本發(fā)明涉及霍爾鉗形表的檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及一種霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法及實(shí)施該霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)裝置。

背景技術(shù)：

對(duì)于目前的霍爾鉗形表，現(xiàn)有的技術(shù)主要采用機(jī)械電位器來實(shí)現(xiàn)零點(diǎn)、平衡、及精度的調(diào)整校準(zhǔn)。也有部分采用單片機(jī)作部分精度校準(zhǔn)，但都未能全自動(dòng)校準(zhǔn)，特別是平衡度的調(diào)整仍然依賴機(jī)械電位器和人工調(diào)整。更未能在批量生產(chǎn)過程中實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)校準(zhǔn)。

采用機(jī)械電位器的人工校準(zhǔn)有以下明顯的缺點(diǎn)：1、電位器本身會(huì)存在不穩(wěn)定性。2、人工調(diào)校，不能定量校準(zhǔn)存在人為的誤差。3、不能自動(dòng)化，生產(chǎn)成本高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于，針對(duì)上述問題，提供一種霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法。

本發(fā)明的目的還在于，提供一種實(shí)施前述霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)裝置。

本發(fā)明為實(shí)現(xiàn)上述目的所采用的技術(shù)方案為：

一種霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法，其包括以下步驟：

(1)、設(shè)置PC上位機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)源、校準(zhǔn)夾具和機(jī)械手，該標(biāo)準(zhǔn)源與校準(zhǔn)夾具電連接，該校準(zhǔn)夾具、機(jī)械手與PC上位機(jī)電連接；

(2)、PC上位機(jī)輸出命令，控制機(jī)械手抓取被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置到校準(zhǔn)測(cè)試架上，校準(zhǔn)夾具的被測(cè)電線穿過該被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯，機(jī)械手將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表轉(zhuǎn)盤開關(guān)打到相應(yīng)的檔位上，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表進(jìn)入校準(zhǔn)模式；

(3)、被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的右側(cè)位置，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH1通道的電壓量V3并記錄下來；被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的左側(cè)位置，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH2通道的電壓量V4并記錄下來；

(4)、測(cè)量芯片/MCU作運(yùn)算V3÷V4，將CH2OP2的放大倍數(shù)β2的默認(rèn)值用β2*V3/V4代替并記錄到EEPROM上，OP2的放大倍數(shù)將被設(shè)置為該值，從而完成平衡調(diào)較。

零點(diǎn)校準(zhǔn)，當(dāng)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯無感應(yīng)輸入時(shí)，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出此時(shí)的讀數(shù)并記錄到EEPROM上，后繼將作運(yùn)算減去此數(shù)值再在被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的LCD上顯示出來。

鉗頭感應(yīng)輸入電流A的精度校準(zhǔn)過程與表筆輸入的精度校準(zhǔn)過程一致，只是表筆輸入改為鉗頭感應(yīng)輸入并且電流感應(yīng)位置移至鉗頭鐵芯的中間位置。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯左端、右端分別設(shè)有霍爾元件B、霍爾元件A，所述步驟(3)中，每個(gè)霍爾元件感應(yīng)到信號(hào)后單獨(dú)放大，至少一個(gè)霍爾元件處使用程控放大器，該被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的控制系統(tǒng)調(diào)整放大器的放大倍數(shù)以達(dá)到該兩處霍爾元件的信號(hào)平衡，該兩路信號(hào)再作相減處理。

當(dāng)該霍爾元件A、霍爾元件B感應(yīng)的是外電磁場(chǎng)時(shí)，由于磁力線是同向的，所以兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓是同極性的，設(shè)霍爾元件A的感應(yīng)電壓是V1，霍爾元件B的感應(yīng)電壓是V2，放大后的電壓分別對(duì)應(yīng)V3和V4，調(diào)整平衡后|V3|＝|V4|，這兩個(gè)信號(hào)再經(jīng)下一級(jí)相減處理，所以鉗頭輸出Vout＝V3-V4＝0，抵消了外電磁場(chǎng)。

鉗頭卡鉗電流測(cè)量時(shí)，電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)是環(huán)繞的，所以磁力線穿過兩霍爾元件時(shí)是一正一反的，即設(shè)霍爾元件A感應(yīng)的電壓為V1，則霍爾元件B感應(yīng)電壓為-V2，V3＝β1*V1，V4＝-β2*V2，Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，調(diào)整平衡后對(duì)于同一磁場(chǎng)強(qiáng)度的磁場(chǎng)時(shí)，|β1*V1|＝|β2*V2|，被測(cè)電線中通過的被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)時(shí)，兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓會(huì)一加一減，調(diào)整平衡后即△(β1*V1)＝-△(β2*V2)，由于Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，所以輸出Vout保持不變，也就說被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)不會(huì)影響到總的感應(yīng)輸出電壓。

所述PC上位機(jī)按以下步驟工作：

(1)系統(tǒng)啟動(dòng)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)源、機(jī)械手裝置是否到位，如果到位，進(jìn)入下一步驟；

(2)控制機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表抓放到校準(zhǔn)測(cè)試架上；

(3)輸出指令控制機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表上的轉(zhuǎn)盤開關(guān)打到相應(yīng)的檔位上；

(4)檢測(cè)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表是否到位，如果到位，進(jìn)入下一步驟；

(5)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表進(jìn)入校準(zhǔn)模式；PC上位機(jī)控制標(biāo)準(zhǔn)源輸出相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)量；

(6)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的測(cè)量芯片/MCU作校準(zhǔn)運(yùn)算，并把校準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄到EEPROM上；

(7)PC上位機(jī)讀取校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷是否校準(zhǔn)成功；

(8)校準(zhǔn)成功，則機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置良品區(qū)域，進(jìn)行一下臺(tái)霍爾鉗形表的校準(zhǔn)，校準(zhǔn)不成功，則機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置NG區(qū)域。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表按以下步驟工作：

(1)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表系統(tǒng)啟動(dòng)，判斷是否處于校準(zhǔn)模式，進(jìn)行自檢；

(2)判斷是否有上位機(jī)校準(zhǔn)標(biāo)志，如有，則進(jìn)行如到相應(yīng)的校準(zhǔn)檔位，

(3)作校準(zhǔn)運(yùn)算，并把校準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄到EEPROM上；

(4)輸出校準(zhǔn)標(biāo)志給PC上位機(jī)。

一種實(shí)施前述霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)裝置，其包括PC上位機(jī)、校準(zhǔn)夾具、校準(zhǔn)測(cè)試架，標(biāo)準(zhǔn)源和機(jī)械手裝置，所述機(jī)械手裝置、標(biāo)準(zhǔn)源分別與該P(yáng)C上位機(jī)電連接，該標(biāo)準(zhǔn)源與所述校準(zhǔn)夾具電連接，所述校準(zhǔn)夾具上設(shè)有用于通過被測(cè)電流的被測(cè)電線，該校準(zhǔn)測(cè)試架對(duì)應(yīng)該校準(zhǔn)夾具設(shè)置，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置于該校準(zhǔn)測(cè)試架上。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表中設(shè)有偏置電流源/電壓源、霍爾元件A、霍爾元件B、放大器OP1、放大器OP2、差分放大器、測(cè)量芯片/MCU、EEPROM和LCD顯示器，該偏置電流源/電壓源與霍爾元件A、霍爾元件B串聯(lián)，該霍爾元件A與放大器OP1連接，該霍爾元件B與放大器OP2連接，該放大器OP1通過CH1連接到測(cè)量芯片/MCU，該放大器OP2通過CH2連接到測(cè)量芯片/MCU，該放大器OP1、放大器OP2還與差分放大器連接，該差分放大器與被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的轉(zhuǎn)盤開關(guān)連接，該轉(zhuǎn)盤開關(guān)、所述EEPROM、LCD顯示器分別與測(cè)量芯片/MCU連接。

本發(fā)明的有益效果為：本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理，設(shè)計(jì)巧妙，取消所有機(jī)械電位器，引入PC上位機(jī)和機(jī)械手裝置?？啥繙?zhǔn)確、全自動(dòng)地校準(zhǔn)鉗形表。本發(fā)明可應(yīng)用于所有高精度、自動(dòng)化生產(chǎn)需求的鉗形表，校準(zhǔn)質(zhì)量穩(wěn)定可靠，能夠極大地提高生產(chǎn)效率。

下面結(jié)合附圖與實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。

附圖說明

圖1是本發(fā)明在被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的右側(cè)位置時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明在被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的左側(cè)位置時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明在被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的中間位置時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明中被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的內(nèi)部電路圖。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例：如圖1至圖4所示，本發(fā)明一種霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法，其包括以下步驟：

(1)、設(shè)置PC上位機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)源、校準(zhǔn)夾具和機(jī)械手，該標(biāo)準(zhǔn)源與校準(zhǔn)夾具電連接，該校準(zhǔn)夾具、機(jī)械手與PC上位機(jī)電連接；

(2)、PC上位機(jī)輸出命令，控制機(jī)械手抓取被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置到校準(zhǔn)測(cè)試架上，校準(zhǔn)夾具的被測(cè)電線穿過該被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯，機(jī)械手將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表轉(zhuǎn)盤開關(guān)打到相應(yīng)的檔位上，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表進(jìn)入校準(zhǔn)模式；

(3)、被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的右側(cè)位置，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH1通道的電壓量V3并記錄下來；被測(cè)電線移至鉗頭鐵芯的左側(cè)位置，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH2通道的電壓量V4并記錄下來；

(4)、測(cè)量芯片/MCU作運(yùn)算V3÷V4，將CH2OP2的放大倍數(shù)β2的默認(rèn)值用β2*V3/V4代替并記錄到EEPROM上，OP2的放大倍數(shù)將被設(shè)置為該值，從而完成平衡調(diào)較。

零點(diǎn)校準(zhǔn)，當(dāng)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯無感應(yīng)輸入時(shí)，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出此時(shí)的讀數(shù)并記錄到EEPROM上，后繼將作運(yùn)算減去此數(shù)值再在被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的LCD上顯示出來。

鉗頭感應(yīng)輸入電流A的精度校準(zhǔn)過程與表筆輸入的精度校準(zhǔn)過程一致，只是表筆輸入改為鉗頭感應(yīng)輸入并且電流感應(yīng)位置移至鉗頭鐵芯的中間位置。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的鉗頭鐵芯左端、右端分別設(shè)有霍爾元件B、霍爾元件A，所述步驟(3)中，每個(gè)霍爾元件感應(yīng)到信號(hào)后單獨(dú)放大，至少一個(gè)霍爾元件處使用程控放大器，該被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的控制系統(tǒng)調(diào)整放大器的放大倍數(shù)以達(dá)到該兩處霍爾元件的信號(hào)平衡，該兩路信號(hào)再作相減處理。

當(dāng)該霍爾元件A、霍爾元件B感應(yīng)的是外電磁場(chǎng)時(shí)，由于磁力線是同向的，所以兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓是同極性的，設(shè)霍爾元件A的感應(yīng)電壓是V1，霍爾元件B的感應(yīng)電壓是V2，放大后的電壓分別對(duì)應(yīng)V3和V4，調(diào)整平衡后|V3|＝|V4|，這兩個(gè)信號(hào)再經(jīng)下一級(jí)相減處理，所以鉗頭輸出Vout＝V3-V4＝0，抵消了外電磁場(chǎng)。

鉗頭卡鉗電流測(cè)量時(shí)，電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)是環(huán)繞的，所以磁力線穿過兩霍爾元件時(shí)是一正一反的，即設(shè)霍爾元件A感應(yīng)的電壓為V1，則霍爾元件B感應(yīng)電壓為-V2，V3＝β1*V1，V4＝-β2*V2，Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，調(diào)整平衡后對(duì)于同一磁場(chǎng)強(qiáng)度的磁場(chǎng)時(shí)，|β1*V1|＝|β2*V2|，被測(cè)電線中通過的被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)時(shí)，兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓會(huì)一加一減，調(diào)整平衡后即△(β1*V1)＝-△(β2*V2)，由于Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，所以輸出Vout保持不變，也就說被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)不會(huì)影響到總的感應(yīng)輸出電壓。

所述PC上位機(jī)按以下步驟工作：

(1)系統(tǒng)啟動(dòng)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)源、機(jī)械手裝置是否到位，如果到位，進(jìn)入下一步驟；

(2)控制機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表抓放到校準(zhǔn)測(cè)試架上；

(3)輸出指令控制機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表上的轉(zhuǎn)盤開關(guān)打到相應(yīng)的檔位上；

(4)檢測(cè)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表是否到位，如果到位，進(jìn)入下一步驟；

(5)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表進(jìn)入校準(zhǔn)模式；PC上位機(jī)控制標(biāo)準(zhǔn)源輸出相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)量；

(6)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的測(cè)量芯片/MCU作校準(zhǔn)運(yùn)算，并把校準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄到EEPROM上；

(7)PC上位機(jī)讀取校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷是否校準(zhǔn)成功；

(8)校準(zhǔn)成功，則機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置良品區(qū)域，進(jìn)行一下臺(tái)霍爾鉗形表的校準(zhǔn)，校準(zhǔn)不成功，則機(jī)械手裝置將被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置NG區(qū)域。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表按以下步驟工作：

(1)被校準(zhǔn)霍爾鉗形表系統(tǒng)啟動(dòng)，判斷是否處于校準(zhǔn)模式，進(jìn)行自檢；

(2)判斷是否有上位機(jī)校準(zhǔn)標(biāo)志，如有，則進(jìn)行如到相應(yīng)的校準(zhǔn)檔位，

(3)作校準(zhǔn)運(yùn)算，并把校準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄到EEPROM上；

(4)輸出校準(zhǔn)標(biāo)志給PC上位機(jī)。

一種實(shí)施前述霍爾鉗形表的全自動(dòng)校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)裝置，其包括PC上位機(jī)、校準(zhǔn)夾具、校準(zhǔn)測(cè)試架，標(biāo)準(zhǔn)源和機(jī)械手裝置，所述機(jī)械手裝置、標(biāo)準(zhǔn)源分別與該P(yáng)C上位機(jī)電連接，該標(biāo)準(zhǔn)源與所述校準(zhǔn)夾具電連接，所述校準(zhǔn)夾具上設(shè)有用于通過被測(cè)電流的被測(cè)電線，該校準(zhǔn)測(cè)試架對(duì)應(yīng)該校準(zhǔn)夾具設(shè)置，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放置于該校準(zhǔn)測(cè)試架上。

所述被校準(zhǔn)霍爾鉗形表中設(shè)有偏置電流源/電壓源、霍爾元件A、霍爾元件B、放大器OP1、放大器OP2、差分放大器、測(cè)量芯片/MCU、EEPROM和LCD顯示器，該偏置電流源/電壓源與霍爾元件A、霍爾元件B串聯(lián)，該霍爾元件A與放大器OP1連接，該霍爾元件B與放大器OP2連接，該放大器OP1通過CH1連接到測(cè)量芯片/MCU，該放大器OP2通過CH2連接到測(cè)量芯片/MCU，該放大器OP1、放大器OP2還與差分放大器連接，該差分放大器與被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的轉(zhuǎn)盤開關(guān)連接，該轉(zhuǎn)盤開關(guān)、所述EEPROM、LCD顯示器分別與測(cè)量芯片/MCU連接。

對(duì)于鉗形表要校準(zhǔn)的點(diǎn)有：

Ⅰ.表筆輸入的各功能校準(zhǔn)：

PC上位機(jī)輸出命令控制機(jī)械手裝置抓取被校準(zhǔn)霍爾鉗形表放到校準(zhǔn)測(cè)試架合適的位置，并撥動(dòng)轉(zhuǎn)盤開關(guān)到相應(yīng)的檔位上。PC上位機(jī)輸出命令控制標(biāo)準(zhǔn)源輸出相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)量，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表內(nèi)部測(cè)量芯片/MCU測(cè)量讀數(shù)并作運(yùn)算算出相應(yīng)校準(zhǔn)參數(shù)，更改EEPROM上的相應(yīng)的運(yùn)算默認(rèn)參數(shù)值使得LCD顯示正確的讀數(shù)。

Ⅱ.鉗頭感應(yīng)輸入部分(電流A)，即鉗頭鐵芯中的感應(yīng)電流，這部分需要作平衡校準(zhǔn)、校零、校精度。

平衡校準(zhǔn)原理：本發(fā)明的重點(diǎn)是平衡校準(zhǔn)，由于地球磁、外界分布電磁場(chǎng)的存在；鉗頭鐵芯無法完美閉合導(dǎo)致有漏磁，并且兩個(gè)鐵芯缺口的漏磁不一樣，以致電流在鉗頭的不同位置感應(yīng)到的電壓數(shù)據(jù)不一致，為了解決這些問題，使用兩顆霍爾元件感測(cè)電磁場(chǎng)，設(shè)法使兩顆霍爾元件對(duì)于地球等外界電磁場(chǎng)作相減而對(duì)處于鉗頭中電流所產(chǎn)生的電磁場(chǎng)作相加，這樣可以很好地改善這些問題，但由于霍爾靈敏度的不一致性，鉗頭兩開口處的漏磁也不一致，所以需要引入平衡調(diào)整以抵消這些影響。傳統(tǒng)的方法是兩個(gè)霍爾元件感應(yīng)到的信號(hào)作并聯(lián)并且中間插入電位器，調(diào)整電位器致平衡狀態(tài)再作放大處理。如圖1所示，本發(fā)明采用全新的電路，每個(gè)霍爾元件感應(yīng)到信號(hào)后單獨(dú)放大，至少一個(gè)使用程控放大器，被校準(zhǔn)霍爾鉗形表的控制系統(tǒng)調(diào)整程控放大器的放大倍數(shù)以達(dá)到兩路霍爾元件的信號(hào)平衡，這兩路信號(hào)再作相減處理。當(dāng)感應(yīng)的是外電磁場(chǎng)時(shí)由于磁力線是同向的，所以兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓是同極性的，設(shè)霍爾元件A的感應(yīng)電壓是V1，霍爾元件B的感應(yīng)電壓是V2，放大后的電壓分別對(duì)應(yīng)V3和V4，調(diào)整平衡后|V3|＝|V4|，這兩個(gè)信號(hào)再經(jīng)下一級(jí)相減處理，所以鉗頭輸出Vout＝V3-V4＝0，抵消了外電磁場(chǎng)；鉗頭卡鉗電流測(cè)量時(shí)，電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)是環(huán)繞的，所以磁力線穿過兩霍爾元件是一正一反的，即設(shè)霍爾元件A感應(yīng)的電壓為V1，則霍爾元件B感應(yīng)電壓為-V2(均對(duì)地作參考，兩電壓的極性相反)，V3＝β1*V1，V4＝-β2*V2，Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，調(diào)整平衡后對(duì)于同一磁場(chǎng)強(qiáng)度的磁場(chǎng)時(shí)，|β1*V1|＝|β2*V2|，被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)時(shí)，兩霍爾元件感應(yīng)到的電壓會(huì)一加一減，調(diào)整平衡后即△(β1*V1)＝-△(β2*V2)，由于Vout＝V3-V4＝β1*V1-(-β2*V2)＝β1*V1+β2*V2，所以輸出Vout保持不變，也就說被測(cè)電流在鉗頭內(nèi)移動(dòng)不會(huì)影響到總的感應(yīng)輸出電壓。

平衡調(diào)校的過程：如圖1所示，被測(cè)電流移到鉗頭鐵芯的感應(yīng)位置1，即鉗頭鐵芯的右側(cè)位置時(shí)，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH1通道的電壓量V3并記錄下來，被測(cè)電流移到鉗頭鐵芯的感應(yīng)位置2，即鉗頭鐵芯的左側(cè)位置時(shí)，如圖2所示，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出CH2通道的電壓量V4并記錄下來，測(cè)量芯片/MCU作運(yùn)算V3÷V4，將CH2獨(dú)立放大器OP2的放大倍數(shù)β2的默認(rèn)值用β2*V3/V4代替并記錄到EEPROM上，獨(dú)立放大器OP2的放大倍數(shù)將被設(shè)置為此值。整個(gè)過程，標(biāo)準(zhǔn)源輸出、被校準(zhǔn)霍爾鉗形表位置、轉(zhuǎn)盤開關(guān)檔位均由PC上位機(jī)發(fā)出命令自動(dòng)完成，平衡調(diào)校完成。

零點(diǎn)校準(zhǔn)，鉗形表鉗頭無感應(yīng)輸入時(shí)，測(cè)量芯片/MCU測(cè)出此時(shí)的讀數(shù)并記錄到EEPROM上，后繼測(cè)量將作運(yùn)算減去此數(shù)值再在LCD顯示器上顯示出來。

鉗頭感應(yīng)電流A精度的校準(zhǔn)過程跟表筆輸入的精度校準(zhǔn)過一致，只是表筆輸入改為鉗頭感應(yīng)輸入并且電流感應(yīng)位置移鉗頭鐵芯的中間位置，如圖3所示。

本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理，設(shè)計(jì)巧妙，取消所有機(jī)械電位器，引入PC上位機(jī)和機(jī)械手裝置?？啥繙?zhǔn)確、全自動(dòng)地校準(zhǔn)鉗形表。本發(fā)明可應(yīng)用于所有高精度、自動(dòng)化生產(chǎn)需求的鉗形表，校準(zhǔn)質(zhì)量穩(wěn)定可靠，能夠極大地提高生產(chǎn)效率。

以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制。任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案做出許多可能的變動(dòng)和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí)施例。故凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明之形狀、構(gòu)造及原理所作的等效變化，均應(yīng)涵蓋于本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。