本發(fā)明屬于電元件檢測技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，是涉及一種大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法。

背景技術(shù)：

隨著社會的發(fā)展，電子產(chǎn)品被越來越多的使用，其中的電元件(例如電池)需要檢測合格后才能夠出廠組裝。目前，對電元件進(jìn)行檢測的主要內(nèi)容包括測試、分容、化成等，進(jìn)行這些檢測時(shí)，都需要使用導(dǎo)電裝置與電元件進(jìn)行電連接，進(jìn)行電流、電壓等電信號的傳輸。對于較大型的電元件，目前所使用的導(dǎo)電裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，裝配過程復(fù)雜，導(dǎo)致測試的裝配過程周期較長，難以適應(yīng)自動(dòng)化的檢測工藝，影響測試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的較大型的電元件在測試時(shí)，其對應(yīng)的導(dǎo)電裝置裝配過程復(fù)雜，難以適應(yīng)自動(dòng)化的檢測工藝的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：提供一種大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法，所述大電流導(dǎo)電裝置包括探針插座、探針及電元件插頭，所述探針插座能與所述電元件插頭插接，所述探針插座套裝于所述探針的外部并與所述探針沿所述探針的中軸方向滑動(dòng)連接，所述探針插座與所述電元件插頭之間還設(shè)有彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)，所述應(yīng)用方法包括以下步驟：

將至少一個(gè)電元件固定于測試設(shè)備上；

將所述電元件插頭分別與所述電元件的電極連接；

將所述探針插座與所述測試設(shè)備的測試臺連接，并使所述探針插座和/或所述探針通過導(dǎo)電結(jié)構(gòu)與所述測試設(shè)備電連接，所述探針插座的位置與所述電元件插頭的位置一一對應(yīng)；

控制所述測試臺靠近所述電元件，使所述電元件插頭與所述探針插座插接，并使所述探針與所述電元件的電極電連接。

進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備上設(shè)有用于固定電元件的固定板。

具體地，所述電元件在所述固定板上為矩形陣列式均勻分布或環(huán)形陣列式均勻分布。

進(jìn)一步地，所述電元件插頭與所述電極螺紋連接。

具體地，所述電元件插頭為內(nèi)螺紋套筒，所述內(nèi)螺紋套筒的前端設(shè)有探測開口，所述探測開口與所述內(nèi)螺紋套筒同軸設(shè)置且所述探測開口的內(nèi)徑小于所述內(nèi)螺紋套筒的內(nèi)徑，所述內(nèi)螺紋套筒的后端設(shè)有第一限位凸臺，所述電極處對應(yīng)的設(shè)有外螺柱。

具體地，所述電元件插頭為插接柱，所述插接柱的后端設(shè)有與所述電極匹配的外螺紋，所述插接柱的中部設(shè)有第二限位凸臺，所述電極處對應(yīng)的設(shè)有內(nèi)螺孔。

進(jìn)一步地，所述測試臺與所述探針插頭螺紋連接。

具體地，所述探針插座包括插座本體、能使所述探針沿自身中軸方向在預(yù)設(shè)范行程范圍內(nèi)運(yùn)動(dòng)的限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)及外螺紋導(dǎo)線連接柱，所述插座本體后部設(shè)有插接孔，所述探針貫穿所述插座本體的前部且所述探針的探測端伸入所述插接孔內(nèi)，所述探針與所述插座本體之間設(shè)有所述限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)，所述插座本體的前部設(shè)有外螺紋導(dǎo)線連接柱，所述測試臺上設(shè)有與所述外螺紋導(dǎo)線連接柱相匹配的內(nèi)螺紋連接孔。

進(jìn)一步地，所述彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)為卡圈式彈性導(dǎo)電環(huán)。

具體地，所述彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)包括至少一圈與所述插接孔同軸設(shè)置的卡槽及與所述卡槽卡接的金屬彈性卡圈。

本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的有益效果在于：與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法通過將電元件統(tǒng)一固定，在其電極上安裝電元件插頭，探針插座統(tǒng)一固定于測試臺上且位置與電元件插頭一一對應(yīng)，其與電元件插頭之間具有插接結(jié)構(gòu)，使得導(dǎo)電裝置的結(jié)構(gòu)簡單化，裝配過程簡單化，并且導(dǎo)電性能好，能夠同時(shí)測量大電流信號及小電流信號，通過控制測試臺的進(jìn)退，能夠在測試前實(shí)現(xiàn)快速插接，且能同時(shí)測試多件電元件，有效降低測試人員連接電元件的勞動(dòng)強(qiáng)度，提高測試效率，更能適應(yīng)自動(dòng)化的檢測需求。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的應(yīng)用方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的應(yīng)用方法的原理圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的應(yīng)用方法的流程圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例四提供的應(yīng)用方法的流程圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例五提供的應(yīng)用方法的流程圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例六提供的應(yīng)用方法的原理圖；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的大電流導(dǎo)電裝置的主視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的大電流導(dǎo)電裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖一；

圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的大電流導(dǎo)電裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖二；

圖10為圖7所示的大電流導(dǎo)電裝置的A-A剖視圖；

圖11為圖7中電元件插頭的實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖12為圖11的B-B剖視圖；

圖13為圖7中電元件插頭的實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖14為圖13的C-C剖視圖；

圖15為圖7中探針插座及探針的裝配結(jié)構(gòu)示意圖；

圖16為圖15的D-D剖視圖。

圖中：1、探針插座；2、探針；3、內(nèi)螺紋套筒；4、探測開口；5、第一限位凸臺；6、導(dǎo)向錐面；7、插接柱；8、外螺紋；9、第二限位凸臺；10、插座本體；11、限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)；12、插接孔；13、導(dǎo)向通孔；14、第一限位環(huán)；15、第二限位環(huán)；16、壓簧；17、固定夾；18、容置腔；19、外螺紋導(dǎo)線連接柱；20、卡槽；21、彈簧圈；22、定位圈；23、固定板；24、測試臺；25、電元件。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

請一并參閱圖1至圖10，現(xiàn)對本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法進(jìn)行說明。包括探針插座1、探針2及電元件插頭，探針插座1能與電元件插頭插接，探針插座1套裝于探針2的外部并與探針2沿探針2的中軸方向滑動(dòng)連接，所述大電流導(dǎo)電裝置包括探針插座1、探針2及電元件插頭，探針插座1與電元件插頭之間還設(shè)有彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)，所述應(yīng)用方法包括以下步驟：

根據(jù)實(shí)際測試情況，將至少一個(gè)電元件25固定于測試設(shè)備上；

將電元件插頭分別與電元件25的電極連接；

將探針插座1與測試設(shè)備的測試臺24連接，并使探針插座1和/或探針2通過導(dǎo)電結(jié)構(gòu)與測試設(shè)備電連接，探針插座1的位置與電元件插頭的位置一一對應(yīng)；

控制測試臺24靠近電元件25，使電元件插頭與探針插座1插接，并使探針2與電元件25的電極電連接，此時(shí)彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)能實(shí)現(xiàn)電元件插頭與探針插座1的電連接，傳遞電信號。

應(yīng)當(dāng)注意的是，測試時(shí)探針2主要用于進(jìn)行小電流信號傳導(dǎo)，電元件插頭及探針插座1之間的電連接主要用于進(jìn)行大電流信號傳導(dǎo)。

本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法與現(xiàn)有技術(shù)相比，通過將電元件統(tǒng)一固定，在其電極上安裝電元件插頭，探針插座統(tǒng)一固定于測試臺上且位置與電元件插頭一一對應(yīng)，其與電元件插頭之間具有插接結(jié)構(gòu)，使得導(dǎo)電裝置的結(jié)構(gòu)簡單化，裝配過程簡單化，并且導(dǎo)電性能好，彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)不僅能對探針插座1及電元件插頭之間的連接起到緊固作用，還能進(jìn)行良好的導(dǎo)電，起到對大電流進(jìn)行傳導(dǎo)的作用，與探針結(jié)合能夠起到同時(shí)測量大電流信號及小電流信號的目的，通過控制測試臺的進(jìn)退，能夠在測試前實(shí)現(xiàn)快速插接，且能同時(shí)測試多件電元件，有效降低測試人員連接電元件的勞動(dòng)強(qiáng)度，提高測試效率，更能適應(yīng)自動(dòng)化的檢測需求，尤其是配合自動(dòng)化的測試設(shè)備后，能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)移動(dòng)測試臺24以及自動(dòng)測試數(shù)據(jù)等功能。

探針2可與探針插座1滑動(dòng)連接，在裝配過程中，探針2能沿自身中軸方向進(jìn)行移動(dòng)，以適應(yīng)測試位置的深度，防止裝配時(shí)與探針2的探測端接觸的位置與探針2硬性接觸損壞探針2。通過設(shè)置探針插座與電元件插頭的插接結(jié)構(gòu)，使得探針與電元件之間的連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，且插拔方便，能夠有效簡化導(dǎo)電裝置的結(jié)構(gòu)、提高連接效率，有利于保證測試的準(zhǔn)確度。

進(jìn)一步地，請一并參閱圖2及圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，測試設(shè)備上設(shè)有用于固定電元件25的固定板23。裝配后，電元件25的中軸應(yīng)當(dāng)相互平行，并且電元件25的電極應(yīng)分布于固定板23的兩側(cè)或同一側(cè)。固定板將電元件25固定于同一平面上，有利于對插接的力度及深度進(jìn)行同一控制，進(jìn)而達(dá)到統(tǒng)一測試環(huán)境的目的。

具體的，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，固定板23上設(shè)有與電元件的外部尺寸相適配的安裝通孔，每個(gè)安裝通孔內(nèi)環(huán)面上均固定有橡膠圈，可以讓電元件25與安裝通孔之間為過盈配合，這種連接結(jié)構(gòu)主要針對電極在兩側(cè)分布的電元件。

具體的，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，針對電極在同一側(cè)分布的電元件25，固定板23的板面上設(shè)有固定夾，可以通過操控固定夾的松緊把手控制夾具的夾持間距，進(jìn)而達(dá)到固定電元件的目的。

優(yōu)選的，為了方便控制，電元件25的中軸與固定板23的板面均垂直，且位于固定板同一側(cè)的電極的外端面應(yīng)處于同一平面內(nèi)。

進(jìn)一步地，請一并參閱圖2及圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了合理利用空間，電元件25在固定板23上為矩形陣列式均勻分布或環(huán)形陣列式均勻分布。

優(yōu)選的，為了方便加工固定板23及測試臺24，電元件25在固定板23上為矩形陣列式均勻分布。

進(jìn)一步地，請一并參閱圖1至圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了方便連接，電元件插頭與電極螺紋連接。

進(jìn)一步地，請一并參閱圖1、圖2、圖4及圖7至圖12，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，電元件插頭為內(nèi)螺紋套筒3，內(nèi)螺紋套筒3的前端設(shè)有探測開口4，探測開口4與內(nèi)螺紋套筒3同軸設(shè)置且探測開口4的內(nèi)徑小于內(nèi)螺紋套筒3的內(nèi)徑，內(nèi)螺紋套筒3的后端設(shè)有第一限位凸臺5。電元件25的電極為凸出的外螺紋柱，內(nèi)螺紋套筒3的內(nèi)螺紋與電極上的外螺紋相匹配，裝配時(shí)只需將內(nèi)螺紋套筒3擰到電極上，探測開口4將電極的端部暴露出來，方便探針2與電極的接觸，并能圍護(hù)住探針2探測端的四周，其與電極的連接結(jié)構(gòu)簡單，轉(zhuǎn)配效率高，同時(shí)能為探針2在測試時(shí)提供一定的保護(hù)環(huán)境，進(jìn)一步提高測試的準(zhǔn)確度。第一限位凸臺5在插接后能對探針插座1起到限位作用，防止其過渡插入影響測試的準(zhǔn)確性甚至損壞探針2。

優(yōu)選的，請一并參閱圖12，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，內(nèi)螺紋套筒3內(nèi)的內(nèi)螺紋的長度與極限擰緊位置相一致，能夠有效防止內(nèi)螺紋套筒3過渡擰緊影響探針2與電極的接觸，進(jìn)一步提高測試的準(zhǔn)確性。

進(jìn)一步地，請參閱圖12，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了方便探針2伸入探測開口中，降低探針開口4的周邊對探針的損壞概率，探測開口4的外側(cè)設(shè)有導(dǎo)向錐面6。

優(yōu)選的，導(dǎo)向錐面6與探針開口4的中軸之間的夾角為50°-30°。

進(jìn)一步地，請參閱圖10至圖12，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了方便探針插座1與內(nèi)螺紋套筒3的插接，進(jìn)一步提高裝配效率，內(nèi)螺紋套筒3的前端倒圓角。

進(jìn)一步地，參閱圖3、圖5、圖6及圖13至圖14，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了簡化裝配結(jié)構(gòu)，提高裝配效率，電元件插頭為插接柱7，插接柱7的后端設(shè)有與電極匹配的外螺紋8，插接柱7的中部設(shè)有第二限位凸臺9。電元件25的電極處為內(nèi)螺紋孔，其與插接柱7后端的外螺紋8相匹配，裝配時(shí)只需將插接柱7擰到電極上，本實(shí)施例中，當(dāng)擰到與第二限位凸臺9的后端面接觸的位置即可，探針插座1插入后，探針2的探測端直接與插接柱7的前端面接觸，插接柱7本身選用導(dǎo)電材質(zhì)，能夠?qū)㈦娦盘枩?zhǔn)確的傳遞給探針2。第二限位凸臺9在插接后能對探針插座1起到限位作用，防止其過渡插入影響測試的準(zhǔn)確性甚至損壞探針2，同時(shí)能夠?qū)﹄姌O與插接柱7之間的相對位置起到限位作用，提高裝配結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確性，進(jìn)而提高探針2探測電信號的準(zhǔn)確性。

進(jìn)一步地，參閱圖14，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了提高電信號在插接柱7上傳遞的均勻性及穩(wěn)定性，插接柱7整體為實(shí)心結(jié)構(gòu)，類似于電極極柱的延伸。

進(jìn)一步地，請參閱圖13至圖14，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了方便探針插座1與插接柱7的插接，進(jìn)一步提高裝配效率，插接柱7的前端倒圓角。

進(jìn)一步地，請參閱圖1至圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了簡化連接結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)快速定位安裝，測試臺24與探針插頭1螺紋連接。同時(shí)，測試臺24的數(shù)量根據(jù)電極的分布決定，當(dāng)電極位于電元件25的兩側(cè)時(shí)，需要兩個(gè)測試臺24分布于電元件的兩側(cè)；當(dāng)電極位于電元件的同一側(cè)時(shí)，只需一個(gè)測試臺24分布于電元件設(shè)置電極的一側(cè)。

具體地，請參閱圖1至圖10及圖15至圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，探針插座1包括插座本體10、能使探針2沿自身中軸在預(yù)設(shè)行程的限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)11及外螺紋導(dǎo)線連接柱19，插座本體10后部設(shè)有插接孔12，探針2貫穿插座本體10的前部且探針2的探測端伸入插接孔12內(nèi)，探針2與插座本體10之間設(shè)有限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)11，插座本體10的前部設(shè)有外螺紋導(dǎo)線連接柱19，測試臺24上設(shè)有與外螺紋導(dǎo)線連接柱19相匹配的內(nèi)螺紋連接孔。上述內(nèi)螺紋套筒3或插接柱7可直接插入插接孔12內(nèi)，其與插接孔12之間能夠達(dá)到過盈配合的效果，能實(shí)現(xiàn)探針插座1與電元件插頭的快速插拔，并且插接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。通過限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)11的限制，探針2只能在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)移動(dòng)，在插接過程中，能夠有效防止探針2過度移動(dòng)損壞其他零部件，或者脫出插座本體10，提高使用穩(wěn)定性。能實(shí)現(xiàn)探針插座1及探針2與測試平臺的快速連接，進(jìn)一步提高了導(dǎo)電裝置的裝配效率。

進(jìn)一步地，請參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，插座本體10前部設(shè)有與插接孔12連通且同軸設(shè)置的導(dǎo)向通孔13，探針2貫穿導(dǎo)向通孔13，限位導(dǎo)向機(jī)構(gòu)11包括第一限位環(huán)14、第二限位環(huán)15、壓簧16及固定夾17，第一限位環(huán)14套裝于探針2的外部并與導(dǎo)向通孔13的前端連接，第二限位環(huán)15套裝于探針2的外部并與導(dǎo)向通孔13的后端連接，壓簧16套裝于探針2的外部，壓簧16的前端與第二限位環(huán)抵接，壓簧16的后端與探針2的探測端抵接，探針2的接線端伸出插座本體10外，固定夾17位于第一限位環(huán)14前部且與探針2的接線端連接，固定夾17的后端面能與第一限位環(huán)15的前端面抵接。第一限位環(huán)14用于對探針2的接線端進(jìn)行導(dǎo)向，并能對探針2的徑向運(yùn)動(dòng)進(jìn)行有效的限制，第二限位環(huán)15用于對探針2的探測端進(jìn)行導(dǎo)向，并能對探針2的徑向運(yùn)動(dòng)進(jìn)行有效的限制，通過第一限位環(huán)14與第二限位環(huán)15的配合，使得探針2只能沿自身中軸的方向滑動(dòng)，使得探針2與電極的接觸位置穩(wěn)定，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確定。另一方面，通過固定夾17的限定，探針2能夠伸入插接孔12內(nèi)的最大長度被限定，同時(shí)壓簧16始終對探針2施加朝向插接孔12的作用力，在自由狀態(tài)下，壓簧16能夠保持探針2伸入插接孔12內(nèi)的距離最大，即壓簧16使得探針2具有自復(fù)位的功能。在插接后，探針2與電極或插接柱7抵接后可能會向插座本體10的前端方向移動(dòng)，在壓簧16的作用下保持探針2與接觸區(qū)域的充分且緊密的接觸，進(jìn)而保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，拔出后，探針能自動(dòng)復(fù)位到初始位置。

進(jìn)一步地，參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，第二限位環(huán)15內(nèi)設(shè)有向第二限位環(huán)15后端開口的容置腔18，容置腔18的深度小于壓簧16的長度，壓簧16的前端與容置腔18的前端面抵接。壓簧16伸縮的運(yùn)動(dòng)可能會使壓簧16本身的位置偏離初始位置，不利于探針2均勻的受到彈性作用力，將壓簧16的前端部分放置于能夠?qū)夯?6的徑向運(yùn)動(dòng)起到限位作用的容置腔18內(nèi)，能夠很好的解決這一問題，并且不妨礙探針2的正常運(yùn)動(dòng)范圍。

進(jìn)一步地，參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，探針2的探測端面具有至少兩個(gè)探測凸起，增加接觸面積，使得探針2能夠充分接觸到電極，有利于提高探測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

進(jìn)一步地，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，電元件插頭及插座本體10均選用導(dǎo)電性能良好的材質(zhì)，插座本體10能與電元件插頭通過彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)進(jìn)行電連接并進(jìn)行大電流的傳導(dǎo)，將大電流信號傳遞給測試臺，探針2則將小電流信號傳遞給測試臺，使得一個(gè)導(dǎo)電裝置能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)大電流信號與小電流信號的同時(shí)讀取，提高測試效率。

進(jìn)一步地，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了防止大電流信號與小電流信號傳遞時(shí)互相干擾，第一限位環(huán)14、第二限位環(huán)15、壓簧16及固定夾17均應(yīng)選用絕緣材質(zhì)。

進(jìn)一步地，請參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的一種具體實(shí)施方式，彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)為卡圈式彈性導(dǎo)電環(huán)。為加強(qiáng)插接孔12與電元件插頭之間的導(dǎo)電連接，插接孔12內(nèi)還設(shè)有彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)，彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)是直接與電元件插頭實(shí)現(xiàn)過盈配合的結(jié)構(gòu)，能增加插接孔12與電元件插頭之間的接觸面積，從而減小接觸阻抗，由于其為卡圈式彈性導(dǎo)電環(huán)，插接本身的磨損也很小。插座本體10能通過彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)與電元件插頭進(jìn)行直接的電連接并進(jìn)行大電流的傳導(dǎo)，將大電流信號傳遞給測試臺，探針2則將小電流信號傳遞給測試臺，使得一個(gè)導(dǎo)電裝置能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)大電流信號與小電流信號的同時(shí)讀取，提高測試準(zhǔn)確性。

進(jìn)一步地，請參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)包括至少一圈與插接孔12同軸設(shè)置的卡槽20及與卡槽20卡接的金屬彈性卡圈。金屬彈性卡圈在電元件插頭插入后能夠提供彈性的擠壓力，既能夠滿足插接強(qiáng)度的需求又能夠?qū)﹄娫孱^的磨損降低到最小。同時(shí)金屬彈性卡圈起到直接前述的直接導(dǎo)電的作用。同時(shí)金屬彈性卡圈起到前述的直接導(dǎo)電的作用。

優(yōu)選的，請參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，為了保證插接后結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，同時(shí)使得結(jié)構(gòu)最簡化，彈性導(dǎo)電連接結(jié)構(gòu)包括兩圈與插接孔12同軸設(shè)置的卡槽20及與卡槽20卡接的金屬彈性卡圈。

進(jìn)一步地，請參閱圖10及圖16，作為本發(fā)明提供的大電流導(dǎo)電裝置的應(yīng)用方法的一種具體實(shí)施方式，金屬彈性卡圈為彈簧圈21，彈簧圈21的中軸線與插接孔12的中軸線垂直，彈簧圈21的內(nèi)部設(shè)有用于定位彈簧圈21的定位圈22，定位圈22的外徑大于彈簧圈21的內(nèi)徑。定位圈22能夠給彈簧圈21的彈簧結(jié)構(gòu)提供外張力，使其固定于卡槽20中，并且柔軟的彈簧可以通過形變接觸子連接件電元件插頭表面，從而使有效接觸面積最大化，增加大電流的過流能力。

使用過程，參閱圖1至圖6：

1)、單個(gè)元件檢測：在待測電元件25的數(shù)量較少的情況下，可以選擇人員手動(dòng)連接檢測。首先，將電元件25在測試設(shè)備上固定好，固定用的零件可為單個(gè)夾具等，隨后將電元件插頭與電元件25的電極連接，將探針插座與測試臺24螺紋連接，隨后將探針插座1及探針2與測試設(shè)備電連接。插接時(shí)，控制測試臺24向電元件25處推進(jìn)，直至探針插座1與電元件插頭完全插接，且探針2與電極能夠充分電連接為止。測試完成后，只需回撤測試臺24，即可完成探針插座1與電元件插頭的分離，再將電元件插頭拆卸下來，更換電元件后即可進(jìn)行第二次測試。

2)、批量化檢測：自動(dòng)化產(chǎn)業(yè)中，需要對數(shù)量較多的電元件進(jìn)行檢測，此時(shí)，需要先將電元件25與固定板23固定好，按照預(yù)定的排列方式安裝電元件25，隨后將電元件插頭與電元件25的電極連接，將探針插座與測試臺24螺紋連接，隨后將探針插座1及探針2與測試設(shè)備電連接，并且注意探針插座1與電元件插頭的位置一一對應(yīng)。插接時(shí)，控制測試臺24向電元件25處推進(jìn)，直至探針插座1與電元件插頭完全插接，且探針2與電極能夠充分電連接為止。測試完成后，只需回撤測試臺24，即可完成探針插座1與電元件插頭的分離，再將電元件插頭拆卸下來，更換固定板23上的電元件后即可進(jìn)行第二次測試。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。