本發(fā)明涉及工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域，尤其涉及工業(yè)生產(chǎn)中的無(wú)線(xiàn)測(cè)試領(lǐng)域，具體是指一種無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法。

背景技術(shù)：

普通的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試設(shè)備一般是由兩個(gè)相互獨(dú)立的可開(kāi)啟屏蔽箱、一臺(tái)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀(如安捷倫4010測(cè)試儀)、一個(gè)射頻同軸切換開(kāi)關(guān)、一臺(tái)電腦主機(jī)組成。兩個(gè)屏蔽箱后面分別設(shè)計(jì)有具有屏蔽功能的“射頻同軸電纜接口、RS232接口、RJ45網(wǎng)口、電源接口”。兩個(gè)屏蔽箱的射頻同軸電纜接口分別接入同軸切換開(kāi)關(guān)的兩組輸入端，同軸切換開(kāi)關(guān)的輸出端接入無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀；電腦主機(jī)與無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀直接采用USB接口進(jìn)行連接(根據(jù)所使用的測(cè)試儀器的不同，也可能采用RJ45網(wǎng)口連接。)；

被測(cè)試的電路板放入屏蔽箱后的測(cè)試過(guò)程中只有屏蔽箱內(nèi)的電路板和屏蔽箱內(nèi)的局部射頻連接線(xiàn)、串口線(xiàn)、網(wǎng)線(xiàn)等在屏蔽保護(hù)之下，其他的“無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀、同軸切換開(kāi)關(guān)、測(cè)試電腦主機(jī)”以及他們之間連接的所有射頻同軸測(cè)試線(xiàn)路及接口、串口連接線(xiàn)及串口、網(wǎng)線(xiàn)及RJ45網(wǎng)口、USB連接線(xiàn)及其接口、以及每個(gè)設(shè)備的供電線(xiàn)路等完全都沒(méi)有受到任何屏蔽保護(hù)。這樣就必然會(huì)存在以上沒(méi)有被屏蔽保護(hù)的各種設(shè)備和線(xiàn)路受到其他外來(lái)無(wú)線(xiàn)射頻信號(hào)干擾的問(wèn)題，如果干擾信號(hào)足夠強(qiáng)的情況下，測(cè)試的通過(guò)率會(huì)嚴(yán)重下降，影響生產(chǎn)效率，甚至無(wú)法繼續(xù)生產(chǎn)造成生產(chǎn)停線(xiàn)事故。而且屏蔽箱的射頻同軸接口、同軸切換開(kāi)關(guān)、以及他們之間的射頻同軸連接線(xiàn)的屏蔽性能都是有一定限制的。這就會(huì)在收到其他無(wú)線(xiàn)信號(hào)干擾的同時(shí)，其自身也會(huì)泄露一定的無(wú)線(xiàn)射頻信號(hào)，對(duì)附近的其他無(wú)線(xiàn)設(shè)備造成干擾，從而影響到其他測(cè)試設(shè)備工作或測(cè)試結(jié)果。

通過(guò)以上分析和說(shuō)明，在同一個(gè)生產(chǎn)車(chē)間或者相對(duì)距離較近的若干個(gè)生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)如果有多套以上的普通的無(wú)線(xiàn)測(cè)試裝置，則他們之間會(huì)造成很?chē)?yán)重的相互干擾和被干擾的問(wèn)題；同時(shí)工作的設(shè)備越多就會(huì)相互干擾越嚴(yán)重，產(chǎn)品的測(cè)試通過(guò)率就會(huì)越低，本來(lái)質(zhì)量沒(méi)有問(wèn)題的電路板就很可能會(huì)被錯(cuò)誤判定為不良品，生產(chǎn)效率和質(zhì)量管控會(huì)出現(xiàn)重大問(wèn)題。這是普通的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置所固有的缺陷，其自身無(wú)法解決這個(gè)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種將全部分設(shè)備和全部線(xiàn)路及其接口都包裹在屏蔽箱內(nèi)、克服無(wú)無(wú)線(xiàn)干擾的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法。

本發(fā)明的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法具體如下：

該無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置，包括屏蔽箱、測(cè)試儀和電腦主機(jī)，其主要特點(diǎn)是，所述的測(cè)試儀和電腦主機(jī)均置于所述的屏蔽箱內(nèi)，且所述的測(cè)試儀與所述的電腦主機(jī)相連接。

較佳地，所述的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置還包括一同軸開(kāi)關(guān)，所述的同軸開(kāi)關(guān)由所述的電腦主機(jī)所控制，所述的同軸開(kāi)關(guān)有一個(gè)輸入端和兩個(gè)輸出端，所述的同軸開(kāi)關(guān)還與所述的測(cè)試儀相連接，所述的屏蔽箱包括大屏蔽箱和小屏蔽箱，所述的大屏蔽箱的數(shù)目為1個(gè)，所述的小屏蔽箱的數(shù)目為2個(gè)，且所述的大屏蔽箱中放置所述的電腦主機(jī)、測(cè)試儀和同軸開(kāi)關(guān)，所述的小屏蔽箱中設(shè)置有一可更換的測(cè)試治具，所述的大屏蔽箱通過(guò)屏蔽金屬連接板與所述的小屏蔽箱相連接。

更佳地，所述的電腦主機(jī)和所述的測(cè)試儀通過(guò)USB口連接，所述的同軸開(kāi)關(guān)的兩個(gè)輸入端分別通過(guò)射頻同軸電纜與所述的兩個(gè)小屏蔽箱中的測(cè)試治具相連接，該同軸開(kāi)關(guān)的輸出端通過(guò)射頻同軸電纜與所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀相連。

更佳地，所述的大屏蔽箱的測(cè)試儀、電腦主機(jī)、同軸開(kāi)關(guān)和所述的小屏蔽箱中的測(cè)試治具通過(guò)設(shè)置于所述的屏蔽金屬連接板上的接口實(shí)現(xiàn)連接，所述的接口包括射頻同軸電纜接口、RS232接口、RJ45網(wǎng)口和電源接口，且所述的大屏蔽箱后側(cè)設(shè)置有電源接口和顯示器的視頻接口，所述的電腦主機(jī)通過(guò)該視頻接口和視頻線(xiàn)與一顯示器相連接，且該顯示器置于所述的大屏蔽箱和小屏蔽箱外。

尤佳地，所述的測(cè)試治具通過(guò)所述的RS232接口或RJ45網(wǎng)口與所述的電腦主機(jī)相連接，且該測(cè)試治具與所述的測(cè)試儀通過(guò)射頻同軸電纜、所述的同軸開(kāi)關(guān)和所述的射頻同軸電纜接口相連接。

較佳地，所述的測(cè)試儀為一無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀。

基于以上所述的裝置實(shí)現(xiàn)無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試的方法，其主要特點(diǎn)是，所述的方法具有以下步驟：

(1)所述的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置初始化，一被測(cè)電路板安裝于所述的測(cè)試治具上，且該電腦主機(jī)通過(guò)內(nèi)置的軟件控制該測(cè)試治具處于一測(cè)試狀態(tài)；

(2)所述的測(cè)試治具通過(guò)射頻同軸電纜及同軸開(kāi)關(guān)把被測(cè)電路板的射頻信號(hào)傳輸給位于所述的大屏蔽箱內(nèi)的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀即可測(cè)得該被測(cè)電路板的相應(yīng)射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果；

(3)所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀測(cè)處理其接收到的被測(cè)電路板的射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果，并將所得測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述的電腦主機(jī)；

(4)所述的電腦主機(jī)接收該測(cè)試數(shù)據(jù)，并通過(guò)所述的內(nèi)置測(cè)試軟件對(duì)所得測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，判斷該測(cè)試板是否合格，如果合格，則繼續(xù)步驟(5)；否則所述的電腦主機(jī)發(fā)出警報(bào)，并進(jìn)入步驟(5)；

(5)所述的電腦主機(jī)控制所述的顯示器顯示測(cè)試和判定結(jié)果，并且控制所述的同軸開(kāi)關(guān)將所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀切換至與另一所述的小屏蔽箱相連接，并繼續(xù)所述的步驟(2)。

較佳地，所述的步驟(3)中所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀處理其接收到的射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果具體為：

所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀對(duì)所述的射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行解碼分析處理。

采用該種結(jié)構(gòu)的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法，由于其使用三個(gè)連體式屏蔽箱，將測(cè)試儀、電腦主機(jī)、測(cè)試治具、被測(cè)電路板、射頻同軸線(xiàn)纜及接口、同軸開(kāi)關(guān)、RS232線(xiàn)纜及接口、RJ45線(xiàn)纜及接口、屏蔽線(xiàn)之間的供電線(xiàn)纜及接口均置于屏蔽箱內(nèi)，外界干擾信號(hào)基本沒(méi)有可能在進(jìn)入該屏蔽測(cè)試裝置內(nèi)部對(duì)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)電路板造成任何干擾；而且被測(cè)的電路板的無(wú)線(xiàn)射頻信號(hào)也沒(méi)有辦法泄露到外面對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾，防止了同一個(gè)生產(chǎn)車(chē)間或者相對(duì)距離較近的若干個(gè)生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)如果有多套以上的普通的無(wú)線(xiàn)測(cè)試裝置造成很?chē)?yán)重的相互干擾和被干擾的問(wèn)題，并且克服了由該問(wèn)題造成的產(chǎn)品測(cè)試通過(guò)率偏低、生產(chǎn)效率和質(zhì)量管控的問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置正面結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法的小屏蔽箱打開(kāi)時(shí)結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置連接關(guān)系示意圖。

附圖標(biāo)記

1 大屏蔽箱

2 小屏蔽箱

3 測(cè)試儀

4 電腦主機(jī)

5 顯示器

6 同軸開(kāi)關(guān)

具體實(shí)施方式

為了更好的說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面舉出具體實(shí)施例來(lái)進(jìn)一步說(shuō)明。

請(qǐng)參閱圖1、圖2、圖3和圖4，該無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置，包括屏蔽箱、測(cè)試儀3和電腦主機(jī)4，其主要特點(diǎn)是，所述的測(cè)試儀3和電腦主機(jī)4均置于所述的屏蔽箱內(nèi)，所述的屏蔽箱包括大屏蔽箱1和小屏蔽箱2，所述的大屏蔽箱1的數(shù)目為1個(gè)，所述的小屏蔽箱2的數(shù)目為2個(gè)，且所述的大屏蔽箱1中放置所述的電腦主機(jī)4、測(cè)試儀3，且該大屏蔽箱1中還設(shè)置有一同軸開(kāi)關(guān)6，該同軸開(kāi)關(guān)6由所述的電腦主機(jī)4所控制，所述的同軸開(kāi)關(guān)6有一個(gè)輸入端和兩個(gè)輸出端，所述的同軸開(kāi)關(guān)6的兩個(gè)輸入端分別通過(guò)射頻同軸電纜與所述的兩個(gè)小屏蔽箱2中的設(shè)置的可更換的測(cè)試治具相連接，該同軸開(kāi)關(guān)6的輸出端通過(guò)射頻同軸電纜與所述的測(cè)試儀3相連，且所述的大屏蔽箱1通過(guò)屏蔽金屬連接板與所述的小屏蔽箱2相連接。

所述的大屏蔽箱1的測(cè)試儀3、電腦主機(jī)4、同軸開(kāi)關(guān)6和所述的小屏蔽箱3中的測(cè)試治具通過(guò)設(shè)置于所述的屏蔽金屬連接板上的接口實(shí)現(xiàn)連接，所述的接口包括射頻同軸電纜接口、RS232接口、RJ45網(wǎng)口和電源接口，且所述的大屏蔽箱1后側(cè)設(shè)置有電源接口和顯示器的視頻接口，所述的電腦主機(jī)4通過(guò)該視頻接口和視頻線(xiàn)與一顯示器5相連接，且該顯示器5置于所述的大屏蔽箱1和小屏蔽箱2外。

在一種更佳的實(shí)施例中，所述的電腦主機(jī)4和所述的測(cè)試儀3通過(guò)USB口連接，

所述的測(cè)試治具通過(guò)所述的RS232接口或RJ45網(wǎng)口與所述的電腦主機(jī)4相連接，且該測(cè)試治具與所述的測(cè)試儀3通過(guò)射頻同軸電纜、所述的同軸開(kāi)關(guān)6和所述的射頻同軸電纜接口相連接。

在一種較佳地的實(shí)施例中，所述的測(cè)試儀3為一無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀。

基于以上所述的裝置實(shí)現(xiàn)無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試的方法，其主要特點(diǎn)是，所述的方法具有以下步驟：

(1)所述的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置初始化，一被測(cè)電路板安裝于所述的測(cè)試治具上，且該電腦主機(jī)4通過(guò)內(nèi)置的軟件控制該測(cè)試治具處于一測(cè)試狀態(tài)；

(2)所述的測(cè)試治具通過(guò)射頻同軸電纜及同軸開(kāi)關(guān)6把被測(cè)電路板的射頻信號(hào)傳輸給位于所述的大屏蔽箱1內(nèi)的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀即可測(cè)得該被測(cè)電路板的相應(yīng)射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果；

(3)所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀測(cè)處理其接收到的被測(cè)電路板的射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果，該無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀對(duì)所述的射頻參數(shù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行解碼分析處理。并將所得測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述的電腦主機(jī)4；

(4)所述的電腦主機(jī)4接收該測(cè)試數(shù)據(jù)，并通過(guò)所述的內(nèi)置測(cè)試軟件對(duì)所得測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，判斷該測(cè)試板是否合格，如果合格，則繼續(xù)步驟(5)；否則所述的電腦主機(jī)4發(fā)出警報(bào)，并繼續(xù)步驟(5)；

(5)所述的電腦主機(jī)4控制所述的顯示器5顯示測(cè)試和判定結(jié)果，并且控制所述的同軸開(kāi)關(guān)6將所述的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀切換至與另一所述的小屏蔽箱2相連接，并繼續(xù)所述的步驟(2)。

在具體的實(shí)施方式中，在小屏蔽箱2下面增加設(shè)計(jì)一個(gè)大屏蔽箱1，所述的小屏蔽箱2和大屏蔽箱1之間通過(guò)一屏蔽金屬板相連接，并在將把電腦主機(jī)4和對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀3裝入該大屏蔽箱1內(nèi)，除了電腦主機(jī)4和測(cè)試儀3需要維護(hù)的情況外，該大屏蔽箱1始終保持關(guān)閉狀態(tài)。新的大屏蔽箱1實(shí)際上是和上面兩個(gè)小屏蔽箱2設(shè)計(jì)為一體的，相當(dāng)于3個(gè)屏蔽箱體，小屏蔽箱2與大屏蔽箱1連接面也是金屬屏蔽的；射頻同軸電纜接口、RS232串口、RJ45網(wǎng)口、電源接口都設(shè)計(jì)在該大屏蔽箱1和小屏蔽箱2的屏蔽金屬板連接面上，同軸開(kāi)關(guān)6也設(shè)計(jì)在大屏蔽箱1內(nèi)部，采用電腦主機(jī)4控制、自動(dòng)控制切換方式。這樣，整個(gè)屏蔽箱體對(duì)外的接口由多個(gè)變成了只有電源接口和顯示器5的視頻接口兩個(gè)接口，其余包括測(cè)試儀3、同軸切換開(kāi)關(guān)、測(cè)試電腦主機(jī)4以及所有的射頻同軸電纜和接口、RS232串口和串口連接線(xiàn)、RJ45網(wǎng)口和網(wǎng)線(xiàn)、內(nèi)部電源接口和電源線(xiàn)、USB接口和USB連接線(xiàn)等所有的設(shè)備和連接線(xiàn)路都完全在屏蔽箱的保護(hù)之內(nèi)；而且3個(gè)箱體之間的接口也都是屏蔽隔離的，這使得3個(gè)屏蔽箱體之間的信號(hào)幾乎不會(huì)相互產(chǎn)生干擾。屏蔽箱與外面連接的線(xiàn)路只有一條電源線(xiàn)和一個(gè)顯示器5的VGA或者HDMI視頻線(xiàn)，而且這兩條線(xiàn)與大屏蔽箱體1的接口都是采用相應(yīng)的信號(hào)屏蔽處理技術(shù)。這就使外接干擾信號(hào)幾本沒(méi)有可能在進(jìn)入該屏蔽測(cè)試裝置內(nèi)部對(duì)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)電路板造成任何干擾；而且被測(cè)的電路板的無(wú)線(xiàn)射頻信號(hào)也沒(méi)有辦法泄露到外面對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾。

在一種具體的實(shí)施例中，所述的測(cè)試儀為安捷倫4010測(cè)試儀，或其他的無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀。

本發(fā)明與普通的測(cè)試裝置實(shí)際對(duì)比測(cè)試實(shí)驗(yàn)結(jié)果如下：

從良品庫(kù)隨機(jī)抽取之前測(cè)試通過(guò)的100塊PCBA電路板用于對(duì)比實(shí)驗(yàn)，在測(cè)試裝置附近放置大功率信號(hào)發(fā)生器，發(fā)出與被測(cè)電路板一致的無(wú)線(xiàn)干擾信號(hào)源。首先采用原有普通測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果為10塊通過(guò)，90塊不通過(guò)，測(cè)試通過(guò)率僅為10％；然后采用本發(fā)明測(cè)試裝置對(duì)這100塊電路板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果為100塊全部一次通過(guò)，測(cè)試通過(guò)率為100％。本發(fā)明對(duì)于各種帶有無(wú)線(xiàn)通訊功能產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試具有非常重要的意義，可以確保生產(chǎn)環(huán)境無(wú)線(xiàn)信號(hào)不會(huì)產(chǎn)生相互干擾，大幅度降低因無(wú)線(xiàn)信號(hào)干擾而產(chǎn)生的誤判和復(fù)測(cè)問(wèn)題。根據(jù)實(shí)際使用對(duì)比的結(jié)果分析，單降低復(fù)測(cè)率一項(xiàng)即可有效提高生產(chǎn)效率30以上。如果把干擾嚴(yán)重的停線(xiàn)等情況都考慮在內(nèi)，產(chǎn)品的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試綜合效率可以提高50％左右。這對(duì)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品提高生產(chǎn)效率和降低生產(chǎn)成本具有重大意義。

采用該種結(jié)構(gòu)的無(wú)線(xiàn)靜態(tài)測(cè)試裝置及其方法，由于其使用三個(gè)連體式屏蔽箱，將測(cè)試儀3、電腦主機(jī)4、測(cè)試治具、被測(cè)電路板、射頻同軸線(xiàn)纜及接口、同軸開(kāi)關(guān)6、RS232線(xiàn)纜及接口、RJ45線(xiàn)纜及接口、屏蔽線(xiàn)之間的供電線(xiàn)纜及接口均置于屏蔽箱內(nèi)，外界干擾信號(hào)基本沒(méi)有可能在進(jìn)入該屏蔽測(cè)試裝置內(nèi)部對(duì)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)電路板造成任何干擾；而且被測(cè)的電路板的無(wú)線(xiàn)射頻信號(hào)也沒(méi)有辦法泄露到外面對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾，防止了同一個(gè)生產(chǎn)車(chē)間或者相對(duì)距離較近的若干個(gè)生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)如果有多套以上的普通的無(wú)線(xiàn)測(cè)試裝置造成很?chē)?yán)重的相互干擾和被干擾的問(wèn)題，并且克服了由該問(wèn)題造成的產(chǎn)品測(cè)試通過(guò)率偏低、生產(chǎn)效率和質(zhì)量管控的問(wèn)題。

在此說(shuō)明書(shū)中，本發(fā)明已參照其特定的實(shí)施例作了描述。但是，很顯然仍可以作出各種修改和變換而不背離本發(fā)明的精神和范圍。因此，說(shuō)明書(shū)和附圖應(yīng)被認(rèn)為是說(shuō)明性的而非限制性的。