本發(fā)明涉及軸類零件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置及方法。

背景技術(shù)：

目前，隨著機(jī)械加工精度以及效率的不斷提高，對(duì)測(cè)量裝置的要求也越來(lái)越高。測(cè)量裝置的測(cè)量精度以及測(cè)量效率嚴(yán)重影響著整個(gè)工業(yè)的發(fā)展?，F(xiàn)有使用光透過(guò)式傳感器進(jìn)行軸徑測(cè)量的方法一般只使用一套傳感器并且只測(cè)量一個(gè)位置，測(cè)量范圍小，且對(duì)傳感器裝配誤差無(wú)法修正，同時(shí)也無(wú)法測(cè)量軸徑軸長(zhǎng)等尺寸，也就不能準(zhǔn)確的判斷該軸類零件是否符合設(shè)計(jì)要求，導(dǎo)致后期不能裝配。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置及方法，本發(fā)明能夠修正傳感器的裝配誤差，可以測(cè)量被測(cè)軸各段位置軸徑和軸長(zhǎng)數(shù)據(jù)并標(biāo)出被測(cè)軸上各個(gè)不符合規(guī)定的點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量精確且測(cè)量范圍廣的目的。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置，包括：

被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)，所述被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)包括支撐平臺(tái)，設(shè)于所述支撐平臺(tái)一端上表面的回轉(zhuǎn)平臺(tái)，設(shè)于所述支撐平臺(tái)上表面的自由滑軌，設(shè)于所述自由滑軌且沿所述自由滑軌移動(dòng)的尾座，以及設(shè)于所述支撐平臺(tái)上表面的導(dǎo)軌，所述回轉(zhuǎn)平臺(tái)設(shè)有第一撥動(dòng)頂尖，所述尾座設(shè)有第二撥動(dòng)頂尖，所述第一撥動(dòng)頂尖與所述第二撥動(dòng)頂尖用于固定被測(cè)軸；

光透過(guò)式傳感器組，所述光透過(guò)式傳感器組包括安裝架，設(shè)于安裝架上部的上部傳感器以及設(shè)于所述安裝架下部的下部傳感器，所述安裝架底部通過(guò)滑塊與所述導(dǎo)軌移動(dòng)連接；

光柵尺，所述光柵尺與所述導(dǎo)軌平行固定于所述支撐平臺(tái)上，所述光柵尺表頭設(shè)于所述滑塊上。

可選的，所述安裝架為門(mén)型，所述上部傳感器包括上部發(fā)射器和上部接收器，所述上部發(fā)射器和上部接收器分別設(shè)于所述安裝架的門(mén)型兩內(nèi)頂角處，所述下部傳感器包括下部發(fā)射器和上部發(fā)射器，所述下部發(fā)射器和下部接收器分別設(shè)于所述門(mén)型兩邊框的底部，所述上發(fā)射器和所述下發(fā)射器位于同一側(cè)。

可選的，所述上部傳感器和所述下部傳感器為光幕傳感器。

可選的，所述導(dǎo)軌包括相互平行設(shè)置的軌道和絲杠，所述軌道兩端分別設(shè)有第一限位開(kāi)關(guān)和第二限位開(kāi)關(guān)，所述絲杠一端連接有第一電機(jī)，所述滑塊設(shè)于所述絲杠與所述軌道之間。

可選的，所述回轉(zhuǎn)平臺(tái)連接有第二電機(jī)。

本發(fā)明還提供了一種利用上述的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置進(jìn)行檢測(cè)的方法，包括：

設(shè)定被測(cè)軸的制造公差Pe，被測(cè)軸各段的設(shè)計(jì)軸徑Di和設(shè)計(jì)軸長(zhǎng)Li，其中i表示所述被測(cè)軸的段數(shù)；

獲取標(biāo)定參數(shù)A；

控制第一電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)；

獲取光柵尺的表頭檢測(cè)的位置坐標(biāo)P3，構(gòu)建位置坐標(biāo)數(shù)組P3[n]；

同時(shí)獲取光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的與所述位置坐標(biāo)P3對(duì)應(yīng)的上光幕長(zhǎng)度P1和下光幕長(zhǎng)度P2，分別構(gòu)建上光幕長(zhǎng)度數(shù)組P1[n]和下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]，其中n為元素的個(gè)數(shù)；

根據(jù)標(biāo)定參數(shù)A，計(jì)算所述上光幕長(zhǎng)度數(shù)組的上部數(shù)組P12[n]，所述上部數(shù)組P12[n]中的每個(gè)元素P12＝A-P1；

分別對(duì)所述上部數(shù)組P12[n]和所述下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]進(jìn)行有限差分，分別的得到上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]和下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]；

分別獲取所述上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]和所述下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]中大于制造公差Pe的元素P’1_j和P’2_j，以及與所述元素P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的位置坐標(biāo)P3_j，其中P’1_j表示所述上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]中第j個(gè)數(shù)值，P’2_j表示所述下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]中第j個(gè)數(shù)值；

判斷P’1_j-P’1_j-1或P’1_j-P’1_j+1是否大于1mm，且判斷P’2_j-P’2_j-1或P’2_j-P’2_j+1是否大于1mm，如果是，確定P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的位置坐標(biāo)P3_j為分段點(diǎn)；

判斷P’1_j-P’1_j-1或P’1_j-P’1_j+1是否小于1mm，且判斷P’2_j-P’2_j-1或P’2_j-P’2_j+1是否小于1mm，如果是，確定P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的的位置坐標(biāo)P3_j為缺陷點(diǎn)，記錄缺陷點(diǎn)；

根據(jù)所述分段點(diǎn)分別對(duì)所述上部數(shù)組P12[n]和所述下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]進(jìn)行分段，獲得多段位置坐標(biāo)子數(shù)組，以及與每一段位置坐標(biāo)子數(shù)組對(duì)應(yīng)的上部子數(shù)組和下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組；

對(duì)每一段所述位置坐標(biāo)子數(shù)組對(duì)應(yīng)的所述上部子數(shù)組和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組分別作直線擬合，分別獲得上部子數(shù)組直線l1和下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2；

計(jì)算所述上部子數(shù)組直線l1和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2之間的距離d；計(jì)算所述上部子數(shù)組直線l1和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2的平均長(zhǎng)度l；

判斷距離d與被測(cè)軸上對(duì)應(yīng)的軸段的設(shè)計(jì)軸徑Di的差值是否小于軸徑誤差閾值，如果是則確定被測(cè)軸的該軸段的軸徑合格，否則不合格；判斷平均長(zhǎng)度l與被測(cè)軸上對(duì)應(yīng)軸段的設(shè)計(jì)軸長(zhǎng)Li的差值是否小于軸長(zhǎng)誤差閾值，如果是則確定被測(cè)軸的該軸段的軸長(zhǎng)合格，否則不合格。

可選的，所述獲取標(biāo)定參數(shù)A，具體包括：

獲取光柵尺的表頭檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)軸的位置坐標(biāo)P*3，構(gòu)建位置坐標(biāo)數(shù)組P*3[n]；

同時(shí)獲取光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)軸的與所述位置坐標(biāo)P*3對(duì)應(yīng)的上光幕長(zhǎng)度P*1和下光幕長(zhǎng)度P*2；

分別對(duì)所述上光幕長(zhǎng)度P*1和所述下光幕長(zhǎng)度P*2進(jìn)行直線擬合，得到與所述上光幕長(zhǎng)度P1對(duì)應(yīng)的直線J₁x+K₁y+L₁＝0和所述下光幕長(zhǎng)度P2對(duì)應(yīng)的直線J₂x+K₂y+L₂＝0；

根據(jù)直線J₁x+K₁y+L₁＝0和J₂x+K₂y+L₂＝0標(biāo)定參數(shù)A：

其中x為直線上點(diǎn)的橫坐標(biāo)值，y為直線上點(diǎn)的縱坐標(biāo)值，J₁、K₁、L₁分別為上光幕測(cè)量直線的直線參數(shù)，J₂、K2、L2分別為下光幕測(cè)量直線的直線參數(shù)，R為標(biāo)準(zhǔn)軸的軸徑，J＝(J₁+J₂)/2，K＝(K₁-K₂)/2。

可選的，所述位置坐標(biāo)數(shù)組P3[n]、上光幕長(zhǎng)度數(shù)組P1[n]、下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]和上部數(shù)組P12[n]的為長(zhǎng)度相同的一位數(shù)組。

根據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施例，本發(fā)明公開(kāi)了以下技術(shù)效果：本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件測(cè)量裝置通過(guò)設(shè)置光透過(guò)式傳感器組實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)軸的包圍式檢測(cè)，在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，上部傳感器和下部傳感器沿著導(dǎo)軌直線移動(dòng)，并實(shí)時(shí)將對(duì)被測(cè)軸的檢測(cè)信號(hào)記錄下來(lái)，同時(shí)也通過(guò)光柵尺記錄光透過(guò)式傳感器組的位置。并利用本發(fā)明的檢測(cè)方法對(duì)光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)和光柵尺檢測(cè)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析并得到檢測(cè)結(jié)果。在該檢測(cè)方法的數(shù)據(jù)處理過(guò)程中采用有限差分對(duì)光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，能夠得到被測(cè)軸的分段點(diǎn)和缺陷點(diǎn)。再使用直線擬合方法處理光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)，對(duì)光透過(guò)式傳感器組測(cè)量得到的被測(cè)軸上下邊緣點(diǎn)進(jìn)行直線擬合，進(jìn)而計(jì)算兩條擬合直線之間的距離，從而避免了直接將對(duì)上下部傳感器檢測(cè)的參數(shù)相減，或是只檢測(cè)固定兩點(diǎn)間的距離所導(dǎo)致的測(cè)量值和計(jì)算值片面、準(zhǔn)確度低的問(wèn)題，進(jìn)而消除了上下部傳感器安裝位置與導(dǎo)軌軌不垂直而產(chǎn)生的安裝誤差，提高了測(cè)量精度。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的立體圖；

圖2為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的主視圖；

圖3為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的光透過(guò)式傳感器組的測(cè)量狀態(tài)示意圖；

圖4為本發(fā)明中位置坐標(biāo)P3的波形圖；

圖5為本發(fā)明中圖4中位置坐標(biāo)P3對(duì)應(yīng)的上光幕長(zhǎng)度P1的波形圖；

圖6為本發(fā)明中圖4中位置坐標(biāo)P3對(duì)應(yīng)的下光幕長(zhǎng)度P2的波形圖；

圖7為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。

首先需要說(shuō)明的是：本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置可以適用于多種軸類零件的檢測(cè)，其中包括大尺寸的軸類零件和小尺寸的軸類零件，以及包含多段不同軸徑、軸長(zhǎng)的軸類零件等。

如圖1-3所示，圖1為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的立體圖；圖2為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的主視圖；圖3為本發(fā)明提供的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置的光透過(guò)式傳感器組的測(cè)量狀態(tài)示意圖。本發(fā)明的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置，包括：

被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)1，所述被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)1包括支撐平臺(tái)11，設(shè)于所述支撐平臺(tái)11一端上表面的回轉(zhuǎn)平臺(tái)12，設(shè)于所述支撐平臺(tái)11上表面的自由滑軌13，設(shè)于所述自由滑軌13且沿所述自由滑軌13移動(dòng)的尾座14，以及設(shè)于所述支撐平臺(tái)11上表面的導(dǎo)軌15，所述回轉(zhuǎn)平臺(tái)12設(shè)有第一撥動(dòng)頂尖121，所述尾座14設(shè)有第二撥動(dòng)頂尖141，所述第一撥動(dòng)頂尖121與所述第二撥動(dòng)頂尖141用于固定被測(cè)軸4；可選的，在支撐平臺(tái)11下還設(shè)有若干機(jī)床墊鐵16，以保證支撐平臺(tái)的平穩(wěn)支撐。

光透過(guò)式傳感器組2，所述光透過(guò)式傳感器組2包括安裝架21，設(shè)于安裝架21上部的上部傳感器22以及設(shè)于所述安裝架21下部的下部傳感器23，所述安裝架21底部通過(guò)滑塊151與所述導(dǎo)軌15移動(dòng)連接；

光柵尺3，所述光柵尺3與所述導(dǎo)軌15平行固定于所述支撐平臺(tái)11上，所述光柵尺表頭(圖1中未示出)設(shè)于所述滑塊上151。

在本實(shí)施例中，被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)中尾座是移動(dòng)設(shè)于自由滑軌上的，使回轉(zhuǎn)平臺(tái)與尾座之間的距離可調(diào)，實(shí)現(xiàn)了不同軸長(zhǎng)的軸類零件的檢測(cè)。由于回轉(zhuǎn)平臺(tái)是能夠旋轉(zhuǎn)的，因此也可以是被測(cè)軸旋轉(zhuǎn)，從而能夠?qū)崿F(xiàn)在該被測(cè)軸支撐機(jī)構(gòu)上實(shí)現(xiàn)被測(cè)軸軸面缺陷的檢測(cè)。本檢測(cè)裝置采用了光透過(guò)式傳感器組對(duì)軸類零件進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)光幕的形式檢測(cè)被測(cè)軸的軸徑以及表面，能夠更準(zhǔn)確的檢測(cè)軸類零件的軸徑和表面是否有缺陷。本檢測(cè)裝置還設(shè)置了光柵尺，通過(guò)光柵尺檢測(cè)光透過(guò)式傳感器組的移動(dòng)位置，從而能夠根據(jù)該位置坐標(biāo)確定與之對(duì)應(yīng)的光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)，更能準(zhǔn)確的獲知分段點(diǎn)以及缺陷點(diǎn)。

作為一種可選的實(shí)施方式，所述安裝架21為門(mén)型，所述上部傳感器22包括上部發(fā)射器221和上部接收器222，所述上部發(fā)射器221和上部接收器222分別設(shè)于所述安裝架21的門(mén)型兩內(nèi)頂角處，所述下部傳感器23包括下部發(fā)射器231和下部接收器232，所述下部發(fā)射器231和下部接收器232分別設(shè)于所述安裝架21的門(mén)型兩邊框的底部，所述上發(fā)射器221和所述下發(fā)射器231位于同一側(cè)，上部接收器222和下部接收器232位于同一側(cè)。所述上部傳感器22和所述下部傳感器23為光幕傳感器。

本實(shí)施例中上部發(fā)射器、上部接收器、下部發(fā)射器和下部接收器將被測(cè)軸包圍，通過(guò)上部發(fā)射器和下部發(fā)射器分別發(fā)射上部光幕和下部光幕，其中一部分光幕被被測(cè)軸遮擋不能照射到上部接收器和下部接收器上，從而通過(guò)檢測(cè)上部接收器和下部接收器接收的光幕的長(zhǎng)度值來(lái)獲取被測(cè)軸的軸徑，以及被測(cè)軸的分段點(diǎn)和缺陷點(diǎn)。

作為一種可選的實(shí)施方式，所述導(dǎo)軌15包括相互平行設(shè)置的軌道152和絲杠153，所述軌道152兩端分別設(shè)有第一限位開(kāi)關(guān)154和第二限位開(kāi)關(guān)155，所述絲杠153一端連接有第一電機(jī)156，所述滑塊151設(shè)于所述絲杠153與所述軌道152之間。通過(guò)第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)從而實(shí)現(xiàn)絲杠帶動(dòng)滑塊在軌道上平穩(wěn)地直線移動(dòng)，限定了滑塊的移動(dòng)軌跡，并且能夠很好的控制滑塊的移動(dòng)速度，也就能保證光透過(guò)式傳感器組移動(dòng)的平穩(wěn)性，減小了光幕的波動(dòng)，使得測(cè)得的光幕長(zhǎng)度更準(zhǔn)確。在上述實(shí)施方式中，回轉(zhuǎn)平臺(tái)12連接有第二電機(jī)122，通過(guò)第二電機(jī)控制回轉(zhuǎn)平臺(tái)的轉(zhuǎn)動(dòng)與否和轉(zhuǎn)動(dòng)速度，而且第一電機(jī)和第二電機(jī)都為伺服電機(jī)，其伺服電機(jī)控制器為WNMPC08-300BB步進(jìn)閉環(huán)控制器。

本發(fā)明還提供了一種利用上述的大尺寸軸類零件檢測(cè)裝置進(jìn)行檢測(cè)的方法，包括：

步驟701：設(shè)定被測(cè)軸的制造公差Pe，被測(cè)軸各段的設(shè)計(jì)軸徑Di和設(shè)計(jì)軸長(zhǎng)Li，其中i表示所述被測(cè)軸的段數(shù)；

步驟702：獲取標(biāo)定參數(shù)A；

步驟703：控制第一電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)；

步驟704：獲取光柵尺的表頭檢測(cè)的位置坐標(biāo)P3，構(gòu)建位置坐標(biāo)數(shù)組P3[n]；

步驟705：同時(shí)獲取光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的與所述位置坐標(biāo)P3對(duì)應(yīng)的上光幕長(zhǎng)度P1和下光幕長(zhǎng)度P2，分別構(gòu)建上光幕長(zhǎng)度數(shù)組P1[n]和下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]，其中n為元素的個(gè)數(shù)；

步驟706：根據(jù)標(biāo)定參數(shù)A，計(jì)算所述上光幕長(zhǎng)度數(shù)組的上部數(shù)組P12[n]，所述上部數(shù)組P12[n]中的每個(gè)元素P12＝A-P1；

步驟707：分別對(duì)所述上部數(shù)組P12[n]和所述下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]進(jìn)行有限差分，分別的得到上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]和下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]；

步驟708：分別獲取所述上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]和所述下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]中大于制造公差Pe的元素P’1_j和P’2_j，以及與所述元素P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的位置坐標(biāo)P3_j，其中P’1_j表示所述上部差分?jǐn)?shù)組P’1[n]中第j個(gè)數(shù)值，P’2_j表示所述下部差分?jǐn)?shù)組P’2[n]中第j個(gè)數(shù)值；

步驟709：判斷P’1_j-P’1_j-1或P’1_j-P’1_j+1是否大于1mm，且判斷P’2_j-P’2_j-1或P’2_j-P’2_j+1是否大于1mm，如果是，確定P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的位置坐標(biāo)P3_j為分段點(diǎn)；

步驟710：判斷P’1_j-P’1_j-1或P’1_j-P’1_j+1是否小于1mm，且判斷P’2_j-P’2_j-1或P’2_j-P’2_j+1是否小于1mm，如果是，確定P’1_j和P’2_j對(duì)應(yīng)的的位置坐標(biāo)P3_j為缺陷點(diǎn)，記錄缺陷點(diǎn)；

步驟711：根據(jù)所述分段點(diǎn)分別對(duì)所述上部數(shù)組P12[n]和所述下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]進(jìn)行分段，獲得多段位置坐標(biāo)子數(shù)組，以及與每一段位置坐標(biāo)子數(shù)組對(duì)應(yīng)的上部子數(shù)組和下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組；

步驟712：對(duì)每一段所述位置坐標(biāo)子數(shù)組對(duì)應(yīng)的所述上部子數(shù)組和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組分別作直線擬合，分別獲得上部子數(shù)組直線l1和下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2；

步驟713：計(jì)算所述上部子數(shù)組直線l1和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2之間的距離d；計(jì)算所述上部子數(shù)組直線l1和所述下光幕長(zhǎng)度子數(shù)組直線l2的平均長(zhǎng)度l；

步驟714：判斷距離d與被測(cè)軸上對(duì)應(yīng)的軸段的設(shè)計(jì)軸徑Di的差值是否小于軸徑誤差閾值，如果是則確定被測(cè)軸的該軸段的軸徑合格，否則不合格；判斷平均長(zhǎng)度l與被測(cè)軸上對(duì)應(yīng)軸段的設(shè)計(jì)軸長(zhǎng)Li的差值是否小于軸長(zhǎng)誤差閾值，如果是則確定被測(cè)軸的該軸段的軸長(zhǎng)合格，否則不合格。

在該檢測(cè)方法的數(shù)據(jù)處理過(guò)程中采用有限差分對(duì)光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，能夠得到被測(cè)軸的分段點(diǎn)和缺陷點(diǎn)。再使用直線擬合方法處理光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的數(shù)據(jù)，對(duì)光透過(guò)式傳感器組測(cè)量得到的被測(cè)軸上下邊緣點(diǎn)進(jìn)行直線擬合，進(jìn)而計(jì)算兩條擬合直線之間的距離，從而避免了直接將對(duì)上下部傳感器檢測(cè)的參數(shù)相減，或是只檢測(cè)固定兩點(diǎn)間的距離所導(dǎo)致的測(cè)量值和計(jì)算值片面、準(zhǔn)確度低的問(wèn)題，進(jìn)而消除了上下部傳感器安裝位置與導(dǎo)軌軌不垂直而產(chǎn)生的安裝誤差，提高了測(cè)量精度。

作為一種可選的實(shí)施方式，所述獲取標(biāo)定參數(shù)A的方法具體包括：

獲取光柵尺的表頭檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)軸的位置坐標(biāo)P*3，構(gòu)建位置坐標(biāo)數(shù)組P*3[n]；

同時(shí)獲取光透過(guò)式傳感器組檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)軸的與所述位置坐標(biāo)P*3對(duì)應(yīng)的上光幕長(zhǎng)度P*1和下光幕長(zhǎng)度P*2；

分別對(duì)所述上光幕長(zhǎng)度P*1和所述下光幕長(zhǎng)度P*2進(jìn)行直線擬合，得到與所述上光幕長(zhǎng)度P1對(duì)應(yīng)的直線J₁x+K₁y+L₁＝0和所述下光幕長(zhǎng)度P2對(duì)應(yīng)的直線J₂x+K₂y+L₂＝0；

根據(jù)直線J₁x+K₁y+L₁＝0和J₂x+K₂y+L₂＝0標(biāo)定參數(shù)A：

其中x為直線上點(diǎn)的橫坐標(biāo)值，y為直線上點(diǎn)的縱坐標(biāo)值，J₁、K₁、L₁分別為上光幕測(cè)量直線的直線參數(shù)，J₂、K2、L2分別為下光幕測(cè)量直線的直線參數(shù)，R為標(biāo)準(zhǔn)軸的軸徑，J＝(J₁+J₂)/2，K＝(K₁-K₂)/2。

標(biāo)定參數(shù)A的推導(dǎo)過(guò)程如下：

為了把兩個(gè)傳感器的測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)一到一個(gè)坐標(biāo)系下，將直線J₁x+K₁y+L₁＝0變換為J₁x+K₁(A-y)+L₁＝0。因?yàn)橹本€J₁x+K₁(A-y)+L₁＝0和J₂x+K₂y+L₂＝0并不完全平行，為了求取直線之間的距離，需要對(duì)這兩條直線做近似平行的變換。J₁x+K₁(A-y)+L₁＝0可以表達(dá)為J₁x-K₁y+L₁+K₁A＝0。為了使兩條調(diào)整后的新直線斜率相同，取J和K，滿足J＝(J₁+J₂)/2，K＝(K₁-K₂)/2，得到新的兩條直線Jx-Ky+L₁+K₁A＝0和Jx+Ky+L₂＝0。則兩條新直線之間的距離可由得出。用直徑為R的標(biāo)準(zhǔn)軸進(jìn)行標(biāo)定，則可得

作為一種可選的實(shí)施方式，所述位置坐標(biāo)數(shù)組P3[n]、上光幕長(zhǎng)度數(shù)組P1[n]、下光幕長(zhǎng)度數(shù)組P2[n]和上部數(shù)組P12[n]的為長(zhǎng)度相同的一位數(shù)組。這樣能夠保證一個(gè)位置坐標(biāo)能夠?qū)?yīng)上下兩個(gè)光幕的長(zhǎng)度，從而方便數(shù)據(jù)的獲取、查找與處理。

本說(shuō)明書(shū)中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。

本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處。綜上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。