技術總結
一種天線/場探頭外推法校準用的精密行走裝置以及校準系統(tǒng)，其中精密行走裝置，包括導軌、設置在導軌上的行走機構以及用于驅動行走機構沿導軌運動的驅動機構；所述行走機構的上部固定有用于校準的反射鏡。所述校準系統(tǒng)包括上述結構的天線/場探頭外推法校準用的精密行走裝置，該校準系統(tǒng)還包括固定在支撐桿上的被測天線/探頭，以及固定在發(fā)射天線上的與精密行走裝置配合的雙頻激光干涉儀，該雙頻激光干涉儀與精密行走裝置中的反射鏡相對設置。本發(fā)明滿足了高精度的天線和場探頭采用外推法校準的需求，不僅結構簡單緊湊，可靠穩(wěn)定，還具有操作簡便、精確高等特點；可廣泛適用于微波天線和微波場探頭的校準、測試等場合。

技術研發(fā)人員：梁瓊崇
受保護的技術使用者：廣州賽寶計量檢測中心服務有限公司
文檔號碼：201611007993
技術研發(fā)日：2016.11.16
技術公布日：2017.01.25