1.一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測方法，檢測裝置包括主光源和副光源，所述主光源為環(huán)形漫射光源，待測零件通過工裝夾具夾持在所述主光源的正中心，所述主光源底部對稱設(shè)有兩個觀察口，相機(jī)通過其中一個所述觀察口拍攝待測零件的棒狀區(qū)域圖片，所述副光源通過另一所述觀察口對待測零件進(jìn)行補(bǔ)充照明，其特征在于，該檢測裝置的檢測步驟如下：
1)開啟主光源照明，采集得到待檢零件第一圖像；
2)保持第一光源開啟狀態(tài)并同時打開第二光源，采集得到待檢零件第二圖像；
3)對通過步驟1)采集得到的第一圖像進(jìn)行處理，分割提取出待檢零件的棒狀區(qū)域并確定檢測區(qū)域；
4)在通過步驟3)提取得到的棒狀區(qū)域中對于通過步驟2)采集獲得的第二圖像進(jìn)行圖像處理，分析檢測其表面質(zhì)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測方法，其特征在于，采集所述第一圖像時僅開啟所述主光源，采集所述第二圖像時同時開啟主光源和副光源。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟3)中，提取棒狀區(qū)域的方法：通過合適的圖像增強(qiáng)，增強(qiáng)之后通過閾值分割得到棒狀區(qū)域A，在合適位置通過做分割得到棒狀區(qū)域A的帶方向性外接矩形，并且沿著所述外接矩形的方向進(jìn)行一定的膨脹，將所述外接矩形截取底部位置獲得區(qū)域B，將區(qū)域A與區(qū)域B做并集獲得區(qū)域C，對區(qū)域C做合理的開運算即可最終獲得較為精確完整的棒狀區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟4)中，分析檢測零件表面質(zhì)量的步驟如下：
41)對采集得到的第一圖像進(jìn)行灰度變換，在灰度圖下做閾值分割可以檢測出明顯的黑色缺陷和白色缺陷；
42)對提取到的棒狀區(qū)域分別做最小外接矩形和最大內(nèi)接矩形，判斷最小外接矩形和最大內(nèi)接矩形的寬度的差值是否過大，如果超過閾值則認(rèn)為是棒狀區(qū)域的異物粘連缺陷；
43)對提取到的棒狀區(qū)域做膨脹運算并減去原棒狀區(qū)域獲得棒狀邊緣區(qū)域，對棒狀邊緣區(qū)域在灰度圖像上做閾值分割判斷是否有白色異物缺陷；
44)對提取到的棒狀區(qū)域，將第二圖像轉(zhuǎn)到HSV空間中，并對S通道下的棒狀區(qū)域部分進(jìn)行閾值分割，判斷閾值分割后的區(qū)域的高度與大小，超過設(shè)定閾值即可認(rèn)為是棒狀區(qū)域破損缺陷；
45)通過對標(biāo)準(zhǔn)品即棒狀區(qū)域經(jīng)過精確測量的良品進(jìn)行圖像采集，獲得各個棒狀區(qū)域位置的像素對應(yīng)長度的比例，然后對待測零件采用該比例計算對應(yīng)的長度，如果長度不在設(shè)定的閾值范圍內(nèi)則視為棒狀區(qū)域長度缺陷。