本發(fā)明屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極。

背景技術(shù)：

接觸導(dǎo)電測(cè)試電極與被測(cè)電元件壓接時(shí)，一般會(huì)用彈簧進(jìn)行緩沖及角度的調(diào)整，使連接更緊密。彈簧一般設(shè)置在導(dǎo)電裝置的外部，例如中國(guó)專(zhuān)利號(hào)為CN201510537634的專(zhuān)利即是屬于此種情形，如圖1所示，壓縮彈簧(4)即是固定在導(dǎo)電裝置的外部，起緩沖作用。探針是通過(guò)套筒(3)與測(cè)試臺(tái)固定的，因?yàn)闇y(cè)試臺(tái)會(huì)牢牢地固定在地上，就是說(shuō)套筒(3)相對(duì)于地面是不動(dòng)的。當(dāng)探針探頭(11)與被測(cè)電元件連接時(shí)，會(huì)有向右的壓力，而套筒(3)不會(huì)移動(dòng)，所以整個(gè)針桿(1)都會(huì)向右移動(dòng)，最后在彈簧的緩沖后達(dá)到平衡的狀態(tài)穩(wěn)定，針桿(1)的位置會(huì)稍有變動(dòng)，一般會(huì)往右方移動(dòng)，其角度也會(huì)稍作調(diào)整。因?yàn)闇y(cè)試信號(hào)需要通過(guò)電線(xiàn)導(dǎo)出，一般會(huì)在位置(8)及位置(9)處連接電線(xiàn)。所以在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，連接點(diǎn)及電線(xiàn)都會(huì)隨著每一次的測(cè)試出現(xiàn)左右移動(dòng)的問(wèn)題，長(zhǎng)期的不斷移動(dòng)不利于保持良好的電連接，電信號(hào)過(guò)流能力差，測(cè)試效果及測(cè)試效率無(wú)法得到保證。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)的接觸導(dǎo)電測(cè)試電極因與被測(cè)電元件壓接而不斷移動(dòng)而導(dǎo)致電連接性能差的問(wèn)題。

本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極，其包括探針、一端開(kāi)設(shè)有容納腔的套筒，所述套筒的另一端設(shè)有與導(dǎo)線(xiàn)連接的連接柱，所述探針包括探頭及針桿，所述探針的針桿嵌設(shè)于所述套筒的容納腔中，所述套筒的容納腔的側(cè)壁與所述探針的針桿的側(cè)壁之間抵持設(shè)置有一軸線(xiàn)環(huán)繞所述針桿而設(shè)置的第一彈簧，所述探針的針桿的端部與所述套筒的容納腔的封閉端之間抵持設(shè)有一第二彈簧，所述探針的針桿上還套設(shè)有一用于防止所述探針從所述套筒的容納腔內(nèi)脫出的防脫裝置。

具體地，所述套筒的容納腔包括自外向內(nèi)設(shè)置的第一腔室及第二腔室，所述探針的針桿自所述第一腔室伸入至所述第二腔室內(nèi)，所述第二彈簧抵持于所述第二腔室的內(nèi)側(cè)的端部與所述針桿的端部之間。

進(jìn)一步地，所述第一腔室的側(cè)壁上凹設(shè)有卡置所述第一彈簧的第一卡槽，所述第一彈簧抵持于所述第一卡槽和所述探針的針桿的側(cè)壁之間。

具體地，所述針桿的末端具有一直徑小于所述第二彈簧的的徑向尺寸的彈簧套柱，所述第二彈簧套設(shè)于所述彈簧套柱上，所述彈簧套柱的根部具有用于定位并抵持所述第二彈簧的臺(tái)階。

具體地，所述第二腔室的徑向尺寸大于所述第一腔室的徑向尺寸，所述防脫裝置為套設(shè)于所述針桿上且外圈直徑大于所述第一腔室的徑向尺寸的彈性圈，所述彈性圈位于所述第二腔室內(nèi)。

進(jìn)一步地，所述針桿上具有卡置所述彈性圈的環(huán)形凹槽。

進(jìn)一步地，所述彈性圈呈錐形結(jié)構(gòu)，所述錐形結(jié)構(gòu)的彈性圈的大端面向所述第一腔室。

具體地，所述探頭為于所述針桿端部延伸設(shè)置的帽蓋結(jié)構(gòu)。

具體地，所述探頭與所述針桿為分立結(jié)構(gòu)，所述探頭能相對(duì)于所述針桿在三維方向上進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，且所述探頭與所述針桿之間通過(guò)導(dǎo)電連接件電性連接。

進(jìn)一步地，所述針桿的端部為球頭狀，所述探頭為與所述針桿的球頭端相嵌設(shè)的帽蓋體，所述帽蓋體結(jié)構(gòu)的探頭內(nèi)側(cè)設(shè)置有與所述針桿的球頭端相適配的球形凹槽，所述針桿的球頭端的側(cè)壁與所述探頭的球形凹槽的側(cè)壁之間抵持設(shè)置有一軸線(xiàn)環(huán)繞所述針桿而設(shè)置的第三彈簧。

本發(fā)明提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極，其通過(guò)設(shè)置一具有容納腔的套筒套設(shè)于探針的針桿上，并在探針的針桿的側(cè)壁和套筒的容納腔的側(cè)壁之間抵持設(shè)置一第一彈簧，于探針的末端和套筒的容納腔的封閉端之間抵持設(shè)置一第二彈簧，且還于探針的針桿上設(shè)置一防脫裝置來(lái)防止探針從套筒內(nèi)脫出，從而使得探針在與被測(cè)電元件接觸并受到其壓制時(shí)，即使發(fā)生軸向偏移及角度的偏移也能隨時(shí)與套筒保持良好的電連接，保證電信號(hào)的過(guò)流能力，從而測(cè)試效果及測(cè)試效率也將得到保證。

附圖說(shuō)明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的一正視示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例一提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的另一正視示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例一提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的一剖視示意圖；

圖5是本發(fā)明實(shí)施例一提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的另一剖視示意圖；

圖6是本發(fā)明實(shí)施例二提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的剖視示意圖；

圖7是本發(fā)明實(shí)施例二提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的爆炸示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

需要說(shuō)明的是，當(dāng)元件被稱(chēng)為“固定于”或“設(shè)置于”另一個(gè)元件，它可以直接在另一個(gè)元件上或者可能同時(shí)存在居中元件。當(dāng)一個(gè)元件被稱(chēng)為“連接于”另一個(gè)元件，它可以是直接連接到另一個(gè)元件或者可能同時(shí)存在居中元件。

還需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中的左、右、上、下等方位用語(yǔ)，僅是互為相對(duì)概念或是以產(chǎn)品的正常使用狀態(tài)為參考的，而不應(yīng)該認(rèn)為是具有限制性的。

如圖2至圖5所示，為本發(fā)明實(shí)施例提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極的各相關(guān)示意圖，其包括探針1、一端開(kāi)設(shè)有容納腔20的套筒2，探針1包括探頭11及針桿12兩部分，探針1的針桿12嵌設(shè)于套筒2的容納腔20中，探頭11則露出套筒2外面與被測(cè)電元件接觸，套筒2的另一端設(shè)有與導(dǎo)線(xiàn)連接的連接柱21，進(jìn)一步地，套筒2的容納腔20的側(cè)壁與探針1的針桿12的側(cè)壁之間抵持設(shè)置有一軸線(xiàn)環(huán)繞針桿12而設(shè)置的第一彈簧3，主要用于實(shí)現(xiàn)探針1和套筒2的導(dǎo)電連接，并能進(jìn)行徑向的微調(diào)，探針1的針桿12的端部與套筒2的容納腔20的封閉端之間抵持設(shè)有一第二彈簧4，以用于調(diào)節(jié)探針1于套筒2的容納腔20內(nèi)的軸向位移，這樣，探針1在徑向方向上的位移可通過(guò)第一彈簧3進(jìn)行微調(diào)，在軸向方向上的位移可通過(guò)第二彈簧4進(jìn)行微調(diào)，而套筒2可保持不動(dòng)，當(dāng)探針1與被測(cè)電元件接觸時(shí)，因被測(cè)電元件施加于探針1上的壓力而導(dǎo)致探針1產(chǎn)生的偏移可通過(guò)第一彈簧3和第二彈簧4得到緩沖和調(diào)節(jié)，因而可保證探針1與套筒2之間隨時(shí)都保持良好的電連接；探針1的針桿12上還套設(shè)有一防脫裝置，以防止探針1從套筒2的容納腔20內(nèi)脫出。

本發(fā)明提供的低阻抗接觸導(dǎo)電測(cè)試電極，其通過(guò)設(shè)置一具有容納腔20的套筒2套設(shè)于探針1的針桿12上，并在探針1的針桿12的側(cè)壁和套筒2的容納腔20的側(cè)壁之間抵持設(shè)置一第一彈簧3，于探針1的末端和套筒2的容納腔20的封閉端之間抵持設(shè)置一第二彈簧4，且還于探針1的針桿12上設(shè)置一防脫裝置來(lái)防止探針1從套筒2內(nèi)脫出，從而使得探針1在與被測(cè)電元件接觸并受到其壓制時(shí)，即使發(fā)生軸向偏移及角度的偏移也能隨時(shí)與套筒2保持良好的電連接，保證電信號(hào)的過(guò)流能力，從而測(cè)試效果及測(cè)試效率也將得到保證。

作為一具體實(shí)施方式，套筒2的容納腔20包括自外向內(nèi)依次連通設(shè)置的第一腔室22及第二腔室23，探針1的針桿12自第一腔室22伸入至第二腔室23內(nèi)，第二彈簧4抵持于第二腔室23的內(nèi)側(cè)的端部與針桿12的端部之間，這樣，當(dāng)探針1在與被測(cè)電元件壓接時(shí)，探針1在軸向方向上可獲得一定的軸向偏移空間，從而可減輕對(duì)套筒2的壓力，使得套筒2可保持固定不動(dòng)，從而保證套筒2與導(dǎo)線(xiàn)連接的穩(wěn)定性。

作為一具體實(shí)施方式，如圖4所示，第一腔室22的側(cè)壁上凹設(shè)有卡置第一彈簧3的第一卡槽221，第一彈簧3抵持于第一卡槽221和探針1的針桿12的側(cè)壁之間，由于第一彈簧3具有較好的柔性，這樣，即使探針1在與被測(cè)電元件壓接時(shí)發(fā)生位置的移動(dòng)，在套筒2固定不動(dòng)的情況下，也能通過(guò)第一彈簧3與套筒2保持多點(diǎn)接觸，從而使有效接觸面積最大化，增加電信號(hào)的過(guò)流能力。作為一具體實(shí)施方式，在卡設(shè)第一彈簧3時(shí)，可于套筒2的外壁上開(kāi)設(shè)與第一卡槽221相連通的通孔，將第一彈簧3的一端從該通孔穿入，繞針桿12穿設(shè)后，第一彈簧3的另一端從該通孔穿出，這樣既可實(shí)現(xiàn)將第一彈簧3卡置于第一卡槽221內(nèi)，且能保證針桿12、第一彈簧3和套筒2之間具有較穩(wěn)定的電連接性能。

作為一具體實(shí)施方式，針桿12的末端具有一直徑小于第二彈簧4的的徑向尺寸的彈簧套柱121，第二彈簧4套設(shè)于該彈簧套柱121上，彈簧套柱121的根部具有用于定位并抵持第二彈簧4的臺(tái)階122，彈簧套柱121的設(shè)置可給第二彈簧4進(jìn)行定位，從而使得第二彈簧4可抵持于臺(tái)階122的階面和套筒2的容納腔20的封閉端之間。

作為一較佳實(shí)施方式，第二腔室23可設(shè)置成階梯腔室，包括靠近封閉端一側(cè)的內(nèi)側(cè)腔室231和外側(cè)的外側(cè)腔室232，外側(cè)腔室232直徑大于內(nèi)側(cè)腔室231直徑，且內(nèi)側(cè)腔室231的直徑與第二彈簧4的直徑相適配，這樣，既能保證第二彈簧4的軸向收縮和伸展，也能避免第二彈簧4因空間過(guò)大而發(fā)生扭曲。

作為一具體實(shí)施方式，第二腔室23的徑向尺寸大于第一腔室22的徑向尺寸，具體地，防脫裝置為套設(shè)于針桿12上且外圈直徑大于第一腔室22的徑向尺寸的彈性圈5，彈性圈5位于第二腔室23內(nèi)，可選用橡膠等具有彈性的材料制成，由于彈性圈5具有一定的彈力，從而在初次裝配時(shí)，可借助外力將固定于探針1的針桿12上的彈性圈5強(qiáng)力推入至第二腔室23內(nèi)，而彈性圈5的直徑大于第一腔室22的直徑，故此可防止探針1從套筒2內(nèi)脫出。

作為一較佳實(shí)施方式，針桿12上具有卡置彈性圈5的環(huán)形凹槽123。即彈性圈5是通過(guò)在探針1的針桿12上設(shè)置環(huán)形凹槽123，而彈性圈5卡于該環(huán)形凹槽123內(nèi)而進(jìn)行固定的。當(dāng)然，彈性圈5亦可通過(guò)其它方式來(lái)固定于探針1的針桿12上，例如粘接的方式等等。

作為一具體實(shí)施方式，彈性圈5呈錐形結(jié)構(gòu)，該錐形結(jié)構(gòu)的彈性圈5的大端面向第一腔室22。在初次裝配時(shí)，由于錐形結(jié)構(gòu)的小端隨探針1先進(jìn)入第一腔室22，其具有一定的導(dǎo)向作用，因而可有利于彈性圈5順利進(jìn)入至套筒2的第一腔室22直至第二腔室23內(nèi)。

作為一實(shí)施方式，如圖2至圖5所示，探頭11可為于針桿12的端部延伸設(shè)置的帽蓋結(jié)構(gòu)，其在測(cè)試時(shí)，探針1直接以帽蓋結(jié)構(gòu)的探頭11與被測(cè)電元件接觸，從而可獲得較大的軸向偏移空間，即使探針1在被測(cè)電元件的壓持下發(fā)生軸向偏移，也可與被測(cè)電元件保持較好的電接觸。

作為另一實(shí)施方式，探頭11與針桿12可為分立結(jié)構(gòu)，探頭11能相對(duì)于針桿12在三維方向上進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，且探頭11與針桿12之間通過(guò)一導(dǎo)電連接件電性連接。具體實(shí)施例如下：如圖6和圖7所示，針桿12的端部為球頭狀，探頭11為與針桿12的球頭端相嵌設(shè)的帽蓋體11＇，所述帽蓋體結(jié)構(gòu)的探頭11內(nèi)側(cè)設(shè)置有與針桿12的球頭端相適配的球形凹槽111，針桿12的球頭端的側(cè)壁與探頭11的球形凹槽111的側(cè)壁之間抵持設(shè)置有一軸線(xiàn)環(huán)繞針桿12而設(shè)置的第三彈簧7，具體設(shè)置時(shí)，可于探頭11的球形凹槽111的側(cè)壁開(kāi)設(shè)容置第三彈簧7的彈簧卡槽112，于針桿12上與彈簧卡槽112相對(duì)的位置開(kāi)設(shè)凹槽224，從而第三彈簧7可穩(wěn)固地卡置于針桿12的側(cè)壁與探頭11的球形凹槽111的側(cè)壁之間。這樣，在測(cè)試時(shí)，探針1可借助第二彈簧4獲得較大的軸向偏移空間，也可借助第三彈簧7獲得徑向偏移空間，且即使當(dāng)被測(cè)電元件相對(duì)針桿12為傾斜時(shí)，探頭11亦能在一定范圍進(jìn)行不同角度的轉(zhuǎn)動(dòng)，使探頭11始終與被測(cè)電元件以端面接觸的方式進(jìn)行測(cè)試，從而可獲得較大的接觸面，保持較穩(wěn)定的電接觸性能，獲得較佳的測(cè)試效果。在本實(shí)施例中，所述的導(dǎo)電連接件即為第三彈簧7。

作為一具體實(shí)施方式，第一腔室22的入口處具有導(dǎo)向擴(kuò)孔結(jié)構(gòu)222，從而可進(jìn)一步使得彈性圈5可順利進(jìn)入第一腔室22直至第二腔室23內(nèi)。

作為一具體實(shí)施方式，所述連接柱21為螺柱，即套筒2是通過(guò)將導(dǎo)線(xiàn)纏繞于該螺柱上而與導(dǎo)線(xiàn)保持電連接。

以上僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換或改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。