一邏輯運(yùn)算模塊電性連接記憶模塊，用以依據(jù)其中一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一測試通道的第一控制信號(hào)。測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)具有多個(gè)選擇狀態(tài)值，每一個(gè)選擇狀態(tài)值關(guān)連于其中一個(gè)測試環(huán)境。第二邏輯運(yùn)算模塊電性連接第一邏輯運(yùn)算模塊，用以依據(jù)一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)，產(chǎn)生第一測試通道的第二控制信號(hào)。測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)具有多個(gè)狀態(tài)維持值，每一個(gè)狀態(tài)維持值關(guān)連于測試環(huán)境其中之一。第二邏輯運(yùn)算模塊依據(jù)第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)，產(chǎn)生第一測試通道控制信號(hào)，以選擇性地導(dǎo)通第一測試通道。本發(fā)明所公開的自動(dòng)測試通道配置裝置的控制方法，具有設(shè)定關(guān)系表。關(guān)系表用以記錄多個(gè)測試通道中每一個(gè)測試通道對(duì)應(yīng)多個(gè)測試環(huán)境的操作關(guān)聯(lián)性。自測試環(huán)境中，選擇部分的測試環(huán)境來進(jìn)行測試。依據(jù)關(guān)系表中，判斷被選擇進(jìn)行測試的測試環(huán)境的通道狀態(tài)。依據(jù)被選擇進(jìn)行測試的每一個(gè)測試環(huán)境的通道狀態(tài)，計(jì)算第一測試通道的第一控制信號(hào)。自測試環(huán)境中，選擇部分的測試環(huán)境來進(jìn)行狀態(tài)維持。依據(jù)關(guān)系表中，判斷被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持的測試環(huán)境的通道狀態(tài)。依據(jù)被選擇狀態(tài)維持的測試環(huán)境的通道狀態(tài)，計(jì)算第一測試通道的第二控制信號(hào)。依據(jù)第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)，判斷第一測試通道是否要導(dǎo)通。根據(jù)上述本發(fā)明所公開的自動(dòng)測試通道配置裝置及其控制方法，可以依據(jù)每個(gè)測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試的狀態(tài)和被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持的狀態(tài)，來決定在一個(gè)批次的測試中前述多個(gè)測試通道中的每個(gè)通道是否該被導(dǎo)通，進(jìn)而使得自動(dòng)測試設(shè)備可以對(duì)部分或全部集成電路的進(jìn)行微調(diào)參數(shù)的程序。以上的關(guān)于本公開內(nèi)容的說明及以下的實(shí)施方式的說明用以示范與解釋本發(fā)明的精神與原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍更進(jìn)一步的解釋。附圖說明圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試設(shè)備、自動(dòng)測試通道配置裝置和待測裝置的功能方塊圖。圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試通道配置裝置中的功能方塊圖。圖3是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪示的第一測試通道的時(shí)序圖。圖4為根據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例所繪示的第一邏輯運(yùn)算模塊及第二邏輯運(yùn)算模塊中的的電路示意圖。圖5為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試通道配置裝置的控制方法的步驟流程圖。其中，附圖標(biāo)記：10自動(dòng)測試通道配置裝置11通道模塊13記憶模塊15第一邏輯運(yùn)算模塊151控制單元152第三邏輯單元153第四邏輯單元154緩沖器17第二邏輯運(yùn)算模塊171第一邏輯單元172第二邏輯單元173第五邏輯單元174緩沖器20自動(dòng)測試設(shè)備30待測裝置具體實(shí)施方式以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說明書所公開的內(nèi)容、權(quán)利要求保護(hù)范圍及附圖，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。以下的實(shí)施例進(jìn)一步詳細(xì)說明本發(fā)明的觀點(diǎn)，但非以任何觀點(diǎn)限制本發(fā)明的范疇。請(qǐng)參照?qǐng)D1，圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試設(shè)備、自動(dòng)測試通道配置裝置和待測裝置的功能方塊圖，如圖1所示，自動(dòng)測試通道配置裝置10電性連接自動(dòng)測試設(shè)備20與一個(gè)或多個(gè)待測裝置30，待測裝置30具有至少一待測物，待測物例如集成電路或其他合適的半導(dǎo)體元件。自動(dòng)測試設(shè)備20藉由自動(dòng)測試通道配置裝置10將一組或多組測試信號(hào)提供給一個(gè)或多個(gè)待測裝置30，并分析來自待測裝置30依據(jù)測試信號(hào)回饋的信號(hào)，以檢測待測物的各種特性，例如電源引腳及/或接地引腳的電壓特性、電流特性、阻抗特性。于一個(gè)實(shí)施例中，請(qǐng)參照?qǐng)D2，圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試通道配置裝置中的功能方塊圖，如圖2所示，自動(dòng)測試通道配置裝置10具有通道模塊11、記憶模塊13、第一邏輯運(yùn)算模塊15及第二邏輯運(yùn)算模塊17，其中通道模塊11電性連接第二邏輯運(yùn)算模塊17，第一邏輯運(yùn)算模塊15電性連接記憶模塊13及第二邏輯運(yùn)算模塊17。通道模塊11具有多個(gè)測試通道，每個(gè)測試通道導(dǎo)通以傳遞自動(dòng)測試設(shè)備20和待測裝置30之間的信號(hào)。于一個(gè)實(shí)施例中，每一個(gè)測試通道上具有一個(gè)開關(guān)。每一個(gè)開關(guān)受控于第二邏輯運(yùn)算模塊17，以選擇性地導(dǎo)通，使測試通道可傳遞自動(dòng)測試設(shè)備20和待測裝置30之間的信號(hào)。當(dāng)開關(guān)截止時(shí)，信號(hào)無法經(jīng)由第一測試通道往來于自動(dòng)測試設(shè)備20與待測裝置30之間。記憶模塊13具有多個(gè)記憶區(qū)塊，每一個(gè)記憶區(qū)塊關(guān)連于多個(gè)測試通道其中之一，每一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值，每一個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值關(guān)連于多個(gè)測試環(huán)境其中之一。舉例來說，當(dāng)通道模塊11中有4個(gè)測試通道時(shí)，記憶模塊13中具有分別對(duì)應(yīng)4個(gè)測試通道的4個(gè)記憶區(qū)塊，且第一記憶區(qū)塊儲(chǔ)存第一測試通道的多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值，第二記憶區(qū)塊儲(chǔ)存第二測試通道的多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值，以此類推。每一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存的每一個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值關(guān)連于一個(gè)測試環(huán)境，也就是說當(dāng)測試環(huán)境有8個(gè)時(shí)，第一記憶區(qū)塊儲(chǔ)存8個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值，且每個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值代表第一測試通道于一個(gè)測試環(huán)境被選擇時(shí)是否導(dǎo)通。同理地，第二記憶區(qū)塊亦儲(chǔ)存8個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值。測試環(huán)境例如為一個(gè)待測物的多種測試，也可以是指一個(gè)用以設(shè)置待測物的插座。當(dāng)測試環(huán)境為一個(gè)用以設(shè)置待測物的插座時(shí)，8個(gè)測試環(huán)境可以提供8個(gè)待測物設(shè)置，意即自動(dòng)測試設(shè)備20可以在單次測試中，對(duì)8個(gè)待測物進(jìn)行測試。第一邏輯運(yùn)算模塊15電性連接記憶模塊13，用以依據(jù)其中一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一控制信號(hào)，其中測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)具有多個(gè)選擇狀態(tài)值，每一個(gè)選擇狀態(tài)值關(guān)連于其中一個(gè)測試環(huán)境。以第一測試通道的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)舉例來說，請(qǐng)參照下列表1。表1如表1所示，以第一行中的第一測試環(huán)境來說，第一測試通道的導(dǎo)通狀態(tài)值為“是”，表示第一測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試時(shí)，第一測試通道需要導(dǎo)通。而第一測試通道的測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)為“否”，表示于這一次的測試程序中，5第一測試環(huán)境并未被選擇進(jìn)行測試。因此，根據(jù)表1所示，于這一次的測試程序中，第二、第三、第五、第六及第八測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試，第一邏輯運(yùn)算模塊15則依據(jù)第一測試通道在第二、第三、第五、第六及第八測試環(huán)境下的導(dǎo)通狀態(tài)值，進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，計(jì)算出第一測試通道的第一控制信號(hào)為“是”。第二邏輯運(yùn)算模塊17電性連接第一邏輯運(yùn)算模塊15，用以依據(jù)一個(gè)記憶區(qū)塊儲(chǔ)存的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)，產(chǎn)生第二控制信號(hào)。測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)具有多個(gè)狀態(tài)維持值，每一個(gè)狀態(tài)維持值關(guān)連于測試環(huán)境其中之一。同樣以第一測試通道的導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)舉例來說，請(qǐng)參照下列表2。測試環(huán)境1st2nd3rd4th5th6th7th8th導(dǎo)通狀態(tài)值是是否是否否否是測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)是是是是是是是否表2如表2所示，以第一行中的第一測試環(huán)境來說，第一測試通道的導(dǎo)通狀態(tài)值為“是”，表示第一測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試時(shí)，第一測試通道需要導(dǎo)通。而第一測試通道的測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)為“是”，表示于這一次的測試中，第一測試環(huán)境被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持，意即第一測試環(huán)境上的待測物未被選擇進(jìn)行微調(diào)(trim)程序。表2所示的實(shí)施例中，于這一次的測試?yán)?，第八測試環(huán)境上的待測物被選擇進(jìn)行微調(diào)程序。于這一次的測試中，第一測試環(huán)境至第七測試環(huán)境被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持，第二邏輯運(yùn)算模塊則依據(jù)第一測試通道在第一測試環(huán)境至第七測試環(huán)境下的導(dǎo)通狀態(tài)值，進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，計(jì)算出第二控制信號(hào)為“是”。接著，第二邏輯運(yùn)算模塊17依據(jù)第一控制信號(hào)為“是”及第二控制信號(hào)為“是”，選擇性地導(dǎo)通測試通道，亦即控制測試通道上的開關(guān)選擇性地導(dǎo)通。于一個(gè)實(shí)施例中，第二邏輯運(yùn)算模塊可以對(duì)第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，并依據(jù)第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)的運(yùn)算，選擇性地導(dǎo)通第一測試通道。換言之，于前述的實(shí)施例中，第二邏輯運(yùn)算模塊17依據(jù)第一控制信號(hào)為“是”和第二控制信號(hào)為“是”，邏輯或(logicor)計(jì)算出“是”，故產(chǎn)生第一測試通道控制信號(hào)，以控制第一測試通道上的開關(guān)導(dǎo)通。于另一個(gè)實(shí)施例中，第二邏輯運(yùn)算模塊17將第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)輸出至自動(dòng)測試設(shè)備20，自動(dòng)測試設(shè)備20依據(jù)第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)選擇性地維持第一測試通道輸出的信號(hào)。具體而言，當(dāng)?shù)谝粶y試通道上的開關(guān)導(dǎo)通時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20更依據(jù)第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)決定從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)。更詳細(xì)來說，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“否”且第二控制信號(hào)為“否”時(shí)，第一測試通道不導(dǎo)通，自動(dòng)測試設(shè)備20不從第一測試通道輸出測試信號(hào)至待測裝置30。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“是”、第二控制信號(hào)為“是”時(shí)，第一測試通道導(dǎo)通，且自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)跟著自動(dòng)測試設(shè)備20中暫存器的設(shè)定而輸出(dependonregister)，抑或是自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)為可被控制(controllable)。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“是”、第二控制信號(hào)為“否”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)同樣地跟著自動(dòng)測試設(shè)備20中暫存器的設(shè)定而輸出，抑或是自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)為可被控制。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“否”、第二控制信號(hào)為“是”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)為保持狀態(tài)(keep)，亦即原本從第一測試通道輸出高電壓位準(zhǔn)的信號(hào)，就保持原高電壓位準(zhǔn)繼續(xù)輸出。于一個(gè)實(shí)施例中，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出的信號(hào)可以依據(jù)第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)的改變而改變，舉例來說，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“是”且第二控制信號(hào)為“是”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)跟著暫存器的設(shè)定輸出，當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)改變?yōu)椤胺瘛倍诙刂菩盘?hào)為“是”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出至待測裝置30的測試信號(hào)為保持狀態(tài)(keep)，而不會(huì)再跟著暫存器的設(shè)定改變。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘?hào)為“否”且第二控制信號(hào)改變?yōu)椤胺瘛睍r(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20會(huì)停止從第一測試通道輸出測試信號(hào)至待測裝置30。換言之，如圖3所示，圖3是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪示的第一測試通道的時(shí)序圖，當(dāng)?shù)谝粶y試環(huán)境及第二測試環(huán)境共享第一測試通道的資源時(shí)，若第二測試環(huán)境中的待測物需要被微調(diào)時(shí)，第一測試通道在第一時(shí)間點(diǎn)t1到第二時(shí)間點(diǎn)t2之間會(huì)持續(xù)導(dǎo)通。原本應(yīng)該在第一時(shí)間點(diǎn)t1結(jié)束測試的第一測試環(huán)境則保留狀態(tài)到第二時(shí)間點(diǎn)t2。于一個(gè)實(shí)施例中，第二測試環(huán)境中的待測物可以由其他分享資源給第二測試環(huán)境的測試通道來進(jìn)行微調(diào)。于其他實(shí)施例中，第一時(shí)間點(diǎn)t1到第二時(shí)間點(diǎn)t2中，亦可以指第一測試環(huán)境結(jié)束測試，而第二測試環(huán)境中的待測物仍繼續(xù)進(jìn)行測試的時(shí)段，本實(shí)施例不予限制。請(qǐng)參照?qǐng)D4，圖4為根據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例所繪示的第一邏輯運(yùn)算模塊及第二邏輯運(yùn)算模塊中的電路示意圖，如圖4所示，第二邏輯運(yùn)算模塊17具有多個(gè)第一邏輯單元171、一個(gè)第二邏輯單元172及多個(gè)第五邏輯單元173。第一邏輯運(yùn)算模塊15具有控制單元151、多個(gè)第三邏輯單元152以及一個(gè)第四邏輯單元153，其中控制單元151電性連接至自動(dòng)測試設(shè)備20與記憶模塊13。多個(gè)第一邏輯單元171和多個(gè)第三邏輯單元152電性連接至記憶模塊13。第二邏輯單元172電性連接至第一邏輯單元171與第五邏輯單元173。第四邏輯單元153電性連接至第三邏輯單元152與第五邏輯單元173。第五邏輯單元173電性連接至通道模塊11。于一個(gè)實(shí)施例中，第一邏輯運(yùn)算模塊15更具有緩沖器154電性連接第四邏輯單元153和第五邏輯單元173，第二邏輯運(yùn)算模塊17更具有緩沖器174電性連接第二邏輯單元172和第五邏輯單元173，為了方便說明，將緩沖器154和緩沖器174一并繪示于圖式中，但并非用以限制緩沖器154和緩沖器174的設(shè)置與否?？刂茊卧?51用以從記憶模塊13的多個(gè)記憶區(qū)塊中讀取一個(gè)記憶區(qū)塊中對(duì)應(yīng)于一個(gè)測試通道與多個(gè)測試環(huán)境的多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值。實(shí)作上，控制單元151可以包含一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)與一個(gè)多工器。有限狀態(tài)機(jī)電性連接至自動(dòng)測試設(shè)備20，而多工器電性連接至有限狀態(tài)機(jī)與記憶模塊13。有限狀態(tài)機(jī)可用以依據(jù)自動(dòng)測試設(shè)備20所送來的指令選擇性地將對(duì)應(yīng)于每一個(gè)測試通道的多筆通道狀態(tài)數(shù)據(jù)寫入記憶模塊13的記憶區(qū)塊中或依序地讀出記憶模塊13中所儲(chǔ)存的通道狀態(tài)數(shù)據(jù)。而多工器受到有限狀態(tài)機(jī)的控制，將通道狀態(tài)數(shù)據(jù)寫入記憶模塊133或是從記憶模塊133中讀取特定位址范圍中儲(chǔ)存的通道狀態(tài)數(shù)據(jù)。當(dāng)自動(dòng)測試設(shè)備20并未指示進(jìn)行自動(dòng)測試時(shí)，有限狀態(tài)機(jī)可以接收來自于自動(dòng)測試設(shè)備20的通道狀態(tài)數(shù)據(jù)，并控制多工器與記憶模塊13，以將所接收到的通道狀態(tài)數(shù)據(jù)寫入記憶模塊13。反之，當(dāng)自動(dòng)測試設(shè)備20準(zhǔn)備開始進(jìn)行自動(dòng)測試時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備會(huì)發(fā)出一個(gè)啟動(dòng)信號(hào)，有限狀態(tài)機(jī)接收到這個(gè)啟動(dòng)信號(hào)后會(huì)依據(jù)啟動(dòng)信號(hào)的指示，開始從記憶模塊13中的第一個(gè)記憶區(qū)塊讀取。為了加強(qiáng)說明具體的實(shí)施例，并避免與前述實(shí)施例混淆，以下茲以第三個(gè)記憶區(qū)塊為例，但并非用以限制啟動(dòng)信號(hào)指定開始讀取的記憶區(qū)塊順序。以第三測試通道來說，控制單元151從第三記憶區(qū)塊中讀取第三測試通道對(duì)應(yīng)多個(gè)測試環(huán)境的導(dǎo)通狀態(tài)值。第三邏輯單元152依據(jù)導(dǎo)通狀態(tài)值與測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)中的選擇狀態(tài)值，產(chǎn)生測試環(huán)境致能信號(hào)。第三邏輯單元152例如為一個(gè)與門(andgate)，依據(jù)導(dǎo)通狀態(tài)值與選擇狀態(tài)值的邏輯及(logicand)運(yùn)算，得而產(chǎn)生表3。測試環(huán)境1st2nd3rd4th5th6th7th8th導(dǎo)通狀態(tài)值否是否是否是否是測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)是否是否是否否否測試環(huán)境致能信號(hào)否否否否否否否否表3接下來，第四邏輯單元153例如為一個(gè)或門(orgate)，電性連接至第三邏輯單元152，用以對(duì)每一個(gè)第三邏輯單元152產(chǎn)生的測試環(huán)境致能信號(hào)進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，以產(chǎn)生第三測試通道的第一控制信號(hào)。如表3所示的實(shí)施例，第三測試通道的第一控制信號(hào)為“否”，且第三測試通道的第一控制信號(hào)暫存于緩沖器154中。同理地，第四邏輯單元153之后再依據(jù)第四記憶區(qū)塊的多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)中的選擇狀態(tài)值，產(chǎn)生第四測試通道的第一控制信號(hào)，并暫存于緩沖器154中，以此類推產(chǎn)生所有測試通道的第一控制信號(hào)，并將所有的控制信號(hào)暫存于緩沖器154中。同樣地，第一邏輯單元171依據(jù)控制單元151從第一記憶區(qū)塊中讀取到的導(dǎo)通狀態(tài)值與測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)中的一個(gè)狀態(tài)維持值，產(chǎn)生一個(gè)測試環(huán)境維持信號(hào)。第一邏輯單元171亦例如為一個(gè)與門(andgate)，依據(jù)導(dǎo)通狀態(tài)值與狀態(tài)維持值的邏輯及(logicand)運(yùn)算，得到測試環(huán)境維持信號(hào)的結(jié)果如表4。測試環(huán)境1st2nd3rd4th5th6th7th8th導(dǎo)通狀態(tài)值否是否是否是否是測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)否是否是是否否否測試環(huán)境維持信號(hào)否是否是否否否否表4接下來，第二邏輯單元172例如為一個(gè)或門(orgate)，電性連接至第一邏輯單元171，用以對(duì)每一個(gè)第一邏輯單元171產(chǎn)生的測試環(huán)境維持信號(hào)進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，以產(chǎn)生第三測試通道的第二控制信號(hào)。表4所示的實(shí)施例中，第三測試通道的第二控制信號(hào)為“是”，且第三測試通道的第二控制信號(hào)亦暫存于緩沖器174中。同理地，之后再依據(jù)第四記憶區(qū)塊的多個(gè)導(dǎo)通狀態(tài)值和測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)中的狀態(tài)維持值，產(chǎn)生第四測試通道的第二控制信號(hào)，以此類推來產(chǎn)生所有測試通道的第二控制信號(hào)，并將所有的控制信號(hào)暫存于緩沖器174中。多個(gè)第五邏輯單元173電性連接緩沖器154及緩沖器174，以分別接收每一個(gè)測試通道的第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)。第五邏輯單元173例如或門(orgate)，第一個(gè)或門(orgate)用以對(duì)第一測試通道的第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，以產(chǎn)生第一測試通道控制信號(hào)，并依據(jù)第一測試通道控制信號(hào)選擇性地導(dǎo)通第一測試通道。以前述第三測試通道的例子來說，第三測試通道的第一控制信號(hào)為“否”及第三測試通道的第二控制信號(hào)為“是”，進(jìn)行或(logicor)運(yùn)算后得到指示“是”的第一測試通道控制信號(hào)。第三測試通道上的開關(guān)則依據(jù)第一測試通道控制信號(hào)導(dǎo)通，并用以傳遞自動(dòng)測試設(shè)備20和待測裝置30之間的信號(hào)。于其他實(shí)施例中，自動(dòng)測試設(shè)備20接收第三測試通道的第一控制信號(hào)為“否”及第三測試通道的第二控制信號(hào)為“是”，依據(jù)第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)關(guān)系的真值表，判斷第三測試通道的狀態(tài)為“keep”，則自動(dòng)測試設(shè)備20控制從第三測試通道輸出的測試信號(hào)保持狀態(tài)，亦即測試狀態(tài)不改變。為了更清楚地說明自動(dòng)測試通道配置裝置10的控制方法，請(qǐng)一并參照?qǐng)D2與圖5，圖5為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的自動(dòng)測試通道配置裝置的控制方法的步驟流程圖。如圖所示，于步驟s401中，設(shè)定關(guān)系表。關(guān)系表用以記錄多個(gè)測試通道中每一個(gè)測試通道對(duì)應(yīng)多個(gè)測試環(huán)境的操作關(guān)聯(lián)性。例如下表5所示。表5接著于步驟s403中，自測試環(huán)境中，選擇部分的測試環(huán)境來進(jìn)行測試。例如選擇第二、第三、第五、第六及第八測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試，如下表6的測試環(huán)境選擇數(shù)據(jù)。表6接著，于步驟s405中，依據(jù)關(guān)系表中，判斷被選擇進(jìn)行測試的測試環(huán)境的通道狀態(tài)。于步驟s407中，依據(jù)被選擇進(jìn)行測試的每一個(gè)測試環(huán)境的通道狀態(tài)，計(jì)算每一個(gè)測試通道的第一控制信號(hào)。前述表6所示的實(shí)施例中，對(duì)第一測試通道于第二、第三、第五、第六及第八測試環(huán)境的導(dǎo)通狀態(tài)值進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，得到第一測試通道的第一控制信號(hào)指示為“是”。對(duì)第二測試通道于第二、第三、第五、第六及第八測試環(huán)境的導(dǎo)通狀態(tài)值進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，得到第二測試通道的第一控制信號(hào)指示為“否”。于步驟s409中，自測試環(huán)境中，選擇部分的測試環(huán)境來進(jìn)行狀態(tài)維持。例如第一至第三測試環(huán)境和第五至第八測試環(huán)境被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持，如下表7的測試環(huán)境維持?jǐn)?shù)據(jù)。表7于步驟s411中，依據(jù)關(guān)系表中，判斷被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持的測試環(huán)境的通道狀態(tài)。于步驟s413中，依據(jù)被選擇狀態(tài)維持的測試環(huán)境的通道狀態(tài)，計(jì)算每一個(gè)測試通道的第二控制信號(hào)。前述表7所示的實(shí)施例中，對(duì)第一測試通道于第一至第三測試環(huán)境和第五至第八測試環(huán)境的導(dǎo)通狀態(tài)值進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，得到第一測試通道的第二控制信號(hào)指示為“是”。對(duì)第二測試通道于第一至第三測試環(huán)境和第五至第八測試環(huán)境的導(dǎo)通狀態(tài)值進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，得到第二測試通道的第二控制信號(hào)指示為“否”。于步驟s411中，依據(jù)第一控制信號(hào)及第二控制信號(hào)，判斷第一測試通道是否要導(dǎo)通。換言之，對(duì)第一測試通道的第一控制信號(hào)為“是”和第二控制信號(hào)為“是”進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，產(chǎn)生指示為“是”的第一測試通道控制信號(hào)，第一測試通道控制信號(hào)則導(dǎo)通第一測試通道上的開關(guān)，使自動(dòng)測試設(shè)備20透過第一測試通道輸出信號(hào)至待測裝置30。對(duì)第一測試通道的第一控制信號(hào)為“是”和第二控制信號(hào)為“否”進(jìn)行邏輯或(logicor)運(yùn)算，產(chǎn)生指示為“是”的第二測試通道控制信號(hào)，第二測試通道控制信號(hào)亦導(dǎo)通第二測試通道上的開關(guān)，使自動(dòng)測試設(shè)備20亦透過第二測試通道輸出信號(hào)至待測裝置30。于其他實(shí)施例中，自動(dòng)測試設(shè)備20更透過第一控制信號(hào)和第二控制信號(hào)選擇性地維持自測試通道輸出的信號(hào)。以前述的實(shí)施例來說，當(dāng)?shù)谝粶y試通道的第一控制信號(hào)為“是”和第二控制信號(hào)為“是”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出的信號(hào)跟著設(shè)定而改變。當(dāng)?shù)诙y試通道的第一控制信號(hào)為“否”和第二控制信號(hào)為“否”時(shí)，自動(dòng)測試設(shè)備20從第一測試通道輸出的信號(hào)跟著設(shè)定而改變。本發(fā)明所述的自動(dòng)測試通道配置裝置10的控制方法實(shí)際上均已經(jīng)公開在前述記載的實(shí)施例中，本實(shí)施例在此不重復(fù)說明。綜合以上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供一種自動(dòng)測試通道配置裝置及其控制方法，可以依據(jù)每個(gè)測試環(huán)境被選擇進(jìn)行測試的狀態(tài)和被選擇進(jìn)行狀態(tài)維持的狀態(tài)，來決定在一個(gè)測試程序中前述多個(gè)測試通道中的每個(gè)通道是否該被導(dǎo)通，進(jìn)而使得自動(dòng)測試設(shè)備可以對(duì)部分或全部集成電路的進(jìn)行微調(diào)參數(shù)的程序。當(dāng)前第1頁12