1.一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：
步驟1，擺放參考白板；
步驟2，擺放標(biāo)準(zhǔn)樣品；
步驟3，擺放待鑒定的樣品；
步驟4，獲取參考白板、標(biāo)準(zhǔn)樣品和待鑒定樣品的成像高光譜數(shù)據(jù)；
步驟5，對(duì)步驟4中獲得的高光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，獲得標(biāo)準(zhǔn)樣品和待鑒定樣品的成像反射率圖像；
步驟6，對(duì)比待鑒定樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜曲線，完成鑒定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟1中的標(biāo)準(zhǔn)白板為漫反射白板，其擺放位置需位于成像高光譜儀的運(yùn)行軌道上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟2中的標(biāo)準(zhǔn)樣品為4種天然綠松石樣品和3種人工處理綠松石樣品，其擺放位置需位于成像光譜儀的視域內(nèi)或掃描路徑上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟3中的待鑒定樣品為疑似綠松石的樣品，其擺放位置需位于成像高光譜儀的運(yùn)行軌道上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟4中利用成像光譜儀獲取參考白板、標(biāo)準(zhǔn)樣品和待鑒定樣品的成像高光譜數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟5具體包括如下步驟：
用成像光譜儀自帶的輻射校正工具完成圖像的輻射校正，獲得經(jīng)輻射校正的圖像，然后使用ENVI軟件打開(kāi)經(jīng)輻射校正的圖像，用ENVI的經(jīng)驗(yàn)線性校正工具結(jié)合白板的標(biāo)準(zhǔn)反射率光譜完成白板定標(biāo)，得到反射率圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種成像高光譜鑒定綠松石的方法，其特征在于：所述的步驟6具體包括如下步驟：
以上述步驟5中得到的待鑒定樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的反射率圖像中瓷松標(biāo)準(zhǔn)樣品的反射率光譜為基準(zhǔn)，運(yùn)用ENVI的光譜角工具，開(kāi)展逐像元的光譜對(duì)比，發(fā)現(xiàn)3件待鑒定的綠松樣品均與瓷松樣品的光譜吻合良好，鑒定為瓷松。