本發(fā)明涉及一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法及裝置，屬于石油工程測(cè)井技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

微電阻率掃描成像測(cè)井儀器有多個(gè)極板，每個(gè)極板上分布多個(gè)電扣，用來(lái)測(cè)量井周電導(dǎo)率變化情況，在采集數(shù)據(jù)的過(guò)程中，由于儀器或井下情況比較復(fù)雜，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如果不對(duì)這些異常數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，會(huì)明顯影響成像效果，以及成像資料解釋和應(yīng)用。例如：由于井壁不規(guī)則，極板貼井壁不好，或個(gè)別電扣損壞，會(huì)造成個(gè)別極板記錄的電導(dǎo)率偏低，或個(gè)別電扣測(cè)量數(shù)據(jù)異常，使得處理的圖像出現(xiàn)條帶形或線型異常；不同井段地層巖性變化大，導(dǎo)致電導(dǎo)率數(shù)值差異過(guò)大(如圖8所示，上部是砂泥巖地層，下部是凝灰?guī)r地層，上下深度段電導(dǎo)率相差近兩個(gè)數(shù)量級(jí))，雖然這種資料是地層的真實(shí)反映，但無(wú)法對(duì)靜態(tài)圖像進(jìn)行很好的刻度和描述，成像后會(huì)影響橫向分辨率和縱向成圖效果；噪聲或記錄、刻度等因素會(huì)造成個(gè)別或部分記錄數(shù)據(jù)出現(xiàn)負(fù)數(shù)，在圖像上會(huì)出現(xiàn)白點(diǎn)或白塊。

而目前對(duì)于上述異常數(shù)據(jù)的常規(guī)的處理方法是，在全井段范圍內(nèi)計(jì)算一個(gè)平均值，然后用該平均值代替這些異常數(shù)據(jù)。由于局部范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)可能與全局范圍的平均值相差比較大，這種做法會(huì)使得異常范圍處的數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)相差比較大，且數(shù)據(jù)沒(méi)有層次變化，沒(méi)有體現(xiàn)自身變化特性，這種處理方法顯然是不合理的。附圖3所示為某測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)中存在極板數(shù)據(jù)偏大的情況，可以看出第5號(hào)極板由于的數(shù)據(jù)偏大，成像后與其他幾個(gè)極板明顯不同。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，以解決目前對(duì)于異常數(shù)據(jù)校正沒(méi)有體現(xiàn)數(shù)據(jù)層次變化，導(dǎo)致校正后的數(shù)據(jù)無(wú)法體現(xiàn)數(shù)據(jù)真實(shí)變化的問(wèn)題。同時(shí)本發(fā)明還提供了一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正裝置。

本發(fā)明為解決上述技術(shù)問(wèn)題而提供一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，該校正方法方案一：該方法包括以下步驟：

1)采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類(lèi)型；

2)根據(jù)異常類(lèi)型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；

3)利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；

4)當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。

方法方案二：在方法方案一的基礎(chǔ)上，所述的異常數(shù)據(jù)至少包括以下任意一種：存在極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏?。淮嬖诓煌伍g縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值。

方法方案三：在方法方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)異常數(shù)據(jù)為極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小時(shí)，其平均值計(jì)算為：

I.根據(jù)極板和電扣在儀器上的排列規(guī)律，在橫向上和縱向上找出異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)；

II.利用相鄰正常數(shù)據(jù)，通過(guò)反距離加權(quán)插值法依次計(jì)算出異常數(shù)據(jù)深度位置的正常數(shù)據(jù)。

方法方案四：在方法方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值時(shí)，其對(duì)應(yīng)的平均值計(jì)算過(guò)程為：

a.設(shè)異常數(shù)據(jù)深度范圍為B-C，其相鄰正常深度范圍為A-B與C-D，深度方向上A＜B＜C＜D；

b.計(jì)算A-B的平均值為P，C-D的平均值為Q；

c.將B-C深度范圍劃分為n段，計(jì)算每一段的平均值V_i，

方法方案五：在方法方案二的基礎(chǔ)上，所述步驟3)中異常數(shù)據(jù)可信度的計(jì)算如下：

將異常數(shù)據(jù)B和與其相鄰的正常數(shù)據(jù)A和C均平均分為m段，并計(jì)算異常數(shù)據(jù)中每一段的平均值B_i、與其相鄰的正常數(shù)據(jù)中每一段的平均值A(chǔ)_i和C_i，1≤i≤m-1；

分別統(tǒng)計(jì)A_i+1-A_i與B_i+1-B_i以及C_i+1-C_i與B_i+1-B_i符號(hào)相同的個(gè)數(shù)，計(jì)算B與C以及B與A的相同率R_B-C和R_B-A，R_B-C和R_B-A中的較大者即為異常數(shù)據(jù)B的可信度；

方法方案六：在方法方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，其校正過(guò)程如下：

((1)在異常范圍內(nèi)將異常數(shù)據(jù)平均分為至少兩段，每一段中每個(gè)電扣有n個(gè)數(shù)據(jù)；

(2)計(jì)算所述n個(gè)數(shù)據(jù)的平均值P，并計(jì)算每個(gè)數(shù)據(jù)相對(duì)于P的增量W_i，W_i＝V_i/p(1≤i≤n)；

(3)將增量W_i“加”到Q上，即Z_i＝W_i*Q，其中Z_i即為校正后的值。

方法方案七：在方法方案二的基礎(chǔ)上，所述的異常數(shù)據(jù)還包括檢測(cè)的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，若檢測(cè)的數(shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，則將其映射為正數(shù)，并判斷映射的數(shù)據(jù)是否存在偏大或偏小的異常，若存在則利用步驟2)-4)進(jìn)行校正。

方法方案八：在方法方案七的基礎(chǔ)上，將負(fù)的測(cè)井?dāng)?shù)映射為正的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)的過(guò)程如下：

A.設(shè)某極板的某電扣在某一深度范圍的數(shù)據(jù)為V₁、V₂...V_n，其中V₁和V_n為正數(shù)，而V₂到V_n-1全為負(fù)數(shù)；

B.求出V₂到V_n-1范圍內(nèi)的最小值V_min，且V_min所在的深度為D；

C.求出相鄰正常電扣在深度D處的平均值V_aver；

D.通過(guò)線性映射方程y＝kx+b，將V₂到V_min之間的值映射到V_aver與V₁范圍內(nèi)，線性映射處理后，V₁到V_min之間的數(shù)值都為正數(shù)，

其中

E.同理，對(duì)于V_min到V_n-1之間的數(shù)據(jù)映射方法，其映射方程也為y＝kx+b，其中

本發(fā)明還提供了一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正裝置，裝置方案一：該校正裝置包括異常判斷模塊、均值計(jì)算模塊、可信度計(jì)算模塊和校正模塊，

所述的異常判斷模塊用于采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類(lèi)型；

所述的均值計(jì)算模塊用于根據(jù)異常類(lèi)型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；

所述的可信度計(jì)算模塊利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；

所述的校正模塊用于當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。

裝置方案二：在裝置方案一的基礎(chǔ)上，所述的異常數(shù)據(jù)至少包括以下任意一種：存在極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小；存在不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值。

裝置方案三：在裝置方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)異常數(shù)據(jù)為極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小時(shí)，所述的均值計(jì)算模塊的計(jì)算過(guò)程如下：

I.根據(jù)極板和電扣在儀器上的排列規(guī)律，在橫向上和縱向上找出異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)；

II.利用相鄰正常數(shù)據(jù)，通過(guò)反距離加權(quán)插值法依次計(jì)算出異常數(shù)據(jù)深度位置的正常數(shù)據(jù)。

裝置方案四：在裝置方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值時(shí)，所述均值計(jì)算模塊的計(jì)算過(guò)程為：

a.設(shè)異常數(shù)據(jù)深度范圍為B-C，其相鄰正常深度范圍為A-B與C-D，深度方向上A＜B＜C＜D；

b.計(jì)算A-B的平均值為P，C-D的平均值為Q；

c.將B-C深度范圍劃分為n段，計(jì)算每一段的平均值V_i，

裝置方案五：在裝置方案二的基礎(chǔ)上，所述可信度計(jì)算模塊中異常數(shù)據(jù)可信度的計(jì)算如下：

將異常數(shù)據(jù)B和與其相鄰的正常數(shù)據(jù)A和C均平均分為m段，并計(jì)算異常數(shù)據(jù)中每一段的平均值B_i、與其相鄰的正常數(shù)據(jù)中每一段的平均值A(chǔ)_i和C_i，1≤i≤m-1；

分別統(tǒng)計(jì)A_i+1-A_i與B_i+1-B_i以及C_i+1-C_i與B_i+1-B_i符號(hào)相同的個(gè)數(shù)，計(jì)算B與C以及B與A的相同率R_B-C和R_B-A，R_B-C和R_B-A中的較大者即為異常數(shù)據(jù)B的可信度；

裝置方案六：在裝置方案二的基礎(chǔ)上，當(dāng)異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，校正模塊的校正過(guò)程如下：

(1)在異常范圍內(nèi)將異常數(shù)據(jù)平均分為至少兩段，每一段中每個(gè)電扣有n個(gè)數(shù)據(jù)；

(2)計(jì)算所述n個(gè)數(shù)據(jù)的平均值P，并計(jì)算每個(gè)數(shù)據(jù)相對(duì)于P的增量W_i，W_i＝V_i/p(1≤i≤n)；

(3)將增量W_i“加”到Q上，即Z_i＝W_i*Q，其中Z_i即為校正后的值。

裝置方案七：在裝置方案二的基礎(chǔ)上，所述的異常數(shù)據(jù)還包括檢測(cè)的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，若檢測(cè)的數(shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，則將其映射為正數(shù)，并判斷映射的數(shù)據(jù)是否存在偏大或偏小的異常，若存在則利用均值計(jì)算模塊、可信度計(jì)算模塊和校正模塊進(jìn)行校正。

裝置方案八：在裝置方案七的基礎(chǔ)上，將負(fù)的測(cè)井?dāng)?shù)映射為正的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)的過(guò)程如下：

A.設(shè)某極板的某電扣在某一深度范圍的數(shù)據(jù)為V₁、V₂...V_n，其中V₁和V_n為正數(shù)，而V₂到V_n-1全為負(fù)數(shù)；

B.求出V₂到V_n-1范圍內(nèi)的最小值V_min，且V_min所在的深度為D；

C.求出相鄰正常電扣在深度D處的平均值V_aver；

D.通過(guò)線性映射方程y＝kx+b，將V₂到V_min之間的值映射到V_aver與V₁范圍內(nèi)，線性映射處理后，V₁到V_min之間的數(shù)值都為正數(shù)，

其中

E.對(duì)于V_min到V_n-1之間的數(shù)據(jù)映射方法，其映射方程也為y＝kx+b，其中

本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明首先采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類(lèi)型；然后根據(jù)異常類(lèi)型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；再利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，并根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；最后在異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，利用平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；在異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。本發(fā)明的校正方法能在整體上使校正后的異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)大小相吻合，同時(shí)在局部上又保留了自身的變化特征，經(jīng)過(guò)可視化成像后，取得較好的成圖效果。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的技術(shù)實(shí)施流程圖；

圖2為本發(fā)明的方法原理示意圖；

圖3為X1井STAR-II微電阻率掃描成像原始數(shù)據(jù)及成像顯示圖；

圖4為X1井STAR-II微電阻率掃描成像異常校正后極板數(shù)據(jù)及成像顯示圖；

圖5為X2井FMI微電阻率掃描成像原始極板數(shù)據(jù)曲線圖；

圖6為X2井FMI微電阻率掃描成像異常校正后極板數(shù)據(jù)曲線圖；

圖7為X2井FMI微電阻率掃描成像校正前后處理圖像對(duì)比圖；

圖8為X3井XRMI微電阻率掃描成像校正前極板數(shù)據(jù)及處理圖像顯示圖；

圖9為X3井XRMI微電阻率掃描成像校正后極板數(shù)據(jù)及處理圖像顯示圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式做進(jìn)一步的說(shuō)明。

本發(fā)明微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法的實(shí)施例

本發(fā)明的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法針對(duì)的是異常主要包括以下兩種：第一種是個(gè)別極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小；第二種是不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大。本發(fā)明的校正方法能夠?qū)ι鲜鰞煞N異常數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，該方法的流程如圖1所示，首先檢測(cè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否存在異常，并判斷異常數(shù)據(jù)；然后利用異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；再計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，利用平均值代替異常數(shù)據(jù)，若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征“加到”平均值上來(lái)代替異常數(shù)據(jù)。該方法具體的實(shí)施步驟如下：

1.檢測(cè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否存在異常，并判斷異常數(shù)據(jù)類(lèi)型。

本發(fā)明的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)指的是極板電導(dǎo)率數(shù)據(jù)，異常數(shù)據(jù)類(lèi)型主要包括兩種：第一種是個(gè)別極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏?。坏诙N是不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大。檢測(cè)數(shù)據(jù)是否存在異常，最終的檢測(cè)結(jié)果為數(shù)據(jù)正?；驍?shù)據(jù)存在一種或多種異常；如果數(shù)據(jù)存在異常，確定異常類(lèi)型、異常數(shù)據(jù)所在的極板(或電扣)編號(hào)以及異常范圍；檢測(cè)是否存在極板或者電扣整體數(shù)值偏大或偏小，以檢測(cè)極板為例，具體步驟如下：

1)檢測(cè)極板PADn在深度DEP處是否偏大或偏小。

計(jì)算極板PADn在深度DEP處電扣電導(dǎo)率(或電阻率)均值P，而其他各極板所有電扣在這一深度的平均值為A，則可以設(shè)置一個(gè)偏大閾值Rmax和一個(gè)偏小閾值Rmin，若P>A*Rmax，則認(rèn)為該極板數(shù)據(jù)在深度DEP偏大，若P<A/Rmin，則認(rèn)為該極板數(shù)據(jù)在深度DEP偏小。

2)統(tǒng)計(jì)極板PADn偏大或偏小的深度范圍。

在全井段深度范圍內(nèi)檢測(cè)極板PADn是否偏大或偏小，如果極板PADn在某一深度范圍內(nèi)連續(xù)偏大(或連續(xù)偏小)，則認(rèn)為該極板在該深度范圍異常，且異常類(lèi)型為偏大(或偏小)。

電扣的檢測(cè)方法與極板的檢測(cè)方法類(lèi)似，在此不再詳述。檢測(cè)數(shù)據(jù)是否存在地層特征差異過(guò)大，方法與上述步驟1)和2)相同，只需將所有極板看做一個(gè)整體，與上下相鄰深度范圍進(jìn)行比較。

2.利用異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值，異常數(shù)據(jù)的類(lèi)型不同，其均值有不同的計(jì)算方法。

當(dāng)異常數(shù)據(jù)的類(lèi)型為地層差異過(guò)大時(shí)，均值的計(jì)算步驟如下：

1)假設(shè)異常數(shù)據(jù)深度范圍為B-C，其相鄰正常深度范圍為A-B與C-D(即深度方向上A＜B＜C＜D)；

2)計(jì)算A-B的平均值為P，C-D的平均值為Q；

3)校正B-C深度范圍時(shí)，設(shè)分段長(zhǎng)度為L(zhǎng)，共分為n段，則第i段的平均值為

當(dāng)異常數(shù)據(jù)的類(lèi)型為極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小，通過(guò)反距離加權(quán)插值法來(lái)計(jì)算平均值，步驟如下：

1)根據(jù)極板和電扣在儀器上的排列規(guī)律，在橫向上(極板、電扣排列方向)和縱向上(深度方向上)找出異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)。

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中XRMI微電阻率掃描成像數(shù)據(jù)的部分極板和電扣的排列示意圖，假設(shè)5號(hào)極板為異常極板，則相鄰的4、6號(hào)極板為正常極板。

2)利用相鄰正常數(shù)據(jù)，通過(guò)反距離加權(quán)插值法，依次計(jì)算出異常數(shù)據(jù)深度位置的正常數(shù)據(jù)。

通過(guò)4、6號(hào)極板計(jì)算5號(hào)極板的數(shù)據(jù)，假設(shè)橫向上左右各取25個(gè)點(diǎn)參與計(jì)算，縱向上取上下相鄰的8個(gè)點(diǎn)參與計(jì)算，則5號(hào)極板的每一個(gè)電扣的值是通過(guò)25×2×(8×2+1)＝850個(gè)點(diǎn)計(jì)算得到的，且設(shè)這850個(gè)點(diǎn)每個(gè)點(diǎn)的值為Vi(1≤i≤850)；如圖2所示，以計(jì)算a的值為例，參與計(jì)算的各個(gè)點(diǎn)的權(quán)重為各個(gè)點(diǎn)到a點(diǎn)的距離的倒數(shù)；b點(diǎn)到a點(diǎn)的距離為c到a的距離為其它各點(diǎn)到a的距離以此類(lèi)推，這樣就可以求得各點(diǎn)到a點(diǎn)的距離的倒數(shù)，其他各點(diǎn)到a的距離依此類(lèi)推，這樣就可以求得各點(diǎn)到a點(diǎn)的距離的倒數(shù)，假設(shè)分別為W₁、W₂…W₈₅₀；根據(jù)所計(jì)算的W_i求得比例系數(shù)k，由k計(jì)算a點(diǎn)對(duì)應(yīng)的平均值Va，通過(guò)這種方式即可計(jì)算出5號(hào)極板的每一個(gè)數(shù)值。

其中

3.利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信，過(guò)程如下：

1)在異常范圍內(nèi)，將異常數(shù)據(jù)平均分為若干段，然后計(jì)算每一段的平均值。假設(shè)異常極板為B，平均分為m段，各段的數(shù)據(jù)平均值為：B₁、B₂...B_n；假設(shè)極板B相鄰的正常極板為A、C，同理可求得A₁、A₂...A_n和C₁、C₂...C_n。

2)計(jì)算B與相鄰數(shù)據(jù)的相似性：假如A₂>A₁且B₂>B₁(或者A₂<A₁且B₂<B₁或者A₂＝A₁且B₂＝B₁，即A₂-A₁與B₂-B₁的符號(hào)相同)，則認(rèn)為極板B在B₂處可信；同理，依此計(jì)算A_i+1-A_i與B_i+1-B_i(1≤i≤m-1)的符號(hào)是否相同，統(tǒng)計(jì)相同的個(gè)數(shù)，假如共有h個(gè)點(diǎn)相同，則可以計(jì)算出B與A的相同率R_B-A，R_B-A＝h/m-1；同樣可以計(jì)算B與C的相同率R_B-C。

3)比較R_B-A與R_B-A，將兩者中的較大者R作為B數(shù)據(jù)最終的可信度R，將可信度R與設(shè)定的閾值α進(jìn)行比較，若R大于α，則認(rèn)為極板B的數(shù)據(jù)可信，否則認(rèn)為不可信。

4.根據(jù)異常數(shù)據(jù)的可信度和其對(duì)應(yīng)的平均值對(duì)異常數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將異常數(shù)據(jù)直接替換為由步驟2計(jì)算出的平均值。當(dāng)異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征“加到”平均值上來(lái)代替異常數(shù)據(jù)，具體過(guò)程如下：

1)在異常范圍內(nèi)將異常數(shù)據(jù)平均分為若干段，假設(shè)每一段中每個(gè)電扣有n個(gè)數(shù)據(jù)；

2)設(shè)n個(gè)數(shù)據(jù)中各個(gè)數(shù)據(jù)的值為V_i，則可以計(jì)算這n個(gè)數(shù)據(jù)的平均值P，步驟2中已經(jīng)計(jì)算出了異常極板各個(gè)電扣的值，則可以計(jì)算出相同電扣編號(hào)在相同深度范圍中的平均值Q；

3)計(jì)算這n個(gè)數(shù)據(jù)中每一個(gè)數(shù)據(jù)相對(duì)于P的增量W_i，即W_i＝V_i/p(1≤i≤n)；

4)將增量W_i“加”到Q上，即Z_i＝W_i*Q，其中Z_i即為校正后的值；

5)深度方向上按分段從上往下、在橫向上按電扣編號(hào)小到大，重復(fù)步驟2)到步驟4)，即可實(shí)現(xiàn)。

上述異常數(shù)據(jù)指的是上述兩種異常數(shù)據(jù)，當(dāng)采集到的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，現(xiàn)有技術(shù)一般直接將其舍棄，本發(fā)明將采集到的為負(fù)數(shù)的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)映射到正數(shù)，使負(fù)值也具有可用價(jià)值，下面以某極板的某電扣在某一深度范圍的數(shù)據(jù)為例，其具體映射過(guò)程如下：

A.設(shè)某極板的某電扣在某一深度范圍的數(shù)據(jù)為V₁、V₂...V_n，其中V₁和V_n為正數(shù)，而V₂到V_n-1全為負(fù)數(shù)；

B.求出V₂到V_n-1范圍內(nèi)的最小值V_min，且V_min所在的深度為D；

C.求出相鄰正常電扣在深度D處的平均值V_aver；

D.通過(guò)線性映射方程y＝kx+b，將V₂到V_min之間的值映射到V_aver與V₁范圍內(nèi)，線性映射處理后，V₁到V_min之間的數(shù)值都為正數(shù)，

其中

E.同理，對(duì)于V_min到V_n-1之間的數(shù)據(jù)映射方法，其映射方程也為y＝kx+b，其中

判斷上述映射后的數(shù)據(jù)是否存在偏大或偏小的異常，若存在則利用步驟2-4進(jìn)行校正。

下面結(jié)合具體的實(shí)例針對(duì)三種不同的數(shù)據(jù)異常進(jìn)行驗(yàn)證。

實(shí)例1：對(duì)極板或電扣數(shù)據(jù)偏大異常進(jìn)行校正。

如圖3為X1井STAR-II微電阻率掃描成像原始數(shù)據(jù)及成像顯示，通過(guò)對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行異常檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果為5號(hào)極板全井段數(shù)值偏大，3號(hào)極板第11號(hào)電扣全井段數(shù)值偏大(見(jiàn)第一道的原始極板數(shù)據(jù))，處理的靜、動(dòng)態(tài)圖象有明顯的暗色條帶和線狀條紋(第二、三道)。應(yīng)用本發(fā)明的校正方法能夠?qū)z測(cè)到的異常類(lèi)型進(jìn)行校正，校正后極板數(shù)據(jù)及成像結(jié)果如圖4所示。

實(shí)例2：對(duì)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)負(fù)數(shù)異常值處理。

圖5為X2井FMI微電阻掃描成像原始極板數(shù)據(jù)曲線，從中可以看出，3號(hào)臂上的主機(jī)板出現(xiàn)大量負(fù)值(FCC1和FCC2)，但各紐扣曲線的變化趨勢(shì)與其它極板一致，不屬于極板數(shù)據(jù)完全失效的情況，這種數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)一定的校正處理仍然可以使用。

校正前，如果將負(fù)數(shù)用接近于0的極小值代替，圖像中將出現(xiàn)大量的白塊，顯然不合適；若不對(duì)負(fù)數(shù)做異常處理，使得有效數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的顏色刻度范圍縮小，靜態(tài)圖像分辨率降低(如圖7第一道靜態(tài)圖像)，動(dòng)態(tài)圖像在負(fù)值處出現(xiàn)白點(diǎn)或白塊(如圖7第三道動(dòng)態(tài)圖像)。針對(duì)上述異常，采用本發(fā)明的校正方法，現(xiàn)將負(fù)數(shù)提供線性映射處理為正數(shù)，再提取其特征值加到平均值上，取得了較好的效果，如圖6為校正后極板數(shù)據(jù)曲線圖，圖7中的第二道和第四道是異常校正后處理的靜、動(dòng)態(tài)圖像。

實(shí)例3：對(duì)地層特征差異過(guò)大校正的驗(yàn)證

圖8為X3井XRMI微電阻率掃描成像原始極板數(shù)據(jù)及圖像顯示，該井測(cè)量井段內(nèi)地層巖性變化較大，上部是砂泥巖地層，記錄的極板數(shù)值變化范圍為0-1000(如圖8的第一、二道)，下部是凝灰?guī)r地層，記錄的極板數(shù)值變化范圍為0-1000(如圖8的第四、五道)，雖然這種資料是地層的真實(shí)反映，但無(wú)法對(duì)靜態(tài)圖像進(jìn)行很好的刻度和描述，影響縱向成圖效果，如圖8中第三道為了較好的刻度和顯示上部地層的靜態(tài)圖像，使得下部圖像全部變?yōu)榱辽?，第六道為了展現(xiàn)下部地層的靜態(tài)圖像，將刻度從1024降到了32，使得上部圖像全部變?yōu)榱税瞪?/p>

應(yīng)用本發(fā)明的校正方法對(duì)X3井進(jìn)行校正和處理，校正后的結(jié)果如圖9所示，既提高了圖像的縱向成圖效果，又保證了地層巖性變化特征。

可見(jiàn)本發(fā)明的能夠自動(dòng)檢測(cè)各種異常數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)中的負(fù)值、橫向偏大或偏小、縱向差異過(guò)大的自動(dòng)校正。本發(fā)明通過(guò)計(jì)算各種異常數(shù)據(jù)的平均值，克服了用全局平均值代替局部數(shù)據(jù)導(dǎo)致數(shù)據(jù)差異過(guò)大的問(wèn)題；同時(shí)通過(guò)計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，在異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，將異常數(shù)據(jù)加到均值上作為校正后的數(shù)據(jù)，使存在可用價(jià)值的異常數(shù)據(jù)能夠發(fā)揮作用，解決了處理后圖像無(wú)自身極板地層特征的問(wèn)題。同時(shí)將負(fù)值映射到正數(shù)范圍，使負(fù)值也具有可用性?？傊?，本發(fā)明的數(shù)據(jù)異常校正方法提高了測(cè)井資料的顯示效果和測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)的整體利用率。

本發(fā)明微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正裝置的實(shí)施例。

本實(shí)施例中的校正裝置包括異常判斷模塊、均值計(jì)算模塊、可信度計(jì)算模塊和校正模塊，異常判斷模塊用于采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類(lèi)型；均值計(jì)算模塊用于根據(jù)異常類(lèi)型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；可信度計(jì)算模塊利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；校正模塊用于當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。各模塊的具體實(shí)現(xiàn)手段已在方法的實(shí)施例中進(jìn)行了詳述，這里不再贅述。

本發(fā)明所述的方法及裝置并不限于具體實(shí)施方式中所述的實(shí)施示例，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案得出其他的實(shí)施方式，同樣屬于本發(fā)明的技術(shù)創(chuàng)新范圍。