技術領域

本發(fā)明涉及一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置，屬于電容器檢測裝置技術領域。

背景技術：

目前電容器在電力電子、通訊設施及軌道運輸等領域應用廣泛，隨著科技水平的發(fā)展，電容器憑借其良好的電力性能和高可靠性，成為推動上述行業(yè)領域更新?lián)Q代不可或缺的電子元件，其中薄膜電容器由于體積小、安全性高，極大的推動了電容器技術領域的發(fā)展?，F有技術中薄膜電容器的通用制法是將金屬薄膜與聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜從兩端重疊后，卷繞成圓筒狀的金屬化薄膜電極，然后放置到電容器外殼中，注入絕緣油和環(huán)氧樹脂，再經過組裝后得到薄膜電容器。其中，金屬化薄膜在蒸鍍過程中會出現鍍層厚薄不均、飛濺點、蛇紋、氧化層等缺陷，該類缺陷薄膜在卷繞成薄膜電極后容易出現損耗過大，產品質量難以控制，嚴重時甚至引發(fā)電容器爆炸。

技術實現要素：

為解決現有技術中存在的問題，本發(fā)明提供了一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置，具體技術方案如下：

一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置，包括透光板，所述透光板下方設置有發(fā)光裝置，所述透光板上鋪設有金屬化薄膜，所述發(fā)光裝置發(fā)出的光線依次穿過透光板照射到金屬化薄膜背面。

作為上述技術方案的改進，所述發(fā)光裝置外套有透光的感光盒，所述感光盒位于透光板下方。

作為上述技術方案的改進，所述感光盒底部設置有感光盒支架。

作為上述技術方案的改進，所述透光板一側邊緣設置有傾斜的反光板，所述反光板與透光板之間的夾角θ為銳角。

作為上述技術方案的改進，所述夾角θ的范圍為：40°≤θ≤70°。

作為上述技術方案的改進，所述金屬化薄膜的行程上位于透光板后的位置設置有裁切裝置，所述裁切裝置包括龍門架，所述龍門架上懸掛有驅動機構，所述驅動機構下方設置有刀架，所述刀架下方固定有刀頭。

作為上述技術方案的改進，所述透光板與裁切裝置之間還設有導向板，所述導向板底部設置有導向板支架。

作為上述技術方案的改進，所述導向板支架與龍門架底部設置有基座。

上述技術方案針對金屬化薄膜連續(xù)生產過程中，難以通過精確的電性能測試對薄膜進行檢測，因而設計了一種通過發(fā)光裝置背光顯示金屬化薄膜的視檢觀察裝置，從而提高缺陷的辨別幾率，方便檢驗人員實時觀察薄膜并作出相應的缺陷標記，并在后道工序中將有缺陷的薄膜剔除，提高金屬化薄膜質量的可靠性，具有有益的技術效果和顯著的實用價值。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置的結構示意圖；

圖2為本發(fā)明一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置的側面示意圖。

具體實施方式

如圖1、圖2所示，本發(fā)明提供了一種電容器用金屬化薄膜的鍍層觀察裝置，包括透光板20，所述透光板20下方設置有發(fā)光裝置31，所述透光板20上鋪設有金屬化薄膜10，所述發(fā)光裝置31發(fā)出的光線依次穿過透光板20照射到金屬化薄膜10背面。該技術方案針對金屬化薄膜連續(xù)生產過程中，難以通過精確的電性能測試對薄膜進行檢測，因而設計了一種通過發(fā)光裝置31背光顯示金屬化薄膜10的視檢觀察裝置，從而提高缺陷的辨別幾率，方便檢驗人員實時觀察薄膜并作出相應的缺陷標記，并在后道工序中將有缺陷的薄膜剔除，提高金屬化薄膜質量的可靠性。

進一步的，所述發(fā)光裝置31外套有透光的感光盒30，所述感光盒30位于透光板20下方，該感光盒30的作用是對發(fā)光裝置31進行保護，實際使用時，可以使用白光燈的發(fā)光裝置31，提高金屬化薄膜10背光反差。

其中，所述感光盒30底部設置有感光盒支架32，其作用主要是對感光盒30、透光板20和上方的金屬化薄膜10進行支撐。

透光板20一側邊緣設置有傾斜的反光板40，所述反光板40與透光板20之間的夾角θ為銳角，其中夾角θ的范圍優(yōu)選為：40°≤θ≤70°，該優(yōu)選方案中反光板40采用平面反光結構制成，其作用是對透光板20一側的金屬化薄膜10進行反射觀察，解決了由于金屬化薄膜10寬度較大而造成的不易觀察的問題，其結構可以采用常見的平面鏡結構。

在上述實施例中，所述金屬化薄膜10的行程上位于透光板20后的位置設置有裁切裝置，所述裁切裝置包括龍門架50，所述龍門架50上懸掛有驅動機構51，所述驅動機構51下方設置有刀架52，所述刀架52下方固定有刀頭53，該優(yōu)選方案通過增設裁切裝置，在視檢觀察裝置檢查出缺陷，并人工標記后，及時將有缺陷的薄膜裁切掉，避免缺陷薄膜流入后道分切卷繞環(huán)節(jié)，提高產品合格率。

更進一步的，所述透光板20與裁切裝置之間還設有導向板61，所述導向板61底部設置有導向板支架60，該優(yōu)選方案中導向板61的作用是在透光板20和裁切裝置之間形成過渡，方便裁切過程順利進行。

并且，所述導向板支架60與龍門架50底部設置有基座70，該基座70能夠提高導向板支架60與龍門架50的穩(wěn)定性。

以上對本發(fā)明的實施例進行了詳細說明，但所述內容僅為本發(fā)明的較佳實施例，不能被認為用于限定本發(fā)明的實施范圍，凡依本發(fā)明范圍所作的均等變化與改進等，均應仍歸屬于本發(fā)明涵蓋范圍之內。