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圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法與流程

文檔序號:12746620閱讀:1089來源:國知局
圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法與流程

本發(fā)明涉及圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法,屬于金相組織檢測技術(shù)領(lǐng)域。



背景技術(shù):

由于鈦合金具有高比強(qiáng)度、較寬的工作溫度范圍和優(yōu)異的腐蝕抗力,在航空及宇航工業(yè)得以廣泛應(yīng)用。大型、薄壁、復(fù)雜、整體、精密鑄件制造已經(jīng)成為國外航空、航天飛行器用的鈦合金精鑄結(jié)構(gòu)件制造技術(shù)的發(fā)展趨勢,這類鑄件整體結(jié)構(gòu)性好,可靠性高,重量輕,在航空航天領(lǐng)域內(nèi)有廣闊的應(yīng)用前景。隨著適航認(rèn)證體系的逐步建立和完善,對飛機(jī)零部件尤其是關(guān)鍵部位性能提出了更高的要求,因此鑄件質(zhì)量也相應(yīng)提出了更高的要求。

鈦及鈦合金的熔點(diǎn)高、熱容量較大、導(dǎo)熱率小及化學(xué)性質(zhì)活潑的特點(diǎn),使其在高溫熔融狀態(tài)下具有極高得化學(xué)活性,非常容易與所接觸得鑄型材料發(fā)生界面化學(xué)反應(yīng),導(dǎo)致鈦和鈦合金鑄件產(chǎn)生各種鑄造缺陷,如鑄件表面污染層、氣孔、針孔、疏松等,這些缺陷直接影響了鑄件的質(zhì)量和性能,表面α污染層作為一種表層缺陷對鈦合金鑄件性能影響較大。

目前,鈦及鈦合金α污染層組織厚度的測量主要是采用國標(biāo)GB/T 26603-2009《鈦及鈦合金表面污染層檢測方法》。該方法對鈦及鈦合金樣品進(jìn)行磨制后染色,然后在顯微鏡下觀察整個(gè)α層,確定最嚴(yán)重視場測定結(jié)果為該樣品α污染層厚度,該方法樣品制備必須保證為線切割,且需進(jìn)行磨制和染色,方法復(fù)雜,且在磨制過程中存在金相組織被破壞的風(fēng)險(xiǎn),從而影響結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外,該方法測定的是α層最深處厚度,由于α層各區(qū)域厚度差異明顯,最深處厚度不能完整表征整個(gè)樣品表面α層信息,同時(shí)最深處厚度不能有效評價(jià)α污染層對產(chǎn)品性能的影響。

因此,亟需一種新的測定鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種測定圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法。

本發(fā)明圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法,其步驟如下:

a、獲得包含α污染層的圓柱型鈦合金人工斷口;

b、在體式顯微鏡下觀察斷口,調(diào)節(jié)亮度和對比度使α污染層呈亮白色,基體呈灰白色;

c、在體式顯微鏡下拍攝包含整個(gè)斷口形貌的彩色照片;

d、分析彩色照片,測定其中α污染層百分含量;

e、通過測定的α污染層含量與圓面積公式,間接計(jì)算α污染層平均厚度。

優(yōu)選的,所述鈦合金為ZTC4鈦合金。

進(jìn)一步的,優(yōu)選將待測鈦合金樣品制備成包含原始α污染層的圓柱型拉伸試樣,然后進(jìn)行拉伸試驗(yàn)獲得人工斷口。

作為優(yōu)選方案,對拉伸試樣進(jìn)行酸洗后,再進(jìn)行拉伸試驗(yàn)獲得人工斷口。

優(yōu)選的,體式顯微鏡采用平光源,調(diào)節(jié)亮度范圍為0~40,對比度范圍為80~100。

優(yōu)選的,拍攝彩色照片放大倍數(shù)為7.5~25倍。

優(yōu)選的,d步驟的具體操作為:用Micro-image Analysis&process專用軟件中第二相含量測定程序,加載放大倍數(shù),進(jìn)行閥值分割提取待測物相,測定α污染層百分含量。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明利用α污染層與基體斷口形貌不同的特點(diǎn),采用斷口法直接測定α污染層面積含量,無需進(jìn)行金相樣品的磨制及染色,然后圓面積計(jì)算公式與α污染層層面積含量關(guān)系間接計(jì)算出平均厚度。本發(fā)明能方便全面的表征污染層平均厚度,與其他技術(shù)相比,其更加直觀、快捷、方便、高效、準(zhǔn)確,可以實(shí)現(xiàn)精確地表征污染層平均厚度的目的。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例1拍攝的原始樣品的斷口形貌照片。

圖2為本發(fā)明實(shí)施例2拍攝的酸洗樣品的斷口形貌照片。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明圓柱型鈦合金樣品α污染層平均厚度表征方法,其步驟如下:

a、獲得包含α污染層的圓柱型鈦合金人工斷口;

b、在體式顯微鏡下觀察斷口,調(diào)節(jié)亮度和對比度使α污染層呈亮白色,基體呈灰白色;

c、在體式顯微鏡下拍攝包含整個(gè)斷口形貌的彩色照片;

d、分析彩色照片,測定其中α污染層百分含量;

e、通過測定的α污染層含量與圓面積公式,間接計(jì)算α污染層平均厚度。

優(yōu)選的,所述鈦合金為ZTC4鈦合金。

進(jìn)一步的,a步驟采用如下方法制備得到人工斷口:將待測鈦合金樣品制備成包含原始α污染層的圓柱型拉伸試樣,然后進(jìn)行拉伸試驗(yàn)獲得人工斷口。

優(yōu)選的,可對拉伸試樣進(jìn)行酸洗后,再進(jìn)行拉伸試驗(yàn)獲得人工斷口。

進(jìn)一步的,b步驟中,所述體式顯微鏡采用平光源,調(diào)節(jié)亮度范圍為0~40,對比度范圍為80~100。體式顯微鏡可采用常規(guī)的體式顯微鏡,作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,所述體式顯微鏡的型號為LeiCa M80。

c步驟中,在體式顯微鏡下拍攝包含整個(gè)斷口的彩色照片,保證拍攝的彩色金相圖片包含全部的斷口形貌,放大到一定倍數(shù)使圖像清晰背景少為止,因此,圖像放大倍數(shù)優(yōu)選為7.5~25倍。

d步驟可采用常規(guī)方法分析照片,得到α污染層百分含量。優(yōu)選的具體操作為:用Micro-image Analysis&process專用軟件中第二相含量測定程序,加載放大倍數(shù),進(jìn)行閥值分割提取待測物相,測定α污染層百分含量。

α污染層含量測定完成后,即可進(jìn)行步驟e,根據(jù)公式S=3.14*r2可計(jì)算出整個(gè)圓形樣品面積S,將樣品中基體部分看作一個(gè)等效圓形,可計(jì)算出等效圓面積S1,進(jìn)而求出等效圓半徑r1,圓形樣品半徑減去等效圓半徑即為平均α層厚度D,即D=r-r1。

下面結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明的具體實(shí)施方式做進(jìn)一步的描述,并不因此將本發(fā)明限制在所述的實(shí)施例范圍之中。

實(shí)施例1

機(jī)加工包含原始α污染層的M12的ZTC4鈦合金圓柱型拉伸樣品,采用(WEW-600)型萬能實(shí)驗(yàn)機(jī)在室溫下進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)獲得拉伸斷口,將制備好的拉伸斷口在LeiCa M80體式顯微鏡平光源下觀察斷口形貌,調(diào)節(jié)亮度10,對比度90,調(diào)節(jié)焦距使污染層呈現(xiàn)白亮色,基體為灰白色,拍攝包含整個(gè)斷口形貌的彩色照片,詳見圖1。打開Micro-image Analysis&process專用軟件中第二相含量測定程序,加載放大倍數(shù),進(jìn)行閥值分割提取待測物相,測定圖片中α污染層百分含量4.3%,扣除圖片中背景后即為樣品中α污染層面積含量為7.8%,根據(jù)公式S=3.14*r2可計(jì)算出整個(gè)圓形樣品面積S,將樣品中基體部分看作一個(gè)等效圓形,可計(jì)算出等效圓面積S1,進(jìn)而求出等效圓半徑r1,圓形樣品半徑減去等效圓半徑即為平均α層厚度D。由前測定結(jié)果可知α層百分含量為7.8%,基體百分含量為92.2%,可計(jì)算出S為45.34mm2,S1為41.81mm2、r1為3.65mm、D為0.15mm。

實(shí)施例2

機(jī)加工包含原始α污染層的M12的ZTC4鈦合金圓柱型拉伸樣品,在氫氟酸、硝酸水溶液中酸洗20min獲得含部分α污染層拉伸樣品,采用(WEW-600)型萬能實(shí)驗(yàn)機(jī)在室溫下進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)獲得拉伸斷口,將制備好的拉伸斷口在LeiCa M80體式顯微鏡平光源下觀察斷口形貌,調(diào)節(jié)亮度20,對比度80,調(diào)節(jié)焦距使污染層呈現(xiàn)白亮色,基體為灰白色,拍攝包含整個(gè)斷口形貌的彩色照片,詳見圖2。打開Micro-image Analysis&process專用軟件中第二相含量測定程序,加載放大倍數(shù),進(jìn)行閥值分割提取待測物相,打開Micro-image Analysis&process專用軟件中第二相含量測定程序,加載放大倍數(shù),直接進(jìn)行閥值分割提取待測物相,測定圖片中α污染層百分含量1.9%,扣除圖片中背景后即為樣品中α污染層面積含量為3.4%,根據(jù)公式S=3.14*r2可計(jì)算出整個(gè)圓形樣品面積S,將樣品中基體部分看作一個(gè)等效圓形,可計(jì)算出等效圓面積S1,進(jìn)而求出等效圓半徑r1,圓形樣品半徑減去等效圓半徑即為平均α層厚度D。由前測定結(jié)果可知α層百分含量為3.4%,基體百分含量為96.6%,可計(jì)算出S為45.34mm2,S1為43.79mm2、r1為3.73mm、D為0.07mm。

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