本發(fā)明涉及微弱信號(hào)檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件,用于微弱電信號(hào)極低頻低噪聲的前置放大。
背景技術(shù):
低噪聲前置放大器通常作為第一級(jí)放大電路,目前已經(jīng)被廣泛地應(yīng)用于各類無線電接收機(jī)和高靈敏電子探測設(shè)備中,其噪聲水平很大程度上決定了整個(gè)放大電路乃至整個(gè)儀器設(shè)備的噪聲相關(guān)性能。傳統(tǒng)的低噪聲放大器一般由于受到硅基半導(dǎo)體內(nèi)在物理機(jī)制的限制,存在明顯的1/f噪聲特性,頻率越低,噪聲越大,導(dǎo)致用于極低頻(<1Hz)信號(hào)的低噪聲放大器其噪聲水平很難達(dá)到亞nV量級(jí)。在很多需要檢測極低頻微弱信號(hào)的情況下,難以達(dá)到要求。例如:海洋電場檢測可應(yīng)用于海洋地質(zhì)勘探、水下目標(biāo)探測、腐蝕檢測等方面,但是由于海水導(dǎo)電,海洋電場頻域越高,衰減越快,一般海洋電場檢測的是極低頻微弱信號(hào),傳統(tǒng)放大器難以滿足海洋電場檢測的需要。
目前,在科研實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域廣為使用的是美國Stanford Research公司的SR560型低噪聲前置電壓放大器,該低噪聲前置電壓放大器存在明顯的1/f噪聲特性,其拐點(diǎn)頻率在100Hz左右,典型低頻本底噪聲為4nV/√Hz@100Hz、10nV/√Hz@10Hz、40nV/√Hz@1Hz。此外,TI公司優(yōu)秀的低噪聲放大芯片opa211高頻處噪聲密度為1.1nV/√Hz,其拐點(diǎn)頻率在100Hz左右,在1Hz處的噪聲密度為6nV/√Hz。為了減小低頻1/f噪聲,國內(nèi)外研究人員普遍采用斬波調(diào)制的方法。國內(nèi)邱賀等人設(shè)計(jì)并研制了斬波前置放大器并進(jìn)行了測試,在頻帶范圍0.001Hz~10kHz,等效輸入噪聲密度為3.75nV/√Hz。德國D.Drung等人設(shè)計(jì)并研制了一款斬波低噪聲放大器,等效輸入噪聲密度達(dá)到0.73nV/√Hz,1/f噪聲的拐點(diǎn)頻率為3mHz。為了實(shí)現(xiàn)低頻低噪聲放大,國內(nèi)外的專利也主要是通過斬波調(diào)制實(shí)現(xiàn),尚未見其它基于新原理的極低頻低噪聲放大器的研究。但是,斬波放大器由于時(shí)鐘潰通、電荷注入等非理性特性,輸出會(huì)存在一定的殘余失調(diào),從而影響了它的性能。可見,傳統(tǒng)低噪聲放大器的噪聲達(dá)到1nV/√Hz左右難以繼續(xù)降低,且在極低頻處的噪聲可能更大,難以滿足某些極低頻微弱信號(hào)測量的需求。亟待開展基于新原理的極低頻低噪聲前置放大器研究。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述問題,提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)亞納伏級(jí)別的低噪聲放大,磁場聚集放大效果好、抗外磁場干擾性能好、體積小、電-磁信號(hào)轉(zhuǎn)化效率高的利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
一種利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件,包括絕緣基底和磁力線聚集器,所述磁力線聚集器的底面上繞設(shè)有底層線圈,所述磁力線聚集器的頂面上繞設(shè)有頂層線圈,所述磁力線聚集器呈回形結(jié)構(gòu)且由兩個(gè)采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底上形成的高導(dǎo)磁部件呈軸對(duì)稱布置構(gòu)成,兩個(gè)高導(dǎo)磁部件之間設(shè)有間隙,所述絕緣基底上位于所述間隙內(nèi)設(shè)有磁場敏感元件,所述絕緣基底上位于磁場敏感元件的上方設(shè)有微壓電橋調(diào)制組件。
優(yōu)選地,所述磁場敏感元件為由第一TMR敏感元件、第二TMR敏感元件、第三TMR敏感元件、第四TMR敏感元件四者組成的惠斯通電橋,所述第一TMR敏感元件、第二TMR敏感元件、第三TMR敏感元件、第四TMR敏感元件四者的敏感磁場的方向一致,所述兩個(gè)高導(dǎo)磁部件之間的間隙包括第一間隙和第二間隙,所述第一TMR敏感元件和第三TMR敏感元件布置于第一間隙中,所述第二TMR敏感元件和第四TMR敏感元件布置于第二間隙中。
優(yōu)選地,所述微壓電橋調(diào)制組件包括微壓懸臂梁,所述微壓懸臂梁分別和設(shè)于絕緣基底上的第七連接電極和第八連接電極相連,所述微壓懸臂梁的兩端分別設(shè)有微壓電橋基座,所述微壓懸臂梁通過微壓電橋基座固定于絕緣基底上,所述微壓懸臂梁的底面上位于第一間隙和第二間隙的位置均設(shè)有調(diào)制膜。
優(yōu)選地,所述微壓懸臂梁采用壓電晶體材料制成。
本發(fā)明利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件具有下述優(yōu)點(diǎn):
1、近年來高分辨力磁場傳感器的性能指標(biāo)不斷提升,現(xiàn)已能夠探測到pT量級(jí)的極微弱磁場。根據(jù)畢奧-薩伐爾定理,利用高分辨力磁場傳感器探測通電線圈感生的磁場信號(hào),可實(shí)現(xiàn)對(duì)微弱電信號(hào)的間接測量和放大,其極低頻噪聲有望突破至亞nV量級(jí),相比傳統(tǒng)低噪聲放大電路優(yōu)勢明顯,本發(fā)明包括絕緣基底和磁力線聚集器,磁力線聚集器的底面上繞設(shè)有底層線圈,磁力線聚集器的頂面上繞設(shè)有頂層線圈,磁力線聚集器呈回形結(jié)構(gòu)且由兩個(gè)采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底上形成的高導(dǎo)磁部件呈軸對(duì)稱布置構(gòu)成,兩個(gè)高導(dǎo)磁部件之間設(shè)有間隙,絕緣基底上位于間隙內(nèi)設(shè)有磁場敏感元件,絕緣基底上位于磁場敏感元件的上方設(shè)有微壓電橋調(diào)制組件,利用高分辨力磁場傳感器技術(shù)來實(shí)現(xiàn)低噪聲前置放大,通過電流線圈和磁力線聚集器等結(jié)構(gòu)把電信號(hào)高效地轉(zhuǎn)化為磁信號(hào),再用磁場敏感元件使得該器件對(duì)極低頻電信號(hào)具有亞納伏級(jí)別(nV級(jí))的低噪聲放大功能。
2、本發(fā)明磁力線聚集器呈回形結(jié)構(gòu),使得磁場形成回路,能夠提高磁場聚集放大效果。
3、本發(fā)明的磁力線聚集器呈回形結(jié)構(gòu)且由兩個(gè)采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底上形成的高導(dǎo)磁部件呈軸對(duì)稱布置構(gòu)成,兩個(gè)高導(dǎo)磁部件之間設(shè)有間隙,采用具有兩個(gè)間隙的對(duì)稱結(jié)構(gòu),外磁場對(duì)輸出的影響被抵消,降低了外磁場對(duì)磁場探測的影響。
4、本發(fā)明構(gòu)成磁力線聚集器的高導(dǎo)磁部件采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底上,采用了采用MEMS工藝制備,減小了器件的尺寸,同時(shí)減小了被測磁場位置與電流線圈的距離,提高了電-磁信號(hào)轉(zhuǎn)化效率。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例的主視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明實(shí)施例不含微壓電橋調(diào)制組件部分的主視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本發(fā)明實(shí)施例的線圈原理結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為本發(fā)明實(shí)施例的惠斯通電橋結(jié)構(gòu)示意圖。
圖5為圖1中A-A剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖6為圖1中B-B剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖7為圖1中C-C剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
圖例說明:1、絕緣基底;11、第一連接電極;14、第一連接電極(11)~第四連接電極;15、第五連接電極;16、第六連接電極;17、第七連接電極;18、第八連接電極;2、磁力線聚集器;21、高導(dǎo)磁部件;211、第一間隙;212、第二間隙;3、底層線圈;4、頂層線圈;5、磁場敏感元件;51、第一TMR敏感元件;52、第二TMR敏感元件;53、第三TMR敏感元件;54、第四TMR敏感元件;6、微壓電橋調(diào)制組件;61、微壓懸臂梁;62、微壓電橋基座;63、調(diào)制膜。
具體實(shí)施方式
如圖1、圖2和圖3所示,本實(shí)施例的利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件包括絕緣基底1和磁力線聚集器2,磁力線聚集器2的底面上繞設(shè)有底層線圈3,磁力線聚集器2的頂面上繞設(shè)有頂層線圈4,底層線圈3和頂層線圈4一起形成繞設(shè)于磁力線聚集器2上的電流線圈,磁力線聚集器2呈回形結(jié)構(gòu)且由兩個(gè)采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底1上形成的高導(dǎo)磁部件21(21#1和21#2)呈軸對(duì)稱布置構(gòu)成,兩個(gè)高導(dǎo)磁部件21(21#1和21#2)之間設(shè)有間隙,絕緣基底1上位于間隙內(nèi)設(shè)有磁場敏感元件5,絕緣基底1上位于磁場敏感元件5的上方設(shè)有微壓電橋調(diào)制組件6。本實(shí)施例中,磁力線聚集器2的兩個(gè)高導(dǎo)磁部件21采用高導(dǎo)磁材料生長在絕緣基底1上,且兩個(gè)高導(dǎo)磁部件21之間設(shè)有間隙,使得磁力線聚集器2構(gòu)成具有間隙的回形結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)有利于提高磁力線聚集器的磁場聚集效果。用于放置磁場敏感元件5的間隙可以布置在磁力線聚集器2的任意位置,都可以實(shí)現(xiàn)磁場聚集的功能。
本實(shí)施例中,底層線圈3和頂層線圈4均包括不連續(xù)的線圈金屬層,且底層線圈3的線圈金屬層、頂層線圈4的線圈金屬層之間依次通過高導(dǎo)磁部件21側(cè)面的金屬連接層(圖中未繪制出)首尾相連,形成繞制在磁力線聚集器2上的電流線圈,電流線圈在激勵(lì)信號(hào)的作用下回產(chǎn)生磁場,該磁場通過磁力線聚集器2聚集放大,在間隙處被磁場敏感元件5探測。
參見如圖1、圖2和圖3,底層線圈3和頂層線圈4構(gòu)成的電流線圈與設(shè)于絕緣基底1上的第五連接電極15和第六連接電極16相連,微壓電橋調(diào)制組件6和設(shè)于絕緣基底1上的第七連接電極17和第八連接電極18相連。
如圖4所示,磁場敏感元件5為由第一TMR敏感元件51、第二TMR敏感元件52、第三TMR敏感元件53、第四TMR敏感元件54四者組成的惠斯通電橋,第一TMR敏感元件51、第二TMR敏感元件52、第三TMR敏感元件53、第四TMR敏感元件54四者的敏感磁場的方向一致,兩個(gè)高導(dǎo)磁部件21之間的間隙包括第一間隙211和第二間隙212,第一TMR敏感元件51和第三TMR敏感元件53布置于第一間隙211中,第二TMR敏感元件52和第四TMR敏感元件54布置于第二間隙212中。磁場敏感元件5采用由四個(gè)TMR(Tunnel Magneto Resistance,穿隧磁阻效應(yīng))敏感元件組成的惠斯通電橋,每一個(gè)TMR敏感元件都能夠完成磁場探測,四個(gè)TMR敏感元件敏感磁場的方向一致,則該惠斯通電橋只對(duì)電流線圈產(chǎn)生的磁場敏感,不敏感外磁場,從而降低了外磁場對(duì)磁場探測的影響,與傳統(tǒng)的檢測元件相比,提高了磁場探測靈敏度。需要說明的是,磁場敏感元件5不限于TMR敏感元件構(gòu)成惠斯通電橋,只要能夠放入第一間隙211和第二間隙212中并能用于探測磁場的器件均可實(shí)現(xiàn),只是在檢測靈敏度上可能會(huì)有所不同。參見圖4,本實(shí)施例中惠斯通電橋分別與設(shè)于絕緣基底1上的第一連接電極11、第二連接電極12、第三連接電極13、第四連接電極14相連。
如圖5、圖6和圖7所示,微壓電橋調(diào)制組件6包括微壓懸臂梁61,微壓懸臂梁61分別和設(shè)于絕緣基底1上的第七連接電極17和第八連接電極18相連,微壓懸臂梁61的兩端分別設(shè)有微壓電橋基座62,微壓懸臂梁61通過微壓電橋基座62固定于絕緣基底1上,微壓懸臂梁61的底面上位于第一間隙211和第二間隙212的位置均設(shè)有調(diào)制膜63。本實(shí)施例中,微壓電橋調(diào)制組件6采用微壓懸臂梁的形式,微壓電橋基座62通過激光等手段鍵合在絕緣基底1上,微壓懸臂梁61兩端位于微壓電橋基座62上,調(diào)制膜63位于微壓懸臂梁61的下表面,并正對(duì)間隙(第一間隙211和第二間隙212)所處位置。在外部電源的激勵(lì)下,微壓懸臂梁61帶動(dòng)調(diào)制膜63上下振動(dòng),使得間隙(第一間隙211和第二間隙212)處的磁場被調(diào)制,通過調(diào)制膜63的調(diào)制使微弱極低頻磁場在磁場敏感元件處為高頻交變磁場,有效克服了極低頻域內(nèi)1/f噪聲的不利影響,提高了磁場分辨力,提高了前置放大器件的低噪聲性能。
本實(shí)施例中,微壓懸臂梁61采用壓電晶體材料制成,壓電晶體材料在外部電源的激勵(lì)下能夠使得微壓懸臂梁61上下振動(dòng)。此外,微壓懸臂梁61也可以采用其他可以驅(qū)動(dòng)微壓懸臂梁61上下振動(dòng)的材料制備。
本實(shí)施例的利用高分辨力磁場探測的低噪聲MEMS前置放大器件通過高分辨力、低噪聲的磁場敏感元件5測量通電線圈產(chǎn)生的磁場,實(shí)現(xiàn)對(duì)微弱電信號(hào)的間接測量和放大,信號(hào)經(jīng)過了輸入電壓Vi→輸入電流Ii→被測磁場B→輸出電壓Vo的幾個(gè)過程。輸出電壓Vo的表達(dá)式如式(1)所示;
式(1)中,Ri為輸入電阻(即電流線圈的電阻),Vi為輸入電壓,K為輸入電流的磁場轉(zhuǎn)化率,S為磁敏感單元的靈敏度,輸入電流的磁場轉(zhuǎn)化率K的表達(dá)式為K=B/Ii,磁敏感單元的靈敏度S表達(dá)式為S=Vo/B,B為被測磁場,Ii為輸入電流。因此本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的電壓放大倍數(shù)A的表達(dá)式如式(2)所示;
式(2)中,K為輸入電流的磁場轉(zhuǎn)化率,S為磁敏感單元的靈敏度,Ri為輸入電阻(即電流線圈的電阻)。
同時(shí),本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的噪聲主要來源與兩部分:輸入端的電流線圈熱噪聲eNi和輸出端的磁敏感元件輸出噪聲eNo,此時(shí)本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的輸出噪聲eo的表達(dá)式如式(3)所示;
式(3)中,A為本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的電壓放大倍數(shù),eNi為輸入端的電流線圈熱噪聲,eNo為輸出端的磁敏感元件輸出噪聲。因此,本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的等效輸入噪聲ei的表達(dá)式如式(4)所示;
式(4)中,eo為本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的輸出噪聲,A為本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的電壓放大倍數(shù),eNi為輸入端的電流線圈熱噪聲,eNo為輸出端的磁敏感元件輸出噪聲,K為輸入電流的磁場轉(zhuǎn)化率,S為磁敏感單元的靈敏度,Ri為輸入電阻(即電流線圈的電阻),k為玻爾茲曼常數(shù),k=1.38×10-23J/K,T為絕對(duì)溫度。所以,若要降低本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件的等效輸入噪聲,需要降低電流線圈的電阻Ri,增大輸入電流磁場轉(zhuǎn)化率K、敏感元件輸出噪聲eNo、磁敏感單元的靈敏度S。在實(shí)際操作中,通過控制電流線圈的厚度,電流線圈的電阻Ri可達(dá)到10歐姆以下;通過合理設(shè)計(jì)磁力線聚集器2的結(jié)構(gòu),輸入電流磁場轉(zhuǎn)化率可達(dá)到1nT/nA左右;且目前由TMR敏感元件制備的磁場敏感元件5的磁場靈敏度可達(dá)到200-400mV/mT,輸出噪聲達(dá)到4-10nV/√Hz左右,可計(jì)算得等效輸出噪聲為0.4-0.7nV/√Hz左右。同時(shí),隨著MEMS工藝和磁測量技術(shù)的高速發(fā)展,可繼續(xù)提高該器件的噪聲性能。
綜上所述,本實(shí)施例的低噪聲MEMS前置放大器件通過采用高靈敏度的TMR敏感元件與磁力線聚集器2等軟磁微結(jié)構(gòu),使得本實(shí)施例對(duì)極低頻電信號(hào)具有亞納伏級(jí)別的低噪聲放大功能;而且本實(shí)施例采用高靈敏度、低噪聲的TMR敏感元件探測電流產(chǎn)生的磁場,通過調(diào)制膜63的調(diào)制使微弱極低頻磁場在磁場敏感元件5處為高頻交變磁場,使得極低頻信號(hào)在放大過程中被調(diào)制為高頻信號(hào),有效克服了極低頻域內(nèi)1/f噪聲的不利影響;本實(shí)施例的磁力線聚集器2采用對(duì)稱結(jié)構(gòu),提高了靈敏度又降低了外磁場對(duì)電流探測的影響。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,本發(fā)明的保護(hù)范圍并不僅局限于上述實(shí)施例,凡屬于本發(fā)明思路下的技術(shù)方案均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理前提下的若干改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。