本發(fā)明涉及探測器技術領域，特別是涉及一種平板探測器電阻測試治具。

背景技術：

目前，并沒有一種合適的方法及儀器，來測試組成平板探測器的零部件及各零部件之間的電阻阻值，從而無法知曉平板探測器內(nèi)零部件本身的阻值或者組裝之后的零部件之間的阻值，這樣一來，在圖紙定義及IQC(Incoming Quality Control，來料質量控制)檢測阻值時，將會缺乏實際驗證基礎，不利于管控零部件的生產(chǎn)制備工藝和組裝水平。

因此，如何快速有效地測試平板探測器的零部件及各零部件之間的電阻阻值，是亟待解決的問題。

技術實現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種平板探測器電阻測試治具，用于解決現(xiàn)有技術中沒有合適的方法及儀器，來測試組成平板探測器的零部件及各零部件之間的電阻阻值，從而導致圖紙定義及IQC檢測阻值缺乏實際驗證基礎的問題。

為實現(xiàn)上述目的及其他相關目的，本發(fā)明提供一種平板探測器電阻測試治具，其中，所述平板探測器電阻測試治具至少包括：

連接支架；

相互對稱設置在所述連接支架內(nèi)的第一接觸桿和第二接觸桿；

相互對稱設置在所述連接支架兩側的第一砝碼和第二砝碼；

其中，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的底部均從所述第一砝碼和所述第二砝碼之間伸出，用以分別接觸所述平板探測器的零部件。

優(yōu)選地，所述平板探測器電阻測試治具還包括：第一連接線和第二連接線，所述第一連接線的一端連接在所述第一接觸桿的頂部，所述第二連接線的一端連接在所述第二接觸桿的頂部，所述第一連接線的另一端和所述第二連接線的另一端用以分別連接外部電阻測試儀的兩個連接線接頭。

優(yōu)選地，所述第一接觸桿的頂部開設有第一接觸槽，所述第二接觸桿的頂部開設有第二接觸槽；其中，所述第一接觸槽和所述第二接觸槽用以分別連接外部電阻測試儀的兩個連接線接頭。

優(yōu)選地，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿均至少包括：第一接觸部，與所述第一接觸部連接的第二接觸部，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿均為由所述第一接觸部和所述第二接觸部一體成型折彎而成的倒L型結構，所述第二接觸部的底部從所述第一砝碼和所述第二砝碼之間伸出，用以接觸所述平板探測器的零部件，所述第一接觸部用以連接外部電阻測試儀。

優(yōu)選地，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的外表面均設有金屬鍍層，或者所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的用以接觸所述平板探測器的零部件的底面設有金屬鍍層。

優(yōu)選地，所述連接支架至少包括：相對固定連接的第一支架主體和第二支架主體，所述第一支架主體和所述第二支架主體相對各開設有兩個安裝槽，以分別形成第一安裝口和第二安裝口，所述第一接觸桿固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿固定于所述第二安裝口內(nèi)。

優(yōu)選地，所述連接支架至少包括：支架主體，所述支架主體上對稱開設有第一安裝口和第二安裝口，所述第一接觸桿固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿固定于所述第二安裝口內(nèi)。

優(yōu)選地，所述第一接觸桿通過螺紋連接或者過盈配合固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿通過螺紋連接或者過盈配合固定于所述第二安裝口內(nèi)。

優(yōu)選地，所述第一砝碼和所述第二砝碼相對各開設有一限制槽，所述限制槽內(nèi)嵌入部分所述連接支架，用以限制所述連接支架轉動。

優(yōu)選地，所述第一砝碼、所述連接支架和所述第二砝碼的中心位置均開設有螺紋孔，通過螺紋連接使所述第一砝碼、所述連接支架和所述第二砝碼固定在一起。

優(yōu)選地，所述第一砝碼的重量為0.1kg～1kg，形狀為苯環(huán)形狀、圓柱形、球形、長方體形狀或者不規(guī)則形狀，所述第二砝碼與所述第一砝碼的重量相同，形狀相同或不同。

如上所述，本發(fā)明的平板探測器電阻測試治具，具有以下有益效果：本發(fā)明采用連接支架分別連接兩個砝碼和兩個接觸桿，通過兩個砝碼的重力作用，使兩個接觸桿平穩(wěn)搭接在平板探測器的零部件表面，然后通過外部電阻測試儀連接兩個接觸桿，從而在零部件表面和外部電阻測試儀之間形成一個回路，只需讀取外部電阻測試儀顯示的阻值，就可以測試平板探測器的零部件及各零部件之間的表面接觸電阻，結構簡單，測量精確。通過本發(fā)明的平板探測器電阻測試治具，能夠快捷準確地測試平板探測器的零部件之間或者零部件本體的表面接觸電阻，為圖紙定義表面阻值提供權威數(shù)據(jù)且同時可逆向驗證圖紙是否合理，同時為IQC檢測和生產(chǎn)提供一種阻值測試方法，有效管控零部件的生產(chǎn)制作工藝和組裝水平。

附圖說明

圖1顯示為本發(fā)明第一實施方式的一種平板探測器電阻測試治具的裝配示意圖。

圖2顯示為本發(fā)明第一實施方式的一種平板探測器電阻測試治具裝配后的示意圖。

圖3顯示為本發(fā)明第二實施方式的一種平板探測器電阻測試治具的裝配示意圖。

圖4顯示為本發(fā)明第二實施方式的一種平板探測器電阻測試治具中第一接觸桿的示意圖。

圖5顯示為本發(fā)明第二實施方式的一種平板探測器電阻測試治具中連接支架的示意圖。

元件標號說明

1 連接支架

11 第一支架主體

12 第二支架主體

13 第一安裝口

14 第二安裝口

2 第一接觸桿

21 第一接觸槽

22 第一接觸孔

23 第一接觸部

24 第二接觸部

25 第一螺紋孔

3 第二接觸桿

31 第二接觸槽

32 第二接觸孔

4 第一砝碼

41 第一限制槽

5 第二砝碼

51 第二限制槽

6 長螺絲

7 第一連接線

8 第二連接線

9 短螺絲

具體實施方式

以下由特定的具體實施例說明本發(fā)明的實施方式，熟悉此技術的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點及功效。

請參閱圖1至圖5。須知，本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術的人士了解與閱讀，并非用以限定本發(fā)明可實施的限定條件，故不具技術上的實質意義，任何結構的修飾、比例關系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本發(fā)明所能產(chǎn)生的功效及所能達成的目的下，均應仍落在本發(fā)明所揭示的技術內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本發(fā)明可實施的范圍，其相對關系的改變或調(diào)整，在無實質變更技術內(nèi)容下，當亦視為本發(fā)明可實施的范疇。

如圖1所示，本發(fā)明第一實施方式涉及一種平板探測器電阻測試治具，其至少包括：連接支架1；相互對稱設置在連接支架1內(nèi)的第一接觸桿2和第二接觸桿3；相互對稱設置在連接支架1兩側的第一砝碼4和第二砝碼5。其中，如圖2所示，裝配后的平板探測器電阻測試治具，第一接觸桿2和第二接觸桿3的底部均從第一砝碼4和第二砝碼5之間伸出，用以分別接觸平板探測器的零部件。

其中，第一接觸桿2和第二接觸桿3之間的連線方向與第一砝碼4和第二砝碼5之間的連線方向可以相互垂直或者相互平行。在本實施方式中，如圖1所示，第一接觸桿2和第二接觸桿3之間的連線方向與第一砝碼4和第二砝碼5之間的連線方向相互垂直。

請繼續(xù)參閱圖1，在本實施方式中，第一接觸桿2的頂部開設有第一接觸槽21，第二接觸桿3的頂部開設有第二接觸槽31；其中，第一接觸槽21和第二接觸槽31用以分別連接外部電阻測試儀的兩個連接線接頭。另外，第一接觸桿2的頂部還可以開設第一連接孔22，第二接觸桿3的頂部還可以開設第二連接孔32，在其他的實施方式中，可以將兩根金屬連接線的一端分別插入到第一連接孔22和第二連接孔32中，兩根金屬連接線的另一端用以分別連接外部電阻測試儀的兩個連接線接頭。另外，第一接觸桿2和第二接觸桿3均采用SUS不銹鋼材料，能夠防銹且方便維護。需要說明的是，外部電阻測試儀的兩個連接線接頭通常為兩個固定線夾(或者兩個香蕉插頭)，將外部電阻測試儀的兩個固定線夾分別夾在第一接觸槽21和第二接觸槽31中，或者分別夾在兩根金屬連接線的另一端，從而使平板探測器的零部件表面通過第一接觸桿2和第二接觸桿3，與外部電阻測試儀之間形成一個電流回路，外部電阻測試儀上能夠顯示出阻值，該阻值就是平板探測器的零部件本身或者各零部件之間的表面接觸電阻。

另外，在本實施方式中，第一接觸桿2和第二接觸桿3的外表面均設有金屬鍍層，或者第一接觸桿2和第二接觸桿3的用以接觸平板探測器的零部件的底面設有金屬鍍層。金屬鍍層能夠使兩個接觸桿和零部件之間具有較小的表面接觸電阻，從而作為本實施方式的平板探測器電阻測試治具用以測試電阻的良好導體。對于金屬鍍層，可以采用現(xiàn)有鍍金工藝，鍍金厚度為0.1mm～1mm。

請繼續(xù)參見圖1，在本實施方式中，連接支架1至少包括：相對固定連接的第一支架主體11和第二支架主體12，第一支架主體11和第二支架主體12相對各開設有兩個安裝槽(圖中未用元件標號標出)，以分別形成第一安裝口和第二安裝口，第一接觸桿2固定于第一安裝口內(nèi)，第二接觸桿3固定于第二安裝口內(nèi)。值得一提的是，第一接觸桿2通過過盈配合固定于第一安裝口內(nèi)，第二接觸桿3通過過盈配合固定于第二安裝口內(nèi)。另外，第一支架主體11和第二支架主體12均采用POM塑料材料，結構強度大、便于清潔維護。

請繼續(xù)參見圖1，在本實施方式中，第一砝碼4和第二砝碼5相對各開設有一限制槽，第一砝碼4上為第一限制槽41，第二砝碼5上為第二限制槽51，第一限制槽41內(nèi)嵌入部分第二支架主體12，第二限制槽51內(nèi)嵌入部分第一支架主體11，用以限制連接支架1轉動。并且，在組裝時可以限制連接支架1的自由度，便于組裝。

請繼續(xù)參見圖1，在本實施方式中，第一砝碼4、連接支架1(第一支架主體11、第二支架主體12)和第二砝碼5的中心位置均開設有螺紋孔，通過長螺絲6依次貫穿第一砝碼4、第二支架主體12、第一支架主體11和第二砝碼5的中心位置的螺紋孔，從而通過螺紋連接使第一砝碼4、第二支架主體12、第一支架主體11和第二砝碼5固定在一起。當然，在其他的實施方式中，可以只在第二砝碼5的中心位置開設有螺紋孔，第一砝碼4、連接支架1(第一支架主體11、第二支架主體12)和第二砝碼5的中心位置只開設通孔，依然可以通過長螺絲6使第一砝碼4、第二支架主體12、第一支架主體11和第二砝碼5固定在一起，不影響治具整體的固定連接效果。

另外，第一砝碼4的重量為0.1kg～1kg，形狀可以為苯環(huán)形狀、圓柱形、球形、長方體形狀或者不規(guī)則形狀，第二砝碼5與第一砝碼4的重量相同，形狀相同或不同。在本實施方式中，如圖1和圖2所示，第一砝碼4和第二砝碼5的重量均為0.5kg，形狀均為圓柱形，兩個砝碼基本完全一致的對稱設計，可以使治具整體的穩(wěn)定性良好。

本實施方式的平板探測器電阻測試治具，采用連接支架分別連接兩個砝碼和兩個接觸桿，通過兩個砝碼的重力作用，使兩個接觸桿平穩(wěn)搭接在平板探測器的零部件表面，然后通過外部電阻測試儀連接兩個接觸桿，從而在零部件表面和電阻測試儀之間形成一個回路，只需讀取外部電阻測試儀顯示的阻值，就可以測試平板探測器的零部件及各零部件之間的表面接觸電阻，結構簡單，測量精確。

如圖3～圖5所示，本發(fā)明的第二實施方式涉及一種平板探測器電阻測試治具。第二實施方式與第一實施方式大致相同，主要區(qū)別之處在于：在第一實施方式中，連接支架1主要由第一支架主體11和第二支架主體12構成，兩個砝碼均為圓柱形。而在本發(fā)明第二實施方式中，連接支架1為一個整體，兩個砝碼均為苯環(huán)形狀。具體地說：

請參閱圖3和圖5，在本實施方式中，連接支架1至少包括：支架主體，支架主體上對稱開設有第一安裝13和第二安裝口14，第一接觸桿2固定于第一安裝口13內(nèi)，第二接觸桿3固定于第二安裝口14內(nèi)。第一接觸桿2通過螺紋連接固定于第一安裝口13內(nèi)，第二接觸桿3通過螺紋連接固定于第二安裝口14內(nèi)。如圖3～圖5所示，第一接觸桿2上開設有第一螺紋孔25，第二接觸桿3開設有第二螺紋孔(圖中未用元件標號標出)，支架主體上位于第一安裝口13和第二安裝口14處開設有與第一螺紋孔25和第二螺紋孔相應的螺紋孔，從而通過短螺絲9使第一接觸桿2固定于第一安裝口13內(nèi)，使第二接觸桿3固定于第二安裝口14內(nèi)。

另外，第一安裝口13的形狀與第一接觸桿2相匹配，第二安裝口14的形狀與第二接觸桿3相匹配。在本實施方式中，如圖4所示，第一接觸桿2至少包括：第一接觸部23，與第一接觸部23連接的第二接觸部24，第一接觸桿2為由第一接觸部23和第二接觸部24一體成型折彎而成的倒L型結構，第二接觸部24的底部從第一砝碼4和第二砝碼5之間伸出，用以接觸平板探測器的零部件，第一接觸部23用以連接外部電阻測試儀。其中，第一實施方式中提到的第一接觸槽21和第一接觸孔22，均設置在第一接觸部23的頂部。第二接觸桿3與第一接觸桿2具有相同的結構。當然，在其他實施方式中，兩個接觸桿也可以為其他形狀，如長方體形狀等等。

請繼續(xù)參閱圖3，在本實施方式中，平板探測器電阻測試治具還包括：第一連接線7和第二連接線8，第一連接線7的一端連接在第一接觸桿2的頂部(也即連接在第一接觸桿2的第一接觸部23頂部的第一接觸孔22中)，第二連接線8的一端連接在第二接觸桿3的頂部(也即連接在第二接觸桿3的第一接觸部頂部的第二接觸孔32中)，第一連接線7的另一端和第二連接線8的另一端用以分別連接外部電阻測試儀的兩個連接線接頭。

請繼續(xù)參閱圖3，在本實施方式中，第一砝碼4和第二砝碼5的重量均為0.7kg，形狀均為苯環(huán)形狀。

通過本實施方式的平板探測器電阻測試治具，能夠快捷準確地測試平板探測器的零部件之間或者零部件本體的表面接觸電阻，為圖紙定義表面阻值提供權威數(shù)據(jù)且同時可逆向驗證圖紙是否合理，同時為IQC檢測和生產(chǎn)提供一種阻值測試方法，有效管控零部件的生產(chǎn)制作工藝和組裝水平。

綜上所述，本發(fā)明采用連接支架分別連接兩個砝碼和兩個接觸桿，通過兩個砝碼的重力作用，使兩個接觸桿平穩(wěn)搭接在平板探測器的零部件表面，然后通過外部電阻測試儀連接兩個接觸桿，從而在零部件表面和外部電阻測試儀之間形成一個回路，只需讀取外部電阻測試儀顯示的阻值，就可以測試平板探測器的零部件及各零部件之間的表面接觸電阻，結構簡單，測量精確。通過本發(fā)明的電阻測試治具，能夠快捷準確地測試平板探測器的零部件之間或者零部件本體的表面接觸電阻，為圖紙定義表面阻值提供權威數(shù)據(jù)且同時可逆向驗證圖紙是否合理，同時為IQC檢測和生產(chǎn)提供一種阻值測試方法，有效管控零部件的生產(chǎn)制作工藝和組裝水平。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。

上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發(fā)明的權利要求所涵蓋。